CN108693465A - 一种测试控制方法、电路及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试控制方法、电路及系统，所述测试控制方法包括：监测被测电路的锁定信号；当监测到被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述被测电路的测试流程。

Description

一种测试控制方法、电路及系统

技术领域

本发明涉及电子电路测试技术，尤其涉及一种测试控制方法、电路及系统。

背景技术

随着芯片复杂度的不断增加，在系统级芯片(SoC，System on Chip)上同时集成数字电路和模拟电路已成为当前业界的普遍做法。其中，模拟电路可以提供高质量的时钟和高质量的模拟信号处理；数字电路则能够进行大量数字信号的计算及处理。如果要保证各厂商所生产的系统级芯片质量完好，上述所提及的包括数字电路和模拟电路的这一电路结构给可测试性设计(DFT，Design-For-Test)带来了具有挑战性的测试问题，即必须设计出相应的测试控制电路，要同时保证模拟电路的测试和数字电路的测试能够顺利完成，缺一不可。

然而，当前在SOC芯片的指标测试中所遇到的测试问题如下：模拟电路在通过自动化测试设备(ATE，Automatic Test Equipment)进行测试的过程中必须等待锁定信号(LOCK)方可进入锁定状态，进而开始常规测试。而目前模拟电路测试不加区分地按照设计规范上要求的最不乐观的锁定时间作为等待时间数值。从统计结果来看，该等待时间数值远大于芯片的实际锁定时间，在测试效率和成本控制上造成了无谓的浪费。

发明内容

本发明实施例为了克服现有技术在ATE测试中等待时间数值过长，在测试效率和成本控制上造成了无谓浪费的问题，创造性地提供一种测试控制方法、电路及系统。

根据本发明的第一方面，提供一种测试控制方法，所述方法包括：监测被测电路的锁定信号；当监测到被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述被测电路的测试流程。

根据本发明一个实施方式，其中，所述被测电路包括模拟电路，且所述模拟电路具有所述锁定信号；所述监测被测电路的锁定信号为监测被测电路中模拟电路的锁定信号；所述当监测到被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述被测电路的测试流程，包括：当监测到被测电路中模拟电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述模拟电路的指标测试。

根据本发明一个实施方式，其中，所述被测电路还包括数字电路；所述方法进一步包括：在执行针对所述模拟电路的指标测试成功之后，继续执行针对所述数字电路的指标测试。

根据本发明一个实施方式，其中，所述被测电路还包括数字电路；所述方法进一步包括：在执行针对所述模拟电路的指标测试失败之后，不再继续执行针对所述数字电路的指标测试。

根据本发明的第二方面，提供一种测试控制电路，所述设备包括：监测模块，用于监测被测电路的锁定信号；控制模块，用于当监测到被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述被测电路的测试流程。

根据本发明一个实施方式，其中，所述被测电路包括模拟电路，且所述模拟电路具有所述锁定信号；所述监测模块还用于，监测被测电路中模拟电路的锁定信号；所述控制模块还用于，当监测到被测电路中模拟电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述模拟电路的指标测试。

根据本发明一个实施方式，其中，所述被测电路还包括数字电路；所述控制模块还用于，在执行针对所述模拟电路的指标测试成功之后，继续执行针对所述数字电路的指标测试。

根据本发明一个实施方式，其中，所述被测电路还包括数字电路；所述控制模块还用于，在执行针对所述模拟电路的指标测试失败之后，不再继续执行针对所述数字电路的指标测试。

根据本发明的第三方面，提供一种测试控制系统，所述系统包括被测电路、测试控制电路及测试设备；所述测试控制电路，用于监测所述被测电路的锁定信号；还用于当监测到所述被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发所述测试设备执行针对所述被测电路的测试流程。

根据本发明一个实施方式，其中，所述测试控制电路与所述测试设备为同一设备；或，所述测试控制电路为所述测试设备的插件。

本发明实施例在测试过程中添加动态监测锁定信号的监测模块，一旦检测到模拟电路进入锁定状态，立即触发结束测试过程的被动等待，立刻开始模拟电路的相应指标测试，而不用像传统方法浪费时间，增加芯片成本。这种随时动态监测电路工作状态并和ATE及时握手的方法可以大幅提高工作效率。

另外，由于模拟电路测试时间的缩短，本发明将其测试的顺序放在最前面，这样当出错时直接标记成失败(fail)，后面的数字电路测试项目将不再继续进行，从而提高测试的效率。

需要理解的是，本发明的教导并不需要实现上面所述的全部有益效果，而是特定的技术方案可以实现特定的技术效果，并且本发明的其他实施方式还能够实现上面未提到的有益效果。

附图说明

通过参考附图阅读下文的详细描述，本发明示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本发明的若干实施方式，其中：

在附图中，相同或对应的标号表示相同或对应的部分。

图1示出了根据本发明一个方面的测试控制方法的实现流程示意图；

图2示出了根据本发明一个实施方式的测试控制方法的具体实现流程示意图；

图3示出了本发明另一个方面的测试控制电路的组成结构示意图；

图4示出了本发明又一个方面的测试控制系统的组成结构示意图。

具体实施方式

下面将参考若干示例性实施方式来描述本发明的原理和精神。应当理解，给出这些实施方式仅仅是为了使本领域技术人员能够更好地理解进而实现本发明，而并非以任何方式限制本发明的范围。相反，提供这些实施方式是为了使本发明更加透彻和完整，并且能够将本发明的范围完整地传达给本领域的技术人员。

下面结合附图和具体实施例对本发明的技术方案进一步详细阐述。

图1示出了根据本发明一个方面的测试控制方法的实现流程示意图。

如图1所示，本发明实施例所述测试控制方法包括：操作101，监测被测电路的锁定信号；操作102，当监测到被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述被测电路的测试流程。

本发明实施例通过操作101和102，在ATE测试中，能够实现在电路进入锁定状态之后立即触发开始测试电路指标，从而缩短等待时间，提高测试效率，降低测试成本。

根据本发明的一个实施方式，所述被测设备电路包括模拟电路，且所述模拟电路具有所述锁定信号；所述监测被测电路的锁定信号为监测被测电路中模拟电路的锁定信号；相应地，所述当监测到被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述被测电路的测试流程，包括：当监测到被测电路中模拟电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述模拟电路的指标测试。

这样，本发明实施例在测试过程中添加动态监测锁定信号的监测模块，一旦检测到模拟电路进入锁定状态，立即触发结束测试过程的被动等待，立刻开始模拟电路的相应指标测试，而不用像传统方法浪费时间，增加芯片成本。这种随时动态监测电路工作状态并和ATE及时握手的方法可以大幅提高工作效率。

举例来说：如果一款芯片的测试成本是0.5美元，其中所包括的模拟电路所占成本为20％，如果采用此上文所述的测试工作方法可以将模拟电路的测试时间降到原来的一半，即相当于每个芯片的测试成本节省0.05美元。量产芯片年生产量以数百万计，在芯片的生命周期内将为测试成本节省数十万甚至上百万美金。这种方法是适用于所有存在锁定信号的测试，属于电路测试的通用方法，长此以往所带来的累积经济效益十分可观。

根据本发明的一个实施方式，所述被测电路还包括数字电路；所述方法进一步包括：在执行针对所述模拟电路的指标测试成功之后，继续执行针对所述数字电路的指标测试。

根据本发明的一个实施方式，所述被测电路还包括数字电路；所述方法进一步包括：在执行针对所述模拟电路的指标测试失败之后，不再继续执行针对所述数字电路的指标测试。

基于上文所提及到的两个被测电路还包括数字电路的情况下的测试过程不难发现，测试过程中首先要保证模拟电路指标能处于正常范围，然后继续测试数字电路的相应指标。如果先测试发现某个芯片的模拟电路的指标测试失败，就没有必要继续数字电路的测试或者继续后续的系统应用。

本领域技术人员应该充分理解的是，从量产成本的角度考虑，保证测试质量的前提下，缩短模拟电路测试时长是关键所在，对应整个ATE测试的最高优先级。

另外，本发明实施例所述测试控制方法适用于所有具有锁定信号模拟电路的测试，如锁相回路或锁相环(PLL，Phase Locked Loop)、延迟锁相环(DLL，Delay-lockedLoop)、振荡器(Oscilator)、PCIe、串行器(SERDES)等。

图2示出了根据本发明一个实施方式的测试控制方法的具体实现流程示意图。

如图2所示，本发明实施例所述测试控制方法包括：

步骤201，等待进入模拟电路测试。

步骤202，在测试程序中添加动态判决动作，如果发现模拟电路的锁定信号进入锁定状态，如从“不锁定”状态(用“0”表示)到“锁定”状态(用“0”表示)，即从“0”到“1”)，则立即触发开始相应的模拟电路的指标测试；否则，不进入测试环节，记作测试失败(fail)。

步骤203，执行模拟电路的指标测试，即测试模拟电路的相关参数是否符合指标。

步骤204，如果所有模拟电路的指标对应参数符合设计规范，则进行后续数字电路的指标测试；否则，测试失败，结束整个测试流程，不再继续后续数字电路的测试。

步骤205，执行数字电路的指标测试。

步骤206，如果所有数字电路的指标对应参数与期望值相匹配，则测试通过；否则，测试失败。

基于以上所提及的测试控制方法的具体实现示例，不难发现，由于模拟电路测试时间的缩短，本发明将其测试的顺序放在最前面，这样当出错时直接标记成失败(fail)，后面的数字电路测试项目将不再继续进行，从而提高测试的效率。

图3示出了本发明另一个方面的测试控制电路的组成结构示意图。

如图3所示，本发明实施例所述测试控制电路30包括：

监测模块301，用于监测被测电路的锁定信号；

控制模块302，用于当监测到被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述被测电路的测试流程。

根据本发明的一个实施方式，所述被测电路包括模拟电路，且所述模拟电路具有所述锁定信号；

所述监测模块301还用于，监测被测电路中模拟电路的锁定信号；

所述控制模块302还用于，当监测到被测电路中模拟电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述模拟电路的指标测试。

根据本发明的一个实施方式，所述被测电路还包括数字电路；

所述控制模块302还用于，在执行针对所述模拟电路的指标测试成功之后，继续执行针对所述数字电路的指标测试。

根据本发明的一个实施方式，所述被测电路还包括数字电路；

所述控制模块302还用于，在执行针对所述模拟电路的指标测试失败之后，不再继续执行针对所述数字电路的指标测试。

本发明实施例只需在测试模式下引出模拟电路的锁定信号(LOCK)即可，具体地，可以在测试控制电路30设计时在测试模式下添加一个简单的二选一电路，即可实现一个一个功能pad的复用。在测试过程中，通过检测这个二选一信号的状态来实现机台上的芯片(即被测电路)和ATE设备(即测试设备)的信号握手。这样，从总体上来讲，本发明不但对原功能设计没有任何负面影响，还用接近为零的成本大幅节省了量产芯片的成本。

这里需要指出的是：以上测试控制电路实施例的描述，与上述方法实施例的描述是类似的，具有同方法实施例相似的有益效果，因此不做赘述。对于本发明测试控制电路实施例中未披露的技术细节，请参照本发明方法实施例的描述而理解，为节约篇幅，因此不再赘述。

图4示出了本发明又一个方面的测试控制系统的组成结构示意图。

如图4所示，本发明实施例所述测试控制系统40包括被测电路401、测试控制电路402及测试设备403；

所述测试控制电路402，用于监测所述被测电路401的锁定信号；还用于当监测到所述被测电路401的锁定信号(LOCK)进入锁定状态时，触发所述测试设备403执行针对所述被测电路401的测试流程。

根据本发明的一个实施方式，所述测试控制电路与所述测试设备为同一设备；或，所述测试控制电路为所述测试设备的插件。

同理，本发明实施例只需在测试模式下引出模拟电路的锁定信号(LOCK)即可，具体地，可以在测试控制系统40的设计中，在测试模式下添加一个简单的二选一电路作为测试控制电路402，即可实现一个一个功能pad的复用。在测试过程中，通过这个二选一信号的状态来实现机台上的芯片(即被测电路401)和ATE设备(即测试设备403)的信号握手。这样，从总体上来讲，本发明不但对原功能设计没有任何负面影响，还用接近为零的成本大幅节省了量产芯片的成本。

这里需要指出的是：以上实施例的描述，与上述方法实施例的描述是类似的，具有同方法实施例相似的有益效果，因此不做赘述。对于本发明实施例中未披露的技术细节，请参照本发明方法实施例的描述而理解，为节约篇幅，因此不再赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元；既可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、只读存储器(Read Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

或者，本发明上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种测试控制方法，其特征在于，所述方法包括：

监测被测电路的锁定信号；

当监测到被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述被测电路的测试流程。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述被测电路包括模拟电路，且所述模拟电路具有所述锁定信号；

所述监测被测电路的锁定信号为监测被测电路中模拟电路的锁定信号；

所述当监测到被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述被测电路的测试流程，包括：

当监测到被测电路中模拟电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述模拟电路的指标测试。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述被测电路还包括数字电路；所述方法进一步包括：

在执行针对所述模拟电路的指标测试成功之后，继续执行针对所述数字电路的指标测试。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述被测电路还包括数字电路；所述方法进一步包括：

在执行针对所述模拟电路的指标测试失败之后，不再继续执行针对所述数字电路的指标测试。

5.一种测试控制电路，其特征在于，所述设备包括：

监测模块，用于监测被测电路的锁定信号；

控制模块，用于当监测到被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述被测电路的测试流程。

6.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述被测电路包括模拟电路，且所述模拟电路具有所述锁定信号；

所述监测模块还用于，监测被测电路中模拟电路的锁定信号；

所述控制模块还用于，当监测到被测电路中模拟电路的锁定信号进入锁定状态时，触发执行针对所述模拟电路的指标测试。

7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述被测电路还包括数字电路；

所述控制模块还用于，在执行针对所述模拟电路的指标测试成功之后，继续执行针对所述数字电路的指标测试。

8.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述被测电路还包括数字电路；

所述控制模块还用于，在执行针对所述模拟电路的指标测试失败之后，不再继续执行针对所述数字电路的指标测试。

9.一种测试控制系统，其特征在于，所述系统包括被测电路、测试控制电路及测试设备；

所述测试控制电路，用于监测所述被测电路的锁定信号；还用于当监测到所述被测电路的锁定信号进入锁定状态时，触发所述测试设备执行针对所述被测电路的测试流程。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述测试控制电路与所述测试设备为同一设备；或，所述测试控制电路为所述测试设备的插件。