CN111028775B - 像素驱动电路及其迁移率校正方法、显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种像素驱动电路及其迁移率校正方法、显示装置，且所述像素驱动电路中设置有驱动晶体管以及校正模块，所述校正模块根据所述驱动晶体管输出的感测电压的变化值以及相对应的校正因子，以对所述驱动晶体管的迁移率进行校正，相对于现有技术，本发明通过新增的校正因子排除了驱动晶体管中电流变化的影响，精确的探测并校正了驱动晶体管的迁移率，提高了显示的均一性，提高了显示效果。

Description

像素驱动电路及其迁移率校正方法、显示装置

技术领域

本发明涉及显示驱动技术领域，尤其涉及一种像素驱动电路及其迁移率校正方法、以及具有该像素驱动电路的显示装置。

背景技术

随着显示技术的不断发展和完善，人们不断追求更高画质的显示方式，有源主动驱动式有机发光二极管显示器应运而生。

但是，驱动有机发光二极管的晶体管由于光照、温度、以及电流、电压应力等因素的影响，存在着迁移率变化的现象，从而导致流经像素的电流发生变化，进而引起显示画面不均的问题。

传统模式下的面板，由于探测过程中流经驱动晶体管的电流持续变化，而迁移率探测公式默认为电流恒定，从而导致迁移率探测精度受限。

发明内容

本发明提供一种像素驱动电路及其迁移率校正方法、显示装置，能够提高驱动晶体管的迁移率的探测精度，以解决现有的像素驱动电路，由于晶体管的迁移率存在着变化的现象，导致电流发生改变，使得晶体管的迁移率无法进行准确的探测，进而影响显示的技术问题。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

本发明提供一种像素驱动电路，包括：

数据驱动模块，所述数据驱动模块连接数据信号线以及感测信号线，所述数据驱动模块包括驱动晶体管，所述驱动晶体管根据所述数据信号线中的数据信号输出感测电压至所述感测信号线，且所述感测电压随所述驱动晶体管中流动的电流而变化；

校正模块，所述校正模块与所述感测信号线电连接，且所述校正模块根据所述感测电压的变化值以及与所述感测电压的变化值相对应的校正因子，以对所述驱动晶体管的迁移率进行校正；

数据控制模块，所述数据控制模块与所述校正模块电连接，并根据校正之后的迁移率输出校正后的数据信号至所述数据信号线。

在本发明的一种实施例中，所述校正模块中的校正函数为：

其中，μ为所述驱动晶体管校正之后的所述迁移率，μ₀为所述驱动晶体管的原始迁移率，ΔV_sen为探测起始时至探测终止时所述感测电压的差值，ΔV_sen0为所述驱动晶体管的迁移率未漂移时探测起始时至探测终止时的所述感测电压的差值，α、β均为所述校正因子，且α为探测终止时所量测到的平均电流与探测起始时所量测到的起始电流的比值、β为探测起始时所量测到的(V_g-V_s-V_th)²值，其中V_g为所述驱动晶体管的栅极电压，V_s为所述驱动晶体管的源极电压，V_th为所述驱动晶体管的阈值电压，α₀、β₀均为所述驱动晶体管的迁移率未漂移时的校正因子。

在本发明的一种实施例中，所述校正模块包括数据模块，且所述数据模块包括多个所述感测电压的变化值以及与所述感测电压的变化值一一对应的多组所述校正因子α和β，用于针对所述感测电压的变化值选择相对应的所述校正因子α和β，以对所述迁移率进行校正。

在本发明的一种实施例中，所述数据驱动模块还包括：

第一晶体管，所述第一晶体管的漏极连接所述数据信号线，所述第一晶体管的栅极连接第一电压信号，所述第一晶体管的源极连接所述驱动晶体管的栅极；

第二晶体管，所述第二晶体管的漏极连接所述驱动晶体管的源极，所述第二晶体管的源极连接所述感测信号线，所述第二晶体管的栅极连接第二电压信号；

第一电容，所述第一电容的两端分别连接所述驱动晶体管的栅极和源极；

所述驱动晶体管的漏极连接第三电压信号，所述驱动晶体管的源极连接所述像素驱动电路的发光元器件。

在本发明的一种实施例中，所述像素驱动电路还包括感测模块，且所述感测模块包括所述感测信号线、与所述感测信号线相连接的初始化电压信号、设置于所述感测信号线和所述初始化电压信号之间的第一开关、设置于所述感测模块与所述校正模块之间的第二开关、以及与所述感测信号线相连接的第二电容。

根据本发明的上述目的，提供一种像素驱动电路的迁移率校正方法，所述像素驱动电路包括数据驱动模块、与所述数据驱动模块电连接的感测模块、与所述感测模块电连接的校正模块、以及与所述校正模块和所述数据驱动模块电连接的数据控制模块；

所述校正方法包括：

所述数据驱动模块接收所述数据控制模块中的数据信号，并输出感测电压至所述感测模块；

所述感测模块接收所述感测电压，并将所述感测电压输出至所述校正模块；

所述校正模块根据探测时段内所述感测电压的变化值，在所述校正模块的数据模块中选择与所述感测电压的变化值相对应的校正因子，并对所述像素驱动电路中的迁移率进行校正，以将校正后的所述迁移率输出至所述数据控制模块；

所述数据控制模块根据校正后的所述迁移率输出校正后的所述数据信号至所述数据驱动模块。

在本发明的一种实施例中，所述数据驱动模块包括驱动晶体管，且所述驱动晶体管根据所述数据信号输出所述感测电压，且所述感测电压随所述驱动晶体管中流动的电流而变化。

在本发明的一种实施例中，所述校正模块中的校正函数为：

其中，μ为所述驱动晶体管校正之后的所述迁移率，μ₀为所述驱动晶体管的原始迁移率，ΔV_sen为探测起始时至探测终止时所述感测电压的差值，ΔV_sen0为所述驱动晶体管的迁移率未漂移时探测起始时至探测终止时的所述感测电压的差值，α、β均为所述校正因子，且α为探测终止时所量测到的平均电流与探测起始时所量测到的起始电流的比值、β为探测起始时所量测到的(V_g-V_s-V_th)²值，其中V_g为所述驱动晶体管的栅极电压，V_s为所述驱动晶体管的源极电压，V_th为所述驱动晶体管的阈值电压，α₀、β₀均为所述驱动晶体管的迁移率未漂移时的校正因子。

在本发明的一种实施例中，所述数据模块包括多个感测电压的变化值以及与所述感测电压的变化值一一对应的多组所述校正因子α和β，用于针对所述感测电压的变化值选择相对应的所述校正因子α和β，以对所述迁移率进行校正。

根据本发明的上述目的，提供一种显示装置，所述显示装置包括所述像素驱动电路。

本发明的有益效果为：本发明通过在像素驱动电路中设置校正模块，针对像素驱动电路中驱动晶体管的源极电压的变化值以及相对应的校正因子对驱动晶体管的迁移率进行校正，提高了迁移率的探测精度，改善了由于迁移率变化引起的面板显示不均匀性问题，提高了显示效果。

附图说明

为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的像素驱动电路结构示意图。

图2为本发明实施例提供的迁移率校正方法流程图。

图3为本发明实施例提供的迁移率探测信号时序图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

本发明针对现有的像素驱动电路及其迁移率校正方法、显示装置，由于晶体管的迁移率存在着变化的现象，导致电流发生改变，使得晶体管的迁移率无法进行准确的探测，进而影响显示的技术问题，本实施例能够解决该缺陷。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种像素驱动电路，具体请参照图1所示，且所述像素驱动电路包括：

数据驱动模块10，所述数据驱动模块10连接数据信号线以及感测信号线，所述数据驱动模块10包括驱动晶体管T0，所述驱动晶体管T0根据所述数据信号线中的数据信号V_data输出感测电压V_sen至所述感测信号线，且所述感测电压V_sen随所述驱动晶体管T0中流动的电流而变化；

校正模块30，所述校正模块30与所述感测信号线电连接，且所述校正模块30根据所述感测电压V_sen的变化值以及与所述感测电压V_sen的变化值相对应的校正因子，以对所述驱动晶体管T0的迁移率进行校正；

数据控制模块40，所述数据控制模块40与所述校正模块30电连接，并根据校正之后的迁移率输出校正后的数据信号V_data至所述数据信号线。

在实施例应用过程中，由于迁移率的探测过程中流经驱动晶体管的电流持续变化，而现有的迁移率探测公式默认为电流恒定，从而导致迁移率探测精度受限，而本发明实施例通过在像素驱动电路中引入校正模块，在驱动晶体管的电流在变化的情况下，对驱动晶体管的迁移率进行校正，提高了校正精度，改善了由于驱动晶体管的迁移率变化引起的面板显示不均匀的问题。

更进一步地，请参照图1所示，对本发明实施例提供的像素驱动电路结构进行详细描述。

所述像素驱动电路包括数据驱动模块10、感测模块20、校正模块30、数据控制模块40、以及模数转换器50。

所述数据控制模块10包括驱动晶体管T0、第一晶体管T1、第二晶体管T2、第一电容C1以及发光元器件，所述第一晶体管T1的漏极连接所述数据信号线，以接收数据信号V_data，所述第一晶体管T1的栅极连接第一电压信号V₁，所述第一晶体管T1的源极连接所述驱动晶体管T0的栅极，且所述第一晶体管T1将所述数据信号V_data输出至所述驱动晶体管T0的栅极电压V_g。

所述第二晶体管T2的漏极连接所述驱动晶体管T0的源极，所述第二晶体管T2的源极连接所述感测信号线，所述第二晶体管T2的栅极连接第二电压信号V₂，以将所述驱动晶体管T1的源极电压V_s输出至所述感测信号线，即为所述感测电压V_sen。

所述驱动晶体管T0的漏极连接第三电压信号V₃，并根据所述栅极电压V_g输出源极电压V_s至所述发光元器件，其中，所述驱动晶体管T0的源极电压V_s随所述驱动晶体管T0中流动的电流而变化，即所述感测电压V_sen随所述驱动晶体管T0中流动的电流而变化。

所述第一电容C1的两端分别连接所述驱动晶体管T0的栅极和源极。

所述感测模块20包括所述感测信号线、第一开关K₁、第二开关K₂、以及第二电容C2，其中，所述第一开关K₁的两端分别连接所述感测信号线以及初始化电压V_pre，以导通初始化电压V_pre的输入端与所述感测信号线。

所述第二电容C2的一段连接所述感测信号线，另一端可接地，且所述第二电容C2可存储所述感测信号线中的所述感测电压V_sen。

所述第二开关K₂设置于所述感测模块20与所述校正模块30之间，以控制所述校正模块30接收所述感测模块20中的感测电压V_sen。

另外，在所述校正模块30与所述感测模块20之间还设置有模数转换器50，且所述模数转换器50将所述感测电压V_sen转化为数字值供应至所述校正模块30。

所述校正模块30连接所述模数转换器50，并接收所述感测电压V_sen，在进行探测校正时段内，所述校正模块30根据接收到的所述感测电压V_sen的变化值，在所述校正模块30的数据模块中找到与所述感测电压V_sen的变化值相对应的校正因子，以对所述驱动晶体管T0的迁移率μ进行校正，并将校正后的所述迁移率μ输出至所述数据控制模块40。

所述数据控制模块40包括数据校正模块401以及数据输出模块402，其中，所述数据校正模块401接收校正后的所述迁移率μ，并根据饱和区电流公式对所述数据信号V_data进行校正，且所述数据输出模块402接收校正后的所述数据信号V_data，并将校正后的所述数据信号V_data输出至所述数据信号线。

综上，本发明实施例提供的像素驱动电路，通过增加所述校正模块30，以对变化的所述迁移率μ进行校正，以及对所述数据信号V_data进行校正，提高了所述迁移率μ的探测精度以及显示的均匀性。

下面详述所述像素驱动电路中所述校正模块30的校正原理。

其中，现有算法根据TFT饱和区电流公式和电荷守恒公式得出：

推导得出：

由于迁移率的探测过程中流经驱动晶体管的电流持续变化，而现有的迁移率探测公式默认为电流恒定，从而导致迁移率探测精度受限，使得现有算法中得出的迁移率并不准确。

且本发明实施例所提供的所述校正模块30中的校正函数为：

其中，μ为所述驱动晶体管T0校正之后的所述迁移率，μ₀为所述驱动晶体管T0的原始迁移率，ΔV_sen为探测起始时至探测终止时所述感测电压的差值，ΔV_sen0为所述驱动晶体管T0的迁移率未漂移时探测起始时至探测终止时的所述感测电压的差值，α、β均为所述校正因子，且α为探测终止时所量测到的平均电流与探测起始时所量测到的起始电流的比值、β为探测起始时所量测到的(V_g-V_s-V_th)²值，其中V_g为所述驱动晶体管T0的栅极电压，V_s为所述驱动晶体管T0的源极电压，V_th为所述驱动晶体管T0的阈值电压，α₀、β₀均为所述驱动晶体管T0的迁移率未漂移时的校正因子。

所述校正模块30包含有数据模块，且所述数据模块中包括多个所述感测电压的变化值ΔV_sen以及与所述感测电压的变化值ΔV_sen一一对应的多组所述校正因子α和β，用于针对所述感测电压的变化值ΔV_sen选择相对应的所述校正因子α和β，以对所述迁移率μ进行校正。

需要说明的是，所述校正因子α、β可由仿真软件得出，下面，对实验过程中得到的所述迁移率μ的探测过程进行详述。

在探测时段内，需要进行探测的数据包括探测起始时所述驱动晶体管T0的栅极电压V_g、所述驱动晶体管T0的源极电压V_s、所述驱动晶体管T0的起始电流I₀、起始感测电压V_sen0，以及探测终止时的所述驱动晶体管T0的平均电流I以及所述感测电压V_sen。

其中，所述迁移率μ为100％时，即为所述迁移率μ未发生漂移，相对应的，ΔV_sen0、α₀以及β₀均为所述迁移率μ为100％时对应的数值。

结合所述校正因子的计算公式：

得出所述校正因子α、β，且实验结果如表1所示：

表1

由表1可以看出，在本实施例中，分别仿真所述驱动晶体管T0的迁移率μ变化+50％、+25％、+0％、-25％和-50％的情况下，所述迁移率μ现有算法探测数据和本发明实施例提供的校正模块中的迁移率探测数据。

利用现有算法得出的结果分别为121.33％、113.11％、100％、85.19％和66.52％，与实际迁移率变化150％、125％、100％、75％和50％相差较大，因此，探测精度受限。

在本发明实施例中，引入了所述校正因数α、β，其中α为探测时间范围内，平均电流与探测初始电流的比值，β为(V_g-V_s-V_th)²的值，且这两个系数与ΔV_sen一一对应。

优选的，在本实施例中，探测时间可以为50μs。

本发明实施例中的校正函数为

通过探测得到的所述感测电压的变化值ΔV_sen，并在所述校正模块30的数据模块中找到与所述感测电压的变化值ΔV_sen相对应的所述校正因数α、β，带入所述校正函数，得出所述迁移率μ，且利用本发明实施例提供的校正方法探测得到的迁移率结果分别为148.11％、125.42％、100.00％、75.45％和51.06％，与实际迁移率变化几乎一致，将迁移率探测精度由±30％提升至±2％。

综上所述，本发明实施例提供一种像素驱动电路，通过在所述像素驱动电路中增加校正模块，利用相对应的校正因子以及新的校正函数，大幅度的提升了迁移率的探测精度，改善了由于迁移率变化引起的面板显示不均的问题。

另外，请结合图1、图2和图3所示，本发明实施例提供的一种像素驱动电路的迁移率校正方法，且所述像素驱动电路即为上述实施例中所述的像素驱动电路。

其中，所述像素驱动电路包括数据驱动模块10、与所述数据驱动模块10电连接的感测模块20、与所述感测模块20电连接的校正模块30、以及与所述校正模块30和所述数据驱动模块10电连接的数据控制模块40；

所述校正方法包括：

所述数据驱动模块10接收所述数据控制模块中的数据信号V_data，并输出感测电压V_sen至所述感测模块20；

所述感测模块20接收所述感测电压V_sen，并将所述感测电压V_sen输出至所述校正模块30；

所述校正模块30根据探测时段内所述感测电压的变化值ΔV_sen，在所述校正模块的数据模块中选择与所述感测电压的变化值ΔV_sen相对应的校正因子α、β，并对所述像素驱动电路中的迁移率μ进行校正，以将校正后的迁移率μ输出至所述数据控制模块40；

所述数据控制模块40根据校正后的迁移率μ输出校正后的数据信号V_data至所述数据驱动模块10。

其中，图3为本发明实施例提供的迁移率探测过程中的信号时序图，首先，所述迁移率μ的探测过程是在所述驱动晶体管T0的阈值电压V_th补偿完成之后进行的，需要说明的是，补偿迁移率是假定所述驱动晶体管T0的阈值电压不变的，所以，在进行探测之前补偿所述阈值电压V_th是一个前提条件。

其次，为保证在探测过程中所述发光元器件不发光，因此，所述发光元器件一端的电压信号，即第四电压信号V₄保持高电位。

在t₁时段，所述第一电压信号V₁和所述第二电压信号V₂均为高电位，则所述第一晶体管T1和所述第二晶体管T2均为导通状态，所述驱动晶体管T0的栅极接收到所述数据信号V_data，且所述第一开关K₁开启，所述初始化电压信号V_pre通过所述第二晶体管T2输出至所述驱动晶体管T0的源极。

在t₂时段，所述第一开关K₁关闭，则所述驱动晶体管T0的源极电压V_s根据所述驱动晶体管T0中流动的电流而变化，并输出至所述感测信号线中即为所述感测电压V_sen。

在t₃时段，所述第二开关K₂开启，则所述感测信号线将所述感测电压V_sen输出至所述校正模块30，并由所述校正模块30对所述迁移率μ进行校正，然后输出至所述数据控制模块40，校正所述数据信号V_data，并将校正后的所述数据信号V_data输出至所述数据信号线。

且在补偿了所述阈值电压V_th、以及探测所述迁移率μ，校正所述数据信号V_data之后，所述发光元器件才开始发光。

在本发明实施例提供的迁移率校正方法中，校正函数为：

其中，μ为所述驱动晶体管T0校正之后的所述迁移率，μ₀为所述驱动晶体管T0的原始迁移率，ΔV_sen为探测起始时至探测终止时所述感测电压的差值，ΔV_sen0为所述驱动晶体管T0的迁移率未漂移时探测起始时至探测终止时的所述感测电压的差值，α、β均为所述校正因子，且α为探测终止时所量测到的平均电流与探测起始时所量测到的起始电流的比值、β为探测起始时所量测到的(V_g-V_s-V_th)²值，其中V_g为所述驱动晶体管T0的栅极电压，V_s为所述驱动晶体管T0的源极电压，V_th为所述驱动晶体管T0的阈值电压，α₀、β₀均为所述驱动晶体管T0的迁移率未漂移时的校正因子。

且所述数据模块包括多个感测电压的变化值ΔV_sen以及与所述感测电压的变化值ΔV_sen一一对应的多组所述校正因子α和β，用于针对所述感测电压的变化值ΔV_sen选择相对应的所述校正因子α和β，以对所述迁移率μ进行校正。

另外，本发明实施例还提供一种显示装置，且所述显示装置包括上述实施例所述的像素驱动电路，其中，所述显示装置中的像素驱动电路与上述实施例中的驱动电路在结构以及原理上均相同，在此不再赘述。

综上，本发明实施例通过在所述显示装置中设置具有校正模块的像素驱动电路，排除了所述驱动晶体管的电流以及源极电压的影响，可以实现对所述驱动晶体管的迁移率进行精确的探测并进行校正，提高了显示装置的显示均匀性，提高了显示效果。

且本发明实施例提供的显示装置可用于各种移动终端、车载模组或工业和商业显示中。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本发明实施例所提供的一种像素驱动电路及其迁移率校正方法、显示装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例的技术方案的范围。

Claims (7)

1.一种像素驱动电路，其特征在于，包括：

数据驱动模块，所述数据驱动模块连接数据信号线以及感测信号线，所述数据驱动模块包括驱动晶体管，所述驱动晶体管根据所述数据信号线中的数据信号输出感测电压至所述感测信号线，且所述感测电压随所述驱动晶体管中流动的电流而变化；

校正模块，所述校正模块与所述感测信号线电连接，且所述校正模块根据所述感测电压的变化值以及与所述感测电压的变化值相对应的校正因子，以对所述驱动晶体管的迁移率进行校正；

数据控制模块，所述数据控制模块与所述校正模块电连接，并根据校正之后的所述迁移率输出校正后的所述数据信号至所述数据信号线；

其中，所述校正模块中的校正函数为：

其中，μ为所述驱动晶体管校正之后的所述迁移率，μ₀为所述驱动晶体管的原始迁移率，△V_sen为探测起始时至探测终止时所述感测电压的差值，△V_sen0为所述驱动晶体管的迁移率未漂移时探测起始时至探测终止时的所述感测电压的差值，α、β均为所述校正因子，且α为探测终止时所量测到的平均电流与探测起始时所量测到的起始电流的比值、β为探测起始时所量测到的(V_g-V_s-V_th)²值，其中V_g为所述驱动晶体管的栅极电压，V_s为所述驱动晶体管的源极电压，V_th为所述驱动晶体管的阈值电压，α₀、β₀均为所述驱动晶体管的迁移率未漂移时的校正因子。

2.根据权利要求1所述的像素驱动电路，其特征在于，所述校正模块包括数据模块，且所述数据模块包括多个所述感测电压的变化值以及与所述感测电压的变化值一一对应的多组所述校正因子α和β，用于针对所述感测电压的变化值选择相对应的所述校正因子α和β，以对所述迁移率进行校正。

3.根据权利要求1所述的像素驱动电路，其特征在于，所述数据驱动模块还包括：

第一晶体管，所述第一晶体管的漏极连接所述数据信号线，所述第一晶体管的栅极连接第一电压信号，所述第一晶体管的源极连接所述驱动晶体管的栅极；

第二晶体管，所述第二晶体管的漏极连接所述驱动晶体管的源极，所述第二晶体管的源极连接所述感测信号线，所述第二晶体管的栅极连接第二电压信号；

第一电容，所述第一电容的两端分别连接所述驱动晶体管的栅极和源极；

所述驱动晶体管的漏极连接第三电压信号，所述驱动晶体管的源极连接所述像素驱动电路的发光元器件。

4.根据权利要求1所述的像素驱动电路，其特征在于，所述像素驱动电路还包括感测模块，且所述感测模块包括所述感测信号线、与所述感测信号线相连接的初始化电压信号、设置于所述感测信号线和所述初始化电压信号之间的第一开关、设置于所述感测模块与所述校正模块之间的第二开关、以及与所述感测信号线相连接的第二电容。

5.一种像素驱动电路的迁移率校正方法，其特征在于，所述像素驱动电路包括数据驱动模块、与所述数据驱动模块电连接的感测模块、与所述感测模块电连接的校正模块、以及与所述校正模块和所述数据驱动模块电连接的数据控制模块；

所述校正方法包括：

所述数据驱动模块接收所述数据控制模块中的数据信号，并输出感测电压至所述感测模块；

所述感测模块接收所述感测电压，并将所述感测电压输出至所述校正模块；

所述校正模块根据探测时段内所述感测电压的变化值，在所述校正模块的数据模块中选择与所述感测电压的变化值相对应的校正因子，并对所述像素驱动电路中的迁移率进行校正，以将校正后的所述迁移率输出至所述数据控制模块；

所述数据控制模块根据校正后的所述迁移率输出校正后的所述数据信号至所述数据驱动模块；

其中，所述数据驱动模块包括驱动晶体管，且所述驱动晶体管根据所述数据信号输出所述感测电压，且所述感测电压随所述驱动晶体管中流动的电流而变化；

所述校正模块中的校正函数为：

其中，μ为所述驱动晶体管校正之后的所述迁移率，μ₀为所述驱动晶体管的原始迁移率，△V_sen为探测起始时至探测终止时所述感测电压的差值，△V_sen0为所述驱动晶体管的迁移率未漂移时探测起始时至探测终止时的所述感测电压的差值，α、β均为所述校正因子，且α为探测终止时所量测到的平均电流与探测起始时所量测到的起始电流的比值、β为探测起始时所量测到的(V_g-V_s-V_th)²值，其中V_g为所述驱动晶体管的栅极电压，V_s为所述驱动晶体管的源极电压，V_th为所述驱动晶体管的阈值电压，α₀、β₀均为所述驱动晶体管的迁移率未漂移时的校正因子。

6.根据权利要求5所述的像素驱动电路的迁移率校正方法，其特征在于，所述数据模块包括多个感测电压的变化值以及与所述感测电压的变化值一一对应的多组所述校正因子α和β，用于针对所述感测电压的变化值选择相对应的所述校正因子α和β，以对所述迁移率进行校正。

7.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括如权利要求1至4任一项所述的像素驱动电路。

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