CN110943777A - 基于变频技术的频率测量设备 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种基于变频技术的频率测量设备，包括：激光源；信号接收模块；微波源；变频模块，进行变频生成变频后电信号并输出；电光调制模块，与所述信号接收模块、激光源、以及变频模块相连，输出第一调制后光信号和第二调制后光信号；微分模块，与所述电光调制模块相连，用于将第一调制后光信号和第二调制后光信号进行微分处理，输出第一耦合微分信号和第二耦合微分信号；偏振分束模块，分别对第一耦合微分信号和第二耦合微分信号进行偏振解复用输出待粗测量信号与待精测量信号；以及测量模块，将待粗测量信号输入第一平衡探测器，得到粗测量结果；将待精测量信号输入第二平衡探测器，并依粗测量结果调节微波源信号，得到精测量结果。

Description

基于变频技术的频率测量设备

技术领域

本公开涉及微波光子技术领域，尤其涉及一种基于变频技术的频率测量设备。

背景技术

随着通信频率的大幅度扩展，高频通信系统对电学技术提出了巨大的挑战。微波光子技术的出现，有效解决了电学上的频率限制，电磁干扰严重等问题。在电子战场中，探知敌方信号频率是实施干扰与抗干扰的重要前提。为了迅速有效地获得敌方的频率信息，瞬时测频技术受到了广泛的关注。频率测量的基本思想就是将频率信息映射到一种便于测量的参数上，通过对这些参数的测量，可以得到相应的频率信息。目前有频率-时间映射，频率空间映射以及频率-功率映射。前两种方法由于结构较为复杂，而且实时性较差，因此多用于多频信号的测量，而对于瞬时单频信号的测量，更多的是考虑频率-功率映射。但是，这种方法面临着一种固有的问题，就是测量带宽和测量精度之间相互制约的问题，寻找一种频率-功率映射函数，并且具有大带宽的严格单调响应和大斜率的变化成为研究的热点。

公开内容

(一)要解决的技术问题

基于上述问题，本公开提供了一种基于变频技术的频率测量设备，以缓解现有技术中瞬时单频信号测量时，测量带宽和测量精度之间相互制约等技术问题。

(二)技术方案

本公开提供一种基于变频技术的频率测量设备，包括：

激光源，用于提供经光功率分束后的第一光信号和第二光信号；

信号接收模块，用于接收复杂电磁环境下的待测信号并进行处理，输出第一待测电信号和第二待测电信号；

微波源，用于产生稳定精确的微波信号；

变频模块，输入端与所述信号接收模块、微波源、以及激光源相连，用于将第二待测电信号和微波源信号调制到第二光信号的光域上并进行变频生成变频后电信号并输出；

电光调制模块，与所述信号接收模块、激光源、以及变频模块相连，将第一光信号分束成两路分别工作在相互垂直的偏振方向上的第三光信号和第四光信号，并将第一待测电信号调制到第三光信号的光域上输出第一调制后光信号，将变频后电信号调制到第四光信号的光域上输出第二调制后光信号；

微分模块，与所述电光调制模块相连，用于将第一调制后光信号和第二调制后光信号进行微分处理，输出第一耦合微分信号和第二耦合微分信号；

偏振分束模块，与微分模块相连，用于分别对第一耦合微分信号和第二耦合微分信号进行偏振解复用，将第一耦合微分信号中的工作在两个偏振方向上的第一调制后光信号和第二调制后光信号分开，输出待粗测量信号与待精测量信号；以及

测量模块，包括第一平衡探测器和第二平衡探测器，与所述偏振分束模块相连，将待粗测量信号输入第一平衡探测器，进行平衡探测得到粗测量结果；将待精测量信号输入第二平衡探测器进行平衡探测，并依粗测量结果调节微波源信号，得到精测量结果。

在本公开实施例中，所述激光源，包括：窄线宽激光器，用于提供的光信号波长在1530nm～1610nm；以及光功率分束器，与所述窄线宽激光器相连，用于将光信号进行功率分束为第一光信号和第二光信号。

在本公开实施例中，所述信号接收模块，包括：超宽带接收天线，用于接收复杂电磁环境下的待测信号；低噪声放大器，与超宽带接收天线相连，用于对待测信号进行功率放大；以及电功率分束器，与低噪声放大器相连，用于将待测信号功率分束，输出第一待测电信号及第二待测电信号。

在本公开实施例中，所述变频模块，包括：第一电桥，与电功率分束器相连，用于对第二待测电信号进行功率分束，并且引入90°的相位差；第二电桥，与微波源相连，用于对微波信号进行功率分束，并且引入90°的相位差；直流源，用于提供稳定的直流偏置电压；双平行双驱动马赫曾德尔调制器，与光功率分束器、第一电桥、第二电桥相连、以及直流源相连，用于从光功率分束器接收第二光信号并进行调制生成调制后光信号；光功率放大器，与双平行双驱动马赫曾德尔调制器相连，用于对调制后光信号进行功率放大；光电探测器，与光功率放大器相连，用于对放大后的调制光信号进行光电转换生成变频电信号；以及低通滤波器，与光电探测器相连，用于对变频电信号进行滤波生成变频后电信号。

在本公开实施例中，所述电光调制模块，包括：偏振控制器，与光功率分束器相连，用于调整第一光信号的偏振方向；第一偏振分束器，与偏振控制器相连，用于将调整偏振方向后的第一光信号分束为两路分别工作在相互垂直的偏振方向上的第三光信号和第四光信号；第一相位调制器，与第一偏振分束器相连，用于将第一待测电信号调制到第三光信号的光域上输出第一调制后光信号；以及第二相位调制器，与第一偏振分束器及低通道滤波器相连，用于将变频后电信号调制到第四光信号的光域上输出第二调制后光信号。

在本公开实施例中，所述微分模块，包括：第一光耦合器，与第一相位调制器和第二相位调制器相连，用于耦合第一调制后光信号和第二调制后光信号，并输出两路耦合后的信号；光延时线，与第一光耦合器相连，用于对一路耦合后的信号进行延时；以及第二光耦合器，与第一光耦合器和光延时线相连，用于将另一路耦合后的信号和延时后的信号再耦合，输出第一耦合微分信号和第二耦合微分信号。

在本公开实施例中，所述偏振分束模块，包括：第二偏振分束器和第三偏振分束器，分别对第一耦合微分信号和第二耦合微分信号依偏振方向进行信号分离，输出待粗测量信号与待精测量信号。

在本公开实施例中，所述测量模块，包括：第一平衡探测器，用于对待粗测量信号进行平衡探测得到粗测量结果；以及第二平衡探测器，依粗测量结果调节微波源信号后，对待精测量信号进行平衡探测得到精测量结果。

在本公开实施例中，所述双平行双驱动马赫曾德尔调制器，包括：主调制器、第一子调制器、以及第二子调制器；所述直流源＝包括相互独立的第一直流源、第二直流源、以及第三直流源。

在本公开实施例中，所述第一直流源，与所述第一子调制器相连，用于对第一子调制器进行直流偏置，使得第一子调制器工作在最小传输点，得到载波抑制双边带信号；所述第二直流源，与所述第二子调制器相连，用于对第二子调制器进行直流偏置，得到载波抑制双边带信号；所述第三直流源，与所述主调制器相连，用于主调制器进行直流偏置，使主调制器也工作在最小传输点，从而满足相位相消的条件。

(三)有益效果

从上述技术方案可以看出，本公开基于变频技术的频率测量设备至少具有以下有益效果其中之一或其中一部分：

(1)未使用长距离光纤，可实现光子集成；

(2)测频结果更精确；

(3)可以同时为预警系统和干扰系统分别提供粗略的频率信息和精确的频率信息。

附图说明

图1是本公开实施例基于变频技术的频率测量设备的框架结构示意图。

图2是本公开实施例基于变频技术的频率测量设备的具体结构示意图。

图3是图2中双平行双驱动马赫曾德尔调制器的内部结构示意图。

【附图中本公开实施例主要元件符号说明】

1-窄线宽激光器；2-光功率分束器；3-偏振控制器；

4-第一偏振分束器；5-第一相位调制器；6-第二相位调制器；

7-第一光耦合器；8-第二电桥；9-光延时线；10-第二光耦合器；

11-第二偏振分束器；12-第三偏振分束器；14-第一平衡探测器；

13-第二平衡探测器；15-超宽带接收天线；16-低噪声放大器；

17-电功率分束器；18-双平行双驱动马赫曾德尔调制器；

19-光功率放大器；20-光电探测器；21-低通滤波器；22-微波源；

23-直流源；24-第一电桥。

具体实施方式

本公开提供了一种基于变频技术的频率测量设备，所述频率测量设备依照粗测量的结果，对微波源频率进行人为设定。在变频模块中对未知信号与微波源信号之间进行混频，从而可在此模块的输出端得到两信号之间的频率差，该频率差就是粗测量的测量误差。再次结合粗测量的结果，进行误差补偿，从而得到更加精确的测频结果。

为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本公开进一步详细说明。

在本公开实施例中，提供一种基于变频技术的频率测量设备，结合图1至图3所示，所述基于变频技术的频率测量设备，包括：

激光源，用于提供经光功率分束后的第一光信号和第二光信号；

信号接收模块，用于接收复杂电磁环境下的待测信号并进行处理，输出第一待测电信号和第二待测电信号；

微波源，用于产生稳定精确的微波信号；

变频模块，输入端与所述信号接收模块、微波源、以及激光源相连，用于将第二待测电信号和微波源信号调制到第二光信号的光域上并进行变频生成变频后电信号并输出；

电光调制模块，与所述信号接收模块、激光源、以及变频模块相连，将第一光信号分束成两路分别工作在相互垂直的偏振方向上的第三光信号和第四光信号，并将第一待测电信号调制到第三光信号的光域上输出第一调制后光信号，将变频后电信号调制到第四光信号的光域上输出第二调制后光信号；

微分模块，与所述电光调制模块相连，用于将第一调制后光信号和第二调制后光信号进行微分处理，输出第一耦合微分信号和第二耦合微分信号；

需要强调的是，第一调制后光信号和第二调制后光信号分别工作在两个相互垂直的偏振方向上，因此相互耦合之后，不会产生相互干扰的现象；所述第一耦合微分信号或第二耦合微分信号中均包括第一调制后光信号和第二调制后光信号。

偏振分束模块，与微分模块相连，用于分别对第一耦合微分信号和第二耦合微分信号进行偏振解复用，将第一耦合微分信号中的工作在两个偏振方向上的第一调制后光信号和第二调制后光信号分开，输出待粗测量信号与待精测量信号。

测量模块，包括第一平衡探测器和第二平衡探测器，与所述偏振分束模块相连，将待粗测量信号输入第一平衡探测器，进行平衡探测得到粗测量结果；将待精测量信号输入第二平衡探测器进行平衡探测，并依粗测量结果调节微波源信号，得到精测量结果。

所述激光源，包括：

窄线宽激光器，用于提供的光信号波长在1530nm～1610nm；以及

光功率分束器，与所述窄线宽激光器相连，用于将光信号进行功率分束为第一光信号和第二光信号。

所述信号接收模块，包括：

超宽带接收天线，用于接收复杂电磁环境下的待测信号；

低噪声放大器，与超宽带接收天线相连，用于对待测信号进行功率放大；以及

电功率分束器，与低噪声放大器相连，用于将待测信号功率分束，输出第一待测电信号及第二待测电信号；

所述变频模块，包括：

第一电桥，与电功率分束器相连，用于对第二待测电信号进行功率分束，并且引入90°的相位差；

第二电桥，与微波源相连，用于对微波信号进行功率分束，并且引入90°的相位差；

直流源，用于提供稳定的直流偏置电压；包括第一直流源、第二直流源、第三直流源；

双平行双驱动马赫曾德尔调制器，与光功率分束器、第一电桥、第二电桥相连、以及直流源相连，用于从光功率分束器接收第二光信号并进行调制生成调制后光信号；

光功率放大器，与双平行双驱动马赫曾德尔调制器相连，用于对调制后光信号进行功率放大；

光电探测器，与光功率放大器相连，用于对放大后的调制光信号进行光电转换生成变频电信号；

低通滤波器，与光电探测器相连，用于对变频电信号进行滤波生成变频后电信号；

所述双平行双驱动马赫曾德尔调制器，包括：主调制器、第一子调制器、以及第二子调制器；所述直流源＝包括相互独立的第一直流源、第二直流源、以及第三直流源；所述第一直流源，与所述第一子调制器相连，用于对第一子调制器进行直流偏置，使得第一子调制器工作在最小传输点，得到载波抑制双边带信号；所述第二直流源，与所述第二子调制器相连，用于对第二子调制器进行直流偏置，得到载波抑制双边带信号；所述第三直流源，与所述主调制器相连，用于主调制器进行直流偏置，使主调制器也工作在最小传输点，从而满足相位相消的条件。

所述电光调制模块，包括：

偏振控制器，与光功率分束器相连，用于调整第一光信号的偏振方向；

第一偏振分束器，与偏振控制器相连，用于将调整偏振方向后的第一光信号分束为两路分别工作在相互垂直的偏振方向上的第三光信号和第四光信号；

第一相位调制器，与第一偏振分束器相连，用于将第一待测电信号调制到第三光信号的光域上输出第一调制后光信号；

第二相位调制器，与第一偏振分束器及低通道滤波器相连，用于将变频后电信号调制到第四光信号的光域上输出第二调制后光信号。

所述微分模块，包括：

第一光耦合器，与第一相位调制器和第二相位调制器相连，用于耦合第一调制后光信号和第二调制后光信号，并输出两路耦合后的信号；

光延时线，与第一光耦合器相连，用于对一路耦合后的信号进行延时；

第二光耦合器，与第一光耦合器和光延时线相连，用于将另一路耦合后的信号和延时后的信号再耦合，输出第一耦合微分信号和第二耦合微分信号。

所述偏振分束模块，包括：

第二偏振分束器和第三偏振分束器，分别对第一耦合微分信号和第二耦合微分信号依偏振方向进行信号分离，输出待粗测量信号与待精测量信号；

所述测量模块，包括：

第一平衡探测器，用于对待粗测量信号进行平衡探测得到粗测量结果；以及

第二平衡探测器，依粗测量结果调节微波源信号后，对待精测量信号进行平衡探测得到精测量结果。

在本公开一具体实施例中，提供一种基于变频技术的频率测量设备，请参阅图2至图3所示，包括：

一窄线宽激光器1，其作用在于提供高质量，低相噪的光载波信号，光源的波长在1550nm左右；

一光功率分束器2，其光输入端与窄线宽激光器的输出端连接，用于将窄线宽激光器输出的光信号分成上下两支路，并分别从其两个输出端输出；

在上支路中，光信号首先经过一偏振控制器3，对上支路的光信号进行偏振控制，使其偏振方向与接下来的第一偏振分束器4的一个主轴成45°角，从而实现将一路光再次分束成两路光，不同的是，此时两路光之间是相互偏振正交的。这两束偏振正交的信号，被同时送入第一相位调制器5和第二相位调制器6，经过调制之后的信号被送入第一光耦合器7(2×2光耦合器)进行耦合。该耦合器的第一输出端与一个光延时线9相连，之后引入下一个第二光耦合器10(2×2光耦合器)的第一输入端，第一光耦合器7的第二输出端直接与第二光耦合器10的第二输入端相连。需要强调的是，在这个过程中，耦合器和延时线都是保偏的。第二光耦合器10的两个输出端分别连接第二偏振分束器11和第三偏振分束器14，使得在两个偏振方向上的信号分离。最后将其中一个偏振方向上的信号引入第一平衡探测器，另一个偏振方向上的信号引入第二平衡探测器；

由超宽带接收天线15接收的信号，经过低噪声放大器16进行功率放大和电功率分束器17分束之后，其中一路待测电信号引入第一相位调制器5；

对于下支路，光信号经过双平行双驱动马赫曾德尔调制器18的调制之后，被光功率放大器19放大，并引入光电探测器20实现光电转换，得到电信号，该信号被低通滤波器21滤波之后，直接引入第二相位调制器。其中，接收到的未知信号经过分束之后，另一路引入第一电桥24，再分成相互相位正交的两路对双平行双驱动马赫曾德尔调制器中的第一子调制器进行驱动。同时微波源也产生稳定的微波信号，并通过第二电桥分成相互相位正交的两路信号，调制双平行双驱动马赫曾德尔调制器的第二子调制器。直流源连接主调制器，也为整个调制器提供直流偏置电压，使两个子调制器都工作在正交传输点，主调制器工作在最小传输点；

在这个系统中，第一平衡探测器13输出粗测量结果，将粗测量的频率作为微波源的输出频率，对未知信号进行下变频之后，则第二平衡探测器14输出下变频信号的测量结果。通过改变微波源频率，判断粗测量结果和未知信号频率之间的大小关系，结合第二平衡探测器14的测量结果，进行误差补偿，从而得到更加精确的测频结果；

至此，已经结合附图对本公开实施例进行了详细描述。需要说明的是，在附图或说明书正文中，未绘示或描述的实现方式，均为所属技术领域中普通技术人员所知的形式，并未进行详细说明。此外，上述对各元件和方法的定义并不仅限于实施例中提到的各种具体结构、形状或方式，本领域普通技术人员可对其进行简单地更改或替换＝。

依据以上描述，本领域技术人员应当对本公开基于变频技术的频率测量设备有了清楚的认识。

综上所述，本公开提供了一种基于变频技术的频率测量设备，通过改变微波源频率，判断粗测量结果和未知信号频率之间的大小关系，结合平衡探测器的测量结果，进行误差补偿，从而得到更加精确的测频结果。

还需要说明的是，实施例中提到的方向用语，例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等，仅是参考附图的方向，并非用来限制本公开的保护范围。贯穿附图，相同的元素由相同或相近的附图标记来表示。在可能导致对本公开的理解造成混淆时，将省略常规结构或构造。

并且图中各部件的形状和尺寸不反映真实大小和比例，而仅示意本公开实施例的内容。另外，在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。

除非有所知名为相反之意，本说明书及所附权利要求中的数值参数是近似值，能够根据通过本公开的内容所得的所需特性改变。具体而言，所有使用于说明书及权利要求中表示组成的含量、反应条件等等的数字，应理解为在所有情况中是受到「约」的用语所修饰。一般情况下，其表达的含义是指包含由特定数量在一些实施例中±10％的变化、在一些实施例中±5％的变化、在一些实施例中±1％的变化、在一些实施例中±0.5％的变化。

再者，单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。

说明书与权利要求中所使用的序数例如“第一”、“第二”、“第三”等的用词，以修饰相应的元件，其本身并不意味着该元件有任何的序数，也不代表某一元件与另一元件的顺序、或是制造方法上的顺序，该些序数的使用仅用来使具有某命名的一元件得以和另一具有相同命名的元件能做出清楚区分。

此外，除非特别描述或必须依序发生的步骤，上述步骤的顺序并无限制于以上所列，且可根据所需设计而变化或重新安排。并且上述实施例可基于设计及可靠度的考虑，彼此混合搭配使用或与其他实施例混合搭配使用，即不同实施例中的技术特征可以自由组合形成更多的实施例。

本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。并且，在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。

类似地，应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个公开方面中的一个或多个，在上面对本公开的示例性实施例的描述中，本公开的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本公开要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，公开方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本公开的单独实施例。

以上所述的具体实施例，对本公开的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本公开的具体实施例而已，并不用于限制本公开，凡在本公开的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种基于变频技术的频率测量设备，包括：

激光源，用于提供经光功率分束后的第一光信号和第二光信号；

信号接收模块，用于接收复杂电磁环境下的待测信号并进行处理，输出第一待测电信号和第二待测电信号；

微波源，用于产生稳定精确的微波信号；

变频模块，输入端与所述信号接收模块、微波源、以及激光源相连，用于将第二待测电信号和微波源信号调制到第二光信号的光域上并进行变频生成变频后电信号并输出；

电光调制模块，与所述信号接收模块、激光源、以及变频模块相连，将第一光信号分束成两路分别工作在相互垂直的偏振方向上的第三光信号和第四光信号，并将第一待测电信号调制到第三光信号的光域上输出第一调制后光信号，将变频后电信号调制到第四光信号的光域上输出第二调制后光信号；

微分模块，与所述电光调制模块相连，用于将第一调制后光信号和第二调制后光信号进行微分处理，输出第一耦合微分信号和第二耦合微分信号；

偏振分束模块，与微分模块相连，用于分别对第一耦合微分信号和第二耦合微分信号进行偏振解复用，将第一耦合微分信号中的工作在两个偏振方向上的第一调制后光信号和第二调制后光信号分开，输出待粗测量信号与待精测量信号；以及

测量模块，包括第一平衡探测器和第二平衡探测器，与所述偏振分束模块相连，将待粗测量信号输入第一平衡探测器，进行平衡探测得到粗测量结果；将待精测量信号输入第二平衡探测器进行平衡探测，并依粗测量结果调节微波源信号，得到精测量结果。

2.根据权利要求1所述的基于变频技术的频率测量设备，所述激光源，包括：

窄线宽激光器，用于提供的光信号波长在1530nm～1610nm；以及

光功率分束器，与所述窄线宽激光器相连，用于将光信号进行功率分束为第一光信号和第二光信号。

3.根据权利要求1所述的基于变频技术的频率测量设备，所述信号接收模块，包括：

超宽带接收天线，用于接收复杂电磁环境下的待测信号；

低噪声放大器，与超宽带接收天线相连，用于对待测信号进行功率放大；以及

电功率分束器，与低噪声放大器相连，用于将待测信号功率分束，输出第一待测电信号及第二待测电信号。

4.根据权利要求1所述的基于变频技术的频率测量设备，所述变频模块，包括：

第一电桥，与电功率分束器相连，用于对第二待测电信号进行功率分束，并且引入90°的相位差；

第二电桥，与微波源相连，用于对微波信号进行功率分束，并且引入90°的相位差；

直流源，用于提供稳定的直流偏置电压；

双平行双驱动马赫曾德尔调制器，与光功率分束器、第一电桥、第二电桥相连、以及直流源相连，用于从光功率分束器接收第二光信号并进行调制生成调制后光信号；

光功率放大器，与双平行双驱动马赫曾德尔调制器相连，用于对调制后光信号进行功率放大；

光电探测器，与光功率放大器相连，用于对放大后的调制光信号进行光电转换生成变频电信号；以及

低通滤波器，与光电探测器相连，用于对变频电信号进行滤波生成变频后电信号。

5.根据权利要求1所述的基于变频技术的频率测量设备，所述电光调制模块，包括：

偏振控制器，与光功率分束器相连，用于调整第一光信号的偏振方向；

第一偏振分束器，与偏振控制器相连，用于将调整偏振方向后的第一光信号分束为两路分别工作在相互垂直的偏振方向上的第三光信号和第四光信号；

第一相位调制器，与第一偏振分束器相连，用于将第一待测电信号调制到第三光信号的光域上输出第一调制后光信号；以及

第二相位调制器，与第一偏振分束器及低通道滤波器相连，用于将变频后电信号调制到第四光信号的光域上输出第二调制后光信号。

6.根据权利要求1所述的基于变频技术的频率测量设备，所述微分模块，包括：

第一光耦合器，与第一相位调制器和第二相位调制器相连，用于耦合第一调制后光信号和第二调制后光信号，并输出两路耦合后的信号；

光延时线，与第一光耦合器相连，用于对一路耦合后的信号进行延时；以及

第二光耦合器，与第一光耦合器和光延时线相连，用于将另一路耦合后的信号和延时后的信号再耦合，输出第一耦合微分信号和第二耦合微分信号。

7.根据权利要求1所述的基于变频技术的频率测量设备，所述偏振分束模块，包括：

第二偏振分束器和第三偏振分束器，分别对第一耦合微分信号和第二耦合微分信号依偏振方向进行信号分离，输出待粗测量信号与待精测量信号。

8.根据权利要求1所述的基于变频技术的频率测量设备，所述测量模块，包括：

第一平衡探测器，用于对待粗测量信号进行平衡探测得到粗测量结果；以及

第二平衡探测器，依粗测量结果调节微波源信号后，对待精测量信号进行平衡探测得到精测量结果。

9.根据权利要求4所述的基于变频技术的频率测量设备，所述双平行双驱动马赫曾德尔调制器，包括：主调制器、第一子调制器、以及第二子调制器；所述直流源＝包括相互独立的第一直流源、第二直流源、以及第三直流源。

10.根据权利要求9所述的基于变频技术的频率测量设备，所述第一直流源，与所述第一子调制器相连，用于对第一子调制器进行直流偏置，使得第一子调制器工作在最小传输点，得到载波抑制双边带信号；所述第二直流源，与所述第二子调制器相连，用于对第二子调制器进行直流偏置，得到载波抑制双边带信号；所述第三直流源，与所述主调制器相连，用于主调制器进行直流偏置，使主调制器也工作在最小传输点，从而满足相位相消的条件。

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