CN111200460A - 抖动信号的调制深度监测装置及方法、光发射机 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种抖动信号的调制深度监测装置及方法、光发射机，通过对IQ调制器的输出光信号进行检测和处理，对处理后的信号和频率是抖动信号的两倍且与抖动信号具有相位差的参考信号进行同步检测，提取出抖动信号的倍频项系数从而得到抖动信号的调制深度，能够实时的动态监测抖动信号的调制深度，避免损失过多的传输性能，并且，能够适用于多种不同的非线性相位‑电压或相位‑电流关系。
Description
技术领域
本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种抖动信号的调制深度监测装置及方法、光发射机。
背景技术
在相干光通信中，为了实现更大容量的信号传输，32QAM、64QAM、128QAM、256QAM以及符号比特率更高的调制格式将逐渐走向应用。IQ(同相正交，In-phase and Quadrature)调制器是实现多种高级格式调制的关键器件，对于符号比特率越高的调制格式，其传输性能就越依赖于IQ调制器的各项指标，例如，IQ调制器中偏置相位的准确程度。为了监测IQ调制器的偏置相位，在实际的产品中，往往采用在偏置控制电压上加载低频抖动信号的方法，该方法既能监测偏置相位的偏移大小，又能监测其偏移方向。
在应用抖动信号时，其调制深度需要控制在合理的范围之内，抖动信号的调制深度过大，会引入额外的误码代价；抖动信号的调制深度过小，监测量会湮没在噪声中而难以观测，从而难以取得良好的监测效果。因此，对抖动信号的调制深度进行合理的控制是非常有必要的。
近年来，光发射机逐渐朝着小型化、低能耗、集成化的方向不断发展，基于多种不同材料的IQ调制器或集成型收发机应运而生，如磷化铟IQ调制器、硅基集成收发模块等。这些新的材料往往基于新的电光效应，导致在相位调制过程中，相位-电压或相位-电流关系不再是线性的。
应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本发明的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本发明的背景技术部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。
发明内容
发明人发现，在以往使用抖动信号监测IQ调制器的偏置相位的方法中，基于电光转换是线性的假设，因此抖动信号的调制深度由抖动信号的大小决定，其是一个不变的量；然而，对于非线性的相位关系，抖动信号的调制深度不仅与抖动信号的大小有关，还与非线性曲线的形状以及偏置相位的大小等有关。因此，现有的监测抖动信号的调制深度的方法无法实现有效的监测。
本发明实施例提供一种抖动信号的调制深度监测装置及方法、光发射机，通过对IQ调制器的输出光信号进行检测和处理，对处理后的信号和频率是抖动信号的两倍且与抖动信号具有相位差的参考信号进行同步检测，提取出抖动信号的倍频项系数从而得到抖动信号的调制深度，能够实时的动态监测抖动信号的调制深度，避免损失过多的传输性能，并且，能够适用于多种不同的非线性相位-电压或相位-电流关系。
根据本发明实施例的第一方面，提供一种抖动信号的调制深度监测装置，所述抖动信号加载在IQ调制器的偏置控制电压上，用于监测IQ调制器的偏置相位，所述装置包括：第一处理单元，其用于对所述IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第一处理，得到第一处理信号；同步检测单元，其用于对所述第一处理信号和参考信号进行同步检测，提取所述第一处理信号中的所述抖动信号的倍频项，其中，所述参考信号的频率是所述抖动信号的频率的两倍，且所述参考信号的相位与所述抖动信号的相位具有预设的相位差；以及确定单元，其用于根据所述抖动信号的倍频项确定所述抖动信号的调制深度。
根据本发明实施例的第二方面，提供一种光发射机，所述光发射机包括根据本发明实施例的第一方面所述的装置。
根据本发明实施例的第三方面，提供一种抖动信号的调制深度监测方法，所述抖动信号加载在IQ调制器的偏置控制电压上，用于监测IQ调制器的偏置相位，所述方法包括：对所述IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第一处理，得到第一处理信号；对所述第一处理信号和参考信号进行同步检测，提取所述第一处理信号中的所述抖动信号的倍频项，其中，所述参考信号的频率是所述抖动信号的频率的两倍，且所述参考信号的相位与所述抖动信号的相位具有预设的相位差；以及根据所述抖动信号的倍频项确定所述抖动信号的调制深度。
本发明的有益效果在于：通过对IQ调制器的输出光信号进行检测和处理，对处理后的信号和频率是抖动信号的两倍且与抖动信号具有相位差的参考信号进行同步检测，提取出抖动信号的倍频项系数从而得到抖动信号的调制深度，能够实时的动态监测抖动信号的调制深度，避免损失过多的传输性能，并且，能够适用于多种不同的非线性相位-电压或相位-电流关系。
参照后文的说明和附图，详细公开了本发明的特定实施方式，指明了本发明的原理可以被采用的方式。应该理解，本发明的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的精神和条款的范围内，本发明的实施方式包括许多改变、修改和等同。
针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。
附图说明
所包括的附图用来提供对本发明实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本发明的实施方式，并与文字描述一起来阐释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
图1是本发明实施例1的对IQ调制器进行偏置控制的一示意图；
图2是本发明实施例1的抖动信号的调制深度监测装置的一示意图；
图3是本发明实施例1的确定单元103的一示意图；
图4是本发明实施例1的第一计算单元302的一示意图；
图5是本发明实施例1的第一计算单元302的另一示意图；
图6是本发明实施例2的光发射机的一组成示意图；
图7是本发明实施例2的光发射机的系统构成的一示意框图；
图8是本发明实施例3的抖动信号的调制深度监测方法的一示意图。
具体实施方式
在本发明实施例中，术语“第一”、“第二”等用于对不同元素从称谓上进行区分，但并不表示这些元素的空间排列或时间顺序等，这些元素不应被这些术语所限制。术语“和/或”包括相关联列出的术语的一种或多个中的任何一个和所有组合。术语“包含”、“包括”、“具有”等是指所陈述的特征、元素、元件或组件的存在，但并不排除存在或添加一个或多个其他特征、元素、元件或组件。
在本发明实施例中，单数形式“一”、“该”等包括复数形式，应广义地理解为“一种”或“一类”而并不是限定为“一个”的含义；此外术语“所述”应理解为既包括单数形式也包括复数形式，除非上下文另外明确指出。此外术语“根据”应理解为“至少部分根据……”，术语“基于”应理解为“至少部分基于……”，除非上下文另外明确指出。
参照附图，通过下面的说明书，本发明的前述以及其它特征将变得明显。在说明书和附图中，具体公开了本发明的特定实施方式，其表明了其中可以采用本发明的原则的部分实施方式，应了解的是，本发明不限于所描述的实施方式，相反，本发明包括落入所附权利要求的范围内的全部修改、变型以及等同物。
实施例1
本发明实施例提供一种抖动信号的调制深度监测装置，其设置于光发射机侧。该抖动信号加载在IQ调制器的偏置控制电压上，用于监测IQ调制器的偏置相位。
图1是本发明实施例1的对IQ调制器进行偏置控制的一示意图。如图1所示，IQ调制器200具有两个推挽式的马赫曾德调制器(MZM，Mach-Zehnder modulator)，分别记为第一马赫曾德调制器201、第二马赫曾德调制器202，另外，还具有相位调制器(PM，phasemodulator)203，第一马赫曾德调制器201、第二马赫曾德调制器202分别用于调制I路和Q路的驱动信号vrf,I、vrf,Q，相位调制器203在I和Q路之间引入90°相位差，生成正交相位。VI、VQ和VP分别表示第一马赫曾德调制器201上的偏置点bias I、第二马赫曾德调制器202上的偏置点bias Q以及相位调制器304上的偏置点bias P上的偏置控制电压。
如图1所示，从IQ调制器200输出的光信号进入光探测器300，光探测器300例如是光电二极管。光探测器300将其输出的电信号作为检测信号输出至抖动信号的调制深度监测装置100。抖动信号的调制深度监测装置100根据该检测信号对加载在偏置控制电压上的抖动信号的调制深度进行监测，偏置控制电压产生器400根据监测的结果生成偏置控制电压VI、VQ和VP中的至少一个。
图2是本发明实施例1的抖动信号的调制深度监测装置的一示意图。该抖动信号加载在IQ调制器的偏置控制电压上，用于监测IQ调制器的偏置相位。如图2所示，该装置100包括：
第一处理单元101，其用于对该IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第一处理，得到第一处理信号；
同步检测单元102，其用于对该第一处理信号和参考信号进行同步检测，提取该第一处理信号中的抖动信号的倍频项，其中，该参考信号的频率是该抖动信号的频率的两倍，且该参考信号的相位与该抖动信号的相位具有预设的相位差；以及
确定单元103，其用于根据该抖动信号的倍频项确定该抖动信号的调制深度。
在本实施例中，该抖动信号加载在IQ调制器的偏置控制电压上，用于监测IQ调制器的偏置相位，例如，该抖动信号可以加载在IQ调制器200的偏置控制电压VI、VQ和VP中的至少一个上，以用于对I路的偏置相位、Q路的偏置相位以及正交相位的至少一个的偏移进行监测。
在本实施例中，以抖动信号加载在VP上以用于对正经相位的偏移进行监测为例进行说明，但是，抖动信号也可以加载在VI、VQ上，以用于对I路的偏置相位、Q路的偏置相位的偏移进行监测。
在本实施例中，使用抖动信号监测偏置相位的偏移的方法可以参考现有技术，此处不再赘述。
在本实施例中，第一处理单元101用于对该IQ调制器200输出的光信号的检测信号进行第一处理，该第一处理例如是对该检测信号进行隔直流处理后再进行平方处理。
例如，IQ调制器200输出的光信号的光场可以用以下的公式(1)表示：
其中，Eout表示IQ调制器200输出的光信号的光场，vrf,I表示I路的驱动信号，vrf,Q表示Q路的驱动信号，ΔθP表示正交相位的偏移量，ΔvP表示抖动信号，f(ΔvP)表示抖动信号造成的相位变化。
在本实施例中，抖动信号可以是具有一定振幅的周期信号，例如，该抖动信号是低频正弦小信号，可以用以下的公式(2)表示：
ΔvP＝asin(ωdt)＝asin(2πfdt) (2)
其中，ΔvP表示抖动信号，a表示该抖动信号的振幅，ωd表示该抖动信号的角频率，fd表示该抖动信号的频率，a＜＜Vpi，Vpi表示相位斜率。
在本实施例中，可以认为该抖动信号在局部是线性的，且相位斜率随偏置相位的变化而变化。该变化的斜率可以记作
则抖动信号造成的相位变化可以表示为：
其中，f(ΔvP)表示抖动信号ΔvP造成的相位变化。
IQ调制器200输出的光信号经过光探测器300后得到的检测信号可以用以下的公式(4)表示：
其中，Pout表示该检测信号，即光功率，vrf,I表示I路的驱动信号，vrf,Q表示Q路的驱动信号，ΔθP表示正交相位的偏移量，ΔvP表示抖动信号，f(ΔvP)表示抖动信号ΔvP造成的相位变化，R表示光探测器300的响应系数。
在本实施例中，第一处理单元101对该检测信号进行隔直流处理，以消除I路和Q路的相位的影响，经过隔直流处理后的信号可以用以下的公式(5)表示：
Pbeat∝-2Rsin(ΔθP+f(ΔvP))sin(vrf,I)sin(vrf,Q)+Pnoise (5)
其中，Pbeat表示经过隔直流处理后的信号,vrf,I表示I路的驱动信号，vrf,Q表示Q路的驱动信号，ΔθP表示正交相位的偏移量，ΔvP表示抖动信号，f(ΔvP)表示抖动信号ΔvP造成的相位变化，R表示光探测器300的响应系数,Pnoise表示信号相关的噪声项。
第一处理单元101对隔直流处理后的信号再进行平方处理，经过平方处理后的信号即第一处理信号可以用以下的公式(6)表示：
其中，Pbeat表示经过隔直流处理后的信号,vrf,I表示I路的驱动信号，vrf,Q表示Q路的驱动信号，ΔθP表示正交相位的偏移量，ΔvP表示抖动信号，f(ΔvP)表示抖动信号ΔvP造成的相位变化，
表示该抖动信号ΔvP的调制深度，R表示光探测器300的响应系数,P′noise表示并入了噪声和信号的拍合的噪声项，ωd表示抖动信号的角频率，S表示平方处理的系数。
在本实施例中，同步检测单元102用于对该第一处理信号和参考信号进行同步检测，提取该第一处理信号中的抖动信号的倍频项。
该参考信号的频率是该抖动信号的频率的两倍，且该参考信号的相位与该抖动信号的相位具有预设的相位差。例如，该参考信号的相位与该抖动信号的相位的该预设的相位差大于0度且小于180度。
在本实施例中，以该参考信号的相位与该抖动信号的相位相差90度为例进行说明。
例如，该参考信号可以用以下的公式(7)表示：
SR＝acos(4πfdt) (7)
其中，SR表示参考信号，a表示该参考信号的振幅，其振幅与抖动信号ΔvP的振幅相同，SR的频率为2fd，fd表示该抖动信号ΔvP的频率，参考信号SR的相位与该抖动信号ΔvP的相位相差90度。
在本实施例中，同步检测单元102可以根据以下的公式(8)提取该第一处理信号中的抖动信号的倍频项：
其中，Pbeat 2表示第一处理信号，acos(4πfdt)表示参考信号，
表示该抖动信号ΔvP的调制深度，R表示光探测器300的响应系数，a表示该抖动信号的振幅，S表示第一处理中的平方处理的系数，PI表示I路上的平均功率，PQ表示Q路上的平均功率。
在本实施例中，确定单元103用于根据该抖动信号的倍频项确定该抖动信号的调制深度。
图3是本发明实施例1的确定单元103的一示意图。如图3所示，确定单元103包括：
第二处理单元301，其用于对该IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第二处理，得到该抖动信号的直流项；以及
第一计算单元302，其用于根据该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项，计算该抖动信号的调制深度。
在本实例中，该第二处理单元301进行的该第二处理例如是对该检测信号进行平均处理后再进行平方处理。
例如，对该检测信号进行平均处理后可以得到直流项系数，用以下的公式(9)表示：
其中，Pdc表示抖动信号的直流项系数，vrf,I表示I路的驱动信号，vrf,Q表示Q路的驱动信号,R表示光探测器300的响应系数,PI表示I路上的平均功率，PQ表示Q路上的平均功率。
对该直流项系数再进行平方处理，用以下的公式(10)表示：
Pdc 2∝S’R2(PI+PQ)2 (10)
其中，Pdc 2表示直流项系数的平方，即抖动信号的直流项，R表示光探测器300的响应系数,PI表示I路上的平均功率，PQ表示Q路上的平均功率，S’表示第二处理中的平方处理的系数。
在本实施例中，对公式(8)和公式(10)的计算结果相除，可以得到该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项的比，用以下的公式(11)表示：
其中，Pbeat 2表示第一处理信号，acos(4πfdt)表示参考信号，
表示该抖动信号ΔvP的调制深度，R表示光探测器300的响应系数，a表示该抖动信号的振幅，S表示第一处理中的平方处理的系数，S’表示第二处理中的平方处理的系数，PI表示I路上的平均功率，PQ表示Q路上的平均功率。
在本实施例中，第一计算单元302根据该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项，计算该抖动信号的调制深度。
图4是本发明实施例1的第一计算单元302的一示意图。如图4所示，第一计算单元302包括：
第二计算单元401，其用于对该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项的比进行近似处理，得到该抖动信号的调制深度，或者，
第三计算单元402，其用于根据该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项的比以及预先确定的平方处理系数以及I路平均功率和Q路平均功率的关系，计算该抖动信号的调制深度。
在本实施例中，第二计算单元401对该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项的比进行近似处理，得到该抖动信号的调制深度。
例如，对公式(11)等号右侧的
进行近似处理，例如，假设PI≈PQ，S≈S′,则
可以近似等于1/4，那么根据上述公式(11)就能够计算得到该抖动信号的调制深度
在本实施例中，第三计算单元402根据该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项的比以及预先确定的平方处理系数以及I路平均功率和Q路平均功率的关系，计算该抖动信号的调制深度。
例如，可以预先确定公式(11)等号右侧的
例如，在测试阶段，根据能够接受的Q值的范围确定公式(11)的计算结果的范围，从而得到等号右侧的
那么，根据上述公式(11)就能够计算得到该抖动信号的调制深度
图5是本发明实施例1的第一计算单元302的另一示意图。如图5所示，第一计算单元302包括：
第四计算单元501，其用于根据该抖动信号的倍频项以及预先确定的该抖动信号的倍频项中包含的与功率相关的系数、平方处理系数和用于检测该光信号的探测器的响应系数，计算该抖动信号的调制深度。
例如，可以预先确定公式(8)等号右侧的SR2PIPQ，例如，在测试阶段，根据能够接受的Q值的范围确定公式(8)的计算结果的范围，从而得到等号右侧的SR2PIPQ。那么，根据上述公式(8)就能够计算得到该抖动信号的调制深度
在本实施例中，该装置100还可以包括：
调整单元104，其用于根据确定的该抖动信号的调制深度，对加载在该IQ调制器的偏置控制电压上的抖动信号的振幅进行调整。
例如，当确定的该抖动信号的调制深度小于预设阈值时，则增大加载在该IQ调制器的偏置控制电压上的抖动信号的振幅。
由上述实施例可知，通过对IQ调制器的输出光信号进行检测和处理，对处理后的信号和频率是抖动信号的两倍且与抖动信号具有相位差的参考信号进行同步检测，提取出抖动信号的倍频项系数从而得到抖动信号的调制深度，能够实时的动态监测抖动信号的调制深度，避免损失过多的传输性能，并且，能够适用于多种不同的非线性相位-电压或相位-电流关系。
实施例2
本发明实施例还提供一种光发射机，图6是本发明实施例2的光发射机的一组成示意图。如图6所示，该光发射机600包括抖动信号的调制深度监测装置100，该抖动信号的调制深度监测装置100的结构与功能与实施例1中的记载相同，此处不再赘述。
图7是本发明实施例2的光发射机的系统构成的一示意框图。如图7所示，光发射机700包括：信号生成器701、数模转换器702、IQ调制器703、光探测器704、抖动信号的调制深度监测装置705以及偏置控制电压产生器706，其中，
信号生成器701根据发送数据生成两路数字信号；数模转换器702对两路数字信号进行数模转换，得到IQ调制器703的I路和Q路的驱动信号；IQ调制器703根据该驱动信号对激光器输出的光进行调制；光探测器704检测IQ调制器703的输出功率信号；抖动信号的调制深度监测装置705根据该输出功率信号对加载在偏置控制电压上的抖动信号的调制深度进行监测，偏置控制电压产生器706根据监测的结果生成偏置控制电压VI、VQ和VP中的至少一个。
在本实施例中信号生成器701、数模转换器702、IQ调制器703、光探测器704以及偏置控制电压产生器706的结构可参考现有技术，抖动信号的调制深度监测装置705的结构和功能与实施例1中的记载相同，此处不再赘述。另外，可以将抖动信号的调制深度监测装置705集成在光发射机的数字信号处理器中，即，通过数字信号处理器实现抖动信号的调制深度监测装置705的功能。
例如，该数字信号处理器可以被配置为：对该IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第一处理，得到第一处理信号；对该第一处理信号和参考信号进行同步检测，提取该第一处理信号中的该抖动信号的倍频项，其中，该参考信号的频率是该抖动信号的频率的两倍，且该参考信号的相位与该抖动信号的相位具有预设的相位差；以及根据该抖动信号的倍频项确定该抖动信号的调制深度。
在本实施例中，光发射机700也并不是必须要包括图7中所示的所有部件；此外，光发射机700还可以包括图7中没有示出的部件，可以参考现有技术。
由上述实施例可知，通过对IQ调制器的输出光信号进行检测和处理，对处理后的信号和频率是抖动信号的两倍且与抖动信号具有相位差的参考信号进行同步检测，提取出抖动信号的倍频项系数从而得到抖动信号的调制深度，能够实时的动态监测抖动信号的调制深度，避免损失过多的传输性能，并且，能够适用于多种不同的非线性相位-电压或相位-电流关系。
实施例3
本发明实施例还提供一种抖动信号的调制深度监测方法，其对应于实施例1的抖动信号的调制深度监测装置。
图8是本发明实施例3的抖动信号的调制深度监测方法的一示意图。该抖动信号加载在IQ调制器的偏置控制电压上，用于监测IQ调制器的偏置相位。如图8所示，该方法包括：
步骤801：对该IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第一处理，得到第一处理信号；
步骤802：对该第一处理信号和参考信号进行同步检测，提取该第一处理信号中的该抖动信号的倍频项，其中，该参考信号的频率是该抖动信号的频率的两倍，且该参考信号的相位与该抖动信号的相位具有预设的相位差；以及
步骤803：根据该抖动信号的倍频项确定该抖动信号的调制深度。
在本实施例中，上述各个步骤的具体实现方法可以参见实施例1中的记载。
例如，该根据该抖动信号的倍频项确定该抖动信号的调制深度，包括：对该IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第二处理，得到直流项；以及根据该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项，计算该抖动信号的调制深度。
例如，该根据该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项，计算该抖动信号的调制深度，包括：对该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项的比进行近似处理，得到该抖动信号的调制深度，或者，根据该抖动信号的倍频项与该抖动信号的直流项的比以及预先确定的平方处理系数以及I路平均功率和Q路平均功率的关系，计算该抖动信号的调制深度。
例如，该第二处理是对该检测信号进行平均处理后再进行平方处理。
例如，该根据该抖动信号的倍频项确定该抖动信号的调制深度，包括：根据该抖动信号的倍频项以及预先确定的该抖动信号的倍频项中包含的与功率相关的系数、平方处理系数和用于检测该光信号的探测器的响应系数，计算该抖动信号的调制深度。
例如，该参考信号的相位与该抖动信号的相位的该预设的相位差大于0度且小于180度。
例如，该方法还包括：根据确定的该抖动信号的调制深度，对加载在该IQ调制器的偏置控制电压上的抖动信号的振幅进行调整。
由上述实施例可知，通过对IQ调制器的输出光信号进行检测和处理，对处理后的信号和频率是抖动信号的两倍且与抖动信号具有相位差的参考信号进行同步检测，提取出抖动信号的倍频项系数从而得到抖动信号的调制深度，能够实时的动态监测抖动信号的调制深度，避免损失过多的传输性能，并且，能够适用于多种不同的非线性相位-电压或相位-电流关系。
本发明实施例还提供一种计算机可读程序，其中当在抖动信号的调制深度监测装置或光发射机中执行所述程序时，所述程序使得计算机在所述抖动信号的调制深度监测装置或光发射机中执行实施例3所述的抖动信号的调制深度监测方法。
本发明实施例还提供一种存储有计算机可读程序的存储介质，其中所述计算机可读程序使得计算机在抖动信号的调制深度监测装置或光发射机中执行实施例3所述的抖动信号的调制深度监测方法。
结合本发明实施例描述的在抖动信号的调制深度监测装置或光发射机中执行偏置控制方法可直接体现为硬件、由处理器执行的软件模块或二者组合。例如，图2中所示的功能框图中的一个或多个和/或功能框图的一个或多个组合，既可以对应于计算机程序流程的各个软件模块，亦可以对应于各个硬件模块。这些软件模块，可以分别对应于图8所示的各个步骤。这些硬件模块例如可利用现场可编程门阵列(FPGA)将这些软件模块固化而实现。
软件模块可以位于RAM存储器、闪存、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、移动磁盘、CD-ROM或者本领域已知的任何其它形式的存储介质。可以将一种存储介质耦接至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息；或者该存储介质可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。该软件模块可以存储在移动终端的存储器中，也可以存储在可插入移动终端的存储卡中。例如，若设备(例如移动终端)采用的是较大容量的MEGA-SIM卡或者大容量的闪存装置，则该软件模块可存储在该MEGA-SIM卡或者大容量的闪存装置中。
针对图2描述的功能框图中的一个或多个和/或功能框图的一个或多个组合，可以实现为用于执行本申请所描述功能的通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或其它可编程逻辑器件、分立门或晶体管逻辑器件、分立硬件组件、或者其任意适当组合。针对图2描述的功能框图中的一个或多个和/或功能框图的一个或多个组合，还可以实现为计算设备的组合，例如，DSP和微处理器的组合、多个微处理器、与DSP通信结合的一个或多个微处理器或者任何其它这种配置。
以上结合具体的实施方式对本发明进行了描述，但本领域技术人员应该清楚，这些描述都是示例性的，并不是对本发明保护范围的限制。本领域技术人员可以根据本发明的精神和原理对本发明做出各种变型和修改，这些变型和修改也在本发明的范围内。
关于包括以上实施例的实施方式，还公开下述的附记：
附记1.一种抖动信号的调制深度监测装置，所述抖动信号加载在IQ调制器的偏置控制电压上，用于监测IQ调制器的偏置相位，所述装置包括：
第一处理单元，其用于对所述IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第一处理，得到第一处理信号；
同步检测单元，其用于对所述第一处理信号和参考信号进行同步检测，提取所述第一处理信号中的所述抖动信号的倍频项，其中，所述参考信号的频率是所述抖动信号的频率的两倍，且所述参考信号的相位与所述抖动信号的相位具有预设的相位差；以及
确定单元，其用于根据所述抖动信号的倍频项确定所述抖动信号的调制深度。
附记2.根据附记1所述的装置，其中，所述确定单元包括：
第二处理单元，其用于对所述IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第二处理，得到所述抖动信号的直流项；以及
第一计算单元，其用于根据所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项，计算所述抖动信号的调制深度。
附记3.根据附记2所述的装置，其中，所述第一计算单元包括：
第二计算单元，其用于对所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项的比进行近似处理，得到所述抖动信号的调制深度，或者，
第三计算单元，其用于根据所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项的比以及预先确定的平方处理系数以及I路平均功率和Q路平均功率的关系，计算所述抖动信号的调制深度。
附记4.根据附记2所述的装置，其中，所述第二处理单元进行的所述第二处理是对所述检测信号进行平均处理后再进行平方处理。
附记5.根据附记1所述的装置，其中，所述确定单元包括：
第四计算单元，其用于根据所述抖动信号的倍频项以及预先确定的所述抖动信号的倍频项中包含的与功率相关的系数、平方处理系数和用于检测所述光信号的探测器的响应系数，计算所述抖动信号的调制深度。
附记6.根据附记1所述的装置，其中，
所述参考信号的相位与所述抖动信号的相位的所述预设的相位差大于0度且小于180度。
附记7.根据附记1所述的装置，其中，所述装置还包括：
调整单元，其用于根据确定的所述抖动信号的调制深度，对加载在所述IQ调制器的偏置控制电压上的抖动信号的振幅进行调整。
附记8、一种光发射机，所述光发射机包括根据附记1所述的装置。
附记9.一种抖动信号的调制深度监测方法，所述抖动信号加载在IQ调制器的偏置控制电压上，用于监测IQ调制器的偏置相位，所述方法包括：
对所述IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第一处理，得到第一处理信号；
对所述第一处理信号和参考信号进行同步检测，提取所述第一处理信号中的所述抖动信号的倍频项，其中，所述参考信号的频率是所述抖动信号的频率的两倍，且所述参考信号的相位与所述抖动信号的相位具有预设的相位差；以及
根据所述抖动信号的倍频项确定所述抖动信号的调制深度。
附记10.根据附记9所述的方法，其中，所述根据所述抖动信号的倍频项确定所述抖动信号的调制深度，包括：
对所述IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第二处理，得到直流项；以及
根据所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项，计算所述抖动信号的调制深度。
附记11.根据附记10所述的方法，其中，所述根据所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项，计算所述抖动信号的调制深度，包括：
对所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项的比进行近似处理，得到所述抖动信号的调制深度，或者，
根据所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项的比以及预先确定的平方处理系数以及I路平均功率和Q路平均功率的关系，计算所述抖动信号的调制深度。
附记12.根据附记10所述的方法，其中，所述第二处理是对所述检测信号进行平均处理后再进行平方处理。
附记13.根据附记9所述的方法，其中，所述根据所述抖动信号的倍频项确定所述抖动信号的调制深度，包括：
根据所述抖动信号的倍频项以及预先确定的所述抖动信号的倍频项中包含的与功率相关的系数、平方处理系数和用于检测所述光信号的探测器的响应系数，计算所述抖动信号的调制深度。
附记14.根据附记9所述的方法，其中，
所述参考信号的相位与所述抖动信号的相位的所述预设的相位差大于0度且小于180度。
附记15.根据附记9所述的方法，其中，所述方法还包括：
根据确定的所述抖动信号的调制深度，对加载在所述IQ调制器的偏置控制电压上的抖动信号的振幅进行调整。
Claims (10)
1.一种抖动信号的调制深度监测装置，所述抖动信号加载在IQ调制器的偏置控制电压上，用于监测IQ调制器的偏置相位，所述装置包括：
第一处理单元，其用于对所述IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第一处理，得到第一处理信号；
同步检测单元，其用于对所述第一处理信号和参考信号进行同步检测，提取所述第一处理信号中的所述抖动信号的倍频项，其中，所述参考信号的频率是所述抖动信号的频率的两倍，且所述参考信号的相位与所述抖动信号的相位具有预设的相位差；以及
确定单元，其用于根据所述抖动信号的倍频项确定所述抖动信号的调制深度。
2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述确定单元包括：
第二处理单元，其用于对所述IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第二处理，得到所述抖动信号的直流项；以及
第一计算单元，其用于根据所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项，计算所述抖动信号的调制深度。
3.根据权利要求2所述的装置，其中，所述第一计算单元包括：
第二计算单元，其用于对所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项的比进行近似处理，得到所述抖动信号的调制深度，或者，
第三计算单元，其用于根据所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项的比以及预先确定的平方处理系数以及I路平均功率和Q路平均功率的关系，计算所述抖动信号的调制深度。
4.根据权利要求2所述的装置，其中，所述第二处理单元进行的所述第二处理是对所述检测信号进行平均处理后再进行平方处理。
5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述确定单元包括：
第四计算单元，其用于根据所述抖动信号的倍频项以及预先确定的所述抖动信号的倍频项中包含的与功率相关的系数、平方处理系数和用于检测所述光信号的探测器的响应系数，计算所述抖动信号的调制深度。
6.根据权利要求1所述的装置，其中，
所述参考信号的相位与所述抖动信号的相位的所述预设的相位差大于0度且小于180度。
7.根据权利要求1所述的装置，其中，所述装置还包括：
调整单元，其用于根据确定的所述抖动信号的调制深度，对加载在所述IQ调制器的偏置控制电压上的抖动信号的振幅进行调整。
8.一种光发射机，所述光发射机包括根据权利要求1所述的装置。
9.一种抖动信号的调制深度监测方法，所述抖动信号加载在IQ调制器的偏置控制电压上，用于监测IQ调制器的偏置相位，所述方法包括：
对所述IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第一处理，得到第一处理信号；
对所述第一处理信号和参考信号进行同步检测，提取所述第一处理信号中的所述抖动信号的倍频项，其中，所述参考信号的频率是所述抖动信号的频率的两倍，且所述参考信号的相位与所述抖动信号的相位具有预设的相位差；以及
根据所述抖动信号的倍频项确定所述抖动信号的调制深度。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述根据所述抖动信号的倍频项确定所述抖动信号的调制深度，包括：
对所述IQ调制器输出的光信号的检测信号进行第二处理，得到直流项；以及
根据所述抖动信号的倍频项与所述抖动信号的直流项，计算所述抖动信号的调制深度。
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