CN111044760A - 一种具有计数功能的smd二端元件测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种具有计数功能的SMD二端元件测试装置，包括两测试杆，两测试杆的测试端分别设有测试针，两测试针分别电性连有至少一根电缆，一根测试杆的测试端上还设有信号发生器，另一根测试杆的测试端上还设有与信号发生器相对的信号接收器，所述测试杆上还设有与信号接收器电性相连的显示屏、电源开关和计数清零复位开关。节约了人力成本，能够适用于多种规格SMD二端元件的测试和计数。本发明应用于电子元件测试技术领域。

Description

一种具有计数功能的SMD二端元件测试装置
技术领域
本发明涉及电子元件测试技术领域，具体涉及一种具有计数功能的SMD二端元件测试装置。
背景技术
目前常见的SMD二端元件有电阻、电容、电感、二极管等，其使用的测试方式一般有二种，一种是使用两根带有测试夹的测试线，测试线的一端连接测试设备，两个夹子分别接触元件的两端管脚进行测试，测试过程中可能存在接触不好导致测试结果不准确的情况，在对有极性元件测试时需要先将元件按同一方向放置，测试效率不高；一种是特制的测试夹具(或电路板)，将夹具(或电路板)安装在测试设备上，元件放置到测试夹具(或电路板的线路)上进行测试，测试完成后需要将其取下，这样会影响测试的效率，一般一种型号规格的夹具只能用于该型号元件的测试，不能用于其它型号规格的元件，测试夹具的利用率低。SMD二端元件测试完成后还需要清点数量，将花费较大的人力成本。
发明内容
(一)要解决的技术问题
一种具有计数功能的SMD二端元件测试装置，在测试的过程中实现了计数功能，测试完成后无需再次清点数量，节约了工序，节约了人力成本，提高了SMD二端元件测试效率，避免了可能存在接触不好导致测试结果不准确的情况发生，能够适用于多种规格SMD二端元件的测试和计数。
(二)技术方案
为解决上述技术问题，本发明提供了一种具有计数功能的SMD二端元件测试装置，包括两测试杆，两测试杆的测试端分别设有测试针，两测试针分别电性连有至少一根电缆，一根测试杆的测试端上还设有信号发生器，另一根测试杆的测试端上还设有与信号发生器相对的信号接收器，所述测试杆上还设有与信号接收器电性相连的显示屏、电源开关和计数清零复位开关。
进一步改进的，所述测试杆采用绝缘、耐压且防静电的材料制成。
进一步改进的，两测试杆之间连有弹性元件，两测试杆在弹性元件的作用下形成V形，两测试杆的测试端在弹性元件的作用下相互靠拢。
进一步改进的，所述测试杆为中空管状，与两测试针电性相连的电缆分别穿设在对应测试杆的内部。
进一步改进的，所述测试针的末端为弹性材料制成。
进一步改进的，所述弹性材料为铍铜。
进一步改进的，两测试针的末端相互平行。
进一步改进的，沿测试针轴向设有用于增加摩擦力的刻度。
进一步改进的，每根测试针连接有两根电缆。
(三)有益效果
本发明的具有计数功能的SMD二端元件测试装置测试前，将两测试杆的测试端接触在一起，使信号发生器的信号输出端和信号接收器的信号输入端互联导通，接通电源并打开电源开关后，信号发生器输出高电平信号。电缆的一端连接测试针，电缆的另一端连接测试设备，测试时移动两测试杆，使两测试针分开至合适的间距夹住SMD二端元件的管脚两端，通过电缆连接的测试设备能够对SMD二端元件进行测试。此时，两测试杆的测试端相分离，信号发生器的信号输出端和信号接收器的信号输入端断开，当输入信号为下降沿时计数。计数的数量通过显示屏显示，完成一次计数后，可以通过计数清零复位开关复位清零，进入下一次测试和计数。
本发明的具有计数功能的SMD二端元件测试装置实现测试和计数相结合，在测试的过程中实现了计数功能，测试完成后无需再次清点数量，节约了工序，节约了人力成本，提高了SMD二端元件测试效率，避免了可能存在接触不好导致测试结果不准确的情况发生，可用于各种型号规格SMD二端元件的测试，具有较高的使用率，应用范围较广，提高了测试夹具的利用率。本发明的具有计数功能的SMD二端元件测试装置结构简单，操作使用方便，解决了测试速度慢、测试夹具的利用率低的问题。
附图说明
图1为具有计数功能的SMD二端元件测试装置的结构示意图；
图2为信号发生器、信号接收器、计数清零复位开关、显示屏和电源开关的连接关系图；
图3为信号发生器的电路原理图。
图中，1-测试针，2-信号接收器，3-计数清零复位开关，4-显示屏，5-电源开关，6-弹性元件，7-测试杆，8-信号发生器，9-电缆。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
请参照图1至图3，一种具有计数功能的SMD二端元件测试装置，包括两测试杆7，两测试杆7的测试端分别设有测试针1，两测试针1分别电性连有至少一根电缆9，一根测试杆7上还设有信号发生器8，另一根测试杆7上还设有与信号发生器8相对的信号接收器2，所述测试杆7上还设有与信号接收器2电性相连的显示屏4、电源开关5和计数清零复位开关3。
本实施例的具有计数功能的SMD二端元件测试装置测试前，将两测试杆7上的测试端接触在一起，使信号发生器8的信号输出端和信号接收器2的信号输入端互联导通，接通电源并打开电源开关5后，信号发生器8输出高电平信号。
电缆9的一端连接测试针1，电缆9的另一端连接测试设备，测试针1通过一根电缆9可以连接一台测试设备，测试时移动两测试杆7，使两测试针1分开至合适的间距夹住SMD二端元件的管脚两端，通过电缆9连接的测试设备能够对SMD二端元件进行测试。此时，两测试杆7的测试端相分离，信号发生器8的信号输出端和信号接收器2的信号输入端断开，当输入信号为下降沿时计数。计数的数量通过显示屏4显示，完成一次计数后，可以通过计数清零复位开关3复位清零，进入下一次测试和计数。
具体地，请参照图2至图3，电源提供5V电压，按下电源开关5后，信号发生器8的输出为高电平，输出点为A。
测试时信号接收器2与信号发生器8断开，信号接收器2接收到下降沿脉冲信号后进行计数，显示屏4为七段数码显示管与信号接收器2连接。
计数清零复位开关3与信号接收器2的复位信号相连接，按下计数清零复位开关3后输出为高电平，输出点为A，信号接收器2高电平复位，显示屏4显示为0。
本实施例的具有计数功能的SMD二端元件测试装置实现测试和计数相结合，在测试的过程中实现了计数功能，测试完成后无需再次清点数量，节约了工序，节约了人力成本，提高了SMD二端元件测试效率，避免了可能存在接触不好导致测试结果不准确的情况发生，可用于各种型号规格SMD二端元件的测试，具有较高的使用率，应用范围较广，提高了测试夹具的利用率。本实施例的具有计数功能的SMD二端元件测试装置结构简单，操作使用方便，解决了测试速度慢、测试夹具的利用率低的问题。
本实施例的SMD二端元件为电阻、电容、电感、二极管等SMD二端元件。
本实施例中，作为上述技术方案的进一步改进，所述测试杆7采用绝缘、耐压且防静电的材料制成，能够防止静电干扰或高压击坏零部件。
本实施例中，作为上述技术方案的进一步改进，两测试杆7之间连有弹性元件6，两测试杆7在弹性元件6的作用下形成V形，两测试杆7的测试端在弹性元件6的作用下相互靠拢。控制测试杆7移动时，仅需要按住测试杆7的顶端，测试杆7底端的测试端即可分开，操作方便。松开测试杆7，两测试针1即在弹性元件6的作用下相互靠拢并接触。其中，弹性元件6为弹簧。弹簧的一端连接在一根测试杆7上，弹簧的另一端连接在另一根测试杆7上。具体的，弹簧一端挂设在一根测试杆7上，弹簧的另一端挂设在另一根测试杆7上，使两测试杆7形成V形的结构。当然，两测试杆7页可以通过其他的方式形成V形的结构，如可以将两测试杆7中部铰接，两测试杆7的后部之间通过弹簧连接，两测试杆7的前部，即两测试杆7的测试端即可以靠拢，两测试杆7从而形成了V形的结构。
本实施例中，作为上述技术方案的进一步改进，所述测试杆7为中空管状，与两测试针1电性相连的电缆9穿设在对应测试杆7的内部，能够避免电缆9长期暴露在外而造成漏电或接触不良等现象。
本实施例中，作为上述技术方案的进一步改进，所述测试针1的末端为弹性材料制成。测试针1的末端采用的弹性材料为铍铜，测试针1的末端具有弹性是保证接触良好的情况下不损伤SMD二端元件的管脚。铍铜材料具有高强度、高硬度、高导电性、高弹性、耐磨、耐疲劳、抗腐蚀性及弹性滞后小等特点。
本实施例中，作为上述技术方案的进一步改进，两测试针1的末端相互平行，能够两测试针1与SMD二端元件两端的管脚接触良好，并且不会损伤SMD二端元件的管脚。
本实施例中，作为上述技术方案的进一步改进，沿测试针1轴向设有刻度。该刻度是为了增加摩擦力，使测试针1与SMD二端元件的管脚更好的接触。
本实施例中，作为上述技术方案的进一步改进，每根测试针1连接有两根电缆9，测试针1通过两根电缆9可以连接两台测试设备，实现各种类型的电阻、电容、电感、二极管等SMD二端元件测试，应用范围较广，提高了测试夹具的利用率。当然，每根测试针1还可以电性连接三根、四根乃至更多数量的电缆9，通过电缆9可以连接多个测试设备。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种具有计数功能的SMD二端元件测试装置，其特征在于，包括两测试杆，两测试杆的测试端分别设有测试针，两测试针分别电性连有至少一根电缆，一根测试杆的测试端上还设有信号发生器，另一根测试杆的测试端上还设有与信号发生器相对的信号接收器，所述测试杆上还设有与信号接收器电性相连的显示屏、电源开关和计数清零复位开关。
2.根据权利要求1所述的具有计数功能的SMD二端元件测试装置，其特征在于，所述测试杆采用绝缘、耐压且防静电的材料制成。
3.根据权利要求1所述的具有计数功能的SMD二端元件测试装置，其特征在于，两测试杆之间连有弹性元件，两测试杆在弹性元件的作用下形成V形，两测试杆的测试端在弹性元件的作用下相互靠拢。
4.根据权利要求3所述的具有计数功能的SMD二端元件测试装置，其特征在于，所述弹性元件为弹簧，所述弹簧的一端连接在一根测试杆上，所述弹簧的另一端连接在另一根测试杆上。
5.根据权利要求1所述的具有计数功能的SMD二端元件测试装置，其特征在于，所述测试杆为中空管状，与两测试针电性相连的电缆分别穿设在对应测试杆的内部。
6.根据权利要求1所述的具有计数功能的SMD二端元件测试装置，其特征在于，所述测试针的末端为弹性材料制成。
7.根据权利要求6所述的具有计数功能的SMD二端元件测试装置，其特征在于，所述弹性材料为铍铜。
8.根据权利要求1所述的具有计数功能的SMD二端元件测试装置，其特征在于，两测试针的末端相互平行。
9.根据权利要求1所述的具有计数功能的SMD二端元件测试装置，其特征在于，沿测试针轴向设有用于增加摩擦力的刻度。
10.根据权利要求1所述的具有计数功能的SMD二端元件测试装置，其特征在于，每根测试针连接有两根电缆。
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