CN111190274A - 一种双通道共像面的全景环带光学成像装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种双通道共像面的全景环带光学成像装置，包括全景环带光学系统和侧方视场望远光学系统，利用柱面大视场全景环带光学系统检测光学系统周围的物体轮廓；利用侧方视场望远光学系统观测目标物体的细节特征，两个系统共用一个探测器，两条光路分开的前半部分通过半透半反镜后折转进入相同的后继透镜组到达探测器靶面成像，全景环带光学系统在像面形成环带区域成像，望远系统在像面环带中间的圆形区域成像，两个区域互不干涉。本发明实现大视场范围的目标探测和关键目标的细节放大，有利于目标物体探测与追踪。本发明采用共光路，提高系统对像面的成像利用率，减小整个光学系统的轴向尺寸，装置结构紧凑，可适用于较为恶劣的工作环境。

Description

一种双通道共像面的全景环带光学成像装置
技术领域
本发明涉及透镜成像装置，具体涉及一种双通道共像面的全景环带光学成像装置。
背景技术
全景环带光学系统基于圆柱平面投影法的成像方式，有着大视场成像的优点，可以对围绕系统360°的圆形柱面进行探测，已被广泛应用于空间探测、安防监控、机器视觉、智能家居、管道内窥、无人驾驶等领域。越来越多的应用场合对大视场的光学系统提出轻量化和细节探测的要求，如输电线路监测方面，避免使用多个镜头拍摄或复杂的控制系统控制镜头转动监测的方式，使用单个全景环带光学系统即可实现输电线杆周围360°范围物体的监测。
由于全景环带光学系统前反射面的缘故，使得来自前方小视场的光线无法进入光学系统成像，故而像面上形成环带的像，中间圆形像面区域无法利用，带来了图像利用率低的问题，为了合理增大像面上的图像利用率，研究者们设计了几种消盲区的方法来补足圆形像面。目前的大多数实现方法是在光学系统前反射面上做修改，通过镀二向色膜和半透半反膜使得前方小视场光线可以进入光学系统在探测器靶面圆形区域成像。然而全景环带光学系统在使用时关注的视场是侧方围绕系统360°的圆柱形区域，所以中心小视场光线进入光学系统对于实际的推广与应用效果不甚理想。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的不足，提供了一种全景环带光学系统与望远系统组合成像的装置，使用单一探测器，对装置侧方视场的物体进行大范围的轮廓的监测和针对目标物体的细节放大，把单纯使用全景环带光学系统成像所浪费的中心圆形像面区域合理利用起来，整个装置在轴向方向上没有较大的尺寸增加，结构较为紧凑。
本发明的目的通过如下的技术方案来实现：
一种双通道共像面的全景环带光学成像装置，包括全景环带光学系统和侧方视场望远光学系统，利用柱面大视场的全景环带光学系统检测该系统周围的物体轮廓，利用侧方视场望远光学系统观测目标物体的细节特征。
进一步地，所述的全景环带光学系统包括沿光轴A顺次设置的全景环带块状头部单元、半透半反镜、后继透镜组和探测器靶面；
所述的侧方视场望远光学系统包括沿光轴B设置的望远透镜组，还包括全景环带光学系统的半透半反镜、后继透镜组、探测器靶面；
所述的光轴A和光轴B垂直，且两者的焦点均为半透半反镜的中心；所述的半透半反镜与所述的光轴A和光轴B的夹角均为45°；
所述的全景环带光学系统与侧方视场望远光学系统共用一个探测器，光线经所述的全景环带光学系统后到达所述的探测器靶面，形成环带像面，用于显示系统周围的物体轮廓；光线经所述的侧方视场望远光学系统后到达所述的探测器靶面，在环带像面的内部的圆形成像区域形成圆形像面，用于显示目标物体的细节特征。
进一步地，所述的探测器靶面的圆形成像区域的外径小于所述的环形成像区域的内径，两者互不干涉，不影响两个通道的成像质量。
进一步地，所述的全景环带块状头部单元包括前透射面、后反射面、前反射面、后透射面。
本发明的有益效果如下：
该装置利用柱面成像的大视场全景环带光学系统检测光学系统周围的物体轮廓，利用侧方视场望远光学系统观测目标物体的细节特征，两条光路的分开的前半部分通过半透半反镜后折转进入相同的后继透镜组到达探测器靶面成像，全景环带光学系统在像面形成环带区域成像，望远系统在像面环带中间的圆形区域成像，两个区域互不干涉。该装置通过单一传感器对装置周围圆柱形区域，即侧方视场，实现全景探测和局部望远放大两种功能，针对侧方视场的物体既能够进行全局大范围的掌控了解，又可以针对其中感兴趣的目标物体进行望远探测，从而实现局部细节的放大监察，并且弥补了全景环带光学系统被浪费的中心圆形成像区域，实现了传感器有效像素利用率的最大化。
附图说明
图1是双通道共像面的全景环带光学成像装置示意图；
图2是本发明探测器靶面的像面图；
图中：光轴A、光轴B、全景环带块状头部单元前透射面1、全景环带块状头部单元后反射面2、全景环带块状头部单元前反射面3、全景环带块状头部单元后透射面4、半透半反镜5、后继透镜组6、探测器靶面7、望远透镜组8、全景环带块状头部单元9、物点发出的第一条光线10、物点发出的第二条光线11、环带成像区域12、中心圆形成像区域13、物点p、第一像点P1、第二像点P2。
具体实施方式
下面根据附图和优选实施例详细描述本发明，本发明的目的和效果将变得更加明白。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明提出的双通道共像面的全景环带光学成像装置，在全景环带光路光轴A垂直地面放置时，在后继透镜组6前加入了半透半反镜5，望远光路的光线沿水平光轴B以一定角度入射进入望远透镜组，经过半透半反镜45°的反射折转进入后继透镜组6，到达探测器靶面7的中心圆形区域成像。全景环带光路中的视场较大，与望远系统的视场部分重叠，两条光路都是对整个光学装置的侧方视场的物体成像，实现了全景环带光学系统探测物体轮廓，望远光路观察物体细节的功能。
如图1、2所示，本发明的双通道共像面的全景环带光学成像装置包括全景环带光学系统和侧方视场望远光学系统，利用柱面大视场全景环带光学系统检测光学系统周围的物体轮廓；利用侧方视场望远光学系统观测目标物体的细节特征，全景环带光学系统与望远光学系统共用一个探测器，两条光路的分开的前半部分通过半透半反镜后折转进入相同的后继透镜组到达探测器靶面成像，全景环带光学系统在像面形成环带区域成像，望远系统在像面环带中间的圆形区域成像，两个区域互不干涉。
在光轴A上顺次设有全景环带块状头部单元9、半透半反镜5、后继透镜组6和探测器靶面7；在光轴B上顺次设有望远透镜组8和半透半反镜5。两路通道公共部分为半透半反镜5、后继透镜组6和探测器靶面7。光轴A和光轴B垂直，且两者的焦点均为半透半反镜5的中心；半透半反镜5与光轴A和光轴B的夹角均为45°。
光线通过全景环带块状头部单元9的前透射面1的透射、后反射面2的反射、前反射面3的反射、后透射面4的透射后，经过半透半反镜5的透射和后继透镜组6的透射到达探测器靶面7形成环带像面12；光线经过望远透镜组8的透射，经过半透半反镜5的反射和后继透镜组6的透射到达探测器靶面形成圆形像面13。物点P发出的一条光线10经过全景环带块状头部单元9的前透射面1的透射、后反射面2的反射，在经过前反射面3的反射和后透射面的透射到达半透半反镜5，经过半透半反镜5和后继透镜组6的透射到达探测器靶面7的环带成像区域形成第一像点P1，物点发出的第二条光线11经过望远透镜组8的透射，半透半反镜45°的反射折转，经过后继透镜组6的透射到达探测器靶面7的圆形成像区域形成第二像点P2。在整个光学系统的设计优化过程中，通过改变系统参数使得中心成像圆13的外径小于环带成像区域12的内径，使得两个通道光学系统可以清晰成像。
全景环带光学系统可以观察围绕成像装置360°区域视场内的所有物点成像，若对某个物点P感兴趣，可以利用控制电机旋转望远透镜组8和半透半反镜5，使得其对准P点，P发出的一条光线10经过全景环带块状头部单元9的前透射面1的透射、后反射面2的反射，在经过前反射面3的反射和后透射面的透射到达半透半反镜5，经过半透半反镜5和后继透镜组6的透射到达探测器靶面7的环带成像区域形成第一像点P1，物点发出的第二条光线11经过望远透镜组8的透射，半透半反镜45°的反射折转，经过后继透镜组6的透射到达探测器靶面7的圆形成像区域形成第二像点P2，此像点是全景环带光路所成像点P1放大的像，实现了通过单一传感器，针对侧方大视场中目标物体的全局与局部探测功能。
在整个装置设计过程中，可以先设计并优化全景环带光路部分，根据应用场景和实际探测情况，确定两个光路的视场角大小，设计优化完成全景环带光路部分之后，将后继透镜组部分的镜片厚度、曲率半径和空气间隔等参数固定，利用这部分参数再加入镜片优化设计望远部分透镜以满足实际需要。在设计优化过程中，注意像面上环形区域与圆形区域不可重叠，以免使得两个通道成像混淆干涉。
本领域普通技术人员可以理解，以上所述仅为发明的优选实例而已，并不用于限制发明，尽管参照前述实例对发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实例记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在发明的精神和原则之内，所做的修改、等同替换等均应包含在发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种双通道共像面的全景环带光学成像装置，其特征在于，包括全景环带光学系统和侧方视场望远光学系统，利用柱面大视场的全景环带光学系统检测该系统周围的物体轮廓，利用侧方视场望远光学系统观测目标物体的细节特征。
2.根据权利要求1所述的双通道共像面的全景环带光学成像装置，其特征在于，所述的全景环带光学系统包括沿光轴A顺次设置的全景环带块状头部单元(9)、半透半反镜(5)、后继透镜组(6)和探测器靶面(7)；
所述的侧方视场望远光学系统包括沿光轴B设置的望远透镜组(8)，还包括全景环带光学系统的半透半反镜(5)、后继透镜组(6)、探测器靶面(7)；
所述的光轴A和光轴B垂直，且两者的焦点均为半透半反镜(5)的中心；所述的半透半反镜(5)与所述的光轴A和光轴B的夹角均为45°。
所述的全景环带光学系统与侧方视场望远光学系统共用一个探测器，光线经所述的全景环带光学系统后到达所述的探测器靶面(7)，形成环带像面，用于显示系统周围的物体轮廓；光线经所述的侧方视场望远光学系统后到达所述的探测器靶面(7)，在环带像面的内部的圆形成像区域形成圆形像面，用于显示目标物体的细节特征。
3.根据权利要求2所述的双通道共像面的全景环带光学成像装置，其特征在于，所述的探测器靶面(7)的圆形成像区域的外径小于所述的环形成像区域的内径，两者互不干涉，不影响两个通道的成像质量。
4.根据权利要求2所述的双通道共像面的全景环带光学成像装置，其特征在于，所述的全景环带块状头部单元(9)包括前透射面(1)、后反射面(2)、前反射面(3)、后透射面(4)。
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