CN111189616A - 模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法及测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供的模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，包括步骤如下：测试前先对光子晶体光纤试样进行检测，记录作为测试前的损耗初始值α₁；将试样的一端固定在旋转臂上，并将试样的部分缠绕在绕线轮上，并将试样的两端接通至检测装置上；固定座将试样中间端固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α₂；固定座与试样脱离接触，直线驱动器驱使旋转臂移动；将固定座将试样重新固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α₃；测试结束，将试样取下，测试并记录试样传导过程中的损耗α₄，该传导测试方法操作方便，便于光子晶体光纤模拟现实的传导状态。

Description

模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法及测试设备

技术领域

本发明属于测试设备领域，具体涉及模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，还具体涉及一种测试设备。

背景技术

光子晶体光纤(Photonic Crystal Fibers)，其中的一类硫系玻璃光子晶体光纤，由于硫系玻璃光纤的色散值平坦且接近零，这使得脉冲种子光源的波长有了更广泛的选择，在光学相干断层扫描、频谱检测、非线性显微镜等领域有着不可估量的应用前景；该类硫系玻璃光子晶体光纤其导向实心核心区域被气孔包围。通过控制芯尺寸，气孔尺寸和周期性，它可以在PCF的分散设计中实现显着的灵活性，

但是光子晶体光纤的包层区气孔的排列方式能够极大地影响模式性质，在正常使用过程中光子晶体光纤常会受到弯曲、扭转、拉伸的作用力，这使得光子晶体光纤使得包层区气孔产生变化，从而影响传导效率，在光子晶体光纤测试领域中，现有的测试设备常模拟光子晶体光纤受到一种作用力的影响，而在现实使用过程中，光子晶体光纤常受到多种作用力共同的影响，需要模拟光子晶体光纤在现实使用过程受力状态下，测试光子晶体光纤传导效率。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明提出的模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法。

本发明提供的模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，包括步骤如下：

S1、测试前先对光子晶体光纤试样进行检测，记录作为测试前的损耗初始值α₁；

S2、将试样的一端固定在旋转臂上，并将试样的部分缠绕在绕线轮上，并将试样的两端接通至检测装置上；

S3、固定座将试样中间端固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α₂；

S4、固定座与试样脱离接触，直线驱动器驱使旋转臂移动；

S5、将固定座将试样重新固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α₃；

S6、测试结束，将试样取下，测试并记录试样传导过程中的损耗α₄；

通过直线驱动器驱使旋转臂移动，旋转臂驱使试样转动，从而试样在不少于两个受力状态下的实施测试。

优选地，在步骤S6中，将试样取下后，在室温环境下静置2h后，施行测试。

优选地，在步骤S3、S5中，固定座将试样后，通过直线驱动器驱使旋转臂抬升1°。

优选地，在步骤S3、S5中，旋转臂往复摆动10次。

优选地，在步骤S4中，直线驱动器驱使旋转臂向上移动20°，通过直线驱动器驱使旋转臂直线移动的距离，得出光子晶体光纤试样移动前后间的角度。

优选地，在步骤S2中，试样弯折90°。

优选地，在步骤S5可重复步骤S4；直线驱动器驱使旋转臂逐次垂直向上移动。

优选地，包括控制器，所述控制器内配置有执行上述测试方法的程序，

还包括模拟工作台、底座、所述直线驱动器以及所述检测装置；所述模拟工作台包括所述旋转臂、旋转电机、用于固定光子晶体光纤与所述检测装置的接头连接器；

所述底座包括所述固定座，所述旋转臂与所述固定座平行设置；

所述固定座固定的光子晶体光纤对应所述旋转电机的旋转中心；所述旋转电机安装在所述直线驱动器的可移动端处；

所述控制器设置在所述检测装置内，所述旋转电机、直线驱动器与所述控制器电性连接，所述控制器发出控制指令，所述直线驱动器驱使所述旋转电机朝所述固定座方向移动，所述旋转电机驱使所述旋转臂转动；

通过所述控制器控制所述旋转电机、直线驱动器工作，从而模拟光子晶体光纤在现实中的不少于两个受力状态下使用过程。

优选地，包括传动模组；所述传动模组用于形成弯折光子晶体光纤的转折点；

所述传动模组内开设有用于光子晶体光纤通过的通孔，所述传动模组靠近模拟工作台一端的内侧壁呈向外扩散的坡面；

所述传动模组内通孔的中轴线对应所述转动测试模组的旋转中心，通过所述转动测试模组的驱使光子晶体光纤转动，使得光子晶体光纤在所述内侧壁上滑动。

优选地，还包括限位模组，所述限位模组设置在对应所述传动模组的位置处；所述限位模组包括转轮座、转轮，所述转轮安装在所述转轮座上；所述转轮与所述内侧壁的坡面相接触；

所述传动模组还包括弹性通道，所述弹性通道与所述传动模组弹性连接；

所述限位模组还包括连接杆，所述连接杆与所述转轮座弹性连接；

通过所述弹性通道与所述传动模组弹性连接以及连接杆与所述转轮座弹性连接，使得所述直线驱动器驱使所述旋转臂移动时，所述转轮与所述内侧壁的坡面保持接触。

相比现有技术，本发明的有益效果在于：

本发明提供的模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，通过旋转臂转动光子晶体光纤，使得光子晶体光纤产生形变，从而利用光子晶体光纤的形变模拟光子晶体光纤的现实使用过程中的受力状态，再由直线驱动器调整光子晶体光纤的形变程度，得到不同受力状态下的光子晶体光纤的传导效率，更加符合现实使用过程，本发明操作简单，使用方便。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明在一实施例中的逻辑图；

图2为本发明在一实施例中的正视图；

图3为本发明在一实施例中的立体结构示意图

图4为本发明在一实施例中的爆炸示意图；

图5为图4的局部放大示意图；

图6为本发明在一实施例中的部分结构示意图；

图7为图6的局部放大示意图；

图8为本发明在一实施例中模拟工作台的爆炸示意图；

图9为本发明在一实施例中限位模组与传动模组的剖视图；

图10为本发明在一实施例中驱动模组的立体结构示意图；

图11为本发明在一实施例中的简易电路图。

图中所示：

1、模拟工作台；11、支撑台；12、转动测试模组；121、旋转电机；122、旋转臂；123、接头连接器；13、导向板；131、导向槽；132、轴承座；14、限位模组；141、转轮座；142、转轮；1421、限位槽；143、连接杆；2、底座；21、支架；22、绕线轮；23、固定座；231、固定块；232、夹紧气缸；24、传动模组；241、内侧壁；242、弹性通道；31、驱动模组；311、直线驱动器；312、驱动块；313、位置传感器；32、导向件；4、检测装置；5、固定架。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步的详细说明，本发明的前述和其它目的、特征、方面和优点将变得更加明显，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。在附图中，为清晰起见，可对形状和尺寸进行放大，并将在所有图中使用相同的附图标记来指示相同或相似的部件。在下列描述中，诸如中心、厚度、高度、长度、前部、背部、后部、左边、右边、顶部、底部、上部、下部等用词为基于附图所示的方位或位置关系。特别地，“高度”相当于从顶部到底部的尺寸，“宽度”相当于从左边到右边的尺寸，“深度”相当于从前到后的尺寸，“闭合”指代载具方便通过而操作人员无法通过，“环形”相当于循环形状。这些相对术语是为了说明方便起见并且通常并不旨在需要具体取向。涉及附接、联接等的术语(例如，“连接”和“附接”)是指这些结构通过中间结构彼此直接或间接固定或附接的关系、以及可动或刚性附接或关系，除非以其他方式明确地说明。

下面，结合附图以及具体实施方式，对本发明做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

如图2-3所示，一种测试设备，包括模拟工作台1、底座2、直线驱动器31、检测装置4，底座2用于存放光子晶体光纤，底座2的上表面处引出光子晶体光纤的一端，使得光子晶体光纤与模拟工作台1连接；模拟工作台1用于驱动与其连接的光子晶体光纤转动，从而使得光子晶体光纤形变；直线驱动器31的可移动端与模拟工作台1连接，使得直线驱动器31驱使模拟工作台1沿垂直底座2上表面的方向移动；光子晶体光纤的两端与检测装置4连通，使得光子晶体光纤与检测装置4形成导通的通路。

通过直线驱动器31驱使模拟工作台1移动从而调整模拟工作台1与底座2的距离，便于调整光子晶体光纤的弯折角度以及光子晶体光纤的拉伸状况；而同时模拟工作台1驱使光子晶体光纤转动，使得光子晶体光纤产生扭转，通过合理的调节，该工作平台方便同时对光子晶体光纤施加多个作用力，使得光子晶体光纤同时产生弯折、扭转、拉伸，使得光子晶体光纤更符合现实使用过程中的状态，方便检测到真实的传导数据。

该测试设备包括固定架5，直线驱动器31固定安装在固定架5上，使得模拟工作台1相对于固定架5移动，底座2固定在基板上，使得模拟工作台1相对于底座2移动，从而方便调节模拟工作台1与底座2之间的距离。

模拟工作台1包括转动测试模组12，底座2上安装有固定座23、传动模组24；光子晶体光纤依次通过固定座23、传动模组24，并与转动测试模组12的旋转端连接；固定座23、传动模组24设置在相对应的位置处，使得位于固定座23、传动模组24之间的光子晶体光纤保持垂直竖直方向，

如图5所示，固定座23用于将光子晶体光纤固定；传动模组24用于形成弯折光子晶体光纤的转折点，并将光子晶体光纤导向转动测试模组12的旋转端，转动测试模组12的旋转端设置在远离传动模组24的位置处，当光子晶体光纤与转动测试模组12的旋转端连接时，使得传动模组24处的光子晶体光纤产生弯折，从而模拟光子晶体光纤使用过程中的弯折状态，通过直线驱动器31驱使模拟工作台1，便于调整光子晶体光纤的弯折角度；在检测过程中，通过固定座23将光子晶体光纤固定，并驱使转动测试模组12转动，由于光子晶体光纤的一端受到固定座23固定，当光子晶体光纤绕转动测试模组12中线转动时，使得固定在固定座23与转动测试模组12之间的一段光子晶体光纤发生扭转，通过弯折、扭转受力模拟光子晶体光纤使用状态，光子晶体光纤的两端与测试设备连接形成传输通路，从而使得光子晶体光纤检测出的传导效率更加接近现实使用过程，得到的数据更具真实性。

如图2、8所示，在一优选实施例中，转动测试模组12包括旋转电机121、旋转臂122、接头连接器123；通过所述旋转电机121驱使旋转臂122转动，进而带动安装在所述旋转臂122一端的接头连接器123转动；

如图8所示，接头连接器123用于固定光子晶体光纤一端的接头，使得光子晶体光纤与检测装置4连接，接头连接器123包括有接口，使得光子晶体光纤的接头与检测装置4的接头卡接在接头连接器123的接口内，通过接头连接器123将定光子晶体光纤固定，同时与测试设备连接，提高了连接稳定性，保证在转动过程中光子晶体光纤与测试设备的连接端稳定，避免发生松动，降低传导效率，影响检测的真实性。

进一步地，底座2包括支架21，通过支架21将底座2连接形成一整体；

支架21上安装有用存放光子晶体光纤的绕线轮22，光子晶体光纤缠绕在绕线轮22上，绕线轮22设置在对应固定座23的下方，由于光子晶体光纤的长度较长，而检测过程中，需要光子晶体光纤段的长度较短，使得大段的光子晶体光纤存积在底座2内，而光子晶体光纤比较脆弱，在弯折一定的角度后容易发生断裂，为了避免光子晶体光纤受压后弯折断裂，将光子晶体光纤缠绕在绕线轮22。

绕线轮22上的存放的光子晶体光纤的一接头连接与测试设备连接，另一接头依次通过固定座23、传动模组24与转动测试模组12连接。

进一步地，传动模组24内开设有用于光子晶体光纤通过的通孔，传动模组24靠近模拟工作台1一端的内侧壁241呈向外扩散的坡面；同上述的原因，由于光子晶体光纤较脆弱，若弯折的角度过大容易使得光子晶体光纤断裂，为了避免发生断裂，通过设置外扩散的坡面，使得光子晶体的弯折过程中进行过渡，增加弯折面积，减低了断裂的风险，使得光子晶体检测更加稳定；

如图5、9所示，内侧壁241为光滑的环形，传动模组24内通孔的中轴线对应转动测试模组12的旋转中心，通过转动测试模组12的驱使光子晶体光纤转动，使得光子晶体光纤在内侧壁241上滑动。

在一优选实施例中，内侧壁241呈喇叭型，方便光子晶体光纤在内侧壁241上滑动；

同时，模拟工作台1还包括限位模组14，限位模组14设置在对应传动模组24的位置处，当转动测试模组12转动时，限位模组14绕转动测试模组12的旋转中心转动；限位模组14包括转轮座141、转轮142，转轮142安装在转轮座141上；转轮142与内侧壁241的坡面相接触；转轮142上开设有限位槽1421，通过限位槽1421与内侧壁241的坡面形成用于光子晶体光纤穿过的通道，在转动测试模组12的旋转时，限位槽1421与内侧壁241形成的通道随着光子晶体光纤滑动，使得光子晶体光纤保证在限位槽1421与内侧壁241形成的通道内，限制光子晶体光纤的位置，

由于内侧壁241的形状呈喇叭型，喇叭型的内侧壁241方便与转轮142接触，内侧壁241与转轮142相切连接，从而将光子晶体光纤限制在限位槽1421与内侧壁241形成的通道内。

进一步地，传动模组24还包括弹性通道242，弹性通道242与传动模组24弹性连接；

限位模组14还包括连接杆143，连接杆143与转轮座141弹性连接；

通过弹性通道242与传动模组24弹性连接以及连接杆143与转轮座141弹性连接，使得直线驱动器31驱使模拟工作台1移动时，转轮142与内侧壁241的坡面保持接触，从而保证了限位槽1421与内侧壁241形成的通道的密闭，限制光子晶体光纤的位置。

如图9所示，在一优选实施例中，弹性连接件均为弹簧，通过将限位模组14、传动模组24内的弹簧压紧，在直线驱动器31驱动模拟工作台1移动时，限位模组14、传动模组24其中一侧内的弹簧回弹，另一侧压紧，使得转轮142与内侧壁241的坡面保持接触。

进一步地，模拟工作台1还包括支撑台11、导向板13，通过支撑台11、导向板13拼接形成模拟工作台1的固定结构；旋转电机121安装支撑台11上，导向板13上设置有限制接头连接器123转动位置的导向槽131，接头连接器123穿过导向槽131。

在一优选实施例中，导向槽131为圆弧型通槽，使得旋转电机121驱动接头连接器123在导向槽131往复运动，避免了光子晶体光纤在转动过程中发生缠绕，避免光子晶体光纤断裂。

如图8所示，导向板13对应转动测试模组12旋转中心的位置处，即导向槽131的圆心位置处开设有圆孔，圆孔内固定安装有轴承座132，连接杆143穿过轴承座132，与旋转臂122的旋转中心连接；方便限位模组14转动。

如图2所示，转动测试模组12还包括调节器，调节器安装在旋转臂122上，通过调节器调节接头连接器123的位置，调节转动测试模组12、固定座23之间的光子晶体光纤的松紧程度

如图6、7所示，在一优选实施例中，固定座23包括固定块231、夹紧气缸232；通过夹紧气缸232推动光子晶体光纤，并与固定块231将光子晶体光纤夹紧，从而将光子晶体光纤固定；其中，夹紧气缸232、固定块231的夹紧端由橡胶材料制成，方便将光子晶体光纤夹紧，同时避免由于夹紧力使得光子晶体光纤内的气孔发生改变，从而影响检测结果。

进一步地，直线驱动器31包括直线驱动器311、驱动块312，驱动块312安装在直线驱动器311的可移动端上，驱动块312与模拟工作台1连接；通过直线驱动器311方便驱动块312暂停在多个位置处，方便提供光子晶体光纤的不同弯折角度以及拉伸力，设置多个不同的受力状态，以满足多种测试条件。

该测试设备还包括导向件32，导向件32安装方向与直线驱动器31的驱动方向一致，通过导向件32引导直线驱动器31驱动模拟工作台1方向，导向件32安装在固定架5上；模拟工作台1的相对应的两侧面上各设置一直线驱动器31，两直线驱动器31同时驱动模拟工作台1移动，靠近直线驱动器31的位置处设置有导向件32，通过导向件32减小了直线驱动器31上的重力，从而增加了直线驱动器31的使用寿命。

该测试设备还包括控制器，通过控制器控制该测试设备内电子器件工作，而控制器内配置有执行控制测试方法的程序；。

如图1所示，控制该测试设备模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，包括步骤如下：

S1、测试前先对光子晶体光纤试样进行检测，记录作为测试前的损耗初始值α₁；

S2、将试样的一端固定在旋转臂122上，并将试样的部分缠绕在绕线轮22上，并将试样的两端接通至检测装置4上；

S3、固定座23将试样中间端固定，旋转臂122往复摆动，检测装置4记录测试过程的传导过程中的损耗α₂；

S4、固定座23与试样脱离接触，直线驱动器31驱使旋转臂122移动；

S5、将固定座23将试样重新固定，旋转臂122往复摆动，检测装置4记录测试过程的传导过程中的损耗α₃；

S6、测试结束，将试样取下，测试并记录试样传导过程中的损耗α₄。

该测试方法，通过旋转臂122转动光子晶体光纤，使得光子晶体光纤产生形变，从而利用光子晶体光纤的形变模拟光子晶体光纤的现实使用过程中的受力状态，再由直线驱动器31调整旋转臂122位置，进而调节光子晶体光纤的形变程度，得到不同受力状态下的光子晶体光纤的传导效率，更加符合现实使用过程，该测试方法操作简单，使用方便。

在步骤S6中，将试样取下后，在室温环境下静置2h后，施行测试，由于在之前的检测过程中光子晶体光纤试样发生形变，若在取下后直接进行测试，光子晶体光纤内的气孔发生形变没有回复，影响测试并记录试样传导过程中的损耗的结果，使得测试结果缺乏真实性。

在步骤S3、S5中，固定座23将试样后，通过直线驱动器31驱使旋转臂122抬升1°，通过旋转臂122抬升，使得旋转臂122将光子晶体光纤试样拉伸，从而使得光子晶体光纤试样受到拉力，使得光子晶体光纤在测试过程中，同时承受拉力、扭转力以及弯折力，从而使得该测试方法更加接近现实使用过程，通过进行设置不少于两个的受力状态，使得该设备方便模拟多种使用条件，方便进行对比。

在步骤S3、S5中，旋转臂122往复摆动10次，多次摆动过程检测装置4通过光子晶体光纤试样传导，通过在一段时间内在检测装置4传导数据，从而检测光子晶体光纤试样在传导过程中损耗。

在步骤S4中，直线驱动器31驱使旋转臂122向上移动20°，通过直线驱动器31驱动旋转臂122移动，从而调整光子晶体光纤试样的弯折角度，直线驱动器31驱使旋转臂122直线移动的距离，利用勾股定理方便得出光子晶体光纤试样移动前后间的角度；在一优选实施例中，如图10所示，直线驱动器31还包括位置传感器313，通过位置传感器313检测驱动块312的移动距离，在一优选实施例中，位置传感器313包括光电传感器，其中，感应片安装在驱动块312上，光电传感器的感应端安装在固定端，两光电传感器的感应端之间与传动模组24所形成的夹角为20°，通过驱动块312移动，带动感应片移动，使得感应片穿过感应端，从而检测模拟工作台1的位置；通过光电传感器的位置控制旋转臂122的位置，从而保证旋转臂122向上移动20°的角度；同时如图10所示，在夹角为20°的两光电传感器靠近位置处设置有光电传感器，使得两两光电传感器间的夹角为1°，通过靠近的两光电传感器控制直线驱动器31驱使旋转臂122抬升1°的角度，方便将光子晶体光纤试样拉伸。

在步骤S2中，试样弯折90°，在初始位置时试样弯折90°，此时，接头连接器123的位置与传动模组24的位置在同一水平面上，从而使得光子晶体光纤试样弯曲呈90°。

在步骤S5可重复步骤S4；直线驱动器31驱使旋转臂122逐次垂直向上移动，由于旋转臂122的接头连接器123固定连接有光子晶体光纤试样，由于大段的光子晶体光纤缠绕在绕线轮22上，若直线驱动器31驱使旋转臂122向下移动时，会使得光子晶体光纤有部分积存在固定座23与接头连接器123之间的位置处，进而光子晶体光纤上将不存在拉力；更有甚者，光子晶体光纤受压力弯曲，容易产生断裂，使得式样产生损伤，因此，直线驱动器31驱使旋转臂122逐次垂直向上移动，将式样不断地从绕线轮22上拉出，保证了后续的检测正常进行。

如图11所示，在一优选实施例中，控制器安装在检测装置4内，控制器分别与直线驱动器31、旋转电机121以及夹紧气缸232电性连接，控制器发出控制指令，控制直线驱动器31、旋转电机121以及夹紧气缸232工作，从而实现直线驱动器31驱动模拟工作台1直线运动，旋转电机121驱使旋转臂122转动，夹紧气缸232将光子晶体光纤夹紧固定，从而直线驱动器31、旋转电机121以及夹紧气缸232对光子晶体光纤施加作用力，使得光子晶体光纤产生变形，进而通过检测装置4对光子晶体光纤进行测试的过程，位置传感器313检测直线驱动器31的位置，当直线驱动器31移动至固定位置后，位置传感器313控制直线驱动器31暂停；而当测试完毕后，控制器向位置传感器313发出指令，使得直线驱动器31继续移动。

本发明提供模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，通过旋转臂转动光子晶体光纤，使得光子晶体光纤产生形变，从而利用光子晶体光纤的形变模拟光子晶体光纤的现实使用过程中的受力状态，再由直线驱动器调整光子晶体光纤的形变程度，得到不同受力状态下的光子晶体光纤的传导效率，更加符合现实使用过程；通过模拟工作台、底座、直线驱动器，使得光子晶体光纤产生形变，从而利用光子晶体光纤的形变模拟光子晶体光纤的现实使用过程中的受力状态，得到真实的检测数据；通过设置外扩散的坡面，使得光子晶体的弯折过程中进行过渡，增加弯折面积，减低了断裂的风险，使得光子晶体检测更加稳定；通过限位模组、传动模组内设置弹性连接件，使得模拟工作平台在移动过程中，转轮与内侧壁的坡面相接触；通过旋转电机驱动接头连接器在导向槽往复运动，避免了光子晶体光纤在转动过程中发生缠绕；通过接头连接器将定光子晶体光纤固定与测试设备连接，提高了连接稳定性，保证在转动过程中光子晶体光纤与测试设备的连接端稳定，避免松动，降低传导效率，本发明使用方便，结构简单。

以上，仅为本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制；凡本行业的普通技术人员均可按说明书附图所示和以上而顺畅地实施本发明；但是,凡熟悉本专业的技术人员在不脱离本发明技术方案范围内，利用以上所揭示的技术内容而做出的些许更动、修饰与演变的等同变化，均为本发明的等效实施例；同时,凡依据本发明的实质技术对以上实施例所作的任何等同变化的更动、修饰与演变等，均仍属于本发明的技术方案的保护范围之内。

Claims (10)

1.模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，其特征在于：包括步骤如下：

S1、测试前先对光子晶体光纤试样进行检测，记录作为测试前的损耗初始值α₁；

S2、将试样的一端固定在旋转臂(122)上，并将试样的部分缠绕在绕线轮(22)上，并将试样的两端接通至检测装置(4)上；

S3、固定座(23)将试样中间端固定，旋转臂(122)往复摆动，检测装置(4)记录测试过程的传导过程中的损耗α₂；

S4、固定座(23)与试样脱离接触，直线驱动器(31)驱使旋转臂(122)移动；

S5、将固定座(23)将试样重新固定，旋转臂(122)往复摆动，检测装置(4)记录测试过程的传导过程中的损耗α₃；

S6、测试结束，将试样取下，测试并记录试样传导过程中的损耗α₄；

通过直线驱动器(31)驱使旋转臂(122)移动，旋转臂(122)驱使试样转动，从而试样在不少于两个受力状态下的实施测试。

2.如权利要求1所述的传导测试方法，其特征在于：在步骤S6中，将试样取下后，在室温环境下静置2h后，施行测试。

3.如权利要求1所述的传导测试方法，其特征在于：在步骤S3、S5中，固定座(23)将试样后，通过直线驱动器(31)驱使旋转臂(122)抬升1°。

4.如权利要求3所述的传导测试方法，其特征在于：在步骤S3、S5中，旋转臂(122)往复摆动10次。

5.如权利要求3所述的传导测试方法，其特征在于：在步骤S4中，直线驱动器(31)驱使旋转臂(122)向上移动20°，通过直线驱动器(31)驱使旋转臂(122)直线移动的距离，得出光子晶体光纤试样移动前后间的角度。

6.如权利要求1所述的传导测试方法，其特征在于：在步骤S2中，试样弯折90°。

7.如权利要求1-6中任一所述的传导测试方法，其特征在于：在步骤S5可重复步骤S4；直线驱动器(31)驱使旋转臂(122)逐次垂直向上移动。

8.测试设备，其特征在于：包括控制器，所述控制器内配置有执行如权利要求1中所述测试方法的程序，

还包括模拟工作台(1)、底座(2)、所述直线驱动器(31)以及所述检测装置(4)；所述模拟工作台(1)包括所述旋转臂(122)、旋转电机(121)、用于固定光子晶体光纤与所述检测装置(4)的接头连接器(123)；

所述底座(2)包括所述固定座(23)，所述旋转臂(122)与所述固定座(23)平行设置；

所述固定座(23)固定的光子晶体光纤对应所述旋转电机(121)的旋转中心；所述旋转电机(121)安装在所述直线驱动器(31)的可移动端处；

所述控制器设置在所述检测装置(4)内，所述旋转电机(121)、直线驱动器(31)与所述控制器电性连接，所述控制器发出控制指令，所述直线驱动器(31)驱使所述旋转电机(121)朝所述固定座(23)方向移动，所述旋转电机(121)驱使所述旋转臂(122)转动；

通过所述控制器控制所述旋转电机(121)、直线驱动器(31)工作，从而模拟光子晶体光纤在现实中的不少于两个受力状态下使用过程。

9.如权利要求8所述的测试设备，其特征在于：包括传动模组(24)；所述传动模组(24)用于形成弯折光子晶体光纤的转折点；

所述传动模组(24)内开设有用于光子晶体光纤通过的通孔，所述传动模组(24)靠近模拟工作台(1)一端的内侧壁(241)呈向外扩散的坡面；

所述传动模组(24)内通孔的中轴线对应所述转动测试模组(12)的旋转中心，通过所述转动测试模组(12)的驱使光子晶体光纤转动，使得光子晶体光纤在所述内侧壁(241)上滑动。

10.如权利要求9所述的测试设备，其特征在于：还包括限位模组(14)，所述限位模组(14)设置在对应所述传动模组(24)的位置处；所述限位模组(14)包括转轮座(141)、转轮(142)，所述转轮(142)安装在所述转轮座(141)上；所述转轮(142)与所述内侧壁(241)的坡面相接触；

所述传动模组(24)还包括弹性通道(242)，所述弹性通道(242)与所述传动模组(24)弹性连接；

所述限位模组(14)还包括连接杆(143)，所述连接杆(143)与所述转轮座(141)弹性连接；

通过所述弹性通道(242)与所述传动模组(24)弹性连接以及连接杆(143)与所述转轮座(141)弹性连接，使得所述直线驱动器(31)驱使所述旋转臂(122)移动时，所述转轮(142)与所述内侧壁(241)的坡面保持接触。

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