CN111208860A - 自动化电源供应系统及自动化电源供应系统的操作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开自动化电源供应系统包含电源数组及控制器。控制器耦接于电源数组。电源数组包含多个电源通道,且电源数组对每一电源通道提供电源输出。多个电源通道中的其中一个电源通道耦接于待测组件以提供电源。控制器计算待测组件所接收的功率,并根据功率调整电源数组所提供的电源的电力规格。
Description
技术领域
本发明涉及一种自动化电源供应系统,特别是指一种能够自动化调整电源输出的电源供应系统。
背景技术
在对待测机台进行散热测试时,由于待测机台中不同的待测组件,例如处理器、内存及硬盘,所需的电力规格不同,因此需要透过电源供应数组来提供不同的电源来进行测试。
一般来说,电源供应数组上的每个通道具有各自的显示表头,分别显示输出电压以及输出电流。在先前技术中,操作者必须以手动的方式调整每个通道的旋钮来调整各通道的输出电压,以使待测组件接收到测试所需的功率。
由于在导线传输的过程中会产生电力损耗,且电源供应数组的数字表头也可能有失准的情况,因此待测组件实际上接收到的功率可能会与电源供应数组所输出的功率有所差异。在此情况下,操作者就需要另外量测待测组件实际上所接收到的电压电流值,并在计算出待测组件实际所接收到的功率之后,对电源供应数组做进一步的调整,使得待测组件最终能够接收到所需的功率。也就是说,操作者在测试的过程中,必须反复地量测计算功率并调整电源供应地输出,不仅效率低落,也耗费人力。
发明内容
本发明的一实施例提供一种自动化电源供应系统,其电性耦接至待测组件。自动化电源供应系统包含电源数组及控制器。
电源数组包含多个电源通道,电源数组对多个电源通道中的每一电源通道提供电源输出。待测组件是电性耦接至多个电源通道中的其中的一第一电源通道,并接收第一电源通道提供的电源。
控制器电性耦接于电源数组。控制器计算待测组件所接收的功率,并根据功率调整第一电源通道所提供的电源的电力规格。
本发明的另一实施例提供一种自动化电源供应系统的操作方法,自动化电源供应系统包含电源数组,电源数组包括多个电源通道,多个电源通道其中的第一电源通道是电性耦接至待测组件。
自动化电源供应系统的操作方法包含电源数组自第一电源通道提供电源至待测组件,计算待测组件所接收的功率,及根据功率调整电源数组所提供的电源的电力规格。
本发明的有益效果在于,本发明的自动化电源供应系统及自动化电源供应系统的操作方法可以透过控制器计算待测组件所接收到的功率,并据以调整电源数组的电力输出,因此可以提升检测的效率,同时减少人力需求及时间成本。
附图说明
图1为本发明一实施例的自动化电源供应系统的示意图。
图2为图1的自动化电源供应系统的操作方法流程图。
符号说明:
100 自动化电源供应系统
110 电源数组
120 控制器
130 测量模块
140 温度测量模块
TE1 待测组件
PS1 电源
CH1至CHN 电源通道
200 方法
S210至S260 步骤
具体实施方式
图1为本发明一实施例的自动化电源供应系统100的示意图。自动化电源供应系统100包含电源数组110及控制器120,且控制器120可耦接于电源数组110。
电源数组110包含N个电源通道CH1至CHN,其中N为大于1的正整数。电源数组110可以对电源通道CH1至CHN中的每一电源通道提供对应的电源输出。在图1中,电源通道CH1至CHN中的电源通道CH1可耦接于待测组件TE1以提供待测组件TE1所需的电源PS1。
举例来说,待测组件TE1所需的测试条件是以10W为目标操作功率。此时为了确保电源数组110提供了所需的目标操作功率,控制器120可以计算待测组件TE1实际上所接收的功率,并根据计算出的功率来调整电源数组110所提供的电源PS1的电力规格。也就是说,当控制器120计算出待测组件TE1实际上所接收到的功率小于10W时,使用者便可透过控制器120调高电源数组110经由电源通道CH1所提供的电源PS1的电压或电流。反之,当控制器120计算出待测组件TE1实际上所接收到的功率大于10W时,使用者便可透过控制器120调降电源数组110经由电源通道CH1所提供的电源PS1的电压或电流。在本发明的有些实施例中,控制器120可以提供用户接口,并透过显示器来显示,如此一来,用户可以直接透过控制器120来操作电源数组110,以简化操作流程。
此外,在本发明的有些实施例中,控制器120及电源数组110也可以透过自动回馈的机制来达到动态调整功率至目标功率的效果,举例来说,控制器120可以根据目标操作功率及实际量测功率两者之间的误差,透过比例-积分-微分(Proportional-Integral-derivative,PID)的机制来计算需输出的电压值,并持续地回馈补偿直到量测到的功率与目标操作功率相等。
在本发明的有些实施例中,控制器120可自电源数组110读取电源通道CH1的电压值及电流值以计算待测组件TE1所接收到的功率。然而,在本发明的其他实施例中,自动化电源供应系统100还可包含测量模块130。测量模块130可耦接于控制器120及待测组件TE1,并且可以量测待测组件TE1所接收的电压及电流。举例来说,测量模块130可以包括量测电压的并联电阻及量测电流的串联电阻。也就是说,测量模块130可以量测到待测组件TE1实际上所接收到的电压及电流,而控制器120则可根据测量模块130所量测到的电压及电流计算待测组件TE1所接收到的功率。如此一来,就可以减少因为线路传输或电源数组110所造成的误差,使得控制器120能够更加准确地计算出待测组件TE1所接收到的功率。
此外,在本发明的有些实施例中,在一开始透过电源数组110提供电源的初始阶段中,控制器120还可以控制电源数组110先通过电源通道CH1提供初始电压,例如5V,并根据初始电压及流经待测组件TE1的电流来计算待测组件TE1的等效阻值。如此一来,控制器120便可根据待测组件TE1的等效阻值及目标操作功率来设定电源PS1的初始电力规格。也就是说,控制器120可以根据待测组件TE1的等效阻值来设定初始电力规格,因此能够更加准确地提供接近目标操作功率的电源PS1,以缩短后续调整的时间。
在图1的实施例中,自动化电源供应系统100还可包含温度测量模块140。温度测量模块140可耦接于控制器120及待测组件TE1,并且可以量测待测组件TE1的温度。在有些实施例中,温度测量模块140可以透过温度通道连接至电源数组110,而控制器120则可经由电源数组110读取到温度测量模块140所量测到的温度。在此情况下,控制器120便可在待测组件TE1的温度超出预定范围时,控制电源数组110停止输出电源PS1。如此一来,自动化电源供应系统就能够对待测组件TE1提供过温度保护,以避免待测组件TE1因为操作在过高的温度下而造成无法回复的损害。
此外,在本发明的有些实施例中,待测组件TE1可能是待测装置中的其中一个组件,举例来说,待测组件TE1可以是待测装置中的内存,而为了能够让待测装置正常运作以进行检测,电源数组110就需要另外对待测装置中的其他待测组件,例如处理器及硬盘,提供电源。由于每种组件所需的电力规格不同,因此电源数组110便可透过其他的电源通道,例如电源通道CH2及CH3来对待测装置中的处理器及硬盘提供对应的电源。在此情况下,控制器120也可透过前述的方式来控制电源数组110使得电源数组110能够使各个待测组件都接收到所需的目标操作功率。
图2为本发明一实施例的自动化电源供应系统100的操作方法200的流程图。方法200包含步骤S210至S260
S210:在初始阶段控制电源数组110通过电源通道CH1提供初始电压;
S220:计算待测组件TE1的等效阻值;
S230:根据等效阻值设定电源PS1的初始电力规格。
S240:电源数组110自电源通道CH1提供电源PS1至待测组件TE1;
S250:计算待测组件TE1所接收的功率,及
S260:根据功率调整电源数组110所提供的电源PS1的电力规格。
在本发明的有些实施例中,自动化电源供应系统100可透过控制器120来执行步骤S210至S230中所需的控制及计算。举例来说,在步骤S210中,控制器120可以在初始阶段控制电源数组110以通过电源通道CH1提供初始电压,例如5V。接着在步骤S220中,控制器120可根据初始电压及流经待测组件TE1的电流来计算待测组件TE1的等效阻值。如此一来,控制器120就可以在步骤S230中,根据待测组件TE1的等效阻值及目标操作功率来设定电源PS1的初始电力规格。由于控制器120可以根据待测组件TE1的等效阻值来设定初始电力规格,因此能够更加准确地提供接近目标操作功率的电源PS1,以缩短后续调整的时间。
设定初始电力规格值之后,电源数组110会在步骤S240中,自电源通道CH1提供电源PS1至待测组件TE1,接着在步骤S250中,便可计算待测组件TE1所接收到的功率,并在步骤S260中根据待测组件TE1实际上所接收到的功率来调整电源数组110所提供的电源PS1的电力规格。
在本发明的有些实施例中,步骤S250可以透过控制器120来执行。举例来说,控制器120可自电源数组110读取电源通道CH1的电压值及电流值,并根据读取到的电压值及电流值计算待测组件TE1所接收到的功率。然而本发明不限定自电源数组110读取电流值及电压值,在本发明的有些实施例中,在步骤S250中,还可透过测量模块130来量测待测组件TE1所接收的电压及电流,而控制器120则可根据测量模块130所量测到的电压及电流计算待测组件TE1所接收到的功率。在有些实施例中,透过测量模块130来量测电压及电流,还可以减少因为线路传输或电源数组110所造成的误差,使得控制器120能够更加准确地计算出待测组件TE1所接收到的功率。
由于在步骤S250中可以取得待测组件TE1实际上所接收到的功率,因此在步骤S260中,就可以进一步根据功率来调整电源数组110所提供的电源PS1的电力规格,使得待测组件TE1能够操作在目标的功率以供测试所需。
举例来说,若待测组件TE1所需的测试条件是以10W为目标操作功率,则当控制器120在步骤S250中计算出待测组件TE1实际上所接收到的功率小于10W时,便可在步骤S260中,透过控制器120调高电源数组110经由电源通道CH1所提供的电源PS1的电压或电流。反之,当控制器120计算出待测组件TE1实际上所接收到的功率大于10W时,则可透过控制器120调降电源数组110经由电源通道CH1所提供的电源PS1的电压或电流。在本发明的有些实施例中,控制器120可以提供用户接口,并透过显示器来显示,如此一来,用户可以直接在步骤S260中,透过控制器120来操作电源数组110,以简化操作流程。
此外,在本发明的有些实施例中,在步骤S260中,控制器120及电源数组110也可以透过自动回馈的机制来达到动态调整功率至目标功率的效果,举例来说,控制器120可以根据目标操作功率及实际量测功率两者之间的误差,透过比例-积分-微分(Proportional-Integral-derivative,PID)的机制来计算需输出的电压值,并持续地回馈补偿直到量测到的功率与目标操作功率相等。
此外,在本发明的有些实施例中,方法200还可进一步透过温度测量模块140来量测待测组件TE1的温度,并且在待测组件TE1的温度超出预定范围时,透过控制器120控制电源数组110停止输出电源PS1,以确保待测组件TE1不会因为过高的温度而受到损坏。
综上所述,本发明的实施例所提供的自动化电源供应系统及自动化电源供应系统的操作方法可以透过控制器120计算待测组件所接收到的功率,并据以调整电源数组的电力输出,因此可以提升检测的效率,同时减少人力需求及时间成本。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,凡依本发明权利要求书保护的范围所做的均等变化与修饰,皆应属本发明的涵盖范围。
Claims (10)
1.一种自动化电源供应系统,其特征在于,其电性耦接至一待测组件,该自动化电源供应系统包含:
一电源数组,包含多个电源通道,并用以对该些电源通道中的每一电源通道提供一电源输出,其中该待测组件是电性耦接至该些电源通道其中的一第一电源通道,并接收该第一电源通道提供的一电源;以及
一控制器,电性耦接于该电源数组,并用以计算该待测组件所接收的该电源的一功率,及根据该功率调整该第一电源通道提供的该电源的一电力规格。
2.如权利要求1所述的自动化电源供应系统,其特征在于,其中该控制器另用以在一初始阶段控制该电源数组通过该第一电源通道提供一初始电压,并计算该待测组件的一等效阻值,及根据该等效阻值设定该电源的一初始电力规格。
3.如权利要求1所述的自动化电源供应系统,其特征在于,其中该控制器是自该电源数组读取该第一电源通道的一电压值及一电流值,并计算该待测组件所接收到的该功率。
4.如权利要求1所述的自动化电源供应系统,其特征在于,另包含
一测量模块,耦接于该控制器及该待测组件,并用以量测该待测组件所接收的一电压及一电流,
其中该控制器是根据该测量模块所量测到的该电压及该电流,计算该待测组件所接收到的该功率。
5.如权利要求1所述的自动化电源供应系统,其特征在于,另包含
一温度测量模块,耦接于该控制器及该待测组件,并用以量测该待测组件的一温度,
其中该控制器另用以当该待测组件的该温度超出一预定范围时,控制该电源数组的该第一电源通道停止输出该电源。
6.一种自动化电源供应系统的操作方法,其特征在于,该自动化电源供应系统包含一电源数组,该电源数组是包括多个电源通道,该些电源通道其中的一第一电源通道是电性耦接至一待测组件,该自动化电源供应系统的操作方法包含:
该电源数组自该第一电源通道提供一电源至该待测组件;
计算该待测组件所接收的一功率,及
根据该功率调整该电源数组所提供的该电源的一电力规格。
7.如权利要求6所述的自动化电源供应系统的操作方法,其特征在于,另包含:
在一初始阶段控制该电源数组通过该第一电源通道提供一初始电压;
计算该待测组件的一等效阻值;及
根据该等效阻值设定该电源的一初始电力规格。
8.如权利要求6所述的自动化电源供应系统的操作方法,其特征在于,其中计算该待测组件所接收的该功率的步骤包含:
自该电源数组读取该第一电源通道的一电压值及一电流值;及
根据该电压值及该电流值计算该待测组件所接收到的该功率。
9.如权利要求6所述的自动化电源供应系统的操作方法,其特征在于,另包含:
量测该待测组件所接收的一电压及一电流;
计算该待测组件所接收的该功率的步骤包含根据所量测到的该电压及该电流计算该待测组件所接收到的该功率。
10.如权利要求6所述的自动化电源供应系统的操作方法,其特征在于,另包含:
量测该待测组件的一温度;
当该待测组件的该温度超出一预定范围时,该电源数组停止输出该电源。
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101647172A (zh) * | 2007-02-06 | 2010-02-10 | 艾克斯兰能源技术公司 | 具有功率提取器的多电源多负载系统 |
US20120218005A1 (en) * | 2011-02-25 | 2012-08-30 | Qualcomm Incorporated | Semiconductor Device Having On-Chip Voltage Regulator |
TWI434167B (zh) * | 2011-09-27 | 2014-04-11 | Nat Chi Nan Cuniversity | Automatic power control system, device, compensation voltage operation module and detection module |
CN106933294A (zh) * | 2015-12-29 | 2017-07-07 | 硅实验室公司 | 用于具有多个输入的功率调节器的装置及相关方法 |
CN106933139A (zh) * | 2015-12-29 | 2017-07-07 | 硅实验室公司 | 用于电子电路系统的多输入功率架构的装置及相关方法 |
CN108736440A (zh) * | 2018-07-13 | 2018-11-02 | 深圳市华宝新能源股份有限公司 | 一种电路失控保护电路和电子装置 |
TW201841092A (zh) * | 2017-03-22 | 2018-11-16 | 美商瑞薩電子美國有限公司 | 在多相電壓調節器中組合溫度監測和真實的不同電流感測 |
-
2018
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101647172A (zh) * | 2007-02-06 | 2010-02-10 | 艾克斯兰能源技术公司 | 具有功率提取器的多电源多负载系统 |
US20120218005A1 (en) * | 2011-02-25 | 2012-08-30 | Qualcomm Incorporated | Semiconductor Device Having On-Chip Voltage Regulator |
TWI434167B (zh) * | 2011-09-27 | 2014-04-11 | Nat Chi Nan Cuniversity | Automatic power control system, device, compensation voltage operation module and detection module |
CN106933294A (zh) * | 2015-12-29 | 2017-07-07 | 硅实验室公司 | 用于具有多个输入的功率调节器的装置及相关方法 |
CN106933139A (zh) * | 2015-12-29 | 2017-07-07 | 硅实验室公司 | 用于电子电路系统的多输入功率架构的装置及相关方法 |
TW201841092A (zh) * | 2017-03-22 | 2018-11-16 | 美商瑞薩電子美國有限公司 | 在多相電壓調節器中組合溫度監測和真實的不同電流感測 |
CN108736440A (zh) * | 2018-07-13 | 2018-11-02 | 深圳市华宝新能源股份有限公司 | 一种电路失控保护电路和电子装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10520546B1 (en) | 2019-12-31 |
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