CN209375653U - 基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统，包括连续波激光器、第一偏振控制器、双偏振强度调制器、微波信号源、电功分器、电延迟线、第一稳压源、第二稳压源、第二偏振控制器、偏振分束器、第一光功率计、第二光功率计。本实用新型用光功率检测获得与微波调制频率相关的功率比较函数，利用频率与光功率的对应关系实现微波频率的瞬时测量，可有效避免其它方法光电探测噪声带来的测量误差，有效提高测量精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统，适用于雷达信号处理和微波测量领域。
背景技术
瞬时频率测量(IFM)是现代电子对抗中一项十分关键的技术。作为对未知信号的一种预处理，IFM系统的测量灵敏度、精准度和反应时间将是整个电子战成败的重要前提，微波信号的瞬时频率测量所涉及的被测信号是具有一定重复周期的窄脉冲微波信号,每个脉冲的载频都是捷变的，所以无法对信号进行多次测量积累，只能进行脉冲瞬时测频，同时信号的脉宽特别窄，要达到的测频精度与测量时间是同一数量级，微波光子学是一门研究微波和光子的相互作用及其应用的新兴学科，将微波光子学引入到IFM系统中，相比传统电子学方法，基于微波光子学的IFM系统具有其独特优势：1)测量范围受带宽限制较小，可以实现小型化超宽带微波信号的分析和检测；2)具有抗电磁干扰特性，可以提高测量的隐秘性，减小受到攻击的可能性，有效保护电子系统。因此，基于微波光子学构建的瞬时微波频率测量技术被认为是现代电子对抗中测量和处理微波射频信号的先进方法之一。
目前已提出的基于微波光子学的IFM系统按工作原理划分，大致可以分为三类，分别是利用频率-空间映射、频率-时间映射和频率-幅度映射来实现对微波信号的频率测量。频率-空间映射方案是利用光载波通过一些特殊的光学通道，经过的通道不同来获得微波信号频率；频率-时间映射方案是利用时间参数，即通过测量微波调制光载波的两个边带，再经过一段色散介质后，利用所产生的时延差的大小来获得微波信号频率；频率-幅度映射方案是通过引入幅度比较函数(ACF，amplitude comparison function)，通过对互补的微波功率衰减的比值函数的分析得到微波信号频率。研究发现：相比前两种类型的方案(频率-空间映射和频率-时间映射)，采用频率-幅度映射更易于在较宽的频段范围内实现对待测微波信号频率的高精度测量，且结构紧凑易于集成，因此被认为是IFM系统最有效的实现方式，引起了国内外学者的广泛关注。
实用新型内容
针对现有技术中存在的缺陷，本实用新型提出了采用光功率检测的IFM实现方案，方案利用双偏振调制器将两路具有固定延迟的射频信号搭载在激光的两个正交的偏振态上，利用光偏振的互补特性，实现两路偏振态上信息的公模及差模输出，固定延迟的作用下，不同频率的微波信号所引入的相位各不相同，由光功率检测之后，微波信号的相位直接影响光功率比值，利用频率与功率之间的对应关系，可以实现通过检测光功率的方式估算微波信号的频率，实现对未知信号频率的瞬时频率测量。该装置无需光电转换，因而避免了光电转换过程中探测器噪声带来的测量误差。
为达到以上目的，本实用新型采取的技术方案是：
一种基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统，包括：连续波激光器1、第一偏振控制器2、双偏振强度调制器3、微波信号源4、电功分器5、电延迟线6、第一稳压源7、第二稳压源8、第二偏振控制器9、偏振分束器10、第一光功率计11、第二光功率计12；
具体连接方式为：
连续波激光器1的输出端与第一偏振控制器2的输入端相连，第一偏振控制器2的输出端与双偏振强度调制器的光输入端31相连，微波信号源4的输出端与电功分器的输入端51相连，电功分器的输出端Ⅰ52与电延迟线6的输入端相连，电延迟线6的输出端与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅰ32相连，电功分器的输出端Ⅱ53与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅱ33相连，第一稳压源7与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅰ34相连，第二稳压源8与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅱ35相连，双偏振强度调制器的输出端36与第二偏振控制器9的输入端相连，第二偏振控制器9的输出端与偏振分束器的输入端101相连，偏振分束器的输出端Ⅰ102与第一光功率计11的光输入端相连，偏振分束器的输出端Ⅱ103与第二光功率计12的光输入端相连；
所述连续波激光器1用于输出激光；
所述第一偏振控制器2用于将激光进行偏振旋转，使激光的偏振方向与双偏振强度调制器3的偏振主轴呈45度角；
所述微波信号源4用于输出待测微波信号，角频率为ω；
所述电功分器5用于将待测微波信号分为功率相等的两路微波信号，其中一路微波信号输入到电延迟线6，另一路微波信号输入到双偏振强度调制器3；
所述电延迟线6用于在一路微波信号中引入电延迟，延迟量为T，并输入到双偏振强度调制器3；
所述双偏振强度调制器3用于将接收到的两路微波信号搭载在激光的两个正交偏振态上，并分别对激光的两个正交偏振态进行强度调制；
所述第二偏振控制器9用于对双偏振强度调制器的输出端36输出的激光的偏振态进行调节，使其与偏振分束器10的偏振主轴呈45度角；
所述偏振分束器10用于将调制后的光波在两个正交偏振角度上进行分离；
所述第一光功率计11用于检测偏振分束器的输出端Ⅰ102输出的光功率；
所述第二光功率计12用于检测偏振分束器的输出端Ⅱ103输出的光功率。
在上述方案的基础上，所述第一稳压源7和第二稳压源8均用于输出直流电压，使双偏振强度调制器3工作于最小传输点。
在上述方案的基础上，所述第一光功率计11和第二光功率计12检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2)。
上述连接设置后，固定电延迟线的延迟T，由微波信号源输出待测微波信号，角频率为ω，经电延迟线后引入与微波频率相关的相移ωT，通过双偏振强度调制器调制，后经第二偏振控制器和偏振分束器，由第一光功率计和第二光功率计检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2)，利用该数学关系，可以得到光功率与频率之间的具体关系，通过检测光功率的方式实现对待测微波信号频率的瞬时测量。
本实用新型的有益效果：
本实用新型无须光电转换，可有效避免光电转换过程中探测器自身噪声带来的测量误差，且利用光功率检测所使用的功率计非常廉价，实现容易。利用光功率比值计算的优点在于，系统不受光源的波长及功率影响，不受射频信号的功率影响，只与电延迟线引入的与微波频率有关的相移量有关，简化了结构且实现容易。
附图说明
本实用新型有如下附图：
图1为基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统结构示意图。
图2为实施例一固定电延迟线的延迟T＝20ps对应的功率频率映射曲线。
图3为实施例二固定电延迟线的延迟T＝25ps对应的功率频率映射曲线。
图4为实施例三固定电延迟线的延迟T＝30ps对应的功率频率映射曲线。
图5为实施例四固定电延迟线的延迟T＝35ps对应的功率频率映射曲线。
其中：1、连续波激光器；2、第一偏振控制器；3、双偏振强度调制器；31、双偏振强度调制器的光输入端；32、双偏振强度调制器的射频输入端Ⅰ；33、双偏振强度调制器的射频输入端Ⅱ；34、双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅰ；35、双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅱ；36、双偏振强度调制器的输出端；4、微波信号源；5、电功分器；51、电功分器的输入端；52、电功分器的输出端Ⅰ；53、电功分器的输出端Ⅱ；6、电延迟线；7、第一稳压源；8、第二稳压源；9、第二偏振控制器；10、偏振分束器；101、偏振分束器的输入端；102、偏振分束器的输出端Ⅰ；103、偏振分束器的输出端Ⅱ；11、第一光功率计；12、第二光功率计。
具体实施方式
以下结合附图1-5对本实用新型作进一步详细说明。
实施例一：
一种基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统如图1所示，包括：连续波激光器1、第一偏振控制器2、双偏振强度调制器3、微波信号源4、电功分器5、电延迟线6、第一稳压源7、第二稳压源8、第二偏振控制器9、偏振分束器10、第一光功率计11、第二光功率计12；
具体连接方式为：
连续波激光器1的输出端与第一偏振控制器2的输入端相连，第一偏振控制器2的输出端与双偏振强度调制器3的光输入端31相连，微波信号源4的输出端与电功分器的输入端51相连，电功分器的输出端Ⅰ52与电延迟线6的输入端相连，电延迟线6的输出端与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅰ32相连，电功分器的输出端Ⅱ53与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅱ33相连，第一稳压源7与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅰ34相连，第二稳压源8与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅱ35相连，双偏振强度调制器的输出端36与第二偏振控制器9的输入端相连，第二偏振控制器9的输出端与偏振分束器的输入端101相连，偏振分束器的输出端Ⅰ102与第一光功率计11的光输入端相连，偏振分束器的输出端Ⅱ103与第二光功率计12的光输入端相连。
所述连续波激光器1用于输出激光；
所述第一偏振控制器2用于将激光进行偏振旋转，使激光的偏振方向与双偏振强度调制器3的偏振主轴呈45度角。
所述微波信号源4用于输出待测微波信号，角频率为ω；
所述电功分器5用于将待测微波信号分为功率相等的两路微波信号，其中一路微波信号输入到电延迟线6，另一路微波信号输入到双偏振强度调制器3；
所述电延迟线6用于在一路微波信号中引入电延迟，延迟量为T，并输入到双偏振强度调制器3；
所述双偏振强度调制器3用于将接收到的两路微波信号搭载在激光的两个正交偏振态上，并分别对激光的两个正交偏振态进行强度调制；
第二偏振控制器9用于对双偏振强度调制器的输出端36输出的激光的偏振态进行调节，使其与偏振分束器10的偏振主轴呈45度角。
所述偏振分束器10用于将调制后的光波在两个正交偏振角度上进行分离；
所述第一光功率计11用于检测偏振分束器的输出端Ⅰ102输出的光功率；
所述第二光功率计12用于检测偏振分束器的输出端Ⅱ103输出的光功率。
在上述方案的基础上，所述第一稳压源7和第二稳压源8均用于输出直流电压，使双偏振强度调制器3工作于最小传输点。
在上述方案的基础上，所述第一光功率计11和第二光功率计12检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2)。
上述连接设置后，固定电延迟线6的延迟T＝20ps，由微波信号源4输出待测微波信号，角频率为ω，经电延迟线6后引入与微波频率相关的相移ωT，通过双偏振强度调制器3调制，后经第二偏振控制器9和偏振分束器10，由第一光功率计11和第二光功率计12检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2)，利用该数学关系，可以得到光功率与频率之间的具体关系，如图2所示，如图2所示单调关系所对应的频率范围0～25GHz，该频率范围为电延迟T＝20ps条件下本系统的实际频率范围，通过检测光功率的方式实现对待测微波频率0～25GHz信号的瞬时测量。
实施例二：
一种基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统如图1所示，包括：连续波激光器1、第一偏振控制器2、双偏振强度调制器3、微波信号源4、电功分器5、电延迟线6、第一稳压源7、第二稳压源8、第二偏振控制器9、偏振分束器10、第一光功率计11、第二光功率计12；
具体连接方式为：
连续波激光器1的输出端与第一偏振控制器2的输入端相连，第一偏振控制器2的输出端与双偏振强度调制器3的光输入端31相连，微波信号源4的输出端与电功分器的输入端51相连，电功分器的输出端Ⅰ52与电延迟线6的输入端相连，电延迟线6的输出端与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅰ32相连，电功分器的输出端Ⅱ53与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅱ33相连，第一稳压源7与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅰ34相连，第二稳压源8与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅱ35相连，双偏振强度调制器的输出端36与第二偏振控制器9的输入端相连，第二偏振控制器9的输出端与偏振分束器的输入端101相连，偏振分束器的输出端Ⅰ102与第一光功率计11的光输入端相连，偏振分束器的输出端Ⅱ103与第二光功率计12的光输入端相连。
所述连续波激光器1用于输出激光；
所述第一偏振控制器2用于将激光进行偏振旋转，使激光的偏振方向与双偏振强度调制器3的偏振主轴呈45度角。
所述微波信号源4用于输出待测微波信号，角频率为ω；
所述电功分器5用于将待测微波信号分为功率相等的两路微波信号，其中一路微波信号输入到电延迟线6，另一路微波信号输入到双偏振强度调制器3；
所述电延迟线6用于在一路微波信号中引入电延迟，延迟量为T，并输入到双偏振强度调制器3；
所述双偏振强度调制器3用于将接收到的两路微波信号搭载在激光的两个正交偏振态上，并分别对激光的两个正交偏振态进行强度调制；
所述第二偏振控制器9用于对双偏振强度调制器的输出端36输出的激光的偏振态进行调节，使其与偏振分束器10的偏振主轴呈45度角。
所述偏振分束器10用于将调制后的光波在两个正交偏振角度上进行分离；
所述第一光功率计11用于检测偏振分束器的输出端Ⅰ102输出的光功率；
所述第二光功率计12用于检测偏振分束器的输出端Ⅱ103输出的光功率。
在上述方案的基础上，所述第一稳压源7和第二稳压源8均用于输出直流电压，使双偏振强度调制器3工作于最小传输点。
在上述方案的基础上，所述第一光功率计11和第二光功率计12检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2)。
上述连接设置后，固定电延迟线6的延迟T＝25ps，由微波信号源4输出待测微波信号，角频率为ω，经电延迟线6后引入与微波频率相关的相移ωT，通过双偏振强度调制器3调制，后经第二偏振控制器9和偏振分束器10，由第一光功率计11和第二光功率计12检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2),利用该数学关系，可以得到光功率与频率之间的具体关系，如图3所示，如图3所示单调关系所对应的频率范围0～20GHz，该频率范围为电延迟T＝25ps条件下本系统的实际频率范围，通过检测光功率的方式实现对待测微波频率0～20GHz信号的瞬时测量。
实施例三：
一种基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统如图1所示，包括：连续波激光器1、第一偏振控制器2、双偏振强度调制器3、微波信号源4、电功分器5、电延迟线6、第一稳压源7、第二稳压源8、第二偏振控制器9、偏振分束器10、第一光功率计11、第二光功率计12；
具体连接方式为：
连续波激光器1的输出端与第一偏振控制器2的输入端相连，第一偏振控制器2的输出端与双偏振强度调制器3的光输入端31相连，微波信号源4的输出端与电功分器的输入端51相连，电功分器的输出端Ⅰ52与电延迟线6的输入端相连，电延迟线6的输出端与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅰ32相连，电功分器的输出端Ⅱ53与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅱ33相连，第一稳压源7与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅰ34相连，第二稳压源8与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅱ35相连，双偏振强度调制器的输出端36与第二偏振控制器9的输入端相连，第二偏振控制器9的输出端与偏振分束器的输入端101相连，偏振分束器的输出端Ⅰ102与第一光功率计11的光输入端相连，偏振分束器的输出端Ⅱ103与第二光功率计12的光输入端相连。
所述连续波激光器1用于输出激光；
所述第一偏振控制器2用于将激光进行偏振旋转，使激光的偏振方向与双偏振强度调制器3的偏振主轴呈45度角。
所述微波信号源4用于输出待测微波信号，角频率为ω；
所述电功分器5用于将待测微波信号分为功率相等的两路微波信号，其中一路微波信号输入到电延迟线6，另一路微波信号输入到双偏振强度调制器3；
所述电延迟线6用于在一路微波信号中引入电延迟，延迟量为T，并输入到双偏振强度调制器3；
所述双偏振强度调制器3用于将接收到的两路微波信号搭载在激光的两个正交偏振态上，并分别对激光的两个正交偏振态进行强度调制；
所述第二偏振控制器9用于对双偏振强度调制器的输出端36输出的激光的偏振态进行调节，使其与偏振分束器10的偏振主轴呈45度角。
所述偏振分束器10用于将调制后的光波在两个正交偏振角度上进行分离；
所述第一光功率计11用于检测偏振分束器的输出端Ⅰ102输出的光功率；
所述第二光功率计12用于检测偏振分束器的输出端Ⅱ103输出的光功率。
在上述方案的基础上，所述第一稳压源7和第二稳压源8均用于输出直流电压，使双偏振强度调制器3工作于最小传输点。
在上述方案的基础上，所述第一光功率计11和第二光功率计12检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2)。
上述连接设置后，固定电延迟线6的延迟T＝30ps，由微波信号源4输出待测微波信号，角频率为ω，经电延迟线6后引入与微波频率相关的相移ωT，通过双偏振强度调制器3调制，后经第二偏振控制器9和偏振分束器10，由第一光功率计11和第二光功率计12检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2),利用该数学关系，可以得到光功率与频率之间的具体关系，如图4所示，如图4所示单调关系所对应的频率范围0～16.5GHz，该频率范围为电延迟T＝30ps条件下本系统的实际频率范围，通过检测光功率的方式实现对待测微波频率0～16.5GHz信号的瞬时测量。
实施例四：
一种基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统如图1所示，包括：连续波激光器1、第一偏振控制器2、双偏振强度调制器3、微波信号源4、电功分器5、电延迟线6、第一稳压源7、第二稳压源8、第二偏振控制器9、偏振分束器10、第一光功率计11、第二光功率计12；
具体连接方式为：
连续波激光器1的输出端与第一偏振控制器2的输入端相连，第一偏振控制器2的输出端与双偏振强度调制器3的光输入端31相连，微波信号源4的输出端与电功分器的输入端51相连，电功分器的输出端Ⅰ52与电延迟线6的输入端相连，电延迟线6的输出端与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅰ32相连，电功分器的输出端Ⅱ53与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅱ33相连，第一稳压源7与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅰ34相连，第二稳压源8与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅱ35相连，双偏振强度调制器的输出端36与第二偏振控制器9的输入端相连，第二偏振控制器9的输出端与偏振分束器的输入端101相连，偏振分束器的输出端Ⅰ102与第一光功率计11的光输入端相连，偏振分束器的输出端Ⅰ103与第二光功率计12的光输入端相连。
所述连续波激光器1用于输出激光；
所述第一偏振控制器2用于将激光进行偏振旋转，使激光的偏振方向与双偏振强度调制器3的偏振主轴呈45度角。
所述微波信号源4用于输出待测微波信号，角频率为ω；
所述电功分器5用于将待测微波信号分为功率相等的两路微波信号，其中一路微波信号输入到电延迟线6，另一路微波信号输入到双偏振强度调制器3；
所述电延迟线6用于在一路微波信号中引入电延迟，延迟量为T，并输入到双偏振强度调制器3；
所述双偏振强度调制器3用于将接收到的两路微波信号搭载在激光的两个正交偏振态上，并分别对激光的两个正交偏振态进行强度调制；
所述第二偏振控制器9用于对双偏振强度调制器的输出端36输出的激光的偏振态进行调节，使其与偏振分束器10的偏振主轴呈45度角。
所述偏振分束器10用于将调制后的光波在两个正交偏振角度上进行分离；
所述第一光功率计11用于检测偏振分束器的输出端Ⅰ102输出的光功率；
所述第二光功率计12用于检测偏振分束器的输出端Ⅱ103输出的光功率。
在上述方案的基础上，所述第一稳压源7和第二稳压源8均用于输出直流电压，使双偏振强度调制器3工作于最小传输点。
在上述方案的基础上，所述第一光功率计11和第二光功率计12检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2)。
上述连接设置后，固定电延迟线6的延迟T＝35ps，由微波信号源4输出待测微波信号，角频率为ω，经电延迟线6后引入与微波频率相关的相移ωT，通过双偏振强度调制器3调制，后经第二偏振控制器9和偏振分束器10，由第一光功率计11和第二光功率计12检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2),利用该数学关系，可以得到光功率与频率之间的具体关系，如图5所示，如图5所示单调关系所对应的频率范围0～14.2GHz，该频率范围为电延迟T＝35ps条件下本系统的实际频率范围，通过检测光功率的方式实现对待测微波频率0～14.2GHz信号的瞬时测量。
本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
Claims (3)
1.一种基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统，其特征在于，包括：连续波激光器(1)、第一偏振控制器(2)、双偏振强度调制器(3)、微波信号源(4)、电功分器(5)、电延迟线(6)、第一稳压源(7)、第二稳压源(8)、第二偏振控制器(9)、偏振分束器(10)、第一光功率计(11)、第二光功率计(12)；
具体连接方式为：
连续波激光器(1)的输出端与第一偏振控制器(2)的输入端相连，第一偏振控制器(2)的输出端与双偏振强度调制器的光输入端(31)相连，微波信号源(4)的输出端与电功分器的输入端(51)相连，电功分器的输出端Ⅰ(52)与电延迟线(6)的输入端相连，电延迟线(6)的输出端与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅰ(32)相连，电功分器的输出端Ⅱ(53)与双偏振强度调制器的射频输入端Ⅱ(33)相连，第一稳压源(7)与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅰ(34)相连，第二稳压源(8)与双偏振强度调制器的偏置输入端Ⅱ(35)相连，双偏振强度调制器的输出端(36)与第二偏振控制器(9)的输入端相连，第二偏振控制器(9)的输出端与偏振分束器的输入端(101)相连，偏振分束器的输出端Ⅰ(102)与第一光功率计(11)的光输入端相连，偏振分束器的输出端Ⅱ(103)与第二光功率计(12)的光输入端相连；
所述连续波激光器(1)用于输出激光；
所述第一偏振控制器(2)用于将激光进行偏振旋转，使激光的偏振方向与双偏振强度调制器(3)的偏振主轴呈45度角；
所述微波信号源(4)用于输出待测微波信号，角频率为ω；
所述电功分器(5)用于将待测微波信号分为功率相等的两路微波信号，其中一路微波信号输入到电延迟线(6)，另一路微波信号输入到双偏振强度调制器(3)；
所述电延迟线(6)用于在一路微波信号中引入电延迟，延迟量为T，并输入到双偏振强度调制器(3)；
所述双偏振强度调制器(3)用于将接收到的两路微波信号搭载在激光的两个正交偏振态上，并分别对激光的两个正交偏振态进行强度调制；
所述第二偏振控制器(9)用于对双偏振强度调制器的输出端(36)输出的激光的偏振态进行调节，使其与偏振分束器(10)的偏振主轴呈45度角；
所述偏振分束器(10)用于将调制后的光波在两个正交偏振角度上进行分离；
所述第一光功率计(11)用于检测偏振分束器的输出端Ⅰ(102)输出的光功率；
所述第二光功率计(12)用于检测偏振分束器的输出端Ⅱ(103)输出的光功率。
2.如权利要求1所述的基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统，其特征在于，所述第一稳压源(7)和第二稳压源(8)均用于输出直流电压，使双偏振强度调制器(3)工作于最小传输点。
3.如权利要求1所述的基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统，其特征在于，所述第一光功率计(11)和第二光功率计(12)检测得到光功率比值为P1:P2＝tan2(ωT/2)。
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| CN201821963438.XU Active CN209375653U (zh) | 2018-11-27 | 2018-11-27 | 基于双偏振强度调制器的光功率检测瞬时频率测量系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN209375653U (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110943777A (zh) * | 2019-12-05 | 2020-03-31 | 中国科学院半导体研究所 | 基于变频技术的频率测量设备 |
| CN111277325A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-06-12 | 北京邮电大学 | 一种基于偏振调制器的测量范围可调的瞬时频率测量方法和系统 |
| CN113541780A (zh) * | 2020-04-16 | 2021-10-22 | 北京交通大学 | 一种基于光功率监控的瞬时频率测量装置 |
-
2018
- 2018-11-27 CN CN201821963438.XU patent/CN209375653U/zh active Active
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110943777A (zh) * | 2019-12-05 | 2020-03-31 | 中国科学院半导体研究所 | 基于变频技术的频率测量设备 |
| CN111277325A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-06-12 | 北京邮电大学 | 一种基于偏振调制器的测量范围可调的瞬时频率测量方法和系统 |
| CN111277325B (zh) * | 2020-01-20 | 2021-05-04 | 北京邮电大学 | 一种基于偏振调制器的测量范围可调的瞬时频率测量方法和系统 |
| CN113541780A (zh) * | 2020-04-16 | 2021-10-22 | 北京交通大学 | 一种基于光功率监控的瞬时频率测量装置 |
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| GR01 | Patent grant | ||
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