CN111148141B - Lte基站、lte基站测试系统和方法 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种LTE基站、LTE基站测试系统和方法。LTE基站中的数字基带单元集成了LTE物理层，用于下行通道射频测试的E‑TM信源模块，和用于上行通道射频测试的LTE解调模块；同时，逻辑开关用于切换基站传输端口与LTE物理层、E‑TM信源模块或LTE解调模块中的一个导通。基于上述结构，在基站处于业务异常时，无需重启基站，只需将逻辑开关从LTE物理层切换至E‑TM信源模块，即可测试该状态下的下行通道的射频性能是否正常，并且，还可切换至LTE解调模块，测试该状态下的上行通道的射频性能是否正常。基于此，可有效解决基站处理业务异常时，上下行通道射频性能无法及时排查的问题，避免了基站重启可能引起的故障消失，提高基站测试的可靠性和故障排查的效率。

Description

LTE基站、LTE基站测试系统和方法

技术领域

本申请涉及通信技术领域，特别是涉及一种LTE基站、LTE基站测试系统和方法。

背景技术

在LTE基站的正常业务通信出现异常时，一般都是从底层开始排查基站故障，先查硬件再查软件，而硬件排查又主要从射频通路开始。根据移动通信原理，基站与移动终端分为上行通信和下行通信，两者在基站侧分别对应基站的下行通路和上行通路。当基站在业务异常状态下，通常需要改变基站当前状态，通过另外传输满足射频测试的射频测试信源至基站内，同时重启基站，对基站部分功能进行屏蔽才能对基站的下行和上行通道进行射频测试。

在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：当基站处理正常业务出现异常时，往往只能通过通信协议定义的相关参数来间接得到诸如载波功率等信息，无法得知基站处于业务异常时，射频性能是否发生了异常。

发明内容

基于此，有必要针对传统技术无法得知基站处于业务异常时，射频性能是否发生了异常的问题，提供一种LTE基站、LTE基站测试系统和方法。

为了实现上述目的，一方面，本申请实施例提供了一种LTE基站，包括：

数字基带单元，集成有LTE物理层，用于下行通道射频测试的E-TM信源模块，和用于上行通道射频测试的LTE解调模块；

逻辑开关，包括第一选择端、第二选择端、第三选择端和切换端；第一选择端连接LTE物理层，第二选择端连接E-TM信源模块，第三选择端连接LTE解调模块，切换端用于连接基站传输端口。

在其中一个实施例中，E-TM信源模块集成至少2种E-TM测试模式对应的信源。

在其中一个实施例中，信源包括3GPP TS 36.141定义的6种E-TM测试模式对应的信源。

在其中一个实施例中，LTE解调模块用于对3GPP TS 36.104定义的FRC A1-3 inAnnex A.1测试信号进行解调。

在其中一个实施例中，LTE基站还包括：

数模/模数转换单元；数模/模数转换单元的第一端连接切换端；

上行处理单元；上行处理单元的输出端连接数模/模数转换单元的第二端；

下行处理单元；下行处理单元的输入端连接数模/模数转换单元的第三端；

双工器；双工器的第一端用于连接基站传输端口，双工器的第二端连接上行处理单元的输入端，双工器的第三端连接下行处理单元的输出端。

另一方面，本申请实施例还提供了一种LTE基站测试系统，包括：

如上述任一实施例的LTE基站；

第一功分器，所述第一功分器的合路端连接所述LTE基站的基站传输端口，所述第一功分器的第一分路端用于与信号源或频谱仪通信连接；

射频电路，用于与外部终端通信连接；所述射频电路连接所述第一功分器的第二分路端。

在其中一个实施例中，LTE基站测试系统还包括：第二功分器，所述第二功分器的合路端连接所述第一功分器的第一分路端，所述第二功分器的第一分路端连接所述信号源，所述第二功分器的第二分路端连接所述频谱仪。

在其中一个实施例中，提供了一种LTE基站测试方法，应用于如上述的LTE基站。LTE基站测试方法包括：

在LTE基站出现业务异常时，控制逻辑开关实现LTE物理层与基站传输端口之间的断开；

在逻辑开关实现E-TM信源模块与基站传输端口之间的导通时，进行下行通道射频测试；

在逻辑开关实现LTE解调模块与基站传输端口之间的导通时，进行上行通道射频测试。

在其中一个实施例中，在LTE基站出现业务异常时，控制逻辑开关实现LTE物理层与基站传输端口之间的断开的步骤之前，还包括步骤：

控制逻辑开关实现LTE物理层与基站传输端口之间的导通，建立小区进行业务通信。

在其中一个实施例中，进行上行通道射频测试的步骤包括：

通过LTE解调模块判断测试信号是否满足3GPP TS 36.104FRC A1-3 in AnnexA.1的定义；若是，则LTE基站的上行通道符合3GPP TS 36.104规定的指标。

上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点和有益效果：

LTE基站中的数字基带单元集成了LTE物理层，用于下行通道射频测试的E-TM信源模块，和用于上行通道射频测试的LTE解调模块；同时，逻辑开关用于切换基站传输端口与LTE物理层、E-TM信源模块或LTE解调模块中的一个导通。基于上述结构，在基站处于业务异常时，无需重启基站，只需将逻辑开关从LTE物理层切换至E-TM信源模块，即可测试该状态下的下行通道的射频性能是否正常，并且，还可切换至LTE解调模块，测试该状态下的上行通道的射频性能是否正常。基于此，可有效解决基站处理业务异常时，上下行通道射频性能无法及时排查的问题，避免了基站重启可能引起的故障消失，提高基站测试的可靠性和故障排查的效率。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为一个实施例中LTE基站的第一示意性结构图；

图2为一个实施例中LTE基站的第二示意性结构图；

图3为一个实施例中LTE基站测试系统的结构示意图；

图4为一个实施例中LTE基站测试方法的第一示意性流程图；

图5为一个实施例中LTE基站测试方法的第二示意性流程图。

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的首选实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容更加透彻全面。

需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件并与之结合为一体，或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“切换端”、“选择端”、“输入端”、“输出端”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

目前，基站的业务测试与射频测试是独立进行的。基站业务测试时，并不能进行射频测试。反之，若要将基站从射频测试状态切换到业务测试状态，也需要将基站重启，重新配置内部模块参数，加载业务镜像才行。这导致业务测试出现异常时，无法快速切换到射频测试状态，必须重启后，重新配置相关参数才行。而基站重启会导致业务异常的故障有可能消失。

传统技术在基站内部功能开发时，往往只考虑满足业务功能，并未将射频测试和业务功能作为一个整体进行统筹开发。并且，基站在测试验收环节，业务测试和射频测试往往作为两个独立的部分分开进行，也是基站未能统筹开发业务能和射频测试功能的一个重要原因。当基站处理正常业务出现异常时，无法得知基站处于业务异常时，射频性能是否发生了异常，下行动态是否满足3GPP(3rd Generation Partnership Project，第三代合作伙伴计划)要求，下行输出信号的EVM(Error Vector Magnitude)是否满足3GPP要求等等信息。为此，本申请实施例提供一种LTE(Long Term Evolution，长期演进)基站，能够在正常业务状态和射频测试状态进行灵活切换，便于进行基站射频问题定位和对比测试，提升基站排查故障的效率。

在一个实施例中，提供了一种LTE基站，如图1所示，包括：

数字基带单元，集成有LTE物理层，用于下行通道射频测试的E-TM信源模块，和用于上行通道射频测试的LTE解调模块。

逻辑开关，包括第一选择端、第二选择端、第三选择端和切换端；第一选择端连接LTE物理层，第二选择端连接E-TM信源模块，第三选择端连接LTE解调模块，切换端用于连接基站传输端口。

具体而言，LTE基站中的数字基带单元集成了LTE物理层、E-TM信源模块和LTE解调模块，并由逻辑开关在LTE物理层、E-TM信源模块和LTE解调模块之间进行切换，控制不同的模块与基站传输端口导通，进而实现基站在业务测试状态与射频测试状态的切换。其中，逻辑开关可为三选一切换开关，用于切换基带通路所连接的模块；具体地，切换端可与三个选择端中的任一个导通。

需要说明的是，LTE物理层可用于处理基站正常业务时的LTE数据，即，逻辑开关可在业务测试时，控制LTE物理层与基站传输端口导通。E-TM信源模块可提供符合E-TM测试模式的多种信源，检测下行通道射频性能是否满足对应的协议规定。LTE解调模块可对基站的上行通道射频性能进行验证测试，快速判断基站上行通道射频性能是否满足对应的协议规定；示例性地，LTE解调模块可集成有LTE解调算法和解调方式等。

示例性地，当基站处于正常业务状态时，数字基带单元的物理层正常处理业务数据。在基站与移动客户端通信异常时，若需要快速排查基站侧下行通路是否正常，则可以利用数字基带单元已集成的E-TM信源，通过内部逻辑开关进行快速切换。通过切换到E-TM信源，并配合使用频谱仪，可以测量基站在业务异常状态时下行输出功率是否异常、EVM是否正常等。

示例性地，在基站与移动客户端通信异常时，若需要快速排查基站侧上行通路是否正常，可以通过数字基带单元集成的LTE解调模块，对天线口输入的测试信号进行解调，获取解调信号功率、信噪比等信息，进而可判断基站上行通路是否正常。

基于上述结构，在基站处于业务异常时，无需重启基站，只需将逻辑开关从LTE物理层切换至E-TM信源模块，即可测试该状态下的下行通道的射频性能是否正常，并且，还可切换至LTE解调模块，测试该状态下的上行通道的射频性能是否正常。基于此，可有效解决基站处理业务异常时，上下行通道射频性能无法及时排查的问题，避免了基站重启可能引起的故障消失，提高基站测试的可靠性和故障排查的效率。

在一个实施例中，E-TM信源模块集成至少2种E-TM测试模式对应的信源。

具体而言，数字基带单元中的E-TM模块集成了多种信源，其中，可包括多种E-TM测试模式所对应的信源，能够满足不同的射频指标测试项目，提高测试的全面性。

在一个实施例中，信源包括3GPP TS 36.141定义的6种E-TM测试模式对应的信源。

具体而言，E-TM模块至少集成了由3GPP TS 36.141定义的6种E-TM测试模式对应的信源，以测试下行通道是否满足3GPP TS 36.141定义的标准。根据3GPP TS 36.141协议定义，可知LTE基站射频下行测试包括6种不同的测试模式，分别为E-TM1.1、E-TM1.2、E-TM2.0、E-TM3.1、E-TM3.2和E-TM3.3测试模式；每种测试模式对应不同的射频指标测试项目。例如，E-TM1.1可用于输出功率、ACLR非期望杂散以及占用带宽等射频测试项目；E-TM3.1则可用于输出功率动态范围、频率偏差以及64QAM EVM等的测试。

示例性地，通过切换到E-TM1.1对应的基带信源，并配合使用频谱仪，可以测量基站在业务异常状态时下行输出功率是否异常；通过切换到E-TM3.1对应的基带信源，并配合使用频谱仪，可以测量基站在业务异常状态下，EVM是否正常。

在一个实施例中，LTE解调模块用于对3GPP TS 36.104定义的FRC A1-3 in AnnexA.1测试信号进行解调。

具体而言，LTE解调模块可以对3GPP TS 36.104定义的FRC A1-3 in Annex A.1测试信号进行解调，获取解调信号功率、信噪比等信息，从而测量基站的上行通道射频性能是否满足3GPP TS 36.104限定的各项上行射频性能。

本发明实施例可实现在基站业务通信异常时，不需要重启基站，即可快速测量故障基站的上行和下行通道射频指标是否满足3GPP TS 36.104所限定的相关射频指标要求。

在一个实施例中，如图2所示，LTE基站还包括：

数模/模数转换单元；数模/模数转换单元的第一端连接切换端。

上行处理单元；上行处理单元的输出端连接数模/模数转换单元的第二端。

下行处理单元；下行处理单元的输入端连接数模/模数转换单元的第三端。

双工器；双工器的第一端用于连接基站传输端口，双工器的第二端连接上行处理单元的输入端，双工器的第三端连接下行处理单元的输出端。

基于上述结构，可形成基站的上下行通道。

本申请实施例在基站处理正常LTE业务出现异常时，可以不重启基站，不改变基站运行状态，仅在基带切换逻辑开关，就可以非常方便快速地切换到射频测试状态。通过基站基带内的数字逻辑开关切换到E-TM信源，即可将基站切换到下行射频测试状态，检验基站下行射频性能是否满足3GPP TS 36.104所规定的性能要求。将基站基带内的数字逻辑开关切换到LTE解调模块，即可对基站的上行通道射频性能进行验证测试。基于此，本申请实施例能够有效解决基站处理正常LTE业务数据出现异常时，不重启就无法进行通道射频性能验证的困难，大大提升基站故障排查的效率。

在一个实施例中，提供了一种LTE基站测试系统，包括：

如上述的LTE基站；

第一功分器，第一功分器的合路端连接LTE基站的基站传输端口，第一功分器的第一分路端用于与信号源或频谱仪通信连接；

射频电路，用于与外部终端通信连接；射频电路连接第一功分器的第二分路端。

具体而言，LTE基站通过第一功分器与测试设备连接，实现上下行通道的测试。具体地，LTE基站的基站传输端口通过第一功分器分别与信号源、频谱仪或外部终端通信连接。基于上述结构，本申请实施例在基站出现业务异常时，无需重启，仅通过逻辑开关切换，即可以快速切换到射频测试模式，从而方便进行基站上行和下行射频指标测试；可有效解决基站处理业务异常时，上下行通道射频性能无法及时排查的问题，避免了基站重启可能引起的故障消失，提高基站测试的可靠性和故障排查的效率。

在一个实施例中，如图3所示，LTE基站测试系统还包括：

第二功分器，所述第二功分器的合路端连接所述第一功分器的第一分路端，所述第二功分器的第一分路端连接所述信号源，所述第二功分器的第二分路端连接所述频谱仪。

具体而言，第一功分器的第一分路端通过第二功分器分别连接信号源和频谱仪，第一功分器的第二分路端则通过射频电路与外部终端通信连接。基于上述结构，测试系统可与终端配合，进行业务测试，也可与信号源配合，进行上行通道的射频性能测试，还可与频谱仪配合，进行下行通道的射频性能测试。

在一个实施例中，提供了一种LTE基站测试方法，应用于如上述的LTE基站。如图4所示，LTE基站测试方法包括：

步骤S110，在LTE基站出现业务异常时，控制逻辑开关实现LTE物理层与基站传输端口之间的断开。

步骤S120，在逻辑开关实现E-TM信源模块与基站传输端口之间的导通时，进行下行通道射频测试。

步骤S130，在逻辑开关实现LTE解调模块与基站传输端口之间的导通时，进行上行通道射频测试。

具体而言，基于上述LTE基站，在出现业务异常时，通过逻辑开关进行切换，断开LTE物理层与基站传输端口的连接，并实现E-TM信源模块或LTE解调模块与基站传输端口之间的导通，从而可在业务异常的情况下对上下行通道进行射频测试，提高故障排除效率。需要说明的是，可通过LTE基站内置的处理器或是输入装置来控制逻辑开关进行切换。

在一个实施例中，如图5所示，在LTE基站出现业务异常时，控制逻辑开关实现LTE物理层与基站传输端口之间的断开的步骤之前，还包括步骤：

步骤S108，控制逻辑开关实现LTE物理层与基站传输端口之间的导通，建立小区进行业务通信。

具体而言，基站默认为正常工作模式，LTE物理层连接基站传输端口进行数据传输；基站建立小区，与终端正常进行LTE业务通信。

在一个实施例中，进行上行通道射频测试的步骤包括：

通过LTE解调模块判断测试信号是否满足3GPP TS 36.104FRC A1-3 in AnnexA.1的定义；若是，则LTE基站的上行通道符合3GPP TS 36.104规定的指标。

具体而言，在执行上行通道射频测试时，信号源可发射满足3GPP TS 36.104 FRCA1-3 in Annex A.1定义的测试信号，LTE解调模块可快速判断基站上行通道射频性能是否满足3GPP TS 36.104所规定的相关指标要求。

在一个示例中，基站默认为正常工作模式，LTE物理层与基站DA/AD(数模/模数转化器)连接，基站建立小区，与终端正常进行LTE业务通信。

当基站侧或者终端侧发现两者之间LTE通信业务异常时，可连接信号源，将基站基带内将逻辑开关切换到LTE解调模块，即可对基站上行通路检测其射频性能。

相应地，在基站内将逻辑开关从LTE物理层切换到E-TM信源，连接频谱仪，则可以检测基站的下行通路射频性能。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种LTE基站测试方法，其特征在于，应用于LTE基站；

所述LTE基站包括：

数字基带单元，集成有LTE物理层、E-TM信源模块，和LTE解调模块；

逻辑开关，包括第一选择端、第二选择端、第三选择端和切换端；所述第一选择端连接所述LTE物理层，所述第二选择端连接所述E-TM信源模块，所述第三选择端连接所述LTE解调模块，所述切换端用于连接基站传输端口；

所述LTE基站测试方法包括：

在所述LTE基站出现业务异常时，控制所述逻辑开关实现所述LTE物理层与所述基站传输端口之间的断开；

在所述逻辑开关实现E-TM信源模块与基站传输端口之间的导通时，进行下行通道射频测试；

在所述逻辑开关实现LTE解调模块与基站传输端口之间的导通时，进行上行通道射频测试。

2.根据权利要求1所述的LTE基站测试方法，其特征在于，在所述LTE基站出现业务异常时，控制所述逻辑开关实现所述LTE物理层与所述基站传输端口之间的断开的步骤之前，还包括步骤：

控制所述逻辑开关实现所述LTE物理层与所述基站传输端口之间的导通，建立小区进行业务通信。

3.根据权利要求1或2所述的LTE基站测试方法，其特征在于，进行上行通道射频测试的步骤包括：

通过所述LTE解调模块判断测试信号是否满足3GPP TS 36.104FRC A1-3 in AnnexA.1的定义；若是，则所述LTE基站的上行通道符合3GPP TS 36.104规定的指标。

4.一种LTE基站，其采用权利要求1-3任一项所述的LTE基站测试方法进行测试，其特征在于，所述LTE基站包括：

数字基带单元，集成有LTE物理层，用于下行通道射频测试的E-TM信源模块，和用于上行通道射频测试的LTE解调模块；

逻辑开关，包括第一选择端、第二选择端、第三选择端和切换端；所述第一选择端连接所述LTE物理层，所述第二选择端连接所述E-TM信源模块，所述第三选择端连接所述LTE解调模块，所述切换端用于连接基站传输端口。

5.根据权利要求4所述的LTE基站，其特征在于，

所述E-TM信源模块集成至少2种E-TM测试模式对应的信源。

6.根据权利要求5所述的LTE基站，其特征在于，

所述信源包括3GPP TS 36.141定义的6种E-TM测试模式对应的信源。

7.根据权利要求4所述的LTE基站，其特征在于，

所述LTE解调模块用于对3GPP TS 36.104定义的FRC A1-3 in Annex A.1测试信号进行解调。

8.根据权利要求4至7任一项所述的LTE基站，其特征在于，还包括：

数模/模数转换单元；所述数模/模数转换单元的第一端连接所述切换端；

上行处理单元；所述上行处理单元的输出端连接所述数模/模数转换单元的第二端；

下行处理单元；所述下行处理单元的输入端连接所述数模/模数转换单元的第三端；

双工器；所述双工器的第一端用于连接所述基站传输端口，所述双工器的第二端连接所述上行处理单元的输入端，所述双工器的第三端连接所述下行处理单元的输出端。

9.一种LTE基站测试系统，其特征在于，包括：

如权利要求4至8任一项所述的LTE基站；

第一功分器，所述第一功分器的合路端连接所述LTE基站的基站传输端口，所述第一功分器的第一分路端用于与信号源或频谱仪通信连接；

射频电路，用于与外部终端通信连接；所述射频电路连接所述第一功分器的第二分路端。

10.根据权利要求9所述的LTE基站测试系统，其特征在于，还包括：

第二功分器，所述第二功分器的合路端连接所述第一功分器的第一分路端，所述第二功分器的第一分路端连接所述信号源，所述第二功分器的第二分路端连接所述频谱仪。

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