CN110990409A - 一种半导体器件量测数据的结构化处理方法 - Google Patents

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王成
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Abstract

一种半导体器件量测数据的结构化处理方法，包括以下步骤：1）读取配置文件中存储的处理语句；2）加载选择的量测数据文件；3）根据所述数据文件对应格式进行结构化处理并以列表结构保存；4）根据所述处理语句对所述列表结构中的数据进行处理并保存。本发明的半导体器件量测数据的结构化处理方法，能够快速整合不同格式，不同文件中的数据，使数据结构清晰，便于查看和分析，提高数据分析效率，从而提高半导体器件建模效率。

Description

一种半导体器件量测数据的结构化处理方法
技术领域
本发明涉及半导体器件建模技术领域，特别是涉及一种半导体器件量测数据的结构化处理方法。
背景技术
在对半导体器件建模的过程中，需要对多组量测数据进行分析，而由于器件较多且类型不一，造成量测数据文件较多，格式不统一，并且量测的数据没有进行结构化处理，需要手动对数据进行编辑操作，消耗时间较长，建模效率低，且对人力资源造成了极大的浪费。
发明内容
为了解决现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种半导体器件量测数据的结构化处理方法，能够快速整合不同格式，不同文件中的数据，提高半导体器件量测数据分析效率。
为实现上述目的，本发明提供的半导体器件量测数据的结构化处理方法，包括以下步骤：
1)读取配置文件中存储的处理语句；
2)加载选择的量测数据文件；
3)根据所述数据文件对应格式进行结构化处理并以列表结构保存；
4)根据所述处理语句对所述列表结构中的数据进行处理并保存。
进一步地，所述步骤1)中的处理语句包括将所述列表结构数据按照配置条件进行整合和/或过滤和/或排序和/或分组。
进一步地，
使用单个所述处理语句时，将所述配置条件放在所述处理语句后的括号‘()’中；
使用多个所述处理语句时，将单个所述处理语句以点‘.’间隔。
为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行如上文所述的半导体器件量测数据的结构化处理方法步骤。
为实现上述目的，本发明还提供一种半导体器件量测数据的结构化处理设备，包括存储器和处理器，所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行如上文所述的半导体器件量测数据的结构化处理方法步骤。
本发明的半导体器件量测数据的结构化处理方法，具有以下有益效果：
1)能够快速整合不同格式，不同文件中的数据，使数据结构清晰，便于查看和分析。
2)提高数据分析效率，从而提高半导体器件建模效率。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本发明的实施例一起，用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为根据本发明的半导体器件量测数据的结构化处理方法流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
图1为根据本发明的半导体器件量测数据的结构化处理方法流程图，下面将参考图1，对本发明的半导体器件量测数据的结构化处理方法进行详细描述。
首先，在步骤101，读取配置文件中预置的处理语句。该步骤中，读取用户在软件中配置的特定处理语句，此语句会保存在指定的配置文本文件下，每次启动软件会自动读取此配置文件。
在步骤102，选择并加载量测数据文件。该步骤中，获取用户选择的数据文件，数据文件为外部的半导体量测数据文本文件，数据文件路径会保存在指定的配置文本文件下，每次启动软件会自动按照配置文件路径加载半导体量测数据文本文件。
在步骤103，根据数据文件对应的格式进行结构化处理并以列表结构保存。该步骤中，根据不同格式文件做对应结构化处理，处理后以列表结构保存在内存中。举例，示例1，源量测数据文件内容：
Figure BDA0002298350970000031
处理后数据：
Figure BDA0002298350970000032
示例2
源量测数据文件内容：
Figure BDA0002298350970000033
处理后数据：
数据块1
Figure BDA0002298350970000034
数据块2
Figure BDA0002298350970000035
在步骤104，根据处理语句对列表中的结构化数据进行处理得到最终列表结构数据。该步骤中，按照用户配置的特定处理语句对内存中表结构的半导体量测数据进行处理，得到最终列表结构数据，等待数据进一步使用。
下面结合一具体实施例对本发明的半导体器件量测数据的结构化处理方法做进一步的说明。
将不同格式或不同文本文件数据进行结构化处理，通过特定处理语句对数据进行整合、筛选、排序、分组，处理结果以列表结构放入内存，等待进一步的使用。
单个语句使用时，将条件放在语句后的括号‘()’中。
多个语句使用时，将单个语句以点‘.’间隔，以下为处理语句说明。
语句1：整合语句attach：对数据按照配置条件进行整合，例如attach(icib_vbe_vbc)代表将当前数据与icib_vbe_vbc数据合并(icib_vbe_vbc指向了带标记icib_vbe_vbc的数据文件)。
语句2：筛选语句select：对数据按照配置条件过滤，例如select(t>25)代表筛选出t列中值大于25的行，例如select(t＝＝max(t))代表筛选出t列中值最大的行，例如select(vbe＝＝_polar_*0.8)代表筛选出vbe列的值与_polar_列的值乘以0.8相等的行。
语句3：排序语句sort：对数据按照配置条件进行排序，例如语句sort(w)代表将数据按照w列从小到大排序。
语句4：分组语句split：将数据按照配置条件分组，例如语句split(w,l)代表将数据根据w列的值和l列的值进行分组，列表各行w和l相同的行整合为1行数据，将原有列表整合为新的列表数据，示例：
w l vds ids
6.00E-06 6.00E-06 1 3.22E-06
6.00E-06 6.00E-06 5 5.22E-05
6.00E-06 2.60E-06 1 9.25E-04
6.00E-06 2.60E-06 5 9.66E-04
进行split(w,l)语句处理：
Figure BDA0002298350970000041
多个语句连续使用，如select(t>25).sort(w)代表筛选出t列中值大于25的行，并将结果以w列按照从小到大排序。
本发明提出的半导体器件量测数据的结构化处理方法，整合不同格式、不同文件半导体量测结果数据，对量测数据进行结构化处理，对数据进行整合、筛选、排序、分组，提高半导体器件量测数据分析效率。
为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行如上文所述的半导体器件量测数据的结构化处理方法步骤。
为实现上述目的，本发明还提供一种半导体器件量测数据的结构化处理设备，包括存储器和处理器，所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行如上文所述的半导体器件量测数据的结构化处理方法步骤。
本领域普通技术人员可以理解：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种半导体器件量测数据的结构化处理方法，其特征在于，包括以下步骤：
1）读取配置文件中存储的处理语句；
2）加载选择的量测数据文件；
3）根据所述数据文件对应格式进行结构化处理并以列表结构保存；
4）根据所述处理语句对所述列表结构中的数据进行处理并保存。
2.根据权利要求1所述的半导体器件量测数据的结构化处理方法，其特征在于，所述步骤1）中的处理语句包括将所述列表结构数据按照配置条件进行整合和/或过滤和/或排序和/或分组。
3.根据权利要求2所述的半导体器件量测数据的结构化处理方法，其特征在于，
使用单个所述处理语句时，将所述配置条件放在所述处理语句后的括号‘()’中；
使用多个所述处理语句时，将单个所述处理语句以点‘.’间隔。
4.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于，所述计算机指令运行时执行权利要求1至3任一项所述的半导体器件量测数据的结构化处理方法步骤。
5.一种半导体器件量测数据的结构化处理设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求1至3任一项所述的半导体器件量测数据的结构化处理方法步骤。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116306446A (zh) * 2023-05-22 2023-06-23 粤芯半导体技术股份有限公司 一种半导体器件失配模型量测数据处理方法及装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200849116A (en) * 2007-06-08 2008-12-16 King Yuan Electronics Co Ltd Process statistical analysis system
US20110264703A1 (en) * 2010-04-27 2011-10-27 Microsoft Corporation Importing Tree Structure
US20150235415A1 (en) * 2014-02-19 2015-08-20 Kwun Jong Chen Wafer test data analysis method
CN106503374A (zh) * 2016-10-28 2017-03-15 上海空间电源研究所 复杂结构的化合物半导体器件的结构描述方法
CN107798122A (zh) * 2017-11-10 2018-03-13 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 一种非结构化数据解析方法
CN110019380A (zh) * 2018-11-02 2019-07-16 上海达梦数据库有限公司 一种数据查询方法、装置、服务器及存储介质
CN110244294A (zh) * 2019-06-24 2019-09-17 中国人民解放军空军工程大学航空机务士官学校 一种多传感器的量测数据的关联方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200849116A (en) * 2007-06-08 2008-12-16 King Yuan Electronics Co Ltd Process statistical analysis system
US20110264703A1 (en) * 2010-04-27 2011-10-27 Microsoft Corporation Importing Tree Structure
US20150235415A1 (en) * 2014-02-19 2015-08-20 Kwun Jong Chen Wafer test data analysis method
CN106503374A (zh) * 2016-10-28 2017-03-15 上海空间电源研究所 复杂结构的化合物半导体器件的结构描述方法
CN107798122A (zh) * 2017-11-10 2018-03-13 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 一种非结构化数据解析方法
CN110019380A (zh) * 2018-11-02 2019-07-16 上海达梦数据库有限公司 一种数据查询方法、装置、服务器及存储介质
CN110244294A (zh) * 2019-06-24 2019-09-17 中国人民解放军空军工程大学航空机务士官学校 一种多传感器的量测数据的关联方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116306446A (zh) * 2023-05-22 2023-06-23 粤芯半导体技术股份有限公司 一种半导体器件失配模型量测数据处理方法及装置
CN116306446B (zh) * 2023-05-22 2023-08-04 粤芯半导体技术股份有限公司 一种半导体器件失配模型量测数据处理方法及装置

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