CN111257683B - 静电释放测试的提示方法及装置 - Google Patents

静电释放测试的提示方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN111257683B
CN111257683B CN202010237985.5A CN202010237985A CN111257683B CN 111257683 B CN111257683 B CN 111257683B CN 202010237985 A CN202010237985 A CN 202010237985A CN 111257683 B CN111257683 B CN 111257683B
Authority
CN
China
Prior art keywords
display panel
abnormal
abnormal type
locking signal
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010237985.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111257683A (zh
Inventor
赵兴海
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TCL Huaxing Photoelectric Technology Co Ltd
Original Assignee
TCL Huaxing Photoelectric Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TCL Huaxing Photoelectric Technology Co Ltd filed Critical TCL Huaxing Photoelectric Technology Co Ltd
Priority to CN202010237985.5A priority Critical patent/CN111257683B/zh
Publication of CN111257683A publication Critical patent/CN111257683A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111257683B publication Critical patent/CN111257683B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing

Abstract

本申请实施例提供了一种静电释放测试的提示方法及装置,其中,该静电释放测试的提示方法包括当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号;根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常;若是,则确定所述显示面板的异常类型;根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数;若是,则将所述总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。本方案可以避免出现多测的情况,从而避免显示面板受损。

Description

静电释放测试的提示方法及装置
技术领域
本申请涉及显示技术领域,尤其涉及一种静电释放测试的提示方法及装置。
背景技术
随着用户对于产品可靠性要求的不断提高,静电释放(Electronic StaticDischarge,ESD)测试的标准变得越来越严格。过去只需要针对几个点进行ESD测试,而现在则需要对更多的点进行ESD测试。
目前的主要的测试方法是通过静电枪对显示面板的每个待检测点进行检测,该方法需要相关工作人员亲自手动对每个待检测点进行ESD测试操作,容易出现多测的情况,导致显示面板受损。
发明内容
本申请实施例提供了一种静电释放测试的提示方法及装置,可以避免出现多测的情况,从而避免显示面板受损。
本申请实施例提供了一种静电释放测试的提示方法,包括:
当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号;
根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常;
若是,则确定所述显示面板的异常类型;
根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数;
若是,则将所述总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。
在本申请实施例提供的静电释放测试的提示方法中,所述根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常,包括:
当所述锁定信号为低电平时,确定所述显示面板未出现异常;
当所述锁定信号为高电平时,确定所述显示面板出现异常。
在本申请实施例提供的静电释放测试的提示方法中,所述确定所述显示面板的异常类型,包括:
若所述锁定信号在预设时段内恢复为低电平,则确定所述显示面板的异常类型为第一异常类型;
若所述锁定信号在预设时段内未恢复为低电平,则确定所述显示面板的异常类型为第二异常类型。
在本申请实施例提供的静电释放测试的提示方法中,所述根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数,包括:
当所述显示面板的异常类型为第一异常类型时,将本次测试计入总测试数;
当所述显示面板的异常类型为第二异常类型时,控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息。
在本申请实施例提供的静电释放测试的提示方法中,所述根据所述比较结果判断是否发出提示信息,包括:
若所述总测试数大于或等于所述预设总测试数,则控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息;
若所述总测试数小于所述预设总测试数,则返回执行当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号的步骤。
在本申请实施例提供的静电释放测试的提示方法中,还包括:
当所述显示面板未出现异常时,将本次测试计入总测试数。
本申请实施例提供了一种显示面板的静电释放测试装置,包括:
信号获取单元,用于当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号;
第一判断单元,用于根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常;
异常确定单元,用于当所述显示面板出现异常时,确定所述显示面板的异常类型;
第二判断单元,用于根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数;
信息提示单元,用于当将本次测试计入总测试数时,将所述总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。
在本申请实施例提供的显示面板的静电释放测试装置中,所述第一判断单元用于:
当所述锁定信号为低电平时,确定所述显示面板未出现异常;
当所述锁定信号为高电平时,确定所述显示面板出现异常。
在本申请实施例提供的显示面板的静电释放测试装置中,所述异常确定单元用于:
当所述显示面板出现异常时,判断所述锁定信号在预设时段内是否恢复为低电平;
若是,则确定所述显示面板的异常类型为第一异常类型;
若否,则确定所述显示面板的异常类型为第二异常类型。
在本申请实施例提供的显示面板的静电释放测试装置中,所述第二判断单元用于:
当所述显示面板的异常类型为第一异常类型时,将本次测试计入总测试数;
当所述显示面板的异常类型为第二异常类型时,控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息。
由上,本申请实施例采用当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号;根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常;若是,则确定所述显示面板的异常类型;根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数;若是,则将所述总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。本方案可以避免出现多测的情况,从而避免显示面板受损。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的静电释放测试的提示方法的流程示意图。
图2是本申请实施例提供的静电释放测试的提示装置的结构示意图。
图3是本申请实施例提供的逻辑板的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请实施例提供了一种静电释放测试的提示方法及装置,以下将分别进行详细说明。
请参阅图1,图1是本申请实施例提供的静电释放测试的提示方法的流程示意图。该静电释放测试的提示方法的具体流程可以如下:
101、当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号。
具体的,当给显示面板进行ESD测试时,可以通过静电枪对显示面板的待检测点释放静电,使得驱动芯片(S-COF)传输的锁定信号(Lock信号)产生变化,逻辑板(TCON)通过该锁定信号可以判断显示面板的当前状态。
102、根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常。
其中,逻辑板可以通过判断该锁定信号是否为低电平来确定显示面板是否出现异常。具体的,当该锁定信号为低电平时,可以确定该显示面板未出现异常;当该锁定信号为高电平时,确定该显示面板出现异常。
需要说明的是,驱动芯片传输的锁定信号初始为逻辑电压低电平,当锁定信号受到静电骚扰时,可以由低电平拉高为高电平。
可以理解的是,当显示面板的待检测点的静电防护能力达标时,在ESD测试过程中,可以避免静电对锁定信号造成影响。也即,当显示面板的静电防护能力达标时,可以避免静电对显示面板造成影响,使得显示面板出现异常。
103、若是,则确定所述显示面板的异常类型。
其中,逻辑板可以通过判断锁定信号在预设时段内是否恢复为低电平来确定显示面板的异常类型。具体的,若锁定信号在预设时段内恢复为低电平,则可以确定显示面板的异常类型为第一异常类型;若锁定信号在预设时段内未恢复为低电平,则可以确定显示面板的异常类型为第二异常类型。
需要说明的是,第一异常类型为显示面板的功能或性能暂时丧失或降低,但在停止骚扰后可以自动恢复的异常。第二异常类型为显示面板的功能或性能暂时丧失或降低,但需要操作人员干预才能恢复的异常,或因显示面板的硬件或软件损坏而导致的不能恢复的功能丧失或性能降低。
可以理解的是,预设时段可以为每次静电释放测试结束后到下次静电释放测试开始前的时间间隔,该预设时段可以给显示面板足够的恢复时间,使得显示面板可以充分释放电荷,避免对下次测试造成影响。需要说明的是,该预设时段可以根据显示面板的实际情况设定。一般的,该预设时段可以设定为10秒。
104、根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数。
为了工作人员在进行ESD测试时出现多测的情况,可以在逻辑板中设置一计数器,统计总测试数。并设置一预设总测试数,通过将总测试数与预设总测试数进行比较来确定显示面板的静电释放测试是否完成。
其中,不同的客户对静电释放测试的要求及标准也不相同。因此,该预设总测试数可以根据实际情况设定。
可以理解的是,当显示面板未出现异常时或当显示面板出现第一异常类型时,则表明本次测试符合测试标准,可以将本次测试计入总测试数。而当显示面板出现第二异常类型时,则表明显示面板出现了不可恢复的异常,为了避免对显示面板造成进一步损坏,可以停止静电释放测试。也即,步骤“根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数”可以包括:
当所述显示面板的异常类型为第一异常类型时,将本次测试计入总测试数;
当所述显示面板的异常类型为第二异常类型时,控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息。
具体的,静电枪可以与显示面板的逻辑板电连接,当显示面板出现第二异常类型时,逻辑板可以发出指令,控制静电枪停止释放静电。并可以发出提示信息,控制显示面板出现画异或响铃等,以提示工作人员显示面板出现第二异常类型,需要对显示面板进行维护。
此时,可以控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息。
105、若是,则将所述总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。
具体的,若总测试数大于或等于预设总测试数,则可以控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息;若总测试数小于预设总测试数,则可以返回执行当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号的步骤。
可以理解的是,当总测试数大于或等于预设总测试数时,则表明该显示面板的静电释放测试已完成。此时,为了避免出现多测,导致显示面板出现损坏的情况,逻辑板可以控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息,控制显示面板出现画异或响铃等,以提示工作人员静电释放测试已完成。比如,预设总测试数为24,当计数器统计的总测试数达到24时,逻辑板可以控制静电枪停止释放静电,控制显示面板出现画异或响铃等。
需要说明的是,为了避免对工作人员造成混淆,当显示面板的出现第二异常类型时,逻辑板发出的提示信息,与当显示面板的静电释放测试完成时,逻辑板发出的提示信息是不相同的。因此,显示面板出现第二异常类型或静电释放测试完成时所出现的画异或响铃不相同。比如,当显示面板出现第二异常类型时,显示面板可以发出“警告”的响铃。当显示面板的静电释放测试完成时,显示面板可以发出“完成”的响铃。
由上,本申请实施例通过采用当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号;根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常;若是,则确定所述显示面板的异常类型;根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数;若是,则将所述总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。本方案可以根据驱动芯片传输的锁定信号判断显示面板是否出现异常,并且当显示面板的静电释放测试完成后,可以发出提示信息,控制显示面板出现画异或响铃,可以避免出现多测的情况,从而避免显示面板受损。
为便于更好的实施本申请实施例提供的静电释放测试的提示方法,本申请实施例还提供一种基于上述静电释放测试的提示方法的装置。其中名词的含义与上述静电释放测试的提示方法中相同,具体实现细节可以参考方法实施例中的说明。
请参阅图2,本申请实施例还提供了一种静电释放测试的提示装置。该静电释放测试的提示装置可以包括信号获取单元201、第一判断单元202、异常确定单元203、第二判断单元204和信息提示单元205。
其中,信号获取单元201可以用于当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号。
其中,第一判断单元202可以用于根据锁定信号判断显示面板是否出现异常。
其中,异常确定单元203可以用于当显示面板出现异常时,确定显示面板的异常类型。
其中,第二判断单元204可以用于根据异常类型判断是否将本次测试计入总测试数。
其中,信息提示单元205可以用于当将本次测试计入总测试数时,将总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。
在一些实施例中,第一判断单元202可以用于:
当所述锁定信号为低电平时,确定所述显示面板未出现异常;
当所述锁定信号为高电平时,确定所述显示面板出现异常。
在一些实施例中,异常确定单元203可以用于:
当所述显示面板出现异常时,判断所述锁定信号在预设时段内是否恢复为低电平;
若是,则确定所述显示面板的异常类型为第一异常类型;
若否,则确定所述显示面板的异常类型为第二异常类型。
在一些实施例中,第二判断单元204可以用于:
当所述显示面板的异常类型为第一异常类型时,将本次测试计入总测试数;
当所述显示面板的异常类型为第二异常类型时,控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息。
需要说明的是,上述实施例提供的静电释放测试的提示装置在进行静电释放测试的提示时,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将设备的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。另外,上述实施例提供的静电释放测试的提示装置与静电释放测试的提示方法属于同一构思,其具体实现过程详见方法实施例,此处不再赘述。
本申请实施例提供的静电释放测试的提示装置可以通过信号获取单元201当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号。由第一判断单元202可以用于根据锁定信号判断显示面板是否出现异常。由异常确定单元203可以用于当显示面板出现异常时,确定显示面板的异常类型。由第二判断单元204可以用于根据异常类型判断是否将本次测试计入总测试数。由信息提示单元205可以用于当将本次测试计入总测试数时,将总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。本方案可以根据驱动芯片传输的锁定信号判断显示面板是否出现异常,并且当显示面板的静电释放测试完成后,可以发出提示信息,控制显示面板出现画异或响铃,可以避免出现多测的情况,从而避免显示面板受损。
本申请还提供一种逻辑板,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现方法实施例提供的静电释放测试的提示方法。
本申请又一实施例中还提供了一种逻辑板,如图3所示,该逻辑板300可以包括处理器301和存储器302,其中,处理器301和存储器302电性连接。
处理器301是逻辑板300的控制中心,利用各种接口和线路连接整个逻辑板的各个部分,通过运行或加载存储在存储器302内的应用程序,以及调用存储在存储器302内的数据,执行逻辑板300的各种功能和处理数据,从而对逻辑板300进行整体监控。
存储器302可用于存储应用程序和数据。存储器302存储的应用程序中包含有可执行代码。应用程序可以组成各种功能模块。存储器302可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等。此外,存储器302可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
在本实施例中,逻辑板300中的处理器301会按照如下的步骤,将一个或一个以上的应用程序的进程对应的指令加载到存储器302中,并由处理器301来运行存储在存储器302中的应用程序,从而实现各种功能:
当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号;
根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常;
若是,则确定所述显示面板的异常类型;
根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数;
若是,则将所述总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。
在一些实施例中,在根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常时,处理器301可以用于:
当所述锁定信号为低电平时,确定所述显示面板未出现异常;
当所述锁定信号为高电平时,确定所述显示面板出现异常。
在一些实施例中,在确定所述显示面板的异常类型时,处理器301可以用于:
若所述锁定信号在预设时段内恢复为低电平,则确定所述显示面板的异常类型为第一异常类型;
若所述锁定信号在预设时段内未恢复为低电平,则确定所述显示面板的异常类型为第二异常类型。
在一些实施例中,在根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数时,处理器301可以用于:
当所述显示面板的异常类型为第一异常类型时,将本次测试计入总测试数;
当所述显示面板的异常类型为第二异常类型时,控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息。
在一些实施例中,在根据所述比较结果判断是否发出提示信息时,处理器301可以用于:
若所述总测试数大于或等于所述预设总测试数,则控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息;
若所述总测试数小于所述预设总测试数,则返回执行当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号的步骤。
在一些实施例中,处理器301还可以用于:
当所述显示面板未出现异常时,将本次测试计入总测试数。
由上可知,本申请实施例提供的逻辑板300通过当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号;根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常;若是,则确定所述显示面板的异常类型;根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数;若是,则将所述总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。本方案可以避免出现多测的情况,从而避免显示面板受损。
本申请实施例还提供一种存储介质,所述存储介质中存储有计算机程序,当所述计算机程序在计算机上运行时,所述计算机执行上述任一实施例所述的静电释放测试的提示方法。
需要说明的是,本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,该程序可以存储于计算机可读存储介质中,如存储在终端的存储器中,并被该终端内的至少一个处理器执行,在执行过程中可包括如应用程序启动方法的实施例的流程。其中,存储介质可以包括:只读存储器(ROM,ReadOnly Memory)、随机存取记忆体(RAM,Random Access Memory)、磁盘或光盘等。
在以上的说明中,本申请的具体实施例将参考由一部或多部计算机所执行的步骤及符号来说明,除非另有述明。因此,这些步骤及操作将有数次提到由计算机执行,本文所指的计算机执行包括了由代表了以一结构化型式中的数据的电子信号的计算机处理单元的操作。此操作转换该数据或将其维持在该计算机的内存系统中的位置处,其可重新配置或另外以本领域测试人员所熟知的方式来改变该计算机的运作。该数据所维持的数据结构为该内存的实体位置,其具有由该数据格式所定义的特定特性。但是,本申请原理以上述文字来说明,其并不代表为一种限制,本领域测试人员将可了解到以下所述的多种步骤及操作亦可实施在硬件当中。
以上对本申请实施例所提供的一种静电释放测试的提示方法及装置进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想;本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (8)

1.一种静电释放测试的提示方法,其特征在于,包括:
当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号,所述锁定信号初始为逻辑电压低电平,当所述锁定信号为低电平时,确定所述显示面板未出现异常;当所述锁定信号为高电平时,确定所述显示面板出现异常;
根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常;
若是,则确定所述显示面板的异常类型;
根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数;
若是,则将所述总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。
2.如权利要求1所述的静电释放测试的提示方法,其特征在于,所述确定所述显示面板的异常类型,包括:
若所述锁定信号在预设时段内恢复为低电平,则确定所述显示面板的异常类型为第一异常类型;
若所述锁定信号在预设时段内未恢复为低电平,则确定所述显示面板的异常类型为第二异常类型。
3.如权利要求2所述的静电释放测试的提示方法,其特征在于,所述根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数,包括:
当所述显示面板的异常类型为第一异常类型时,将本次测试计入总测试数;
当所述显示面板的异常类型为第二异常类型时,控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息。
4.如权利要求1所述的静电释放测试的提示方法,其特征在于,所述根据所述比较结果判断是否发出提示信息,包括:
若所述总测试数大于或等于所述预设总测试数,则控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息;
若所述总测试数小于所述预设总测试数,则返回执行当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号的步骤。
5.如权利要求1所述的静电释放测试的提示方法,其特征在于,还包括:
当所述显示面板未出现异常时,将本次测试计入总测试数。
6.一种显示面板的静电释放测试装置,其特征在于,包括:
信号获取单元,用于当静电枪对显示面板释放静电时,获取驱动芯片传输的锁定信号;
第一判断单元,用于根据所述锁定信号判断所述显示面板是否出现异常,所述锁定信号初始为逻辑电压低电平,当所述锁定信号为低电平时,确定所述显示面板未出现异常;当所述锁定信号为高电平时,确定所述显示面板出现异常;
异常确定单元,用于当所述显示面板出现异常时,确定所述显示面板的异常类型;
第二判断单元,用于根据所述异常类型判断是否将本次测试计入总测试数;
信息提示单元,用于当将本次测试计入总测试数时,将所述总测试数与预设总测试数进行比较,并根据比较结果判断是否发出提示信息。
7.如权利要求6所述的显示面板的静电释放测试装置,其特征在于,所述异常确定单元用于:
当所述显示面板出现异常时,判断所述锁定信号在预设时段内是否恢复为低电平;
若是,则确定所述显示面板的异常类型为第一异常类型;
若否,则确定所述显示面板的异常类型为第二异常类型。
8.如权利要求7所述的显示面板的静电释放测试装置,其特征在于,所述第二判断单元用于:
当所述显示面板的异常类型为第一异常类型时,将本次测试计入总测试数;
当所述显示面板的异常类型为第二异常类型时,控制静电枪停止释放静电,并发出提示信息。
CN202010237985.5A 2020-03-30 2020-03-30 静电释放测试的提示方法及装置 Active CN111257683B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010237985.5A CN111257683B (zh) 2020-03-30 2020-03-30 静电释放测试的提示方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010237985.5A CN111257683B (zh) 2020-03-30 2020-03-30 静电释放测试的提示方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111257683A CN111257683A (zh) 2020-06-09
CN111257683B true CN111257683B (zh) 2022-11-08

Family

ID=70953335

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010237985.5A Active CN111257683B (zh) 2020-03-30 2020-03-30 静电释放测试的提示方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111257683B (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007316104A (ja) * 2006-05-23 2007-12-06 Casio Comput Co Ltd 表示装置
CN105021992A (zh) * 2015-06-12 2015-11-04 广东小天才科技有限公司 一种提醒移动终端充电的方法及装置
CN107785350A (zh) * 2016-08-24 2018-03-09 中华映管股份有限公司 静电防护电路及静电防护方法
CN108205091A (zh) * 2017-12-29 2018-06-26 深圳Tcl新技术有限公司 静电测试装置及系统
CN108693465A (zh) * 2018-03-30 2018-10-23 北京联想核芯科技有限公司 一种测试控制方法、电路及系统
CN109038482A (zh) * 2018-08-27 2018-12-18 维沃移动通信有限公司 一种静电防护装置和方法
CN109738719A (zh) * 2018-12-19 2019-05-10 Oppo广东移动通信有限公司 静电释放esd检测方法及相关产品

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0215125D0 (en) * 2002-06-28 2002-08-07 Delphi Tech Inc Control method for a liquid crystal display
CN107065272A (zh) * 2017-06-09 2017-08-18 京东方科技集团股份有限公司 显示面板和显示装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007316104A (ja) * 2006-05-23 2007-12-06 Casio Comput Co Ltd 表示装置
CN105021992A (zh) * 2015-06-12 2015-11-04 广东小天才科技有限公司 一种提醒移动终端充电的方法及装置
CN107785350A (zh) * 2016-08-24 2018-03-09 中华映管股份有限公司 静电防护电路及静电防护方法
CN108205091A (zh) * 2017-12-29 2018-06-26 深圳Tcl新技术有限公司 静电测试装置及系统
CN108693465A (zh) * 2018-03-30 2018-10-23 北京联想核芯科技有限公司 一种测试控制方法、电路及系统
CN109038482A (zh) * 2018-08-27 2018-12-18 维沃移动通信有限公司 一种静电防护装置和方法
CN109738719A (zh) * 2018-12-19 2019-05-10 Oppo广东移动通信有限公司 静电释放esd检测方法及相关产品

Also Published As

Publication number Publication date
CN111257683A (zh) 2020-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8250543B2 (en) Software tracing
US20240039821A1 (en) Mitigating failure in request handling
CN111258850A (zh) 一种基于Linux系统的更新软件信息的方法及装置
CN115185777A (zh) 一种异常检测方法、装置、可读存储介质以及电子设备
CN107451003B (zh) 一种存储系统的测试方法及装置
CN110851294A (zh) 一种程序运行崩溃补救的方法及装置
CN111257683B (zh) 静电释放测试的提示方法及装置
CN113721144A (zh) 电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备
CN107105100B (zh) 移动终端游戏的监控方法和系统
CN110502345A (zh) 一种过载保护方法、装置、计算机设备及存储介质
CN115599645A (zh) 一种linux驱动模块稳定性测试方法及装置
CN106933578B (zh) 一种qnx系统的usb驱动加载方法
CN112596750B (zh) 应用测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
CN114610560B (zh) 系统异常监控方法、装置和存储介质
CN111274143B (zh) 埋点测试方法、装置、设备及存储介质
CN106708605B (zh) 一种检测资源泄漏的方法及装置
CN111090553B (zh) 一种测试系统及测试方法及装置
CN112860574B (zh) Linux内核的内存泄漏检测方法和装置、介质、设备
CN106791823B (zh) 一种设备零码流故障处理方法、装置及电子设备
CN114385387B (zh) 访问信息生成方法、装置和计算机设备
CN109885402B (zh) 测试函数输出数据溢出的方法、终端设备及存储介质
CN111613035A (zh) 一种报警信息自动处理方法、装置及存储介质
CN112596935A (zh) 一种osd故障处理方法及装置
CN114968716A (zh) 一种多任务识别方法、装置、设备及机器可读存储介质
CN115525529A (zh) 业务对象测试方法、装置及电子设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant