CN111123363B - 漏装检测电路和烹饪器具 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种漏装检测电路和烹饪器具,其中,漏装检测电路包括:控制模块接口,控制模块接口包括第一接口和第二接口,分别连接至信号输出端口和采样端口;第一分压阻性元件,第一分压阻性元件串联与采样端口与地线之间;元件接入接口,元件接入接口包括第四接口和第五接口,能够分别与第一接口和第二接口可拆卸地对接,第四接口和第五接口分别连接至指定元件的信号输入端口和第二分压阻性元件,其中,信号输出端口用于输出驱动控制信号,以驱动指定元件上电工作,采样端口用于采集反映指定元件接入状态的分压信号。通过本发明的技术方案,简化了驱动接口和采样接口的个数,也提高了漏装检测的效率和可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及电路技术领域,具体而言,涉及一种漏装检测电路和一种烹饪器具。
背景技术
在电子产品接收到上电工作信号时,为确保其能够正常运行,通常都需要自检产品电路上的指定元件是否已正确安装。
相关技术中,控制模块与指定元件之间设置三极管、晶闸管和MOS管等电控开关,电控开关用于控制指定元件的工作状态,在控制模块向三极管输出的导通信号的数值与检测信号的数值不相同时,指定元件在接入电路后至少需要设有三个端口,一个端口用于接收三极管导通状态下传输的驱动信号,另一个端口用于接收控制模块输出的检测信号,最后一个端口用于向控制模块输出采样信号,这无疑造成了端口占用的浪费,另外,由于指定元件需要分别响应驱动信号和检测信号,因此,控制模块获取采样信号的响应时间也存在延迟。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
为此,本发明的一个目的在于提供一种漏装检测电路。
本发明的另一个目的在于提供一种烹饪器具。
为了实现上述目的,根据本发明的第一方面的实施例,提供了一种漏装检测电路,包括:控制模块接口,控制模块接口包括第一接口和第二接口,分别连接至信号输出端口和采样端口;第一分压阻性元件,第一分压阻性元件串联于采样端口与地线之间;元件接入接口,元件接入接口包括第四接口和第五接口,能够分别与第一接口和第二接口可拆卸地对接,第四接口和第五接口分别连接至指定元件的信号输入端口和第二分压阻性元件,其中,信号输出端口用于输出驱动控制信号,以驱动指定元件上电工作,采样端口用于采集反映指定元件接入状态的分压信号。
在该技术方案中,通过设置上述控制模块接口和元件接入接口,并按照上述限定的方式进行连接,在指定元件接入时,元件接入接口与控制模块接口对接,第一分压阻性元件与第二分压阻性元件对驱动控制信号进行分压,采样端口检测到的信号为第一分压阻性元件的分压值,在指定元件未接入时,元件接入接口与控制模块接口断开连接,采样端口检测到的信号为与第二分压阻性元件等电势的地线电压,其中,驱动控制信号也用于驱动指定元件上电工作,也即仅通过第一接口和第二接口即实现了检测指定元件是否漏装以及驱动指定元件上电工作的效果,减少了控制端的接口占用,另外,由于也不需要分别生成检测信号和驱动信号,在向指定元件输出驱动控制信号的同时,通过采样端口对指定元件是否漏装进行了检测,因此,缩短了对指定元件的漏装检测的延迟时间。
优选地,为了提高对分压信号检测的可靠性和准确性,设置第一分压阻性元件、第二分压阻性元件和驱动控制信号满足第一分压阻性元件的分压信号大于或等于4V,在指定元件接入时,能够使采样端口准确地检测到上述分压信号为高电平信号。
优选地,上述指定元件通常是集成于电路板设置的传感器组件,例如,红外传感器、重力传感器、光敏传感器、磁力传感器和超声波传感器等。
在上述任一技术方案中,优选地,还包括:直流源,用于提供直流信号;三极管,串联连接于直流源与信号输出端口之间,三极管的控制端连接至开断信号输入端,其中,三极管导通时,直流信号经三极管压降后作为驱动控制信号输出。
在该技术方案中,通过设置直流源和三极管,并按照上述方式进行连接,三极管作为一种成本低廉、响应时间短、通用性高、可靠性高、隔离性强和功耗低的开关器件,不仅能够将供电信号与驱动控制信号进行隔离,也能滤除供电信号中的噪声干扰,同时,有助于提高检测指定元件是否漏装的可靠性和稳定性。
在上述任一技术方案中,优选地,供电驱动模块包括:限流元件,串联连接于三极管的控制端与开断信号输入端之间,用于对三极管进行限流保护。
在该技术方案中,三极管的导通电压通常为0.7V,其导通电流较小,因此,通过在供电驱动模块中设置限流元件,一方面,能够避免大电流烧毁三极管,另一方面,也有利于降低三极管的功耗。
在上述任一技术方案中,优选地,三极管为NPN型三极管时,NPN型三极管的集电极连接至直流源,NPN型三极管的发射极连接至信号输出端口,NPN型三极管的基极连接至开断信号输入端。
在上述任一技术方案中,优选地,三极管为PNP型三极管时,PNP型三极管的集电极连接至信号输出端口,PNP型三极管的发射极连接至直流源,PNP型三极管的基极连接至开断信号输入端。
在上述任一技术方案中,优选地,指定元件接入第四接口时,元件接入接口与控制模块接口对接,第一分压阻性元件和第二分压阻性元件串联连接于指定元件的信号输入端口和地线之间,其中,驱动控制信号为高电平时,采样端口输出的分压信号为第一分压阻性元件与第二分压阻性元件对驱动控制信号进行分压后的输出信号。
在该技术方案中,通过在指定元件接入第四接口时,元件接入接口与控制模块接口对接,第一分压阻性元件和第二分压阻性元件串联连接于指定元件的信号输入端口和地线之间,其中,驱动控制信号为高电平时,采样端口输出的分压信号为第一分压阻性元件与第二分压阻性元件对驱动控制信号进行分压后的输出信号,也即仅通过两个端口即同时实现对指定元件的驱动上电和漏装检测,提高了控制模块的端口利用率。
在上述任一技术方案中,优选地,指定元件未接入第四接口时,元件接入接口不与控制模块接口对接,采样端口输出的分压信号被第一分压阻性元件拉低为低电平信号。
在该技术方案中,通过在指定元件未接入第四接口时,设置元件接入接口不与控制模块接口对接,由于第一分压阻性元件和第二分压阻性元件不再串联,不再对驱动控制信号进行分压,因此,采样端口输出的分压信号被第一分压阻性元件拉低为低电平信号驱动控制信号进行分压,第二分压阻性元件与地线等电势,因此,在输出驱动控制信号为高电平时,若检测到分压信号为低电平,可以高效且准确地检测到指定元件未接入。
在上述任一技术方案中,优选地,第一分压阻性元件包括串联和/或并联的多个电阻元件,和/或,第二分压阻性元件包括串联和/或并联的多个电阻元件。
在上述任一技术方案中,优选地,限流元件包括串联和/或并联的多个电阻元件。
在该技术方案中,通过设置第一分压阻性元件包括串联和/或并联的多个电阻元件,和/或,第二分压阻性元件包括串联和/或并联的多个电阻元件,提供了丰富的阻性元件的设置方式,有利于满足各种电路匹配的需求和功耗指标。
根据本发明的第二方面的技术方案,提供了一种烹饪器具,包括:上述任一项技术方案限定的漏装检测电路。
根据本发明的第三方面的实施例提供的烹饪器具,具有上述第一方面的任一实施例所具有的一切有益效果,在此不再赘述。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述部分中给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1示出了根据本发明的一个实施例的漏装检测电路的示意框图;
图2示出了根据本发明的一个实施例的漏装检测电路的检测曲线图;
图3示出了根据本发明的一个实施例的烹饪器具的示意框图。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点,下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明,但是,本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施,因此,本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
实施例一:
图1示出了根据本发明的一个实施例的漏装检测电路的示意框图。
如图1所示,根据本发明的一个实施例的漏装检测电路100,包括:控制模块接口CN1,控制模块接口CN1包括第一接口d1和第二接口d2,分别连接至信号输出端口和采样端口Chk;第一分压阻性元件R1,第一分压阻性元件R1串联于采样端口Chk与地线之间;元件接入接口CN2,元件接入接口CN2包括第四接口d4和第五接口d5,能够分别与第一接口d1和第二接口d2可拆卸地对接,第四接口d4和第五接口d5分别连接至指定元件Device的信号输入端口和第二分压阻性元件R2,其中,信号输出端口用于输出驱动控制信号,以驱动指定元件Device上电工作,采样端口Chk用于采集反映指定元件Device接入状态的分压信号。
在该技术方案中,通过设置上述控制模块接口CN1和元件接入接口CN2,并按照上述限定的方式进行连接,在指定元件Device接入时,元件接入接口CN2与控制模块接口CN1对接,第一分压阻性元件R1与第二分压阻性元件R2对驱动控制信号进行分压,采样端口Chk检测到的信号为第一分压阻性元件R1的分压值,在指定元件Device未接入时,元件接入接口CN2与控制模块接口CN1断开连接,采样端口Chk检测到的信号为与第二分压阻性元件R2等电势的地线电压,其中,驱动控制信号也用于驱动指定元件Device上电工作,也即仅通过第一接口d1和第二接口d2即实现了检测指定元件Device是否漏装以及驱动指定元件Device上电工作的效果,减少了控制端的接口占用,另外,由于也不需要分别生成检测信号和驱动信号,在向指定元件Device输出驱动控制信号的同时,通过采样端口Chk对指定元件Device是否漏装进行了检测,因此,缩短了对指定元件Device的漏装检测的延迟时间。
优选地,为了提高对分压信号检测的可靠性和准确性,设置第一分压阻性元件R1、第二分压阻性元件R2和驱动控制信号满足第一分压阻性元件R1的分压信号大于或等于4V,在指定元件Device接入时,能够使采样端口Chk准确地检测到上述分压信号为高电平信号。
优选地,上述指定元件Device通常是集成于电路板设置的传感器组件,例如,红外传感器、重力传感器、光敏传感器、磁力传感器和超声波传感器等。
其中,如图1所示,控制模块接口CN1上还设有第三接口d3,第三接口d3用于接地线,元件接入接口CN2上还设有第六接口d6,第六接口d6用于接地线。
在上述任一技术方案中,优选地,供电驱动模块包括:直流源Vdd,用于提供直流信号;三极管,串联连接于直流源Vdd与信号输出端口之间,三极管的控制端连接至开断信号输入端IN。
在该技术方案中,通过在供电驱动模块中设置直流源Vdd和三极管,并按照上述方式进行连接,三极管作为一种成本低廉、响应时间短、通用性高、可靠性高、隔离性强和功耗低的开关器件,不仅能够将供电信号与驱动控制信号进行隔离,也能滤除供电信号中的噪声干扰,同时,有助于提高检测指定元件Device是否漏装的可靠性和稳定性。
在上述任一技术方案中,优选地,供电驱动模块包括:限流元件R0,串联连接于三极管的控制端与开断信号输入端IN之间,用于对三极管进行限流保护。
在该技术方案中,三极管的导通电压通常为0.7V,其导通电流较小,因此,通过在供电驱动模块中设置限流元件R0,一方面,能够避免大电流烧毁三极管,另一方面,也有利于降低三极管的功耗。
在上述任一技术方案中,优选地,三极管为NPN型三极管时,NPN型三极管的集电极连接至直流源Vdd,NPN型三极管的发射极连接至信号输出端口,NPN型三极管的基极连接至开断信号输入端IN。
如图1所示,在上述任一技术方案中,优选地,三极管为PNP型三极管Q1时,PNP型三极管Q1的集电极c连接至信号输出端口,PNP型三极管Q1的发射极e连接至直流源Vdd,PNP型三极管Q1的基极b连接至开断信号输入端IN。
在上述任一技术方案中,优选地,指定元件Device接入第四接口d4时,元件接入接口CN2与控制模块接口CN1对接,第一分压阻性元件R1和第二分压阻性元件R2串联连接于指定元件Device的信号输入端口和地线之间,其中,驱动控制信号为高电平时,采样端口Chk输出的分压信号为第一分压阻性元件R1与第二分压阻性元件R2对驱动控制信号进行分压后的输出信号。
在该技术方案中,通过在指定元件Device接入第四接口d4时,元件接入接口CN2与控制模块接口CN1对接,第一分压阻性元件R1和第二分压阻性元件R2串联连接于指定元件Device的信号输入端口和地线之间,其中,驱动控制信号为高电平时,采样端口Chk输出的分压信号为第一分压阻性元件R1与第二分压阻性元件R2对驱动控制信号进行分压后的输出信号,也即仅通过两个端口即同时实现对指定元件Device的驱动上电和漏装检测,提高了控制模块的端口利用率。
在上述任一技术方案中,优选地,指定元件Device未接入第四接口d4时,元件接入接口CN2不与控制模块接口CN1对接,采样端口Chk输出的分压信号被第一分压阻性元件R1拉低为低电平信号。
在该技术方案中,通过在指定元件Device未接入第四接口d4时,设置元件接入接口CN2不与控制模块接口CN1对接,由于第一分压阻性元件R1和第二分压阻性元件R2不再串联,不再对驱动控制信号进行分压,因此,采样端口Chk输出的分压信号被第一分压阻性元件R1拉低为低电平信号驱动控制信号进行分压,第二分压阻性元件R2与地线等电势,因此,在输出驱动控制信号为高电平时,若检测到分压信号为低电平,可以高效且准确地检测到指定元件Device未接入。
在上述任一技术方案中,优选地,第一分压阻性元件R1包括串联和/或并联的多个电阻元件,和/或,第二分压阻性元件R2包括串联和/或并联的多个电阻元件。
在上述任一技术方案中,优选地,限流元件R0包括串联和/或并联的多个电阻元件。
在该技术方案中,通过设置第一分压阻性元件R1包括串联和/或并联的多个电阻元件,和/或,第二分压阻性元件R2包括串联和/或并联的多个电阻元件,提供了丰富的阻性元件的设置方式,有利于满足各种电路匹配的需求和功耗指标。
实施例二:
图2示出了根据本发明的一个实施例的漏装检测电路的检测曲线图。
如图2所示,根据本发明的一个实施例的漏装检测电路的检测曲线图包括:IN端向三极管输出驱动控制信号,分压信号的输出曲线包括以下两种情况:
(1)指定元件接入第四接口时,元件接入接口与控制模块接口对接,第一分压阻性元件和第二分压阻性元件串联连接于指定元件的信号输入端口和地线之间,其中,驱动控制信号为高电平时,采样端口输出的分压信号为第一分压阻性元件与第二分压阻性元件对驱动控制信号进行分压后的输出信号,即如图2中所示的Chk端电压(接入)。
(2)另外,指定元件未接入第四接口时,元件接入接口不与控制模块接口对接,采样端口输出的分压信号被第一分压阻性元件拉低为低电平信号,即如图2中所示的Chk端电压(未接入)。
实施例三:
图3示出了根据本发明的一个实施例的烹饪器具的示意框图。
如图3所示,根据本发明的一个实施例的烹饪器具300,包括:上述任一项技术方案限定的漏装检测电路100。
优选地,上述烹饪器具300可以为电饭煲、榨汁机、料理机、电水壶、电磁炉、挂烫机和电饼铛等,但不限于此。
以上结合附图详细说明了本发明的技术方案,本发明提供了一种漏装检测电路和烹饪器具,通过设置上述控制模块接口和元件接入接口,并按照上述限定的方式进行连接,在指定元件接入时,元件接入接口与控制模块接口对接,第一分压阻性元件与第二分压阻性元件对驱动控制信号进行分压,采样端口检测到的信号为第一分压阻性元件的分压值,在指定元件未接入时,元件接入接口与控制模块接口断开连接,采样端口检测到的信号为与第二分压阻性元件等电势的地线电压,其中,驱动控制信号也用于驱动指定元件上电工作,也即仅通过第一接口和第二接口即实现了检测指定元件是否漏装以及驱动指定元件上电工作的效果,减少了控制端的接口占用,另外,由于也不需要分别生成检测信号和驱动信号,在向指定元件输出驱动控制信号的同时,通过采样端口对指定元件是否漏装进行了检测,因此,缩短了对指定元件的漏装检测的延迟时间。
本发明方法中的步骤可根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。
本发明设备中的模块可根据实际需要进行合并、划分和删减。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,该程序可以存储于一计算机可读存储介质中,存储介质包括只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存储器(Random Access Memory,RAM)、可编程只读存储器(Programmable Read-only Memory,PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read Only Memory,EPROM)、一次可编程只读存储器(One-time Programmable Read-Only Memory,OTPROM)、电子抹除式可复写只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)、只读光盘(CompactDisc Read-Only Memory,CD-ROM)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者能够用于携带或存储数据的计算机可读的任何其他介质。
以上仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种漏装检测电路,其特征在于,包括:
控制模块接口,所述控制模块接口包括第一接口和第二接口,分别连接至信号输出端口和采样端口;
第一分压阻性元件,所述第一分压阻性元件串联于所述采样端口与地线之间;
元件接入接口,所述元件接入接口包括第四接口和第五接口,能够分别与所述第一接口和所述第二接口可拆卸地对接,所述第四接口和所述第五接口分别连接至指定元件的信号输入端口和第二分压阻性元件,
其中,所述信号输出端口用于输出驱动控制信号,以驱动所述指定元件上电工作,所述采样端口用于采集反映所述指定元件接入状态的分压信号。
2.根据权利要求1所述的漏装检测电路,其特征在于,还包括:
直流源,用于提供直流信号;
三极管,串联连接于所述直流源与所述信号输出端口之间,所述三极管的控制端连接至开断信号输入端,
其中,所述三极管导通时,所述直流信号经所述三极管压降后作为所述驱动控制信号输出。
3.根据权利要求2所述的漏装检测电路,其特征在于,还包括:
限流元件,串联连接于所述三极管的控制端与所述开断信号输入端开关模块的开断信号输入端之间,用于对所述三极管进行限流保护。
4.根据权利要求2所述的漏装检测电路,其特征在于,
所述三极管为NPN型三极管时,所述NPN型三极管的集电极连接至所述直流源,所述NPN型三极管的发射极连接至所述信号输出端口,所述NPN型三极管的基极连接至所述开断信号输入端开关模块的开断信号输入端。
5.根据权利要求2所述的漏装检测电路,其特征在于,
所述三极管为PNP型三极管时,所述PNP型三极管的集电极连接至所述信号输出端口,所述PNP型三极管的发射极连接至所述直流源,所述PNP型三极管的基极连接至所述开断信号输入端开关模块的开断信号输入端。
6.根据权利要求2所述的漏装检测电路,其特征在于,
所述指定元件接入所述第四接口时,所述元件接入接口与所述控制模块接口对接,所述第一分压阻性元件和所述第二分压阻性元件串联连接于所述指定元件的信号输入端口和地线之间,
其中,所述驱动控制信号为高电平时,所述采样端口输出的分压信号为所述第一分压阻性元件与所述第二分压阻性元件对所述驱动控制信号进行分压后的输出信号。
7.根据权利要求1所述的漏装检测电路,其特征在于,
所述指定元件未接入所述第四接口时,所述元件接入接口不与所述控制模块接口对接,所述采样端口输出的分压信号被所述第一分压阻性元件拉低为低电平信号。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的漏装检测电路,其特征在于,
所述第一分压阻性元件包括串联和/或并联的多个电阻元件,和/或,所述第二分压阻性元件包括串联和/或并联的多个电阻元件。
9.根据权利要求3所述的漏装检测电路,其特征在于,
所述限流元件包括串联和/或并联的多个电阻元件。
10.一种烹饪器具,其特征在于,包括:
如权利要求1至9中任一项所述的漏装检测电路。
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PB01 | Publication | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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