CN111044855A - 一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置和方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置和方法，所述装置包括壳体、射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座。所述电缆一端与所述射频同轴连接器连接，另一端电缆芯线与所述高压插座连接，屏蔽层与所述接地插座连接。所述壳体用于封装所述射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座，预留射频同轴连接器、高压插座和接地插座接口在壳体外部。本申请还包含用所述装置进行测试的方法。本申请的方案测试效率高，安全性强。

Description

一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置和方法

技术领域

本申请涉及测试技术领域，尤其涉及一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置和方法。

背景技术

射频同轴连接器性能中，介质耐电压和绝缘电阻是保证连接器可靠工作的最基本的电气参数。介质耐压是在相互绝缘的部件之间或绝缘的部件与地之间，在规定时间内施加规定电压，以此来确定元件在额定电压下能否完全工作，能否耐受由于开关、浪涌及其他类似现象所导致的过电位的能力，从而评定元件绝缘材料或绝缘间隙是否合适。

绝缘电阻测试是测量元件绝缘部分，在外加规定的直流电压下，由于绝缘不完善产生漏电流而形成的电阻。确定元件的绝缘性能是否符合电路设计的要求或经受高温，潮湿等环境应力时，其绝缘电阻是否符合有关标准的规定。

目前，绝缘电阻和介质耐压测试时，应用绝缘耐压测试仪，在连接器的中心接触件与外导体之间瞬时施加交流电压。具体操作为从绝缘耐压测试仪接出两根插头，一根接地插头和一根高压接头，将高压接头和接地接头分别放置在连接器外导体和从内导体引出的探针上，然后在仪器上设置绝缘电阻值，电压有效值，测试时间，漏电流等参数进行测试。这种测试方法，被测射频连接器内导体和高压接头接触需要从内导体引入一个探针工装，高压接头裸露在外面，不仅测试效率较低，且有一定的安全隐患。

发明内容

本申请提出一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置和方法，解决测试效率低、测试存在安全隐患的问题。

一方面，本申请的实施例提出一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置，包括壳体、射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座；所述电缆一端与所述射频同轴连接器连接，另一端电缆芯线与所述高压插座连接，屏蔽层与所述接地插座连接；所述壳体用于封装所述射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座，预留射频同轴连接器、高压插座和接地插座接口在壳体外部。

优选的，所述壳体为绝缘材料。

优选的，所述射频同轴连接器为N/N-KFK、N/BNC-KFK或N/SMA-KFK。

优选的，所述射频同轴连接器与所述壳体采用法兰固定。

优选的，所述接地插座与所述壳体采用穿墙法兰固定。

优选的，所述高压插座与所述壳体采用穿墙法兰固定。

优选的，所述电缆芯线与高压插座连接、屏蔽层与接地插座连接采用焊接。

在一个实施例中，所述壳体为立方体，由六块板材装配而成，固定射频同轴连接器、高压插座和接地插座的壳体面为绝缘材料，其余壳体面为铝板。

优选的，所述绝缘材料为聚四氟乙烯。

另一方面，本申请的实施例还提出一种射频同轴连接器绝缘耐压测试方法，用本申请任意一个实施例所述的射频同轴连接器绝缘耐压测试装置。所述方法包括以下步骤：

连接待测试射频同轴连接器至测试装置的射频同轴连接器接口；

连接绝缘耐压测试仪的高压插头和测试装置的高压插座；

连接绝缘耐压测试仪的接地插头和测试装置的接地插座；

通过绝缘耐压测试仪读取绝缘电阻和介质耐电压。

本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：测试效率高，安全性强。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为射频同轴连接器绝缘耐压测试装置剖面图；

图2为射频同轴连接器绝缘耐压测试装置示意图；

图3为射频同轴连接器绝缘耐压测试装置装配图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

以下结合附图，详细说明本申请各实施例提供的技术方案。

图1为射频同轴连接器绝缘耐压测试装置剖面图。

提出一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置，包括壳体1、射频同轴连接器2、电缆3、高压插座4和接地插座5。

射频同轴连接器是指连接两个射频电缆的端部所用到的零件，以保证两个射频电缆的中心线在同一轴线上。

N/N-KFK为N型连接器，N/BNC-KFK为BNC介质连接器，N/SMA-KFK为SMA介质连接器。

优选的，所述射频同轴连接器为N/N-KFK、N/BNC-KFK和N/SMA-KFK中的至少一个，覆盖常用N型、BNC型、SMA型接口连接器和电缆组件的测试。常用连接器中绝缘耐压最高的三种连接器分别为：N型连接器介质耐电压值2500V，BNC型介质耐电压值为1500V，SMA型介质耐电压值为1000V，其他类型连接器绝缘耐压低于以上数值。因此，其它类型的接口可通过系列间转接器转换过来进行测试。如需要测试SMB型连接器的绝缘耐压，可通过SMA转SMB的转接器转换为SMB接口，然后测试SMB型连接器的绝缘耐压。

需要说明的是，N/N-KFK、N/BNC-KFK或N/SMA-KFK为常用射频同轴连接器。当测试装置射频同轴连接器数量不止一个时，三种连接器可任意组合。

例如，其中射频同轴转接器在本实施例中采用N/N-KFK，N/BNC-KFK和N/SMA-KFK三种类型，以便和常用的N型、BNC型、SMA型连接器配接，进行这3种类型连接器的绝缘耐压测试。

优选的，射频同轴连接器采用N行×M列(例如3×2)的接口排列方式，3种型号的连接器分别分布在3行，每行中心间距约4cm，每行排列2个相同的连接器，每列中心间距约5cm，保证每个接口通道的独立和相互隔离。可同时测试2个连接器或2根射频电缆组件的绝缘耐压性能。

优选的，高压插座和接地插座排在一行，且处于壳体面上下位置的中间。

高压插座是指与绝缘耐压测试仪引出的高压测试线连接的插座。

需要说明的是，高压插座可以是十字高压插座、三角形高压插座、椭圆形高压插座或圆柱形高压插座。

例如，在一个实施例中采用的是十字高压插座。

接地插座是指与绝缘耐压测试仪引出的接地测试线连接的插座。

需要说明的是，所述接地插座与绝缘耐压测试仪接地插头配合，型号及式样取决于所采用绝缘耐压测试仪。

在实施例中，将绝缘耐压测试仪引出的高压测试线和接地测试线接入后盖板(即壳体)的高压插座和接地插座上，通过测试仪即可测试绝缘电阻和介质耐电压。

所述电缆一端与所述射频同轴连接器连接，另一端电缆芯线与所述高压插座连接，屏蔽层与所述接地插座连接。

优选的，所述电缆芯线与高压插座连接、屏蔽层与接地插座连接采用焊接方式。

需要说明的是，电缆数量与测试装置同轴射频连接器数量对应。当同轴射频连接器数量不止一个时，与连接器数量相同的电缆一端分别与所述同轴射频连接器相连，另一端电缆芯线并联、电缆屏蔽层并联，芯线和屏蔽层分别接入高压插座和接地插座上。

电缆或射频同轴连接器的数量，可以为L个，其中L≥1。例如L可以为2、4、6、8或10个。

例如，测试装置内部，安装有6根电缆组件(即电缆)，一边为N型连接器插头，接前盖板上的射频连接器，另一边分离出电缆芯线和屏蔽层，将电缆芯线拧成一股焊接在高压插座上，屏蔽层拧成另一股焊接在接地插座上。电缆组件在N型连接器端面130mm处将电缆分离成电缆芯线和屏蔽层，芯线和屏蔽层需分别用绝缘套管包裹。

图2为射频同轴连接器绝缘耐压测试装置示意图。

所述壳体用于封装所述射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座，预留射频同轴连接器、高压插座和接地插座接口在壳体外部。

具体地，所述壳体形成封闭腔体，腔体内放置所述射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座。

所述壳体还用于固定所述射频同轴连接器、高压插座和接地插座，所述电缆置于壳体内部。

所述壳体是指将射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座包裹在其内部，只预留射频同轴连接器、高压插座和接地插座接口在壳体外部。

需要说明的是，所述壳体可为多面体(如立方体、三棱体、柱体)、球体等立体形状。

当所述壳体为多面体时，所述射频同轴连接器、高压插座和接地插座可以分布在同一表平面，也可以分布在多个表面。

例如，壳体是6面体时，所述射频同轴连接器、高压插座和接地插座全部位于同一平面，该平面为工作平面，其他表面固定于工作设施。

再例如，壳体是6面体时，所述射频同轴连接器位于第一平面，高压插座和接地插座位于第二平面。优选地，第二平面与第一平面相对。

例如，图2所示的实施例中，裸露在外面的只有配接待测连接器的接口，高压插座和接地插座置于测试盒外的部分为绝缘材料。

优选地，所述壳体为绝缘材料。

绝缘材料用于提高测试装置的安全性，在绝缘耐压测试时杜绝安全事故。

例如，测试盒的前盖板和后盖板均为聚四氟乙烯，避免了接绝缘耐压测试仪的高压插头裸露接触外导体的情况，有效提高了测试安全性。

所述壳体为长方体，固定射频同轴连接器、高压插座和接地插座的壳体面为绝缘材料，其余壳体面为铝板。

例如，在图2所示的实施例中，所述壳体为立方体，测试装置主要由前盖板10(即壳体)、后盖板12(即壳体)、侧板11(即壳体)、各种型号法兰同轴连接器2(即同轴连接器)，高强度接线柱，十字高压插座，电缆组件组成。固定射频同轴连接器、高压插座和接地插座的壳体面为绝缘材料，其余壳体面为铝板。

侧板材料采用铝板，四个侧板用螺钉固定，安装为测试盒的四个壁，保证测试装置的强度，前盖板和后盖板采用聚四氟乙烯板，起到绝缘作用。将前盖板和后盖板和侧板固定在一起。

优选的，所述射频同轴连接器与所述壳体采用法兰固定。

例如，所述前盖板上留有六个固定法兰连接器的安装孔，常用型号的射频连接器通过螺钉固定法兰盘在测试装置的前盖板上。

优选的，所述接地插座与所述壳体采用穿墙法兰固定。

优选的，所述高压插座与所述壳体采用穿墙法兰固定。

需要说明的是，所述穿墙法兰用于增加固定的稳定性，具体的法兰连接形式不限，可以为法兰、垫片及螺栓或法兰及螺栓。

例如，所述后盖板留有装配接地插座和高压插座的安装孔，接地插座和十字高压插座通过穿墙法兰安装在后盖板上。

图3为射频同轴连接器绝缘耐压测试装置装配图。

以所述壳体为立方体为例，所述侧板有四个，尺寸完全一致，在前后面上分别开5个螺纹孔，上表面开6个通孔7，左、右侧面开对应的6个螺纹孔8，将四块侧板依次用螺钉固定，构成测试装置的四个侧壁。

本申请的实施例还提出使用所述测试装置的射频同轴连接器绝缘耐压测试方法，包括以下步骤：

步骤100、连接待测试射频同轴连接器至试装置的射频同轴连接器接口；连接绝缘耐压测试仪的高压插头和测试装置的高压插座；连接绝缘耐压测试仪的接地插头和测试装置的接地插座；通过绝缘耐压测试仪读取绝缘电阻和介质耐电压。

步骤200、测试时将待测射频同轴连接器或电缆组件直接与测试装置前盖板上对应型号连接器装配好，测试装置前盖板上可预置多个射频同轴连接器，将待测试射频同轴连接器插入匹配型号的射频同轴连接器。

将绝缘耐压测试仪上的高压插头和接地插头插入测试装置后盖板上的插座上。

步骤300、操作绝缘耐压测试仪，设置绝缘电阻值，电压有效值，测试时间，漏电流等参数，在规定时间内施加规定电压。

测试待测件的绝缘电阻和介质耐电压性能，测试绝缘电阻和介质耐压电参数，确定元件在额定电压下能否安全工作。

需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置，其特征在于，包括壳体、射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座；

所述电缆一端与所述射频同轴连接器连接，另一端电缆芯线与所述高压插座连接，屏蔽层与所述接地插座连接；

所述壳体用于封装所述射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座，预留射频同轴连接器、高压插座和接地插座接口在壳体外部。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述壳体为绝缘材料。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述射频同轴连接器为N/N-KFK、N/BNC-KFK或N/SMA-KFK。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述射频同轴连接器与所述壳体采用法兰固定。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述接地插座与所述壳体采用穿墙法兰固定。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述高压插座与所述壳体采用穿墙法兰固定。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述电缆芯线与高压插座连接、屏蔽层与接地插座连接采用焊接。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述壳体为立方体，固定射频同轴连接器、高压插座和接地插座的壳体面为绝缘材料，其余壳体面为铝板。

9.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述绝缘材料为聚四氟乙烯。

10.一种射频同轴连接器绝缘耐压测试方法，其特征在于，使用权利要求1～9任意一项所述的测试装置，包括以下步骤：

连接待测试射频同轴连接器至测试装置的射频同轴连接器接口；

连接绝缘耐压测试仪的高压插头和测试装置的高压插座；

连接绝缘耐压测试仪的接地插头和测试装置的接地插座；

通过绝缘耐压测试仪读取绝缘电阻和介质耐电压。

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