CN109510661B - 光发射机中iq延时差的测量方法、装置和光发射机 - Google Patents

Abstract

一种光发射机中的IQ延时差的测量方法、装置和光发射机，其中，所述测量方法包括：探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；通过对所述光发射机的调制器偏置进行调节，测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。通过该测量方法，可以简单地实现对光发射机中的IQ延时差的测量。

Description

光发射机中IQ延时差的测量方法、装置和光发射机

技术领域

本发明涉及光通信领域，特别涉及一种光发射机中同相正交(IQ，In-phaseQuadrature)延时差的测量方法、装置和光发射机。

背景技术

光发射机是超高速光通信系统中一种常用的发射机，通过在光的两个正交分量上加载信号来提高传输比特率。加载在光的两个正交分量上的信号称为I路信号和Q路信号，各自由不同的电路产生，因此可能会产生一定的延时差，称为IQ延时差，如图1所示。

在高波特率和复杂调制格式的光通信系统中，光发射机中的IQ延时差是一个很头疼的问题，因为IQ延时差产生在发射机中，接收机的算法难以对抗。如果可以在发射机端把IQ延时差测量出来，就可以采用数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)预补偿算法等手段把该IQ延时差消除掉。

应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本发明的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本发明的背景技术部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。

发明内容

发明人发现，在光发射机端精确地测量IQ延时差，目前还没有比较成熟的技术。实验室中通常是采用高精度的电光接口矢量网络分析仪，但是这种方法受限于其极度昂贵的成本。近年来一些论文报导了一些测量IQ延时差的方法，但是都不大理想。

为了解决上述问题，本发明实施例提供一种光发射机中IQ延时差的测量方法、装置和光发射机。

根据本发明实施例的第一方面，提供了一种光发射机中的IQ延时差的测量装置，其中，所述装置包括：

探测单元，其探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；

调节单元，其对所述光发射机的调制器偏置进行调节；

测量单元，其测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；

计算单元，其根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。

根据本发明实施例的第二方面，提供了一种光发射机，其中，所述光发射机包括前述第一方面所述的装置。

根据本发明实施例的第三方面，提供了一种光发射机中的IQ延时差的测量方法，其中，所述方法包括：

探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；

通过对所述光发射机的调制器偏置进行调节，测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；

根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。

根据本发明实施例的第四方面，提供了一种计算机可读程序，其中当在光发射机中执行所述程序时，所述程序使得所述光发射机执行前述第三方面所述的方法。

根据本发明实施例的第五方面，提供了一种存储有计算机可读程序的存储介质，其中所述计算机可读程序使得光发射机执行前述第三方面所述的方法。

本发明实施例的有益效果在于：本发明实施例通过调节光发射机的调制器偏置、观测调制信号的镜像谱的移动范围来计算光发射机中的IQ延时差，简单地实现了对光发射机中IQ延时差的测量。

参照后文的说明和附图，详细公开了本发明的特定实施方式，指明了本发明的原理可以被采用的方式。应该理解，本发明的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的条款的范围内，本发明的实施方式包括许多改变、修改和等同。

针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。

应该强调，术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。

附图说明

在本发明实施例的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或更多个其它附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。此外，在附图中，类似的标号表示几个附图中对应的部件，并可用于指示多于一种实施方式中使用的对应部件。

所包括的附图用来提供对本发明实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本发明的实施方式，并与文字描述一起来阐释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是光发射机中I路信号和Q路信号产生延时差的示意图；

图2是实施例1的测量装置的示意图；

图3是实施例1的测量装置中探测单元的一个实施方式的示意图；

图4是镜像谱探测的一个实施方式的示意图；

图5是实施例1的测量装置中测量单元的一个实施方式的示意图；

图6是镜像谱的移动范围的测量的一个实施方式的示意图；

图7是通过实施例1的测量装置进行镜像谱的移动范围的测量的一个示意图；

图8是实施例1的测量装置的计算单元计算IQ延时差的一个实施方式的示意图；

图9是实施例1的测量装置的计算单元计算IQ延时差的另一个实施方式的示意图；

图10是实施例1的测量装置的计算单元计算IQ延时差的再一个实施方式的示意图；

图11是实施例2的测量方法的示意图；

图12是实施例2的测量方法中进行镜像谱的移动范围的测量的一个示意图；

图13是实施例3的光发射机的示意图。

具体实施方式

参照附图，通过下面的说明书，本发明的前述以及其它特征将变得明显。在说明书和附图中，具体公开了本发明的特定实施方式，其表明了其中可以采用本发明的原则的部分实施方式，应了解的是，本发明不限于所描述的实施方式，相反，本发明包括落入所附权利要求的范围内的全部修改、变型以及等同物。

在本发明实施例中，术语“第一”、“第二”等用于对不同元素从称谓上进行区分，但并不表示这些元素的空间排列或时间顺序等，这些元素不应被这些术语所限制。术语“和/或”包括相关联列出的术语的一种或多个中的任何一个和所有组合。术语“包含”、“包括”、“具有”等是指所陈述的特征、元素、元件或组件的存在，但并不排除存在或添加一个或多个其他特征、元素、元件或组件。

在本发明实施例中，单数形式“一”、“该”等包括复数形式，应广义地理解为“一种”或“一类”而并不是限定为“一个”的含义；此外术语“所述”应理解为既包括单数形式也包括复数形式，除非上下文另外明确指出。此外术语“根据”应理解为“至少部分根据……”，术语“基于”应理解为“至少部分基于……”，除非上下文另外明确指出。

在本发明实施例中，首先在光发射机端产生单边带的IQ调制信号并测量其对应的光发射机输出镜像谱，然后调节调制器的偏置点，同时观测镜像谱的移动，最后利用偏置点的调节量和镜像谱的移动范围，来计算得到IQ延时差。

下面结合附图对本发明实施例的各种实施方式进行说明。这些实施方式只是示例性的，不是对本发明的限制。

实施例1

本实施例提供了一种光发射机中的IQ延时差的测量装置，图2是该测量装置200的示意图，如图2所示，该测量装置200包括：探测单元201、调节单元202、测量单元203、以及计算单元204。探测单元201用于探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；调节单元202用于对所述光发射机的调制器偏置进行调节；测量单元203用于测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；计算单元204用于根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。

图3是该探测单元201的一个实施方式的示意图，如图3所示，该探测单元201包括获取单元301和组合单元302，获取单元301基于光发射机产生的正频率的单边带信号，得到负频率处的镜像谱；基于光发射机产生的负频率的单边带信号，得到正频率处的镜像谱；组合单元302将该负频率处的镜像谱和该正频率处的镜像谱组合，得到所述调制信号的镜像谱。

图4示出了该探测单元201探测镜像谱的一个示例，如图4所示，在本实施例中，光发射机产生的调制信号包含正频率的单边带信号401和负频率的单边带信号402，将该调制信号接入光谱分析仪，基于该正频率的单边带信号401可以得到负频率处的镜像谱401’，基于该负频率的单边带信号402可以得到正频率处的镜像谱402’，将该负频率处的镜像谱401’和该正频率处的镜像谱402’组合，可以得到该调制信号的镜像谱。

图3和图4所示的探测镜像谱的方式只是举例说明，关于该镜像谱，也可以采用其他已知的成熟技术或者未来发展的技术来获得，本发明实施例对此不作限制。

在本实施例中，可以通过调节单元202对调制器偏置进行调节，使得调制信号的镜像谱发生移动，再通过测量单元203根据探测单元201对镜像谱的探测结果对镜像谱的移动范围进行测量。

图5是该测量单元203的一个实施方式的示意图，如图5所示，该测量单元203包括获取单元501和确定单元502。获取单元501根据调制信号的当前镜像谱获取第一预设功率处的频率f_before，并根据调制信号的移动后镜像谱获取第二预设功率处的频率f_after。在本实施方式中，当前镜像谱和移动后镜像谱都是探测单元201探测到的，其中，该移动后镜像谱是探测单元201在调节单元202对调制器偏置以预设的调节量进行调节后探测到的。确定单元502根据该第一预设功率处的频率f_before和该第二预设功率处的频率f_after，得到对应上述调节量的该调制信号的镜像谱的移动范围Δf＝f_after-f_before。

在本实施方式中，该第一预设功率和该第二预设功率作为获取上述频率(f_before和f_after)的参考，可以预设为镜像谱上的任意功率值，但要保证两者的预设功率值相同，以获取移动前和移动后对应的镜像谱的频率移动范围，例如设为镜像谱的最低功率。

图6示出了该测量单元203测量镜像谱移动范围的一个示例，如图6所示，根据探测单元201探测到的当前镜像谱，直接可以得到镜像谱上最低功率处的频率f_before，在对调制器偏置进行预定调节量(调节的偏置角度)Δθ的调节后，通过探测单元201的探测，可以得到移动后镜像谱，进而得到移动后镜像谱上最低功率处的频率f_after。由此，可以得到当前调节量Δθ＝-5°对应的镜像谱的移动范围Δf＝f_after-f_before。

在本实施方式中，对调制器偏置的调节方式不作限制，例如，可以使用寄存器按照预先设置的调节量对调制器偏置进行调节，也可以通过设计一个程序模块来按照预先设置的调节量对调制器偏置进行调节，等。

在本实施方式的一个变型例中，还可以对镜像谱的移动范围进行多次测量，例如，获取单元501根据预设的最大测量次数对调制信号的当前镜像谱和移动后镜像谱进行第一预设功率处的频率f_before和第二预设功率处的频率f_after的多次获取；确定单元502根据多个第一预设功率处的频率f_before和第二预设频率处的频率f_after得到对应多个调制器偏置的调节量{Δθ₁,Δθ₂,…,Δθ_n}的多个镜像谱的移动范围{Δf₁,Δf₂,…,Δf_n}，n为预设的最大测量次数。

图7是对镜像谱的移动范围进行测量的一个实施方式的处理流程图，如图7所示，该流程包括：

步骤701：探测单元201探测当前镜像谱上最低功率处的频率f_before；

步骤702：调节单元202以调节量Δθ对调制器偏置进行调节；

步骤703：探测单元201探测调制器偏置调节后的镜像谱上最低功率处的频率f_after；

步骤704：测量单元203测量得到对应Δθ的Δf＝f_after-f_before；

步骤705：判断是否到达最大测量次数n，如果判断为是，则输出测量结果，也即对应{Δθ₁,Δθ₂,…,Δθ_n}的{Δf₁,Δf₂,…,Δf_n}；否则返回到步骤701进行下一次测量。

在本实施方式中，每次测量所对应的调制器偏置的调节量可以相同，也可以不同，取决于具体实现，但不影响测量结果。在本实施方式中，最大测量次数是预先设定的，可以为任意的自然数，可以根据实际需要设定，测量次数越大，测量精度越高但相应的计算量也增加。

在本实施例中，通过测量单元203获得了镜像谱的移动范围之后，计算单元204即可根据该镜像谱的移动范围和对应的调制器偏置的调节量计算光发射机中的IQ延迟差。

在一个实施方式中，如果上述调节量和上述移动范围分别为一个，也即测量单元203只进行了一次镜像谱移动范围的测量，计算单元204可以将上述调节量与上述移动范围相除，再乘以1/2π，得到该光发射机中的IQ延时差。也即，在本实施方式中，计算单元204可以根据下面的公式计算光发射机中的IQ延时差τ。

在具体实现时，本实施方式的计算单元204可以通过图8的器件组合来实现，也即，在该实施方式中，该计算单元204可以包括一个除法模块801和一个乘法模块802，该除法模块801将Δθ除以Δf，该乘法模块802将除法模块801的输出乘以1/2π，得到光发射机中的IQ延时差τ。图8关于该计算单元204的实施方式只是举例说明，本实施方式并不以此作为限制。

在另一个实施方式中，如果上述调节量和上述移动范围分别为多个，也即测量单元203进行了镜像谱移动范围的多次测量，计算单元204可以先将每个调节量与对应的移动范围相除再乘以1/2π，得到对应每个调节量的IQ延时差；再将对应所有调节量的IQ延时差进行平均，得到该光发射机中的IQ延时差。也即，在本实施方式中，计算单元204可以根据下面的公式计算光发射机中的IQ延时差τ。

在具体实现时，本实施方式的计算单元204可以通过图9的器件组合来实现，也即，在该实施方式中，该计算单元204可以包括n个除法模块901、n个第一乘法模块902、一个加法模块903以及一个第二乘法模块904，该n个除法模块901分别将{Δθ₁,Δθ₂,…,Δθ_n}除以{Δf₁,Δf₂,…,Δf_n}，该n个第一乘法模块902将除法模块901的输出乘以1/2π，该加法模块903将n个第一乘法模块902的输出相加，该第二乘法模块904将加法模块903的输出乘以1/n，得到该光发射机中的IQ延时差。图9关于该计算单元204的实施方式只是举例说明，本实施方式并不以此作为限制。

在另一个实施方式中，如果上述调节量和上述移动范围分别为多个，也即测量单元203进行了镜像谱移动范围的多次测量，计算单元204还可以对多个上述调节量和多个上述移动范围进行线性拟合，得到该光发射机中的IQ延时差。也即，在本实施方式中，计算单元204可以根据下面的公式计算光发射机中的IQ延时差τ。

其中，LinearFit(·)的返回值是基于最小二乘准则的截距为0的线性拟合的斜率。

在具体实现时，本实施方式的计算单元204可以通过图10的器件组合来实现，也即，在本实施方式中，该计算单元204可以包括一个线性拟合模块1001和一个乘法模块1002，该线性拟合模块1001对该多个调节量{Δθ₁,Δθ₂,…,Δθ_n}和该多个移动范围{Δf₁,Δf₂,…,Δf_n}进行线性拟合，该乘法模块1002将线性拟合模块1001的输出乘以1/2π，得到该光发射机中的IQ延时差。图10关于该计算单元204的实施方式只是举例说明，本实施方式并不以此作为限制。

在本实施例中，该测量装置可以设置于光发射机中，也可以设置于独立于光发射机的单独的设备中，本实施例对此不作限制。

通过本实施例的装置，通过调节光发射机的调制器偏置、观测调制信号的镜像谱的移动范围来计算光发射机中的IQ延时差，简单地实现了对光发射机中IQ延时差的测量。

实施例2

本实施例提供了一种光发射机中的IQ延时差的测量方法，由于该方法解决问题的原理与实施例1的装置类似，因此其具体的实施可以参考实施例1的装置的实施，内容相同之处不再重复说明。

图11是本实施例的测量方法的示意图，如图11所示，该测量方法包括：

步骤1101：探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；

步骤1102：通过对所述光发射机的调制器偏置进行调节，测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；

步骤1103：根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。

在步骤1101中，可以基于所述光发射机产生的正频率的单边带信号，得到负频率处的镜像谱；基于所述光发射机产生的负频率的单边带信号，得到正频率处的镜像谱；将所述负频率处的镜像谱和所述正频率处的镜像谱组合，得到所述调制信号的镜像谱。具体的探测方式如图4所示，此处不再赘述。

在本实施例的一个实施方式中，步骤1102可以通过图12的方法来实现，如图12所示，该方法包括：

步骤1201：根据所述调制信号的镜像谱确定第一预设功率处的频率f_before；

步骤1202：以预设的调节量Δθ对所述调制器偏置进行调节；

步骤1203：再次探测所述调制信号的镜像谱，得到第二预设功率处的频率f_after；

步骤1204：根据所述第一预设功率处的频率f_before和所述第二预设功率处的频率f_after，得到对应所述调节量Δθ的所述调制信号的镜像谱的移动范围Δf＝f_after-f_before。

在图12的示例中，第一预设功率可以为对所述调制器偏置进行调节之前的镜像谱的最低功率，第二预设功率可以为对所述调制器偏置进行调节之后的镜像谱的最低功率。

通过步骤1201-1204的处理，可以得到对镜像谱的移动范围进行一次测量的测量结果，也即通过一次测量得到镜像谱的移动范围Δf。

在本实施例的另一个实施方式中，可以对镜像谱的移动范围进行多次测量，则如图12所示，该方法还包括：

步骤1205：判断是否到达了预设的最大测量次数，如果判断为否，则重复步骤1201-1204，得到对应多个调节量{Δθ₁,Δθ₂,…,Δθ_n}的多次测量的镜像谱的移动范围{Δf₁,Δf₂,…,Δf_n},n为预设的最大测量次数；如果判断为是，则输出结果，结束流程。

在本实施例中，当所述调节量和所述移动范围分别为一个时，在步骤1103中，可以将所述调节量与所述移动范围相除，再乘以1/2π，得到所述光发射机中的IQ延时差。

在本实施例中，当所述调节量和所述移动范围分别为多个时，在步骤1103中，可以将每个调节量与对应的移动范围相除再乘以1/2π，得到对应每个调节量的IQ延时差；将对应所有调节量的IQ延时差进行平均，得到所述光发射机中的IQ延时差。在步骤1103中，也可以对多个所述调节量和多个所述移动范围进行线性拟合，得到所述光发射机中的IQ延时差。

通过本实施例的方法，通过调节光发射机的调制器偏置、观测调制信号的镜像谱的移动范围来计算光发射机中的IQ延时差，简单地实现了对光发射机中IQ延时差的测量。

实施例3

本实施例还提供了一种光发射机，图13是该光发射机的组成示意图。如图13所示，光发射机1300包括：数字模拟转换器1301、1302，电驱动器1303、1304，激光器1305，IQ调制器1306，调制器偏置控制器1307以及实施例1的测量装置200。

在本实施例中，数字模拟转换器1301、1302，电驱动器1303、1304，激光器1305，IQ调制器1306，调制器偏置控制器1307的结构和功能可参考现有技术，测量装置200的结构和功能与实施例1中的记载相同，此处不再赘述。

另外，可以将该测量装置200集成在光发射机1300的数字信号处理器中，即，通过数字信号处理器实现测量装置200的功能。例如，该数字信号处理器可以被配置为：探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；通过对所述光发射机的调制器偏置进行调节，测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。

在本实施例中，光发射机1300也并不是必须要包括图13中所示的所有部件；此外，光发射机1300还可以包括图13中没有示出的部件，可以参考现有技术。

通过本实施例的光发射机，通过调节调制器偏置、观测调制信号的镜像谱的移动范围来计算光发射机中的IQ延时差，简单地实现了对光发射机中IQ延时差的测量。

实施例4

本实施例提供了一种光通信系统，该系统包括光发射机和光接收机，其中，光发射机可以是实施例3的光发射机1300，由于在实施例3以及前述实施例1和实施例2中，已经对该光发射机的组成和功能做了详细说明，其内容被合并于此，此处不再赘述。在本实施例中，光接收机的功能可以参考现有基础，此处不再赘述。

本发明实施例还提供一种计算机可读程序，其中当在光发射机中执行所述程序时，所述程序使得所述光发射机执行如实施例2所述的测量方法。

本发明实施例提供一种存储有计算机可读程序的存储介质，其中所述计算机可读程序使得光发射机执行如实施例2所述的测量方法。

本发明以上的装置和方法可以由硬件实现，也可以由硬件结合软件实现。本发明涉及这样的计算机可读程序，当该程序被逻辑部件所执行时，能够使该逻辑部件实现上文所述的装置或构成部件，或使该逻辑部件实现上文所述的各种方法或步骤。本发明还涉及用于存储以上程序的存储介质，如硬盘、磁盘、光盘、DVD、flash存储器等。

结合本发明实施例描述的方法/装置可直接体现为硬件、由处理器执行的软件模块或二者组合。例如，图2中所示的功能框图中的一个或多个和/或功能框图的一个或多个组合(例如，探测单元、测量单元和计算单元等)，既可以对应于计算机程序流程的各个软件模块，亦可以对应于各个硬件模块。这些软件模块，可以分别对应于图11所示的各个步骤。这些硬件模块例如可利用现场可编程门阵列(FPGA)将这些软件模块固化而实现。

软件模块可以位于RAM存储器、闪存、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、移动磁盘、CD-ROM或者本领域已知的任何其它形式的存储介质。可以将一种存储介质耦接至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息；或者该存储介质可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。该软件模块可以存储在移动终端的存储器中，也可以存储在可插入移动终端的存储卡中。例如，若设备(如移动终端)采用的是较大容量的MEGA-SIM卡或者大容量的闪存装置，则该软件模块可存储在该MEGA-SIM卡或者大容量的闪存装置中。

针对附图中描述的功能方框中的一个或多个和/或功能方框的一个或多个组合，可以实现为用于执行本发明所描述功能的通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其它可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件或者其任意适当组合。针对附图描述的功能方框中的一个或多个和/或功能方框的一个或多个组合，还可以实现为计算设备的组合，例如，DSP和微处理器的组合、多个微处理器、与DSP通信结合的一个或多个微处理器或者任何其它这种配置。

以上结合具体的实施方式对本发明进行了描述，但本领域技术人员应该清楚，这些描述都是示例性的，并不是对本发明保护范围的限制。本领域技术人员可以根据本发明的精神和原理对本发明做出各种变型和修改，这些变型和修改也在本发明的范围内。

关于包括以上实施例的实施方式，还公开下述的附记：

附记1，一种光发射机中的IQ延时差的测量方法，其中，所述方法包括：

S1：探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；

S2：通过对所述光发射机的调制器偏置进行调节，测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；

S3：根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差。

附记2，根据附记1所述的方法，其中，S1包括：

基于所述光发射机产生的正频率的单边带信号，得到负频率处的镜像谱；

基于所述光发射机产生的负频率的单边带信号，得到正频率处的镜像谱；

将所述负频率处的镜像谱和所述正频率处的镜像谱组合，得到所述调制信号的镜像谱。

附记3，根据附记1所述的方法，其中，S2包括：

S21：根据所述调制信号的镜像谱确定第一预设功率处的频率f_before；

S22：以预设的调节量对所述调制器偏置进行调节；

S23：再次探测所述调制信号的镜像谱，得到第二预设功率处的频率f_after；

S24：根据所述第一预设功率处的频率f_before和所述第二预设功率处的频率f_after，得到对应所述调节量的所述调制信号的镜像谱的移动范围Δf＝f_after-f_before。

附记4，根据附记3所述的方法，其中，所述第一预设功率为对所述调制器偏置进行调节之前的镜像谱的最低功率，所述第二预设功率为对所述调制器偏置进行调节之后的镜像谱的最低功率。

附记5，根据附记3所述的方法，其中，S2还包括：

S25：判断是否到达了预设的最大测量次数，如果判断为否，则重复步骤S21-S24，得到多次测量的镜像谱的移动范围{Δf₁,Δf₂,…Δf_n},n为预设的最大测量次数。

附记6，根据附记1所述的方法，其中，S3包括：

当所述调节量和所述移动范围分别为一个时，将所述调节量与所述移动范围相除，再乘以1/2π，得到所述光发射机中的IQ延时差。

附记7，根据附记1所述的方法，其中，S3包括：

当所述调节量和所述移动范围分别为多个时，将每个调节量与对应的移动范围相除再乘以1/2π，得到对应每个调节量的IQ延时差；

将对应所有调节量的IQ延时差进行平均，得到所述光发射机中的IQ延时差。

附记8，根据附记1所述的方法，其中，S3包括：

当所述调节量和所述移动范围分别为多个时，对多个所述调节量和多个所述移动范围进行线性拟合，得到所述光发射机中的IQ延时差。

Claims (6)

1.一种光发射机中的IQ延时差的测量装置，其中，所述装置包括：

探测单元，其探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；

调节单元，其对所述光发射机的调制器偏置进行调节；

测量单元，其测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；

计算单元，其根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差；

其中，

所述计算单元在所述调节量和所述移动范围分别为一个时，将所述调节量与所述移动范围相除，再乘以1/2π，得到所述光发射机中的IQ延时差；

所述计算单元在所述调节量和所述移动范围分别为多个时，将每个调节量与对应的移动范围相除再乘以1/2π，得到对应每个调节量的IQ延时差，将对应所有调节量的IQ延时差进行平均，得到所述光发射机中的IQ延时差；或者，所述计算单元在所述调节量和所述移动范围分别为多个时，对多个所述调节量和多个所述移动范围进行线性拟合，得到所述光发射机中的IQ延时差。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述探测单元包括：

获取单元，基于所述光发射机产生的正频率的单边带信号，得到负频率处的镜像谱；基于所述光发射机产生的负频率的单边带信号，得到正频率处的镜像谱；

组合单元，其将所述负频率处的镜像谱和所述正频率处的镜像谱组合，得到所述调制信号的镜像谱。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述测量单元包括：

获取单元，其根据所述调制信号的当前镜像谱获取第一预设功率处的频率f_before，并根据所述调制信号的移动后镜像谱获取第二预设功率处的频率f_after；所述移动后镜像谱为所述探测单元在所述调节单元对调制器偏置以预设的调节量Δθ进行调节后探测到的；

确定单元，其根据所述第一预设功率处的频率f_before和所述第二预设功率处的频率f_after，得到对应所述调节量Δθ的所述调制信号的镜像谱的移动范围Δf＝f_after-f_before；

其中，所述第一预设功率为所述当前镜像谱的最低功率，所述第二预设功率为所述移动后镜像谱的最低功率。

4.根据权利要求3所述的装置，其中，

所述获取单元根据预设的最大测量次数对所述调制信号的当前镜像谱和移动后镜像谱进行第一预设功率处的频率f_before和第二预设功率处的频率f_after的多次获取；

所述确定单元根据多个第一预设功率处的频率f_before和第二预设频率处的频率f_after得到对应多个调制器偏置的调节量{Δθ₁,Δθ₂,…,Δθ_n}的多个镜像谱的移动范围{Δf₁,Δf₂,…,Δf_n}，n为预设的最大测量次数。

5.一种光发射机，其中所述光发射机包括权利要求1至4中任一项所述的装置。

6.一种光发射机中的IQ延时差的测量方法，其中，所述方法包括：

探测光发射机输出的调制信号的镜像谱；

通过对所述光发射机的调制器偏置进行调节，测量所述调制信号的镜像谱的移动范围；

根据所述调制信号的镜像谱的移动范围和对所述调制器偏置进行调节的调节量计算光发射机中的IQ延时差；

其中，

在所述调节量和所述移动范围分别为一个时，将所述调节量与所述移动范围相除，再乘以1/2π，得到所述光发射机中的IQ延时差；

在所述调节量和所述移动范围分别为多个时，将每个调节量与对应的移动范围相除再乘以1/2π，得到对应每个调节量的IQ延时差，将对应所有调节量的IQ延时差进行平均，得到所述光发射机中的IQ延时差；或者，在所述调节量和所述移动范围分别为多个时，对多个所述调节量和多个所述移动范围进行线性拟合，得到所述光发射机中的IQ延时差。

Images