CN111179795B - 显示面板的检测方法及其装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示面板的检测方法及其装置，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的对显示装置的显示不良的方法的检测效果差、效率低的问题。本发明的一种显示面板的检测方法，包括：获取待检测显示面板点亮后的原始画面；对原始画面进行降噪处理，以形成检测画面；将检测画面划分为n个子检测画面；分别计算每个子检测画面的灰度平均值；根据灰度平均值和子检测画面的各个像素的灰度值得到检测画面的显示不良的范围，显示不良是在待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的或者显示不良是由于待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的。

Description

显示面板的检测方法及其装置

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板的检测方法及其装置。

背景技术

在有机发光二极管显示装置的制备过程中，通常需要利用掩膜版蒸镀形成各个有机发光层，然而由于掩膜版的缺陷或者误差在此过程中会造成有机发光二极管显示装置的显示不良。

现有的对上述显示不良的检测方法主要是依靠工作人员的目测，这样会出现由于工作人员的失误而造成漏检等现象，而且检测时间长、效率低。

发明内容

本发明至少部分解决现有的对显示装置的显示不良的方法的检测效果差、效率低的问题，提供一种检测效果好、效率高的显示面板的检测方法。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板的检测方法，包括：

获取待检测显示面板点亮后的原始画面；

对所述原始画面进行降噪处理，以形成检测画面；

将所述检测画面划分为n个子检测画面；

分别计算每个所述子检测画面的灰度平均值；

根据所述灰度平均值和所述子检测画面的各个像素的灰度值得到所述检测画面的显示不良的范围，所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的或者所述显示不良是由于所述待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的。。

进一步优选的是，所述根据所述灰度平均值和所述子检测画面的各个像素的灰度值得到所述检测画面的显示不良的范围包括：对于每一个所述子检测画面，用该子检测画面的灰度平均值分别减去该子检测画面的各个像素的灰度值，得到的差值大于第一阈值的对应的像素的位置形成所述显示不良的范围，所述第一阈值与所述待检测显示面板的性质有关。

进一步优选的是，所述根据所述灰度平均值和所述子检测画面的各个像素的灰度值得到所述检测画面的显示不良的范围之后还包括：将所述显示不良的范围内像素的灰度值与第二阈值比对，将大于所述第二阈值的灰度值调整为第一灰度值，将小于所述第二阈值的灰度值调整为第二灰度值，所述第一灰度值远远大于所述第二灰度值，第二灰度值对应的像素的位置为所述显示不良的位置，所述第二阈值与所述待检测显示面板的性质有关。

进一步优选的是，所述得到所述显示不良的位置之后还包括：在所述显示不良的位置中，将第n+2个像素的灰度值与第n+1个像素的灰度值相加得到p，将第n-2个像素的灰度值与第n-1个像素的灰度值相加得到q，若p-q大于第三阈值，则第n个像素的灰度值用于形成拟合曲线，所述第n个像素为所述显示不良的位置中的任意一个像素，所述第三阈值与所述待检测显示面板的性质有关；将所述拟合曲线斜率的绝对值与第四阈值比对，若所述拟合曲线斜率的绝对值大于第四阈值，则该所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的，所述第四阈值与显示不良造成原因有关。

进一步优选的是，所述若所述拟合曲线斜率的绝对值大于第四阈值，则该所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的包括：所述拟合曲线包括具有第一斜率和第二斜率的两部分线段构成，选取所述第一斜率和所述第二斜率中绝对值大的一个与所述第四阈值比对。

进一步优选的是，所述获取待检测显示面板点亮后的原始画面包括：将所述显示面板采用同一种颜色点亮，所述颜色为红色、绿色、蓝色或者白色，通过正视角或者侧视角获取所述原始画面。

进一步优选的是，所述对所述原始画面进行降噪处理，以形成检测画面包括：利用高斯滤波的方式对所述原始画面进行降噪处理。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板的检测装置，包括：

获取模块，用于获取待检测显示面板点亮后的原始画面；

降噪模块，用于对所述原始画面进行降噪处理，以形成检测画面；

划分模块，用于将所述检测画面划分为n个子检测画面；

第一计算模块，用于分别计算每个所述子检测画面的灰度平均值；

第一判断模块，用于根据所述灰度平均值和所述子检测画面的各个像素的灰度值得到所述检测画面的显示不良的范围，所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的或者所述显示不良是由于所述待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的。

进一步优选的是，该显示面板的检测装置还包括：二值化处理模块，用于将所述显示不良的范围内像素的灰度值与第二阈值比对，将大于所述第二阈值的灰度值调整为第一灰度值，将小于所述第二阈值的灰度值调整为第二灰度值，所述第一灰度值远远大于所述第二灰度值，第二灰度值对应的像素的位置为所述显示不良的位置，所述第二阈值与所述待检测显示面板的性质有关。

进一步优选的是，该显示面板的检测装置还包括：第二计算模块，用于在所述显示不良的位置中，将第n+2个像素的灰度值与第n+1个像素的灰度值相加得到p，将第n-2个像素的灰度值与第n-1个像素的灰度值相加得到q，若p-q大于第三阈值，则第n个像素的灰度值形成拟合曲线，所述第n个像素为所述显示不良的位置中的任意一个像素，所述第三阈值与所述待检测显示面板的性质有关；第二判断模块，用于将所述拟合曲线斜率的绝对值与第四阈值比对，若所述拟合曲线斜率的绝对值大于第四阈值，则该所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的，所述第四阈值与显示不良造成原因有关。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为本发明的实施例的一种显示面板的检测方法的流程示意图；

图2为本发明的实施例的一种显示面板的检测方法的流程示意图；

图3为本发明的实施例的一种显示面板的检测方法中的原始画面得灰度值得曲线图；

图4为本发明的实施例的一种显示面板的检测方法中的检测画面得灰度值得曲线图；

图5为本发明的实施例的一种显示面板的检测方法中子检测画面的划分示意图；

图6a为本发明的实施例的一种显示面板的检测方法中显示不良出的像素的灰度值得拟合曲线的形成过程；

图6b为本发明的实施例的一种显示面板的检测方法中显示不良出的像素的灰度值得拟合曲线的斜率的示意图；

图7为本发明的实施例的一种显示面板的检测装置的示意框图。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。

以下将参照附图更详细地描述本发明。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。

在下文中描述了本发明的许多特定的细节，例如部件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本发明。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本发明。

实施例1：

如图1至图7所示，本实施例提供一种显示面板的检测方法，包括：

S11、获取待检测显示面板点亮后的原始画面。

其中，原始画面是指未处理的待检测画面，原始画面显示的同种颜色的画面，如图3所示，其中图3表示出原始画面的显示不良的范围内的像素的灰度值。

需要说明的是，本实施例的显示面板为有机发光二极管显示面板。在制备该显示面板时，先要利用掩膜版采用蒸镀的方式形成显示面板的各个有机发光层，再对蒸镀完成的有机发光层进行封装，之后就可以将显示面板点亮，以形成原始画面。

而本实施例中要检测的显示不良主要是在待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成，并且这种显示不良具有中间比较暗向显示不良的边缘逐渐变亮的特点，即这种显示不良具有中间的灰度值最小，向边缘逐渐变大。

S12、对原始画面进行降噪处理，以形成检测画面。

其中，如图4所示(其中图4表示出检测画面的显示不良的范围内的像素的灰度值)，对原始画面进行降噪处理可以使形成的检测图像画面的灰度变得均一，从而可更好凸显检测图像中的不良显示，为提取不良显示做准备。

S13、将检测画面划分为n个子检测画面。

对于一个显示面板，具有距离向显示面板的输入显示信号的端口近的像素，以及具有距离向显示面板的输入显示信号的端口远的像素，由于负载的作用，当显示信号从输入端口传播至距离输入端口远的像素的过程中会产生压降，从而导致在同一显示面板中，不同位置的像素的亮度会有少许的不一致，造成相隔较远的两像素的亮度差比较大，从而很容易将该亮度差误判为显示不良。

而将检测画面划分为n个子检测画面，由于子检测画面的面积小于检测画面，可以使得在每个子检测画面中相隔最远的子像素之间的距离变短，从而使得在每个子检测画面中相隔最远的子像素之间的亮度差减小，进而可以避免对显示不良的误判，即避免将压降产生的亮度差判断为显示不良。

S14、分别计算每个子检测画面的灰度平均值。

其中，也就是说取每一个子检测画面中各个像素的灰度值的平均值，而得到每个子检测画面的灰度平均值。

S15、根据灰度平均值和子检测画面的各个像素的灰度值得到检测画面的显示不良的范围，该显示不良是在待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的(EMD)或者显示不良是由于待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的。

其中，也就是说通过灰度平均值和子检测画面的各个像素的灰度值的次对可以知道显示不良所在的范围。

需要说明的是，本实施所检测出的显示不良包括由于待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的，气泡造成的显示不良的与掩膜版造成的显示不良的看起来很像，均可由以上步骤检测出。

本实施例的显示面板的检测方法中，通过步骤S11至步骤S15可以更加快速、准确的提取出显示不良，从而可提高检测效率。

实施例2：

如图1至图7所示，本实施例提供一种显示面板的检测方法，包括：

S21、获取待检测显示面板点亮后的原始画面。

其中，原始画面是指未处理的待检测画面，原始画面显示的同种颜色的画面，如图3所示，其中图3表示出原始画面的显示不良的范围内的像素的灰度值。

具体的，将显示面板采用同一种颜色点亮，颜色为红色、绿色、蓝色或者白色，通过正视角或者侧视角获取原始画面。

也就是说，原始画面可以包括正视角红色、侧视角红色、正视角绿色、侧视角绿色、正视角蓝色、侧视角蓝色、正视角白色、侧视角白色，这八种画面可以分别通过以下的检测方法提取出其各自显示不良的位置。

需要说明的是，本实施例的显示面板为有机发光二极管显示面板。在制备该显示面板时，先要利用掩膜版采用蒸镀的方式形成显示面板的各个有机发光层，再对蒸镀完成的有机发光层进行封装，之后就可以将显示面板点亮，以形成原始画面。而本实施例中要检测的显示不良主要是在待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成，并且这种显示不良具有中间比较暗向显示不良的边缘逐渐变亮的特点，即这种显示不良具有中间的灰度值最小，向边缘逐渐变大。

S22、对原始画面进行降噪处理，以形成检测画面。

其中，如图4所示(其中图4表示出检测画面的显示不良的范围内的像素的灰度值)，对原始画面进行降噪处理可以使形成的检测图像画面的灰度变得均一，从而可更好凸显检测图像中的不良显示，为提取不良显示做准备。

具体的，利用高斯滤波的方式对原始画面进行降噪处理。

S23、将检测画面划分为n个子检测画面。

对于一个显示面板，具有距离向显示面板的输入显示信号的端口近的像素，以及具有距离向显示面板的输入显示信号的端口远的像素，由于负载的作用，当显示信号从输入端口传播至距离输入端口远的像素的过程中会产生压降，从而导致在同一显示面板中，不同位置的像素的亮度会有少许的不一致，造成相隔较远的两像素的亮度差比较大，从而很容易将该亮度差误判为显示不良。

而将检测画面划分为n个子检测画面，由于子检测画面的面积小于检测画面，可以使得在每个子检测画面中相隔最远的子像素之间的距离变短，从而使得在每个子检测画面中相隔最远的子像素之间的亮度差减小，进而可以避免对显示不良的误判，即避免将压降产生的亮度差判断为显示不良。

具体的，将检测画面划分为4个子检测画面，如图5所示。

S24、分别计算每个子检测画面的灰度平均值。

其中，也就是说取每一个子检测画面中各个像素的灰度值的平均值，而得到每个子检测画面的灰度平均值。

S25、根据灰度平均值和子检测画面的各个像素的灰度值得到检测画面的显示不良的范围，该显示不良是在待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的或者显示不良是由于待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的。

具体的，根据灰度平均值和子检测画面的各个像素的灰度值得到检测画面的显示不良的范围包括：

对于每一个子检测画面，用该子检测画面的灰度平均值分别减去该子检测画面的各个像素的灰度值，得到的差值大于第一阈值的对应的像素的位置形成显示不良的范围，第一阈值与待检测显示面板的性质有关。

例如，其中一个子检测画面的灰度平均值为Gave，该子检测画面的各个子像素的灰度值为Gi，若Gave减去Gi大于第一阈值m，则表示该子像素位于显示不良的范围内，从而确定该子检测画面的显示不良的范围。

S26、将显示不良的范围内像素的灰度值与第二阈值比对，将大于第二阈值的灰度值调整为第一灰度值，将小于第二阈值的灰度值调整为第二灰度值，第一灰度值远远大于第二灰度值，第二灰度值对应的像素的位置为显示不良的位置，第二阈值与待检测显示面板的性质有关。

其中，步骤S26相当于对显示不良的范围内做二值化处理，即进一步明确显示不良的具体位置。

例如，将显示的亮度分为256个等级(0-255)，选取一个适当的第二阈值Gv(第二阈值可根据显示面板的实际情况调节可)，若像素的灰度值大于Gv时，将该像素的灰度值设置为255，若像素的灰度值小于Gv时，将该像素点的灰度值设置为0，这样将显示不良的范围变成黑白显示，从而更清楚的判断显示不良的位置。S27、在显示不良的位置中，将第n+2个像素的灰度值与第n+1个像素的灰度值相加得到p，将第n-2个像素的灰度值与第n-1个像素的灰度值相加得到q，若p-q大于第三阈值，则第n个像素的灰度值用于形成拟合曲线，第n个像素为显示不良的位置中的任意一个像素，第三阈值与待检测显示面板的性质有关。

具体的，如图6a所示，GV_i表示在显示不良的位置中任意一个像素的灰度值，则GV_{[(i+2)+(i+1)]}-GV_{[(i-2)+(i-1)]}＝a，若a的绝对值大于第三阈值(例如，第三阈值为3，且第三阈值可根据显示面板的实际而调整)，则该像素的灰度值GV_i用于形成拟合曲线。由上可知，对显示不良的位置中多个像素进行上述计算，则可以得到完整的拟合曲线，如图6b所示。

S28、将拟合曲线斜率的绝对值与第四阈值比对，若拟合曲线斜率的绝对值大于第四阈值，则该显示不良在待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的，第四阈值与显示不良造成原因有关。

具体的，拟合曲线包括具有第一斜率和第二斜率的两部分线段构成，选取第一斜率和第二斜率中绝对值大的一个与第四阈值比对。

例如，首先采用利用最小二乘法的算法得到步骤S27中的拟合曲线的斜率K1与K2；再比较K1与K2的绝对值的大小，选择绝对值大的与第四阈值(n)比较；如果该斜率大于第四阈值，则认为该不良显示是在待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的，也就是说排除了由于贴膜中的气泡产生的不良显示。

也就是说，步骤S27和S28是用于将贴膜中的气泡产生的不良显示的排除，从而更准确的提取出由于掩膜版造成的显示不良，即二次判定。

需要说明的是，贴附在显示面板上的贴膜主要是起到在之后的制备过程中对显示面板的保护，故当不需要贴膜时，可将贴膜从显示面板上撕除，从而贴膜中的气泡产生的不良显示也会消除，因此贴膜中的气泡产生的不良显示不需要做处理。

本实施例的显示面板的检测方法中，首先确定显示不良的范围，再进一步确定显示不良的具体位置，最后将气泡产生的显示不良排除，从而准确的得到由于掩膜版造成的显示不良的位置，该方式不仅能够缓解工作人员的检测压力，提高产线自动化与工作效率，而且能更准确的将显示不良提取，从而保证产品的良率和质量。

实施例3：

如图7所示，本实施例提供一种显示面板的检测装置，包括：

获取模块，用于获取待检测显示面板点亮后的原始画面。

降噪模块，用于对原始画面进行降噪处理，以形成检测画面。

划分模块，用于将检测画面划分为n个子检测画面。

第一计算模块，用于分别计算每个子检测画面的灰度平均值。

第一判断模块，用于根据灰度平均值和子检测画面的各个像素的灰度值得到检测画面的显示不良的范围，显示不良是在待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的或者显示不良是由于待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的。

二值化处理模块，用于将显示不良的范围内像素的灰度值与第二阈值比对，将大于第二阈值的灰度值调整为第一灰度值，将小于第二阈值的灰度值调整为第二灰度值，第一灰度值远远大于第二灰度值，第二灰度值对应的像素的位置为显示不良的位置，第二阈值与待检测显示面板的性质有关。

第二计算模块，用于在显示不良的位置中，将第n+2个像素的灰度值与第n+1个像素的灰度值相加得到p，将第n-2个像素的灰度值与第n-1个像素的灰度值相加得到q，若p-q大于第三阈值，则第n个像素的灰度值形成拟合曲线，第n个像素为显示不良的位置中的任意一个像素，第三阈值与待检测显示面板的性质有关。

第二判断模块，用于将拟合曲线斜率的绝对值与第四阈值比对，若拟合曲线斜率的绝对值大于第四阈值，则该显示不良是在待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的，第四阈值与显示不良造成原因有关。

本实施例的显示面板的检测装置，首先确定显示不良的范围，再进一步确定显示不良的具体位置，最后将气泡产生的显示不良排除，从而准确的得到由于掩膜版造成的显示不良的位置，该方式不仅能够缓解工作人员的检测压力，提高产线自动化与工作效率，而且能更准确的将显示不良提取，从而保证产品的良率和质量。

具体的，该显示装置可为有机发光二极管(OLED)显示面板、柔性显示面板、电子纸、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (7)

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，待检测显示面板显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的或者所述显示不良是由于所述待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的；所述显示面板的检测方法包括：

获取待检测显示面板点亮后的原始画面；

对所述原始画面进行降噪处理，以形成检测画面；

将所述检测画面划分为n个子检测画面；

分别计算每个所述子检测画面的灰度平均值；

根据所述灰度平均值和所述子检测画面的各个像素的灰度值得到所述检测画面的显示不良的范围；

所述根据所述灰度平均值和所述子检测画面的各个像素的灰度值得到所述检测画面的显示不良的范围，包括：对于每一个所述子检测画面，用该子检测画面的灰度平均值分别减去该子检测画面的各个像素的灰度值，得到的差值大于第一阈值的对应的像素的位置形成所述显示不良的范围，所述第一阈值与所述待检测显示面板的性质有关；

在所述显示不良的位置中，将第n+2个像素的灰度值与第n+1个像素的灰度值相加得到p，将第n-2个像素的灰度值与第n-1个像素的灰度值相加得到q，若p-q大于第三阈值，则第n个像素的灰度值用于形成拟合曲线，所述第n个像素为所述显示不良的位置中的任意一个像素，所述第三阈值与所述待检测显示面板的性质有关；

将所述拟合曲线的拟合曲线斜率的绝对值与第四阈值比对，若所述拟合曲线斜率的绝对值大于第四阈值，则该所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的，所述第四阈值与显示不良造成原因有关。

2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述灰度平均值和所述子检测画面的各个像素的灰度值得到所述检测画面的显示不良的范围之后还包括：

将所述显示不良的范围内像素的灰度值与第二阈值比对，将大于所述第二阈值的灰度值调整为第一灰度值，将小于所述第二阈值的灰度值调整为第二灰度值，所述第一灰度值远远大于所述第二灰度值，第二灰度值对应的像素的位置为所述显示不良的位置，所述第二阈值与所述待检测显示面板的性质有关。

3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述若所述拟合曲线斜率的绝对值大于第四阈值，则该所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的包括：

所述拟合曲线包括具有第一斜率和第二斜率的两部分线段构成，选取所述第一斜率和所述第二斜率中绝对值大的一个与所述第四阈值比对。

4.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述获取待检测显示面板点亮后的原始画面包括：

将所述显示面板采用同一种颜色点亮，所述颜色为红色、绿色、蓝色或者白色，通过正视角或者侧视角获取所述原始画面。

5.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述对所述原始画面进行降噪处理，以形成检测画面包括：

利用高斯滤波的方式对所述原始画面进行降噪处理。

6.一种显示面板的检测装置，其特征在于，待检测显示面板显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的或者所述显示不良是由于所述待检测显示面板所贴的保护膜中的气泡造成的；所述显示面板的检测装置包括：

获取模块，用于获取待检测显示面板点亮后的原始画面；

降噪模块，用于对所述原始画面进行降噪处理，以形成检测画面；

划分模块，用于将所述检测画面划分为n个子检测画面；

第一计算模块，用于分别计算每个所述子检测画面的灰度平均值；

第一判断模块，用于对于每一个所述子检测画面，用该子检测画面的灰度平均值分别减去该子检测画面的各个像素的灰度值，得到的差值大于第一阈值的对应的像素的位置形成所述显示不良的范围，所述第一阈值与所述待检测显示面板的性质有关；

第二计算模块，用于在所述显示不良的位置中，将第n+2个像素的灰度值与第n+1个像素的灰度值相加得到p，将第n-2个像素的灰度值与第n-1个像素的灰度值相加得到q，若p-q大于第三阈值，则第n个像素的灰度值形成拟合曲线，所述第n个像素为所述显示不良的位置中的任意一个像素，所述第三阈值与所述待检测显示面板的性质有关；

第二判断模块，用于将所述拟合曲线斜率的绝对值与第四阈值比对，若所述拟合曲线斜率的绝对值大于第四阈值，则该所述显示不良是在所述待检测显示面板的制备过程中的蒸镀工艺所用的掩膜版而造成的，所述第四阈值与显示不良造成原因有关。

7.根据权利要求6所述的显示面板的检测装置，其特征在于，还包括：

二值化处理模块，用于将所述显示不良的范围内像素的灰度值与第二阈值比对，将大于所述第二阈值的灰度值调整为第一灰度值，将小于所述第二阈值的灰度值调整为第二灰度值，所述第一灰度值远远大于所述第二灰度值，第二灰度值对应的像素的位置为所述显示不良的位置，所述第二阈值与所述待检测显示面板的性质有关。