CN112100082A - Ic卡测试方法、设备、系统和计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种IC卡测试方法，该方法包括：获取目标交易设备对应的测试用例；按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作；根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数。本发明还公开了一种测试设备、IC卡测试系统和计算机可读存储介质。本发明旨在提高不同的IC卡与交易设备兼容性的测试效率。

Description

IC卡测试方法、设备、系统和计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及智能卡检测技术领域，尤其涉及IC卡测试方法、测试设备、IC卡测试系统和计算机可读存储介质。

背景技术

随着经济技术的发展，人们对智能化的需求越来越高，IC卡在日常交易中的应用也越来越广泛，发卡机构所发行的IC卡的种类也越来越多。在IC卡正式发行之前一般需要与其所应用的交易设备进行兼容性测试，以保证IC卡的可在后续交易过程中正常使用。

然而，每开发一种新的卡片均需安排人员到交易设备的现场进行刷卡以完成IC卡的兼容性测试，而IC卡所应用的交易设备分布在不同的地方，导致测试效率十分低下。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种IC卡测试方法，旨在提高不同的IC卡与交易设备兼容性的测试效率。

为实现上述目的，本发明提供一种IC卡测试方法，应用于测试设备，所述IC卡测试方法包括以下步骤：

获取目标交易设备对应的测试用例；

按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作；

根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数。

可选地，所述获取目标交易设备对应的测试用例的步骤之前，还包括：

获取目标交易设备的交易流程数据，获取所述目标交易设备的读卡参数；

根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例。

可选地，所述获取所述目标交易设备的读卡参数的步骤包括：

获取所述目标交易设备的射频模块在设定交易状态下的第一射频参数；

根据所述第一射频参数生成对应的第一调制波形参数；

确定所述第一调制波形参数为所述读卡参数；

其中，所述设定交易状态为所述目标交易设备读取样本IC卡的第二交易信息、且采用所述第二交易信息执行交易操作的状态，所述样本IC卡为与所述目标交易设备兼容的IC卡，所述射频模块设置为读取其射频范围内IC卡的信息。

可选地，所述获取所述目标交易设备的射频模块在设定交易状态下的第一射频参数的步骤包括：

获取多个设定读卡距离分别对应的所述第一射频参数；所述设定读卡距离为所述样本IC卡与所述目标交易设备的距离；

所述根据所述第一射频参数生成对应的第一调制波形参数的步骤包括：

根据每个所述设定读卡距离对应的第一射频参数生成对应的第一调制波形参数。

可选地，所述根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数的步骤包括：

在所述多个设定读卡距离中，确定所述目标交易设备对应的目标读卡距离；

若所述目标读卡距离对应的测试用例输出的交易结果为交易成功，则确定所述兼容性评价参数为所述待测IC卡与所述目标交易设备兼容；

若所述目标读卡距离对应的测试用例输出的交易结果为交易失败，则确定所述兼容性评价参数为所述待测IC卡与所述目标交易设备不兼容。

可选地，所述根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例的步骤之前，还包括：

按照所述读卡参数读取所述样本IC卡的信息，获取所述测试设备的射频模块的第二射频参数；

根据所述第二射频参数生成对应的第二调制波形参数；

若所述第一调制波形参数与所述第二调制波形参数匹配，则执行所述根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例的步骤。

可选地，所述获取目标交易设备的交易流程数据的步骤包括：

获取所述目标交易设备在所述设定交易状态下的流程信息和协议层数据；

根据所述流程信息和所述协议层数据生成协议层的数据脚本；

确定所述数据脚本为所述交易流程数据。

此外，为了实现上述目的，本申请还提出一种测试设备，所述测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的IC卡测试程序，所述IC卡测试程序被所述处理器执行时实现如上任一项所述的IC卡测试方法的步骤。

此外，为了实现上述目的，本申请还提出一种IC卡测试系统，所述IC卡测试系统包括如上所述的测试设备和数据采集设备，所述数据采集设备包括：

探测天线，所述探测天线设置为抓取目标交易设备的交易流程数据和读卡参数；

样本IC卡，所述样本IC卡为与目标交易设备兼容的IC卡；

垫片，所述垫片设于所述探测天线与所述样本IC卡之间。

此外，为了实现上述目的，本申请还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有IC卡测试程序，所述IC卡测试程序被处理器执行时实现如上任一项所述的IC卡测试方法的步骤。

本发明提出的一种应用于测试设备的IC卡测试方法，该方法获取目标交易设备对应的测试用例，按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作，根据测试用例输出的交易操作的交易结果来确定待测IC卡与目标交易设备的兼容性评价参数，通过此方式，即使需要对不同的IC卡进行测试，无需安排人员到交易设备的现场，只需通过测试设备运行目标交易设备的测试用例便可完成不同IC卡与交易设备的兼容性测试，有利于提高不同的IC卡与交易设备兼容性的测试效率。

附图说明

图1为本发明测试设备一实施例运行涉及的硬件结构示意图；

图2为本发明数据采集设备一实施例的结构示意图；

图3为本发明IC卡测试方法一实施例的流程示意图；

图4为本发明IC卡测试方法另一实施例的流程示意图；

图5为图4中获取目标交易设备的交易流程数据的细化流程示意图；

图6为图4中获取所述目标交易设备的读卡参数的细化流程示意图；

图7为本发明IC卡测试方法又一实施例的流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例的主要解决方案是：获取目标交易设备对应的测试用例；按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作；根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数。

由于现有技术中，每开发一种新的卡片均需安排人员到交易设备的现场进行刷卡以完成IC卡的兼容性测试，而IC卡所应用的交易设备分布在不同的地方，导致测试效率十分低下。

本发明提供上述的解决方案，旨在提高不同的IC卡与交易设备兼容性的测试效率。

本发明实施例提出一种测试设备，可应用于对IC卡与交易设备之间的兼容性进行测试。在本实施例中，IC卡具体为用于交易（如支付、充值等）的金融电子卡片。

在本发明实施例中，参照图1，测试设备具体包括：处理器1001（例如CPU），存储器1002，数据接口1003，射频模块1004等。存储器1002可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器（non-volatile memory），例如磁盘存储器。存储器1002可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

存储器1002、数据接口1003、射频模块1004均与处理器1001连接。数据接口1003可用于接收用于生成交易设备的测试用例的数据。射频模块1004用于释放射频探测信号，以读取其信号探测范围内IC卡的信息。其中射频模块1004设有天线。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的装置结构并不构成对装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图1所示，作为一种计算机可读存储介质的存储器1002中可以包括IC卡测试程序。在图1所示的装置中，处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的IC卡测试程序，并执行以下实施例中IC卡测试方法的相关步骤操作。

此外，本发明实施例还提出一种IC卡测试系统，该系统包括上述测试设备和数据采集设备1。其中，参照图2，数据采集设备1包括探测天线01、样本IC卡02和垫片03。其中，垫片03设于所述探测天线01与所述样本IC卡02之间。探测天线01设置为抓取目标交易设备的交易流程数据和读卡参数，样本IC卡02为与目标交易设备兼容的IC卡。垫片03可根据实际需求设置有不同的厚度。其中，样本IC卡02的中心线与探测天线01的中心线同轴设置。

在数据抓取或数据复现时，目标交易设备或测试设备的天线04与探测天线01连接，垫片和样本IC卡依次叠放于探测天线的上方。其中，数据抓取设备1与目标交易设备或测试设备的天线04的相对位置关系可参照图2。探测天线抓取目标交易设备的天线04的信号，以实现目标交易设备的数据抓取或测试设备的数据复现。其中，抓取到的数据可基于测试设备的数据接口1003输入到测试设备中，以使测试设备基于抓取到的数据按照下面实施例中IC卡测试方法的提及的方式实现IC卡与目标交易设备之间的兼容性测试。

本发明实施例还提供一种IC卡测试方法，应用于上述测试设备。

参照图3，提出本申请IC卡测试方法一实施例。在本实施例中，所述IC卡测试方法包括：

步骤S10，获取目标交易设备对应的测试用例；

这里的测试用例具体指的是用于对目标交易设备读取IC卡的交易信息并基于读取到的交易信息进行交易流程的过程进行测试的任务描述文件。测试用例包括测试脚本、测试步骤、预期结果等。

测试用例可获取目标交易设备的厂商提供数据的得到，也可在抓取到目标交易设备交易过程中的数据后，基于抓取的数据生成。

目标交易设备具体指的是待测IC卡所需要与其进行交互以完成设定交易操作的设备。

步骤S20，按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作；

测试设备执行测试用例，在此过程中，将待测IC卡靠近测试设备进行刷卡，测试设备按照测试用例中的参数读取待测IC卡内的第一交易信息，并按照测试用例中的交易流程采用读取到的第一交易信息进行交易并输出交易结果。

其中，第一交易信息可具体包括IC卡的标识信息、IC卡相关的金额信息（如余额、消费限额等）、IC卡的发卡机构的标识信息等等。第一交易信息具体根据实际交易需求进行读取，目标交易设备不同，其交易操作对应的交易类型、交易流程不同，则所读取的第一交易信息可不同。

交易操作具体包括支付、充值等交易相关的操作。例如，交易操作为支付操作时，建立一个待支付的交易任务，采用读取到的第一交易信息按照该交易任务进行支付，在得到支付结果（支付成功或支付不成功）时表明交易操作完成。

步骤S30，根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数。

交易结果具体包括交易成功或交易不成功；此外，也交易结果还可具体包括交易过程中涉及的多个子流程中对应的执行结果，例如读取IC卡的信息是否成功的结果、读取IC卡的信息是否完整的结果、读取IC卡的信息缺失项的结果、最终交易是否成功的结果、交易失败时所处的子流程信息等中至少一项。

兼容性评价参数具体指的是对目标交易设备读取IC卡的信息并基于读取到的信息进行交易的可行性评价的参数。兼容性评价参数可以是对兼容结果进行评价的参数，例如兼容性评价参数包括待测IC卡与目标交易设备兼容和待测IC卡与目标交易设备不兼容；此外，兼容性评价参数可以是对兼容程度进行评价的参数，例如兼容性评价参数可包括30%兼容、70%兼容以及100%兼容等。

不同的交易结果对应有不同的兼容性评价参数。具体的，测试用例输出的交易结果为交易成功时，确定兼容性评价参数为待测IC卡与目标交易设备兼容；测试用例输出的交易结果为交易不成功时，确定兼容性评价参数为待测IC卡与目标交易设备不兼容。又或是，交易结果包括读取IC卡的信息不完整、最终交易不成功时，可确定兼容性评价参数为30%兼容；交易结果包括IC的信息完整、最终交易不成功时，可确定兼容性评价参数为70%；交易结果包括IC的信息完整、最终交易成功时，可确定兼容性评价参数为100%。

此外，由于同一张待测IC卡，一般需与多个不同的目标交易设备配合实现交易，因此可获取不同目标交易设备的测试用例，按照不同的目标交易设备的测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作，根据多个目标交易设备对应的交易结果来确定待测IC与目标交易设备的兼容性评价参数。例如，全部交易结果为交易成功或交易结果为成功的数量达到设定个，则兼容性评价参数为待测IC卡与目标交易设备兼容；否则兼容性评价参数为待测IC卡与目标交易设备不兼容。又如，获取所获取的目标交易设备的测试用例的总数N，获取测试用例对应的交易结果为交易成功的数量n，则将n/N作为兼容性评价参数。

本发明实施例提出的一种IC卡测试方法，该方法获取目标交易设备对应的测试用例，按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作，根据测试用例输出的交易操作的交易结果来确定待测IC卡与目标交易设备的兼容性评价参数，通过此方式，即使需要对不同的IC卡进行测试，无需安排人员到交易设备的现场，只需通过测试设备运行目标交易设备的测试用例便可完成不同IC卡与交易设备的兼容性测试，有利于提高不同的IC卡与交易设备兼容性的测试效率。

进一步的，基于上述实施例，提出本申请IC卡测试方法另一实施例。在本实施例中，参照图4，所述步骤S10之前，还包括：

步骤S01，获取目标交易设备的交易流程数据，获取所述目标交易设备的读卡参数；

交易流程数据具体指的是目标交易设备读取到IC卡的信息之后基于信息执行交易操作所涉及的操作步骤的相关数据。读卡参数具体指的是目标交易设备的中用于IC卡信息的读取模块的运行参数。在本实施例中，读取模块具体为射频模块。在其他实施例中，读取模块还可根据实际需求设置为其他类型的读卡模块。

交易流程数据和读取参数具体为预先采集的数据，通过数据接口输入至测试设备中。

步骤S02，根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例。

将交易流程数据和读卡参数进行耦合，编写用例测试方法和流程的文档，生成单个测试用例文件保存至数据库。

具体的，在本实施例中，交易流程数据和读卡参数均通过目标交易设备读取样本IC卡信息并基于样本IC卡信息完成一次完整交易的过程中进行抓取，基于此，在数据抓取的过程中，可记录交易流程数据中多个第一子特征数据的抓取的第一时间点、记录读卡参数中多个第二子特征数据抓取的第二时间点，基于第一时间点和第二时间点对交易流程数据和读卡参数进行耦合生成测试用例，有利于进一步提高测试用例的仿真性，保证测试设备进行IC卡兼容性测试结果的精准性。

在本实施例中，结合目标交易设备的交易流程数据和读取参数来生成测试用例，使测试设备可基于测试用例来模拟目标交易设备从读卡到交易的整个完整的刷卡交易过程，实现测试设备基于测试用例输出的待测IC卡的兼容性评价参数可准确地反映待测IC卡与真实的目标交易设备之间的兼容性，以提高IC卡兼容性测试的准确性。

进一步的，在本实施例中，参照图5，步骤S01中获取目标交易设备的交易流程数据的步骤包括：

步骤S011，获取所述目标交易设备在设定交易状态下的流程信息和协议层数据；

设定交易状态为所述目标交易设备读取样本IC卡的第二交易信息、且采用所述第二交易信息执行交易操作的状态。所述样本IC卡为与所述目标交易设备兼容的IC卡，也就是说，目标交易设备可读取样本IC卡信息并基于读取到的IC卡信息成功交易，且读卡、交易的过程均满足设定标准（如读卡距离、读卡时长和/或交易时长等）。

具体的，在本实施例中，将上述实施例中数据采集设备的探测天线与目标交易设备的天线连接，其中两个天线的中心线同轴设置。在目标交易设备基于读取到的样本IC卡的信息执行一次完整交易的过程中，通过探测天线抓取目标交易设备的交易流程和协议层数据，并保存为协议层数据文件。

此外，在其他实施例中，也可通过测试设备与目标交易设备远程通讯连接，基于测试设备基于远程通讯连接抓取目标交易设备成功地读卡并交易的过程中的流程信息和协议层数据。

步骤S012，根据所述流程信息和所述协议层数据生成协议层的数据脚本；

读取流程信息与协议层数据形成的协议层数据文件中的交互数据，生成协议层的数据脚本。

步骤S013，确定所述数据脚本为所述交易流程数据。

在本实施例中，通过抓取交易过程中目标交易设备的流程数据和协议层数据生成的脚本作为交易流程数据，可保证后续生成的目标交易设备的测试用例的仿真性，使测试设备执行测试用例时可真实地模拟目标交易设备的实际交易流程，有利于提高IC卡测试兼容性测试结果的准确性。

进一步的，在本实施例中，参照图6，步骤S01中获取所述目标交易设备的读卡参数的步骤包括：

步骤S014，获取所述目标交易设备的射频模块在设定交易状态下的第一射频参数；

其中，所述设定交易状态为所述目标交易设备读取样本IC卡的第二交易信息、且采用所述第二交易信息执行交易操作的状态，所述样本IC卡为与所述目标交易设备兼容的IC卡，所述射频模块设置为读取其射频范围内IC卡的信息。

具体的，在本实施例中，将上述实施例中数据采集设备的探测天线与目标交易设备的天线连接，其中两个天线的中心线同轴设置。在目标交易设备基于读取到的样本IC卡的信息执行一次完整交易的过程中，通过探测天线抓取目标交易设备的射频模块的负载调制幅度、场强、波形参数、载波频率等射频参数。

此外，在其他实施例中，也可通过测试设备与目标交易设备远程通讯连接，基于测试设备基于远程通讯连接抓取目标交易设备成功地读卡并交易的过程中射频模块的运行参数作为这里的第一射频参数。

步骤S015，根据所述第一射频参数生成对应的第一调制波形参数；

将上述抓取到的第一射频参数保存为调整波形特性文件作为这里的第一调整波形参数。

步骤S016，确定所述第一调制波形参数为所述读卡参数。

在本实施例中，通过抓取目标交易设备的射频模块的射频参数来生成对应的调整波形参数作为读卡参数，可保证后续生成的目标交易设备的测试用例的仿真性，使测试设备执行测试用例时可真实地模拟目标交易设备的读卡流程，有利于提高IC卡测试兼容性测试结果的准确性。

进一步的，步骤S015包括：

步骤S015a，获取多个设定读卡距离分别对应的所述第一射频参数；

所述设定读卡距离为所述样本IC卡与所述目标交易设备的距离，具体的，是指样本IC卡与目标交易设备的天线的距离。

设定读卡距离的具体大小可根据实际需求进行设置。在本实施例中，多个设定读卡距离分别包括10mm、20mm、30mm和40mm。

在数据抓取的过程中，通过改变上述数据采集设备中垫片的厚度来实现目标交易设备以不同的读卡距离读取样本IC卡的信息。具体的，每个设定读卡距离对应有一个第一射频参数，在不同的垫片厚度下分别获取一次完整的设定交易状态下射频模块的运行参数，从而获得不同设定读卡距离所对应的第一射频参数。

所述步骤S016包括：

步骤S016a，根据每个所述设定读卡距离对应的第一射频参数生成对应的第一调制波形参数。

每个设定读卡距离对应分别对应有一个第一调制波形参数。基于此，不同的设定读卡距离对应有不同的测试用例，基于此，执行步骤S20时可分别按照不同设定读卡距离的测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作，根据输出的交易结果来确定待测IC卡的兼容性评价参数。

其中，需要说明的是，在测试设备执行不同设定读卡距离所对应的测试用例时，待测IC卡与目标交易设备之间的距离与测试用例对应的设定读卡距离之间的偏差小于或等于设定阈值，以保证测试结果的准确性。

在本实施例中，获取目标交易设备的读卡参数时，通过去不同的读卡距离所对应的调制波形参数作为读卡参数，以使后续基于读卡参数生成的测试用例可准确的反应IC卡在不同读卡距离下与目标交易设备的兼容性情况，有利于进一步提高IC卡兼容性测试结果的准确性。

具体的，基于步骤S015a和步骤S016a，步骤S30可具体包括：在所述多个设定读卡距离中，确定所述目标交易设备对应的目标读卡距离；若所述目标读卡距离对应的测试用例输出的交易结果为交易成功，则确定所述兼容性评价参数为所述待测IC卡与所述目标交易设备兼容；若所述目标读卡距离对应的测试用例输出的交易结果为交易失败，则确定所述兼容性评价参数为所述待测IC卡与所述目标交易设备不兼容。

目标读卡距离具体为目标交易设备的厂商基于目标交易设备的硬件情况所制定的目标交易设备有效读取IC卡信息时标准距离区间。不同的目标交易设备所对应的目标读卡距离不同。基于此，通过上述方式确定待测IC卡与目标交易设备之间的兼容性评价参数，有利于提高IC卡兼容性测试结果的精准性，保证后续基于测试设备的检测结果来对待测IC卡进行调整，可使待测IC卡可与真实的目标交易设备精准兼容。

进一步的，基于上述任一实施例，提出本申请IC卡测试方法又一实施例。在本实施例中，参照图7，步骤S02之前，还包括：

步骤S03，按照所述读卡参数读取所述样本IC卡的信息，获取所述测试设备的射频模块的第二射频参数；

具体的，可按照读卡参数抓取时数据采集设备与目标交易设备之间的连接方式，将数据采集设备与测试设备的射频模块等读卡模块的天线连接。按照抓取到的读卡参数控制测试设备上的射频模块等读卡模块运行，以使测试设备读取到数据采集设备中样本IC卡的信息。在此过程中，通过数据采集设备的探测天线抓取检测设备的射频模块的运行参数，作为这里的第二射频参数。其中，这里的第二射频参数的抓取方式和抓取到的参数类型、个数与上的第一射频参数相同。

步骤S04，根据所述第二射频参数生成对应的第二调制波形参数；

按照与第一调制波形参数同样的生成方式将第二射频参数生成第二调整波形参数。

步骤S05，若所述第一调制波形参数与所述第二调制波形参数匹配，则执行步骤S02。

对第一调整波形参数与第二调制波形参数的特征参数（如波形变化趋势、波峰特征参数和/或波谷特征参数）进行偏差分析得到偏差特征参数，若偏差特征参数小于或等于设定阈值，则表明第一调制波形参数与第二调制波形参数匹配；若偏差特征参数大于设定阈值，则表明第一调制波形参数与第二调制波形参数不匹配。

在第一调制波形参数与第二调制波形参数匹配时，表明测试设备可耦合复现目标交易设备的调制波形，即测试设备读取IC卡信息时的运行环境与目标交易设备读取IC卡信息时运行环境相同，此时将读卡参数结合交易流程数据生成测试用例，有利于进一步提高测试设备的仿真程度，以进一步提高测试设备对待测IC卡兼容性测试结果的精准性。

其中，当存在不同设定读卡距离对应的读卡参数时，将不同设定读卡距离所对应的数据采集设备分别与测试设备的天线连接，设定读卡距离对应的第一调制波形参数与第二调制波形参数匹配才生成对应的测试用例，以保证待测IC卡在不同读卡距离下的兼容性测试的准确性。

此外，本发明实施例还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有IC卡测试程序，所述IC卡测试程序被处理器执行时实现如上IC卡测试方法任一实施例的相关步骤。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种IC卡测试方法，应用于测试设备，其特征在于，所述IC卡测试方法包括以下步骤：

获取目标交易设备对应的测试用例；

按照所述测试用例读取待测IC卡的第一交易信息、且采用所述第一交易信息执行交易操作；

根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数。

2.如权利要求1所述的IC卡测试方法，其特征在于，所述获取目标交易设备对应的测试用例的步骤之前，还包括：

获取目标交易设备的交易流程数据，获取所述目标交易设备的读卡参数；

根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例。

3.如权利要求2所述的IC卡测试方法，其特征在于，所述获取所述目标交易设备的读卡参数的步骤包括：

获取所述目标交易设备的射频模块在设定交易状态下的第一射频参数；

根据所述第一射频参数生成对应的第一调制波形参数；

确定所述第一调制波形参数为所述读卡参数；

其中，所述设定交易状态为所述目标交易设备读取样本IC卡的第二交易信息、且采用所述第二交易信息执行交易操作的状态，所述样本IC卡为与所述目标交易设备兼容的IC卡，所述射频模块设置为读取其射频范围内IC卡的信息。

4.如权利要求3所述的IC卡测试方法，其特征在于，所述获取所述目标交易设备的射频模块在设定交易状态下的第一射频参数的步骤包括：

获取多个设定读卡距离分别对应的所述第一射频参数；所述设定读卡距离为所述样本IC卡与所述目标交易设备的距离；

所述根据所述第一射频参数生成对应的第一调制波形参数的步骤包括：

根据每个所述设定读卡距离对应的第一射频参数生成对应的第一调制波形参数。

5.如权利要求4所述的IC卡测试方法，其特征在于，所述根据所述测试用例输出的所述交易操作的交易结果，确定所述待测IC卡与所述目标交易设备的兼容性评价参数的步骤包括：

在所述多个设定读卡距离中，确定所述目标交易设备对应的目标读卡距离；

若所述目标读卡距离对应的测试用例输出的交易结果为交易成功，则确定所述兼容性评价参数为所述待测IC卡与所述目标交易设备兼容；

若所述目标读卡距离对应的测试用例输出的交易结果为交易失败，则确定所述兼容性评价参数为所述待测IC卡与所述目标交易设备不兼容。

6.如权利要求3所述的IC卡测试方法，其特征在于，所述根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例的步骤之前，还包括：

按照所述读卡参数读取所述样本IC卡的信息，获取所述测试设备的射频模块的第二射频参数；

根据所述第二射频参数生成对应的第二调制波形参数；

若所述第一调制波形参数与所述第二调制波形参数匹配，则执行所述根据所述交易流程数据和所述读卡参数生成所述测试用例的步骤。

7.如权利要求3至6中任一项所述的IC卡测试方法，其特征在于，所述获取目标交易设备的交易流程数据的步骤包括：

获取所述目标交易设备在所述设定交易状态下的流程信息和协议层数据；

根据所述流程信息和所述协议层数据生成协议层的数据脚本；

确定所述数据脚本为所述交易流程数据。

8.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的IC卡测试程序，所述IC卡测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的IC卡测试方法的步骤。

9.一种IC卡测试系统，其特征在于，所述IC卡测试系统包括如权利要求8所述的测试设备和数据采集设备，所述数据采集设备包括：

探测天线，所述探测天线设置为抓取目标交易设备的交易流程数据和读卡参数；

样本IC卡，所述样本IC卡为与目标交易设备兼容的IC卡；

垫片，所述垫片设于所述探测天线与所述样本IC卡之间。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有IC卡测试程序，所述IC卡测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的IC卡测试方法的步骤。

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