CN111124881B - eMMC固件测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种eMMC固件测试方法，该eMMC固件测试方法包括：测试设备向eMMC发送信息获取指令；根据所述eMMC上传的反馈信息，判定所述测试设备是否与所述eMMC建立连接；当所述测试设备与所述eMMC建立连接后，根据实际需求设定所述eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数；根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果。本发明eMMC固件测试方法能够针对重点测试项目进行测试，以提高对于eMMC固件的测试效率。此外，本发明还公开一种eMMC固件测试装置。

Description

eMMC固件测试方法及装置

技术领域

本发明涉及固件测试技术领域，具体涉及一种eMMC固件测试方法及装置。

背景技术

eMMC(EmbeddedMulti Media Card)是MCC协会针对手机或平板电脑等电子产品订立的内嵌式存储器标准规格，eMMC包括控制器、快闪存储器和多媒体卡接口，在控制器中配置有固件，通过该固件可控制eMMC的运行过程。

众所周知，固件是利用代码编写的特定程序，其可根据实际需求做出调整，比如，eMMC当前的读写速度为1M/s，而实际需求为2M/s，则需要对固件进行调整。而为确保eMMC能够正常运行，需要对调整后的固件进行测试，以确定固件的有效性。

然而，目前还无法根据eMMC的测试重点做出具有针对性的测试，导致其测试效率较低。比如，当需要重点测试固件的防掉电能力时，应当在测试过程中增加对于固件上下电的测试次数，但当前的eMMC测试装置还不具备此功能。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种eMMC固件测试方法，以解决现有的 eMMC固件测试方法的检测效率较低的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明提出一种eMMC固件测试方法，该eMMC 固件测试方法包括：包括：测试设备向eMMC发送信息获取指令；根据所述 eMMC上传的反馈信息，判定所述测试设备是否与所述eMMC建立连接；当所述测试设备与所述eMMC建立连接后，根据实际需求设定所述eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数；根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果。

优选地，所述根据所述eMMC上传的反馈信息，判定所述测试设备是否与所述eMMC建立连接包括：若接收到所述反馈信息，则判定所述测试设备与所述eMMC建立连接；若未接收到所述反馈信息，则判定所述测试设备未与所述 eMMC建立连接；其中，所述反馈信息为所述eMMC的型号及内存参数。

优选地，所述根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果包括：在持续的上下电测试过程中，若所述 eMMC能够正常执行擦、写、读指令，则判定所述固件的掉电保护功能正常；在持续的写读测试过程中，若读出数据与写入数据一致，则判定所述固件的读写功能正常；在持续的擦读测试过程中，若读出数据为零，则判定所述固件的擦除功能正常。

优选地，所述根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果还包括：在所述先写读后擦读再上下电测试过程中，若其中任何一个测试步骤出现错误，则停止测试并报错。

优选地，所述在所述先写读后擦读再上下电测试过程中，若其中任何一个测试步骤出现错误，则停止测试并报错包括：确定出错的测试步骤，并获取出错的数据块地址。

本发明还提出一种eMMC固件测试装置，该eMMC固件测试装置包括：指令发送模块，用于测试设备向eMMC发送信息获取指令；连接判定模块，用于根据所述eMMC上传的反馈信息，判定所述测试设备是否与所述eMMC建立连接；测试设定模块，用于当所述测试设备与所述eMMC建立连接后，根据实际需求设定所述eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数；循环测试模块，用于根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果。

优选地，所述连接判定模块包括：第一判定单元，用于当接收到所述反馈信息时，判定所述测试设备与所述eMMC建立连接；第二判定单元，用于未接收到所述反馈信息时，判定所述测试设备未与所述eMMC建立连接；其中，所述反馈信息为所述eMMC的型号及内存参数。

优选地，所述循环测试模块包括：第三判定单元，用于在持续的上下电测试过程中，若所述eMMC能够正常执行擦、写、读指令，则判定所述固件的掉电保护功能正常；第四判定单元，用于在持续的写读测试过程中，若读出数据与写入数据一致，则判定所述固件的读写功能正常；第五判定单元，用于在持续的擦读测试过程中，若读出数据为零，则判定所述固件的擦除功能正常。

优选地，所述循环测试模块还包括：报错单元，用于在所述先写读后擦读再上下电的测试过程中，若其中任何一个测试步骤出现错误，则停止测试并报错。

优选地，所述报错单元包括：报错子单元，用于确定出错的测试步骤，并获取出错的数据块地址。

本发明实施例的有益效果在于：可根据实际需求对写读、擦读、上下电的测试次数进行设定，比如，需要重点测试eMMC的读写性能时，可通过增加写读测试次数并减少上下电测试次数的设定方式，以快速测试eMMC的读写性能，从而达到提高测试效率的目的。

附图说明

图1为本发明eMMC固件测试方法第一实施例的流程图；

图2为本发明eMMC固件测试方法第二实施例的流程图；

图3为本发明eMMC固件测试方法第三实施例的流程图；

图4为本发明eMMC固件测试方法第四实施例的流程图；

图5为本发明eMMC固件测试方法第五实施例的流程图；

图6为本发明eMMC固件测试装置一实施例的功能模块图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为解决上述技术问题，本发明提出一种eMMC固件测试方法，参见图1，该eMMC固件测试方法包括：

步骤S10，测试设备向eMMC发送信息获取指令；

本实施例中，测试设备由计算机端、eMMC测试座及eMMC调试板组成，在计算机端上安装有相应的测试软件，以通过软硬件的配合，实现对eMMC 的性能测试。需要说明的是，eMMC调试板的主要作用在于对eMMC固件进行调整，以使得eMMC在符合实际需求的情况下能够正常运行。比如，为满足实际需求，需要调整eMMC固件，而在固件调整完成后，需要对eMMC的性能进行测试，以确保eMMC在调整固件后能够正常运行。若在测试过程中，eMMC 运行出现错误，则可以通过eMMC调试板对固件进行适应性调整。

此外，通过eMMC调试板还可以将计算机端发送的指令转变成符合eMMC 协议的eMMC指令，从而实现计算机端和eMMC之间的通信，该eMMC调试板可以为中国台湾SMI生产的SM333，包括但不限于此。

当需要对eMMC进行测试时，给测试设备上电，再将待测eMMC放置到 eMMC测试座上，而后，由计算机端向eMMC发送信息获取指令。

步骤S20，根据eMMC上传的反馈信息，判定测试设备是否与eMMC建立连接；

本实施例中，在将eMMC放置到eMMC测试座上后，需要确认eMMC是否与测试设备建立连接。在确认eMMC与测试设备建立连接后，方可执行对 eMMC进行测试的指令。

具体的，可通过由eMMC上传的反馈信息，来判定测试设备是否与eMMC 建立连接，该反馈信息可以是eMMC的型号及内存参数等，包括但不限于此，前述提及的型号及内存参数仅为示例性的，而非限制性的。

参见图2，步骤S20包括：

步骤S21，若接收到反馈信息，则判定测试设备与eMMC建立连接；若未接收到反馈信息，则判定测试设备未与eMMC建立连接。

可以理解的是，当计算机端向eMMC发出信息获取指令后，若在计算机端显示出eMMC所反馈的信息，则表明eMMC与测试设备已经建立连接，可执行后续eMMC测试步骤。反之，当计算机端向eMMC发出信息获取指令后，若未在计算机端显示出相应的信息，则表明eMMC与测试设备未建立连接，则需要对测试设备和eMMC进行排查，获取故障原因，并在处理故障后重新对该 eMMC进行测试。

步骤S30，当测试设备与eMMC建立连接后，根据实际需求设定eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数；

在设定eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数时，可根据待测试eMMC 的重点测试项目做针对性的测试。比如，当需要重点测试固件的掉电保护能力时，可在设定写读、擦读、上下电的测试次数时，增加对于eMMC上下电测试的测试次数，实际操作时的设定为2000次起，并减少写读、擦读的测试次数；而当需要重点测试固件的读写性能时，可在设定写读、擦读、上下电的测试次数时，增加对于eMMC写读测试的测试次数，并减少上下电的测试次数。

在写读测试过程中，可根据实际情况设置写读操作的时间间隔，比如，在写操作两次后读取一次，或者在写操作一次后连续读取两次。其中，写入的数据大小在0-64K内，且数据写入地址随机，写入数据的内存比全部内存小。

步骤S40，根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果。

本实施例中，在设定写读、擦读、上下电的测试次数后，对eMMC进行反复的写读、擦读、上下电操作，并获取相应的测试结果。在测试过程中，若 eMMC的运行出现错误，计算机端会记录该错误并生成相应的报表。

具体的，参见图3，步骤S40包括：

步骤S41，在持续的上下电测试过程中，若eMMC能够正常执行擦、写、读指令，则判定固件的掉电保护功能正常；

可以理解的是，eMMC在断电情况下，若掉电保护功能出现故障，则保存在暂存区的数据会发生丢失，从而导致eMMC无法执行擦、写、读指令。若掉电保护功能正常，在eMMC重新上电后，保存在暂存区的数据会自动恢复， eMMC能够正常执行擦、写、读指令。

需要说明的是，存储在内存区的数据在断电后，其内部的数据是不会发生丢失的，而存储在暂存区的数据则会发生丢失。之所以将数据存储在暂存区，是因为若每次都是从内存区读取数据，则会影响到整体的运行速度，所以会将部分数据暂存在暂存区。

步骤S42，在持续的写读测试过程中，若读出数据与写入数据一致，则判定固件的读写功能正常；

本实施例中，在写读操作时，计算机端会将每个读出数据与对应的写入数据比较，以确定读出数据是否与写入数据一致，若读出数据与写入数据一致，则表明固件的读写功能正常。若读出数据与写入数据不一致，则表明固件的读写功能异常。

步骤S43，在持续的擦读测试过程中，若读出数据为零，则判定固件的擦除功能正常。

本实施例中，数据擦除即为数据归零操作，在擦除数据后，若读出数据全部为零，则表明擦除成功，固件的擦除功能正常。若读出数据不全部为零，则表明擦除不成功，固件的擦除功能出现错误。

参见图4，步骤S40还包括：

步骤S44，在先上下电后写读再擦读测试过程中，若其中任何一个测试步骤出现错误，则停止测试并报错。

本实施例中，在反复的写读、擦读、上下电测试操作中，若出现错误，测试设备则会立即停止对于eMMC固件的测试并生成报错报告。在该报错报告中，包含有出错方式和出错的数据块地址，出错方式为上下电错误、数据写入错误、数据读出错误和/或数据擦除错误，而数据块地址是与读取的数据块对应的，因此，在读取数据块的同时便能获取到数据块的地址。

具体的，参见图5，步骤S44包括：

步骤S404，确定出错的测试步骤，并获取出错的数据块地址。

当在写读、擦读、上下电测试过程中出现错误时，需要确定出错的测试步骤和出错的数据块地址，以方便测试人员发现并解决问题。

应当注意的是，在本发明所涉及的eMMC固件测试方法中，可根据实际需求选择是否对eMMC固件进行擦读测试，也就是说，由本发明所涉及的eMMC 固件测试方法包括写读+上下电、写读+擦读+上下电两种测试模式，擦除测试属于eMMC测试中的可选项。

基于上述提出的eMMC固件测试方法，本发明还提出一种eMMC固件测试装置，参见图6，该eMMC固件测试装置包括：

指令发送模块10，用于测试设备向eMMC发送信息获取指令；

连接判定模块20，用于根据eMMC上传的反馈信息，判定测试设备是否与 eMMC建立连接；

测试设定模块30，用于当测试设备与eMMC建立连接后，根据实际需求设定eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数；

循环测试模块40，用于根据设定的测试次数，按照写读、擦读、上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果。

在一较佳实施例中，本发明所涉及的连接判定模块20包括：

第一判定单元21，用于当接收到反馈信息时，判定测试设备与eMMC建立连接；

第二判定单元22，用于未接收到反馈信息时，判定测试设备未与eMMC 建立连接；

其中，反馈信息为eMMC的型号及内存参数。

在另一较佳实施例中，本发明所涉及的循环测试模块40包括：

第三判定单元41，用于在持续的上下电测试过程中，若eMMC能够正常执行擦、写、读指令，则判定固件的掉电保护功能正常；

第四判定单元42，用于在持续的写读测试过程中，若读出数据与写入数据一致，则判定固件的读写功能正常；

第五判定单元43，用于在持续的擦读测试过程中，若读出数据为零，则判定固件的擦除功能正常。

在又一较佳实施例中，本发明所涉及的循环测试模块还包括：

报错单元44，用于在先写读后擦读再上下电测试过程中，若其中任何一个测试步骤出现错误，则停止测试并报错。

在再一较佳实施例中，本发明所涉及的报错单元44包括：

报错子单元404，用于确定出错的测试步骤，并获取出错的数据块地址。

上述记载的eMMC固件测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于计算机设备中，也可以以软件形式存储于存储器中，以便于计算机设备调用并执行以上各个模块对应的功能。上述各功能模块的工作原理及其所起作用可参见图1至图5中所示的eMMC固件测试方法的实现过程，在此不再赘述。

以上所述的仅为本发明的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本发明保护的范围，凡是在与本发明一个整体的构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明保护的范围内。

Claims (10)

1.一种eMMC固件测试方法，其特征在于，包括：

测试设备向eMMC发送信息获取指令，所述测试设备包括计算机端、eMMC测试座和eMMC调试板，所述eMMC调试座用于放置eMMC，所述eMMC调试板用于调整eMMC的固件，所述计算机端用于测试经所述eMMC调试板调整后的eMMC的固件；

根据所述eMMC上传的反馈信息，判定所述测试设备是否与所述eMMC建立连接；

当所述测试设备与所述eMMC建立连接后，根据实际需求设定所述eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数；在设定eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数时，根据待测试eMMC的重点测试项目做针对性的测试，当需要重点测试固件的掉电保护能力时，增加对于eMMC上下电测试的测试次数，并减少写读、擦读的测试次数；当需要重点测试固件的读写性能时，增加对于eMMC写读测试的测试次数，并减少上下电的测试次数；

根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果；

若在测试过程中，所述eMMC的运行出现错误，则控制所述eMMC调试板对所述固件进行适应性调整。

2.根据权利要求1所述的eMMC固件测试方法，其特征在于，所述根据所述eMMC上传的反馈信息，判定所述测试设备是否与所述eMMC建立连接包括：

若接收到所述反馈信息，则判定所述测试设备与所述eMMC建立连接；

若未接收到所述反馈信息，则判定所述测试设备未与所述eMMC建立连接；

其中，所述反馈信息为所述eMMC的型号及内存参数。

3.根据权利要求1所述的eMMC固件测试方法，其特征在于，所述根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果包括：

在持续的上下电测试过程中，若所述eMMC能够正常执行擦、写、读指令，则判定所述固件的掉电保护功能正常；

在持续的写读测试过程中，若读出数据与写入数据一致，则判定所述固件的读写功能正常；

在持续的擦读测试过程中，若读出数据为零，则判定所述固件的擦除功能正常。

4.根据权利要求3所述的eMMC固件测试方法，其特征在于，所述根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果还包括：

在所述先写读后擦读再上下电的测试过程中，若其中任何一个测试步骤出现错误，则停止测试并报错。

5.根据权利要求4所述的eMMC固件测试方法，其特征在于，所述在所述先写读后擦读再上下电的测试过程中，若其中任何一个测试步骤出现错误，则停止测试并报错包括：

确定出错的测试步骤，并获取出错的数据块地址。

6.一种eMMC固件测试装置，其特征在于，包括：

指令发送模块，用于测试设备向eMMC发送信息获取指令，所述测试设备包括计算机端、eMMC测试座和eMMC调试板，所述eMMC调试座用于放置eMMC，所述eMMC调试板用于调整eMMC的固件，所述计算机端用于测试经所述eMMC调试板调整后的eMMC的固件；

连接判定模块，用于根据所述eMMC上传的反馈信息，判定所述测试设备是否与所述eMMC建立连接；

测试设定模块，用于当所述测试设备与所述eMMC建立连接后，根据实际需求设定所述eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数；在设定eMMC的写读、擦读、上下电的测试次数时，根据待测试eMMC的重点测试项目做针对性的测试，当需要重点测试固件的掉电保护能力时，增加对于eMMC上下电测试的测试次数，并减少写读、擦读的测试次数；当需要重点测试固件的读写性能时，增加对于eMMC写读测试的测试次数，并减少上下电的测试次数；

循环测试模块，用于根据设定的测试次数，按照先写读后擦读再上下电的顺序进行循环测试，以获取测试结果，若在测试过程中，所述eMMC的运行出现错误，则控制所述eMMC调试板对所述固件进行适应性调整。

7.根据权利要求6所述的eMMC固件测试装置，其特征在于，所述连接判定模块包括：

第一判定单元，用于当接收到所述反馈信息时，判定所述测试设备与所述eMMC建立连接；

第二判定单元，用于未接收到所述反馈信息时，判定所述测试设备未与所述eMMC建立连接；

其中，所述反馈信息为所述eMMC的型号及内存参数。

8.根据权利要求6所述的eMMC固件测试装置，其特征在于，所述循环测试模块包括：

第三判定单元，用于在持续的上下电测试过程中，若所述eMMC能够正常执行擦、写、读指令，则判定所述固件的掉电保护功能正常；

第四判定单元，用于在持续的写读测试过程中，若读出数据与写入数据一致，则判定所述固件的读写功能正常；

第五判定单元，用于在持续的擦读测试过程中，若读出数据为零，则判定所述固件的擦除功能正常。

9.根据权利要求8所述的eMMC固件测试装置，其特征在于，所述循环测试模块还包括：

报错单元，用于在所述先写读后擦读再上下电的测试过程中，若其中任何一个测试步骤出现错误，则停止测试并报错。

10.根据权利要求9所述的eMMC固件测试装置，其特征在于，所述报错单元包括：

报错子单元，用于确定出错的测试步骤，并获取出错的数据块地址。

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