CN110969031A - 一种非接触式智能ic卡的测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种非接触式智能IC卡的测试系统，包括用于与IC卡进行数据交互的读卡器、与读卡器连接并用于接收测试数据的测试主机、与测试主机连接的定位装置；其中，定位装置根据测试主机的控制指令带动IC卡移动以与读卡器形成多个位置关系。由此可见，采用本发明提供的技术方案可以自动带动IC卡移动，从而与读卡器形成多个位置关系，模拟不同刷卡场景以完成测试任务，相对于人工操作的方式而言，在测试过程中不需要人工移动IC卡与读卡器，提高了测试效率和准确性。

Description

一种非接触式智能IC卡的测试系统
技术领域
本发明涉及智能IC卡技术领域，特别是涉及一种非接触式智能IC卡的测试系统。
背景技术
非接触式智能IC卡已广泛应用于公共交通，门禁安防，生活饮食及各类大型商超等诸多领域。由于非接触式IC卡与读卡器之间采用射频方式进行通信，因此，其与读卡器的最大通信距离关系到二者交互数据的可靠性。现有技术中，为了保证非接触式IC卡在后续使用过程中的可靠性，需要在发卡之前对其进行测试，以确保能够正常使用。
现有技术中，在对非接触式IC卡最大通信距离测试时，通常是采用人工测试，一方面人工测试无法保证测试距离的准确性，另一方面，测试效率较低。
由此可见，如何提高非接触式IC卡最大通信距离的测试准确性和测试效率是本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种非接触式智能IC卡的测试系统，用于对IC卡的最大通信距离进行测试，在测试过程中不需要人工移动IC卡与读卡器，提高了测试效率和准确性。
为解决上述技术问题，本发明提供一种非接触式智能IC卡的测试系统，包括用于与IC卡进行数据交互的读卡器、与所述读卡器连接并用于接收测试数据的测试主机、与所述测试主机连接的定位装置；其中，所述定位装置根据所述测试主机的控制指令带动所述IC卡移动以与所述读卡器形成多个位置关系。
优选地，所述定位装置包括控制器、行程机构和夹持部件，所述控制器与所述测试主机通信连接，用于接收所述控制指令并解析所述控制指令，所述行程机构依据所述控制器的驱动指令移动至目标位置、所述夹持部件设置于所述行程机构上以与所述行程机构同步运动。
优选地，所述行程机构包括X轴方向上的轨道、Y轴方向上的轨道和Z轴方向上的轨道。
优选地，所述IC卡的移动范围为以中心点所在的立体空间高度范围；
其中，所述中心点为所述读卡器基准面场强中心。
优选地，所述立体空间高度为4cm，所述多个位置关系具体为25个位置关系。
优选地，所述读卡器的频率为13.56MHz。
优选地，所述测试机还包括显示装置，用于显示测试结果。
优选地，所述测试机还包括输出装置，用于输出测试结果。
优选地，还包括固定部件，用于固定所述读卡器。
优选地，还包括设置于所述夹持部件上的检测装置，用于在测试过程中检测到所述IC卡未在位时，向所述测试主机发送未在位信号。
本发明所提供的非接触式智能IC卡的测试系统，包括用于与IC卡进行数据交互的读卡器、与读卡器连接并用于接收测试数据的测试主机、与测试主机连接的定位装置；其中，定位装置根据测试主机的控制指令带动IC卡移动以与读卡器形成多个位置关系。由此可见，采用本发明提供的技术方案可以自动带动IC卡移动，从而与读卡器形成多个位置关系，模拟刷卡场景以完成测试任务，相对于人工操作的方式而言，在测试过程中不需要人工移动IC卡与读卡器，提高了测试效率和准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种非接触式智能IC卡的测试系统的结构图；
图2为本发明实施例提供的一种测试模式的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护范围。
本发明的核心是提供一种非接触式智能IC卡的测试系统。
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。
图1为本发明实施例提供的一种非接触式智能IC卡的测试系统的结构图。如图1所示，该系统包括用于与IC卡进行数据交互的读卡器10、与读卡器10连接并用于接收测试数据的测试主机11、与测试主机11连接的定位装置12；其中，定位装置12根据测试主机11的控制指令带动IC卡移动以与读卡器10形成多个位置关系。
测试主机中预先安装有测试套件，提供基本的测试环境供测试套件和测试设备调配使用。测试套件包括测试软件和测试案例。测试案例：负责通过测试软件下发指令和分析上传的响应数据；测试软件：安装于测试主机，通过测试主机调用连接于测试主机的读卡器，并将回传的响应信息提交测试案例进一步分析处理，同时将下发的指令信息和测试主机回传的响应信息实时显示，实现可视化查看。
在具体实施中，读卡器放置于固定位置，IC卡移动，从而让二者之间的位置关系发生变化。读卡器接收测试主机下发的指令后使用非接触模式将指令发送给IC卡的同时，接收IC卡的响应数据，并回传给测试主机以便至测试案例。由于读卡器是通过电磁场的方式与IC卡进行数据交互，因此，二者之间的位置关系影响数据交互的可靠性。在正常使用过程中，用户持IC卡靠近读卡器，但是不同的用户有不同的操作习惯，所以为了测试IC卡与读卡器的正常交互需要确定二者的位置关系。本实施例中，对于读卡器的类型不作限定，只要是具备所需功能的软硬件读写设备均可。
IC卡是待测试卡片，通过读卡器提供的非接触场强获取运行指令，驱动卡片保持工作状态，同时从非接触场强中解调提取读卡器发出的指令并将指令对应处理后做出的响应经一定模式调制后通过非接触场强发出。
定位装置与测试主机连接，主要是控制IC卡的移动，具体地，IC卡是直接置于定位装置，定位装置在移动时同步带动IC卡移动。可以理解的是，定位装置的实现方式有多种，例如，可以通过导轨的方式。
作为优选的实施方式，定位装置包括控制器、行程机构和夹持部件，控制器与测试主机通信连接，用于接收控制指令并解析控制指令，行程机构依据控制器的驱动指令移动至目标位置、夹持部件设置于行程机构上以与行程机构同步运动。其中，行程机构中可以采用马达或机械臂实现。在另一种实施方式中，为了实现多个位置关系的改变，行程机构包括X轴方向上的轨道、Y轴方向上的轨道和Z轴方向上的轨道。通过以上行程机构，使得IC卡可以在任何平面内运动。可以理解的是，行程机构中，运动步长可以根据实际情况确定，例如，可以是1cm。
本实施例提供的非接触式智能IC卡的测试系统，包括用于与IC卡进行数据交互的读卡器、与读卡器连接并用于接收测试数据的测试主机、与测试主机连接的定位装置；其中，定位装置根据测试主机的控制指令带动IC卡移动以与读卡器形成多个位置关系。由此可见，采用本发明提供的技术方案可以自动带动IC卡移动，从而与读卡器形成多个位置关系，模拟刷卡场景以完成测试任务，相对于人工操作的方式而言，在测试过程中不需要人工移动IC卡与读卡器，提高了测试效率和准确性。
图2为本发明实施例提供的一种测试模式的示意图。在上述实施例的基础上，作为优选的实施方式，IC卡的移动范围为以中心点所在的立体空间高度范围；其中，中心点为读卡器基准面场强中心。如图2所示，中心点O是位于读卡器基准面场强中心，在该水平面上分别有5个测试位置，如图2所示，其中测试位置1-测试位置4在以中心点为圆心的圆上，圆的半径为1.5cm。以一条沿Y轴方向穿过中心点的直线为中心线的立体空间，且立体空间的延伸方向为远离读卡器的方向。优选地，立体空间高度为4cm，0cm和4cm高度所在水平面的圆半径为1.5cm，0cm和4cm高度所在水平面的圆半径为2.5cm。多个位置关系具体为25个位置关系，即图2中，在0cm高度所在的水平面上的5个测试位置，在1cm高度所在的水平面上的5个测试位置，在2cm高度所在的水平面上的5个测试位置，在3cm高度所在的水平面上的5个测试位置，在4cm高度所在的水平面上的5个测试位置。
在测试过程中，定位装置带动IC卡分别处于上述25个测试位置，读卡器通过连接电源产生电磁场，内置天线的IC卡放置于电磁场内通过电磁场的场强高频变化获取电压为卡片的内置芯片供电运行。通过以上25个测试位置，可以对IC卡进行交易测试。在一种具体实施中，读卡器可通过13.56MHz±7KHz的频率的电磁场强与IC卡进行数据交互。可以理解的是，读卡器的工作频率可以根据实际情况设定，读卡器的场强可以根据实际情况设定，本实施例仅仅是一种具体实现方式。
在上述实施例的基础上，测试机还包括显示装置，用于显示测试结果。
为了方便后续对IC卡和读卡器的位置关系进行调整，本实施例中，通过显示装置显示测试结果。可以理解的是，显示装置的类型不作限定。
在上述实施例的基础上，测试机还包括输出装置，用于输出测试结果。
由于在测试环节，通常需要每张IC卡的测试结果，本实施例中通过输出装置输出测试结果，具体的，输出装置可以是打印机等，本实施例不作限定。
在上述实施例的基础上，还包括固定部件，用于固定读卡器。
固定部件的作用是固定读卡器，防止读卡器发生移动而造成位置关系发生改变。固定部件可以是夹具或者卡扣，本实施例不作限定。
在上述实施例的基础上，还包括设置于夹持部件上的检测装置，用于在测试过程中检测到IC卡未在位时，向测试主机发送未在位信号。
检测装置的作用是检查IC卡是否在位，防止IC卡不在位，而读卡器正常读卡，而造成测试结果不准确的问题。具体的，检测装置可以是光电检测器，发光部件设置在夹持部件的一侧，接收部件设置在夹持部件的另一侧。在其它实施中，还可以包括提示装置，用于在所述行程机构移动至目标位置时提示到位。
以上对本发明所提供的非接触式智能IC卡的测试系统进行了详细介绍。说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

Claims (10)

1.一种非接触式智能IC卡的测试系统，其特征在于，包括用于与IC卡进行数据交互的读卡器、与所述读卡器连接并用于接收测试数据的测试主机、与所述测试主机连接的定位装置；其中，所述定位装置根据所述测试主机的控制指令带动所述IC卡移动以与所述读卡器形成多个位置关系。
2.根据权利要求1所述的非接触式智能IC卡的测试系统，其特征在于，所述定位装置包括控制器、行程机构和夹持部件，所述控制器与所述测试主机通信连接，用于接收所述控制指令并解析所述控制指令，所述行程机构依据所述控制器的驱动指令移动至目标位置、所述夹持部件设置于所述行程机构上以与所述行程机构同步运动。
3.根据权利要求2所述的非接触式智能IC卡的测试系统，其特征在于，所述行程机构包括X轴方向上的轨道、Y轴方向上的轨道和Z轴方向上的轨道。
4.根据权利要求1所述的非接触式智能IC卡的测试系统，其特征在于，所述IC卡的移动范围为以中心点所在的立体空间范围；其中，所述中心点为所述读卡器基准面场强中心。
5.根据权利要求4所述的非接触式智能IC卡的测试系统，其特征在于，所述立体空间高度为4cm，所述多个位置关系具体为25个位置关系。
6.根据权利要求5所述的非接触式智能IC卡的测试系统，其特征在于，所述读卡器的工作频率为13.56MHz±7KHz。
7.根据权利要求1-6任意一项所述的非接触式智能IC卡的测试系统，其特征在于，所述测试机还包括显示装置，用于显示测试结果。
8.根据权利要求1-6任意一项所述的非接触式智能IC卡的测试系统，其特征在于，所述测试机还包括输出装置，用于输出测试结果。
9.根据权利要求1-6任意一项所述的非接触式智能IC卡的测试系统，其特征在于，还包括固定部件，用于固定所述读卡器。
10.根据权利要求1-6任意一项所述的非接触式智能IC卡的测试系统，其特征在于，还包括设置于所述夹持部件上的检测装置，用于在测试过程中检测到所述IC卡未在位时，向所述测试主机发送未在位信号。
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