CN110908200A - 显示面板 - Google Patents
显示面板 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110908200A CN110908200A CN201911139520.XA CN201911139520A CN110908200A CN 110908200 A CN110908200 A CN 110908200A CN 201911139520 A CN201911139520 A CN 201911139520A CN 110908200 A CN110908200 A CN 110908200A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- line
- display panel
- electrically connected
- switching element
- lines
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000008439 repair process Effects 0.000 claims abstract description 52
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 33
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 32
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 20
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 6
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136259—Repairing; Defects
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
- G02F1/13452—Conductors connecting driver circuitry and terminals of panels
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136259—Repairing; Defects
- G02F1/136263—Line defects
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
本发明公开一种显示面板,其包括基板、像素阵列、芯片、多个第一多工器、多条信号源线路、修复线、第二多工器以及第一传输线。多个第一多工器靠近像素阵列的第一侧,且电连接数据线。多条信号源线路电连接芯片以及第一多工器。修复线具有多个第一接垫。第一多工器位于第一接垫与像素阵列之间。各第一接垫重叠于信号源线路中对应的一条。第二多工器电连接修复线。第一传输线重叠于第二多工器。第一传输线具有位于像素阵列的第二侧的多个第二接垫。各第二接垫重叠于数据线中对应的一条。
Description
技术领域
本发明涉及一种显示面板,且特别是涉及一种具有修复线的显示面板。
背景技术
现有的显示面板通常是以多条扫描线(scan line)与多条数据线(data line)来控制排列成阵列的子像素(sub-pixel),而达成显示图像的目的。各扫描线依序地被导通以开启或关闭对应的开关元件,以使各数据线所传送的信号能够传输进子像素中,从而改变对应的子像素的状态,并达成显示画面的目的。
虽然显示面板的相关技术已趋成熟,但显示面板的组成元件,如像素阵列,在制造过程之中难免会产生一些瑕疵(defect)。例如,像素阵列中的扫描线与数据线因其长度很长,故容易发生断线的情形。当扫描线或数据线发生断线时,会导致一部分的子像素无法动作(线缺陷),故必须设法修补断线。此外,若仅依赖改善制作工艺技术来实现零瑕疵率是非常困难的,因此,显示面板的瑕疵修补技术就变得相当重要。
在现有技术中,显示面板的瑕疵修补通常采用激光熔接(laser welding)及/或激光切割(laser cutting)等方式进行。举例来说,通过将修复线与损坏的数据线熔接,使修复线的信号可以传输给损坏的数据线。然而,修复线所传输的信号容易被寄生电容所影响,导致信号衰减及修复成功率降低等问题。
发明内容
本发明提供一种显示面板,能改善修复线信号衰减及修复成功率降低等问题的问题。
本发明的一实施例提供一种显示面板,包括基板、像素阵列、芯片、多个第一多工器、多条信号源线路、修复线、第二多工器以及第一传输线。像素阵列位于基板上。像素阵列包括多条数据线、多条扫描线以及多个子像素。各数据线的第一端靠近像素阵列的第一侧,且各数据线的第二端靠近像素阵列的第二侧。多个子像素电连接至数据线以及扫描线。芯片位于基板上。多个第一多工器靠近像素阵列的第一侧,且电连接数据线。多条信号源线路电连接芯片以及第一多工器。修复线重叠于信号源线路。修复线具有多个第一接垫,第一多工器位于第一接垫与像素阵列之间,且各第一接垫重叠于信号源线路中对应的一条。第二多工器电连接修复线。第一传输线重叠于第二多工器。第一传输线具有位于像素阵列的第二侧的多个第二接垫。各第二接垫重叠于数据线中对应的一条。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合所附的附图作详细说明如下。
附图说明
图1是本发明的一实施例的一种显示面板的上视示意图;
图2A是图1的显示面板的区域A的局部放大图;
图2B是图1的显示面板的区域A的局部电路图;
图3A是图2A剖线aa’的剖面示意图;
图3B是图2A剖线bb’的剖面示意图;
图4A是图1的显示面板的区域B的局部放大图;
图4B是图1的显示面板的区域B的局部电路图;
图5是图4A剖线cc’的剖面示意图;
图6是图1的显示面板的区域C的局部放大图;
图7是图6剖线dd’的剖面示意图;
图8是本发明的一实施例的一种显示面板的上视示意图;
图9是图8的显示面板的区域A的局部放大图;
图10是图9剖线bb’的剖面示意图;
图11是图8的显示面板的区域B的局部放大图;
图12是图11剖线cc’的剖面示意图;
图13是图8的显示面板的区域C的局部放大图;
图14是图13剖线dd’的剖面示意图;
图15是本发明的一实施例的一种显示面板的上视示意图;
图16A是图15的显示面板的区域C的局部放大图;
图16B是图15的显示面板的区域C的局部电路图;
图17是本发明的一实施例的一种显示面板的上视示意图;
图18是本发明的一实施例的一种显示面板的上视示意图。
符号说明
10、10a、10b、10c、10d:电子装置
100:基板
110:显示区
120:周边区
200:像素阵列
210、2101~2104:数据线
210a:第一导电层
210b:第二导电层
220:扫描线
230:子像素
232:开关元件
234:像素电极
300:芯片
410、4101、4102:第一多工器
412:第一开关元件
412D、414D、422D、424D:漏极
412G、414G、422G、424G:栅极
412S、414S、422S、424S:源极
414:第二开关元件
416:第一控制线
418:第二控制线
420:第二多工器
422:第三开关元件
424:第四开关元件
426:第三控制线
428:第四控制线
510:信号源线路
520:修复线
522:第一接垫
524:第一线段
526:第二线段
530:第一传输线
530a:第二传输线
532:第二接垫
532a:第三接垫
540:导线
600:信号放大器
700:可挠式电路板
800:电路板
900:对向基板
A、B、C:区域
BS:桥接结构
CS:连接线
D:方向
DF:缺陷
H1:第一开口
H2:第二开口
H3:开口
I1:第一绝缘层
I2:第二绝缘层
LB:标记
S1:第一侧
S2:第二侧
S3:第三侧
WH1:第一熔接孔
WH2:第二熔接孔
WH3:第三熔接孔
具体实施方式
在附图中,为了清楚起见,放大了层、膜、面板、区域等的厚度。在整个说明书中,相同或类似的附图标记表示相同或类似的元件。应当理解,当诸如层、膜、区域或基板的元件被称为在另一元件「上」或「连接到」另一元件时,前述元件可以直接在另一元件上或与另一元件连接,或者位于前述元件与另一元件之间的中间元件可以也存在。相反,当元件被称为「直接在另一元件上」或「直接连接到」另一元件时,前述元件与另一元件之间不存在中间元件。如本文所使用的,「连接」可以指物理及/或电连接。再者,「电连接」或「耦合」可为二元件间存在其它元件。
本文使用的「约」、「近似」、或「实质上」包括所述值和在本领域普通技术人员确定的特定值的可接受的偏差范围内的平均值,考虑到所讨论的测量和与测量相关的误差的特定数量(即,测量系统的限制)。例如,「约」可以表示在所述值的一个或多个标准偏差内,或±30%、±20%、±10%、±5%内。再者,本文使用的「约」、「近似」或「实质上」可依光学性质、蚀刻性质或其它性质,来选择可接受的偏差范围或标准偏差。
除非另有定义,本文使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有与本发明所属领域的普通技术人员通常理解的相同的含义。诸如在通常使用的字典中定义的那些术语应当被解释为具有与它们在相关技术和本发明的上下文中的含义一致的含义,并且将不被解释为理想化的或过度正式的意义,除非本文中明确地这样定义。
图1是依照本发明的一实施例的一种显示面板的上视示意图。图2A是图1的显示面板的区域A的局部放大图。图2B是图1的显示面板的区域A的局部电路图。图3A是图2A剖线aa’的剖面示意图。图3B是图2A剖线bb’的剖面示意图。图4A是图1的显示面板的区域B的局部放大图。图4B是图1的显示面板的区域B的局部电路图。图5是图4A剖线cc’的剖面示意图。图6是图1的显示面板的区域C的局部放大图。图7是图6剖线dd’的剖面示意图。
请参考图1,显示面板10包括基板100、像素阵列200、芯片300、多个第一多工器410、第二多工器420、多条信号源线路510、修复线520以及第一传输线530。在本实施例中,显示面板10还包括导线540、信号放大器600、可挠式电路板700、电路板800以及对向基板900。
基板100的材质可为玻璃、石英、有机聚合物、或是不透光/反射材料(例如:导电材料、金属、晶片、陶瓷或其它可适用的材料)或是其它可适用的材料。若使用导电材料或金属时,则在基板100上覆盖一层绝缘层(未绘示),以避免短路问题。
基板100包括显示区110以及位于显示区110外侧的周边区120。
像素阵列200位于基板100上。像素阵列200包括多条数据线210、多条扫描线220以及多个子像素230。各数据线210的第一端212靠近像素阵列200的第一侧S1,且各数据线210的第二端214靠近像素阵列200的第二侧S2。多个子像素230位于显示区110上。多条数据线210以及多条扫描线220部分位于显示区110上,且多条数据线210以及多条扫描线220部分位于周边区120。
多个子像素230电连接至多条数据线210以及多条扫描线220。在本实施例中,各个子像素230包括开关元件232以及像素电极234。开关元件232与对应的一条扫描线220、对应的一条数据线210以及对应的一个像素电极234电连接。在本实施例中,开关元件232为底部栅极型开关元件,但本发明不以此为限。在其他实施例中,开关元件232为顶部栅极型开关元件或其他类型的开关元件。
芯片300位于基板100上。在本实施例中,芯片300位于基板100的周边区120上。芯片300中例如包括源极驱动电路以及其他电路,且芯片300电连接至数据线210。在一些实施例中,显示面板10包括栅极驱动电路(未绘出),栅极驱动电路可以位于芯片300中,也可以位于基板100上的其他位置。栅极驱动电路电连接至扫描线220。芯片300的数量可以依照实际需求而进行调整。
请同时参考图1、图2A以及图2B,多个第一多工器410位于基板100上。在本实施例中,第一多工器410位于基板100的周边区120上。
多个第一多工器410靠近像素阵列200的第一侧S1,且电连接数据线210。多条信号源线路510电连接芯片300以及第一多工器410。
在本实施例中,各第一多工器410包括第一开关元件412以及第二开关元件414。第一开关元件412的漏极412D以及第二开关元件414的漏极414D电连接至信号源线路510中对应的一条。第一开关元件412的源极412S以及第二开关元件414的源极414S分别电连接至数据线210中不同的两条。
请参考图1、图2A、图2B与图3A,在本实施例中,多条数据线210包括依序排列的数据线2101、数据线2102、数据线2103以及数据线2104。数据线210的数量可以依照实际需求而进行调整。
多个第一多工器410包括依序排列的第一多工器4101以及第一多工器4102。第一多工器4101电连接至数据线2101以及数据线2103。第一多工器4102电连接至数据线2102以及数据线2104。藉此,可以改善显示面板10画面纹路的问题,并可使显示面板10更省电。
请参考图2A以及图3A,在本实施例中,显示面板10还包括第一绝缘层I1以及第二绝缘层I2。第一绝缘层I1位于基板100上。第二绝缘层I2位于第一绝缘层I1上。
第一多工器4101通过连接线CS以及桥接结构BS电连接数据线2103。连接线CS连接第一多工器4101,且通过第一开口H1电连接至桥接结构BS。桥接结构BS跨越数据线2102。数据线2103通过第二开口H2电连接至桥接结构BS。第一开口H1以及第二开口H2贯穿第二绝缘层I2。在其他实施例中,数据线2102与数据线2103的位置互换,且第一多工器4101不需要通过连接线CS以及桥接结构BS电连接数据线2103电连接数据线2103。换句话说,本发明并未限制显示面板10包括连接线CS以及桥接结构BS。
请参考图2A以及图2B,在本实施例中,显示面板10还包括第一控制线416以及第二控制线418。第一控制线416电连接至第一开关元件412的栅极412G。第二控制线418电连接至第二开关元件414的栅极414G。
虽然在本实施例中,第一多工器410包括两个开关元件为例,但本发明不以此为限。在其他实施例中,第一多工器410包括三个以上的开关元件,且各第一多工器410电连接至三条数据线210。
请参考图1、图2A、图2B以及图3B,修复线520重叠于信号源线路510。修复线520具有多个第一接垫522。第一多工器410位于第一接垫522与像素阵列200之间。
各第一接垫522于垂直基板100的方向D上重叠于信号源线路510中对应的一条。第二绝缘层I2位于修复线520的第一接垫522与信号源线路510之间。由于第一接垫522是重叠于信号源线路510而非重叠于数据线210,且信号源线路510的数量少于数据线210的数量,因此,修复线520上的寄生电容可以减少,且信号不会先被第一多工器410减弱后才传至修复线520,因此,能改善修复线520信号衰减及显示面板10修复成功率降低等问题。
在本实施例中,修复线520包括第一线段524以及第二线段526。部分第一接垫522位于第一线段524上,且重叠于部分信号源线路510。另一部分第一接垫522位于第二线段526上,且重叠于另一部分信号源线路510,藉此,进一步降低修复线520上的寄生电容,并改善修复线520信号衰减及显示面板10修复成功率降低等问题。
在本实施例中,第一接垫522的宽度小于第一线段524以及第二线段526的宽度,但本发明不以此为限。需注意的是,图1与图3中的第一接垫522的大小仅是用于示意。为了方便说明,图1与图3中的第一接垫522的尺寸被额外放大。
请同时参考图1、图4A、图4B以及图5,第二多工器420电连接修复线520。在本实施例中,信号放大器600电连接修复线520。导线540电连接信号放大器600与第二多工器420。换句话说,修复线520上的信号被信号放大器600加强后,经由导线540传递给第二多工器420。在本实施例中,信号放大器600位于芯片300上。
第二多工器420包括第三开关元件422以及第四开关元件424。第三开关元件422的漏极422D以及第四开关元件424的漏极424D电连接至修复线520。在本实施例中,第三开关元件422的漏极422D以及第四开关元件424的漏极424D通过导线540以及信号放大器600电连接修复线520。
在本实施例中,显示面板10还包括第三控制线426以及第四控制线428。第三控制线426电连接至第三开关元件422的栅极422G。第四控制线428电连接至第四开关元件424的栅极424G。在本实施例中,第三控制线426以及第四控制线428分别控制的信号时序与第一控制线416以及第二控制线418同。换句话说,第三控制线426与第一控制线416电性相连,且两者传递同样的信号;第四控制线428与第二控制线418电性相连,且两者传递同样的信号。
第一传输线530于垂直基板100的方向D上重叠于第二多工器420。在本实施例中,第一传输线530重叠于第三开关元件422的源极422S以及第四开关元件424的源极424S。在本实施例中,第一传输线530与源极422S之间以及第一传输线530与源极424S之间夹有第二绝缘层I2。第一传输线530自像素阵列200的第三侧S3绕过像素阵列200,其中像素阵列200的第三侧S3位于像素阵列200的第一侧S1与第二侧S2之间。
请参考图1、图6以及图7,第一传输线530具有位于像素阵列200的第二侧S2的多个第二接垫532。各第二接垫532重叠于数据线210(包括图6中的数据线2101至2104)中对应的一条。在本实施例中,各数据线210(包括图6中的数据线2101至2104)分别包括第一导电层210a以及第二导电层210b。在本实施例中,第一导电层210a位于第一绝缘层I1与第二绝缘层I2之间,且第二导电层210b位于第二绝缘层I2上。第二导电层210b通过开口H3而电连接至第一导电层210a,开口H3例如位于第二绝缘层I2中。各第二接垫532于垂直基板100的方向D上重叠于数据线210的第一导电层210a,且第二接垫532与第一导电层210a之间夹有第二绝缘层I2。
在本实施例中,多个标记LB位于数据线210旁边,标记LB可以为数字。设置标记LB能使损坏的数据线210的位置更容易被辨别。
请参考图1,可挠式电路板700以及电路板800位于基板100上。对向基板900位于基板100上,且覆盖像素阵列200。在一些实施例中,显示面板10为液晶显示面板,且对向基板900与基板100之间夹有液晶材料。在一些实施例中,对向基板900包括滤光元件。
图8是依照本发明的一实施例的一种显示面板的上视示意图。图9是图8的显示面板的区域A的局部放大图。图10是图9剖线bb’的剖面示意图。图11是图8的显示面板的区域B的局部放大图。图12是图11剖线cc’的剖面示意图。图13是图8的显示面板的区域C的局部放大图。图14是图13剖线dd’的剖面示意图。
图8的显示面板10a与图1的显示面板10的主要差异在于:显示面板10a的其中一条数据线210具有缺陷DF。
在本实施例中,通过熔接制作工艺来修复具有缺陷DF的数据线210。在本实施例中,以数据线2103具有缺陷DF为例。
请参考图8、图9以及图10,第一接垫522的其中一者与信号源线路510中对应的一条熔接。在本实施例中,与第一接垫522熔接的信号源线路510对应于具有缺陷DF的数据线2103,使提供给数据线2103的信号可以传递至修复线520。
在本实施例中,通过激光熔接第一接垫522与信号源线路510,使第二绝缘层I2中形成有第一熔接孔WH1。
请参考图8、图11以及图12,第二多工器420中,第三开关元件422的源极422S与第一传输线530熔接,使第二绝缘层I2中形成有第二熔接孔WH2,且第四开关元件424的源极424S断路。换句话说,修复线520上的信号在经由信号放大器600放大后传至导线540,而导线540上的信号通过第三开关元件422来控制是否传递给第一传输线530。也可以说,第三开关元件422控制了第一传输线530上的信号的时序。
在其他实施例中,第四开关元件424的源极424S与第一传输线530熔接,且第三开关元件422的源极422S断路。
在本实施例中,由于第二多工器420通过一条第一传输线530输出信号,相较于第三开关元件的源极以及第四开关元件的源极分别通过不同的传输线输出信号,本实施例可以减少传输线所占据的显示面板10a的周边区120面积。因此,本实施例的显示面板10a可以有更大的空间以设置其他电路(例如栅极驱动电路)。
请参考图8、图13以及图14,第二接垫532的其中一者与数据线210中对应的一条熔接,使第二绝缘层I2中形成有第三熔接孔WH3。在本实施例中,与第二接垫532熔接的数据线210为具有缺陷DF的数据线2103,使信号源线路510的信号可以提供给数据线2103。
基于上述,即使数据线2103于缺陷DF处断线,位于缺陷DF处后面的数据线2103仍然能传输信号,使位于缺陷DF处后面的子像素230能够运作。此外,由于第一接垫522是重叠于信号源线路510而非重叠于数据线210,修复线520上的寄生电容可以减少,且信号不会先被第一多工器410减弱后才传至修复线520,因此,能改善修复后的数据线2103的信号衰弱的问题及修复成功率低的问题。
在其他实施例中,数据线2103短路,通过激光切割制作工艺使数据线2103短路的部分断路,接着再修复数据线2103。
图15是依照本发明的一实施例的一种显示面板的上视示意图。图16A是图15的显示面板的区域C的局部放大图。图16B是图15的显示面板的区域C的局部电路图。
图15的显示面板10b与图9的显示面板10a类似,因此显示面板10b与显示面板10a相同的部分于此不再说明。显示面板10b与显示面板10a的主要差异在于:显示面板10b还包括第二传输线530a。
在本实施例中,第二多工器420设置于像素阵列200的第二侧S2。导线540自像素阵列200的第三侧S3绕过像素阵列200。
第一传输线530与第二传输线530a重叠于第二多工器420。第三开关元件422的源极422S与第一传输线530电连接。第四开关元件424的源极424S与第二传输线530a电连接。
第一传输线530具有位于像素阵列200的第二侧S2的多个第二接垫532,且各第二接垫532重叠于数据线210中对应的一条。第二传输线530a具有位于像素阵列200的第二侧S2的多个第三接垫532a,且各第三接垫532a重叠于数据线210中对应的一条。
在本实施例中,数据线2103具有缺陷DF。熔接第二接垫532或第二接垫532a与具有缺陷DF的数据线2103,使信号源线路510的信号可以提供给数据线2103。在本实施例中,熔接第二接垫532与数据线2103,使第二绝缘层I2中形成有第三熔接孔WH3。
虽然在本实施例中,以熔接第二接垫532与数据线2103为例,但本发明不以此为限。在其他实施例中,其他数据线具有缺陷,例如数据线2102具有缺陷,因此,熔接第三接垫532a与数据线2102以修复数据线2102。
基于上述,即使数据线2103于缺陷DF处断线,位于缺陷DF处后面的数据线2103仍然能传输信号,使位于缺陷DF处后面的子像素230能够运作。此外,由于第一接垫522是重叠于信号源线路510而非重叠于数据线210,修复线520上的寄生电容可以减少,且信号不会先被第一多工器410减弱后才传至修复线520,因此,能改善修复后的数据线2103的信号衰弱的问题及修复成功率降低的问题。
图17是依照本发明的一实施例的一种显示面板的上视示意图。
图17的显示面板10c与图15的显示面板10b类似,因此显示面板10c与显示面板10b相同的部分于此不再说明。显示面板10c与显示面板10b的主要差异在于:显示面板10c的部分修复线520以及部分导线540经过可挠式电路板700以及电路板800。
请参考图17,在本实施例中,部分修复线520以及部分导线540位于可挠式电路板700以及电路板800中。举例来说,部分第二线段526以及部分导线540位于可挠式电路板700以及电路板800中。
在本实施例中,通过可挠式电路板700以及电路板800设置,可减少修复线520以及导线540跨越其他电路时所产生的电容。
图18是依照本发明的一实施例的一种显示面板的上视示意图。
图18的显示面板10d与图17的显示面板10c类似,因此显示面板10d与显示面板10c相同的部分于此不再说明。显示面板10d与显示面板10c的主要差异在于:显示面板10d的信号放大器600位于可挠式电路板700上。
综上所述,由于修复线的第一接垫是重叠于信号源线路而非重叠于数据线,修复线上的寄生电容可以减少,且信号不会先被第一多工器减弱后才传至修复线,因此,能改善修复后的数据线的信号衰弱的问题及修复成功率低的问题。
虽然结合以上实施例公开了本发明,然而其并非用以限定本发明,任何所属技术领域中具有通常知识者,在不脱离本发明的精神和范围内,可作些许的更动与润饰,故本发明的保护范围应当以附上的权利要求所界定的为准。
Claims (13)
1.一种显示面板,其特征在于,包括:
基板;
像素阵列,位于该基板上,且该像素阵列包括:
多条数据线以及多条扫描线,其中各该数据线的第一端靠近该像素阵列的第一侧,且各该数据线的第二端靠近该像素阵列的第二侧;以及
多个子像素,电连接至该些数据线以及该些扫描线;
芯片,位于该基板上;
多个第一多工器,靠近该像素阵列的第一侧,且电连接该些数据线;
多条信号源线路,电连接该芯片以及该些第一多工器;
修复线,重叠于该些信号源线路,其中该修复线具有多个第一接垫,该些第一多工器位于该些第一接垫与该像素阵列之间,且各该第一接垫重叠于该些信号源线路中对应的一条;以及
第二多工器,电连接该修复线;以及
第一传输线,重叠于该第二多工器,且该第一传输线具有位于该像素阵列的第二侧的多个第二接垫,且各该第二接垫重叠于该些数据线中对应的一条。
2.如权利要求1所述的显示面板,其中各该第一多工器包括:
第一开关元件;以及
第二开关元件,其中该第一开关元件的漏极以及该第二开关元件的漏极电连接至该些信号源线路中对应的一条,且该第一开关元件的源极以及该第二开关元件的源极分别电连接至该些数据线中不同的两条。
3.如权利要求2所述的显示面板,还包括:
第一控制线,电连接至该些第一开关元件的栅极;以及
第二控制线,电连接至该些第二开关元件的栅极。
4.如权利要求1所述的显示面板,其中该第二多工器包括:
第三开关元件;以及
第四开关元件,其中该第三开关元件的漏极以及该第四开关元件的漏极电连接至该修复线。
5.如权利要求4所述的显示面板,还包括:
第三控制线,电连接至该第三开关元件的栅极;以及
第四控制线,电连接至该第四开关元件的栅极。
6.如权利要求5所述的显示面板,其中该第三开关元件的源极与该第一传输线熔接,且该第四开关元件的源极断路。
7.如权利要求5所述的显示面板,还包括:
第二传输线,电连接该第四开关元件的源极,其中该第二传输线具有位于该第二侧的多个第三接垫,且各该第三接垫重叠于该些数据线中对应的一条。
8.如权利要求4所述的显示面板,还包括:
信号放大器,电连接该修复线;以及
导线,电连接该信号放大器与该第二多工器。
9.如权利要求8所述的显示面板,其中该信号放大器位于该芯片上。
10.如权利要求8所述的显示面板,还包括:
可挠式电路板,位于该基板上,其中该信号放大器位于该可挠式电路板上。
11.如权利要求1所述的显示面板,其中该修复线包括:
第一线段,部分该些第一接垫位于该第一线段上,且重叠于一部分该些信号源线路;以及
第二线段,另一部分该些第一接垫位于该第一线段上,且重叠于另一部分该些信号源线路。
12.如权利要求1所述的显示面板,其中该些第一接垫的其中一者与该些信号源线路中对应的一条熔接。
13.如权利要求1所述的显示面板,其中该些第二接垫的其中一者与该些数据线中对应的一条熔接。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW108120839 | 2019-06-17 | ||
TW108120839A TWI703540B (zh) | 2019-06-17 | 2019-06-17 | 顯示面板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110908200A true CN110908200A (zh) | 2020-03-24 |
CN110908200B CN110908200B (zh) | 2022-06-21 |
Family
ID=69817872
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201911139520.XA Active CN110908200B (zh) | 2019-06-17 | 2019-11-20 | 显示面板 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110908200B (zh) |
TW (1) | TWI703540B (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20220115280A1 (en) * | 2020-05-12 | 2022-04-14 | Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Display panel and display apparatus |
TWI762324B (zh) * | 2020-11-10 | 2022-04-21 | 友達光電股份有限公司 | 顯示裝置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1916700A (zh) * | 2005-08-17 | 2007-02-21 | 三星电子株式会社 | 液晶显示装置及其测试和修复方法 |
CN101587247A (zh) * | 2008-05-23 | 2009-11-25 | 上海广电Nec液晶显示器有限公司 | 液晶显示装置及其修复方法 |
CN102789077A (zh) * | 2012-08-01 | 2012-11-21 | 京东方科技集团股份有限公司 | 液晶显示装置及其修复方法 |
CN105469752A (zh) * | 2014-09-29 | 2016-04-06 | 群创光电股份有限公司 | 显示装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6697037B1 (en) * | 1996-04-29 | 2004-02-24 | International Business Machines Corporation | TFT LCD active data line repair |
US6816143B1 (en) * | 1999-11-23 | 2004-11-09 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Self diagnostic and repair in matrix display panel |
KR102047005B1 (ko) * | 2013-05-31 | 2019-11-21 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 패널 |
KR102412456B1 (ko) * | 2015-08-26 | 2022-06-27 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치 |
-
2019
- 2019-06-17 TW TW108120839A patent/TWI703540B/zh active
- 2019-11-20 CN CN201911139520.XA patent/CN110908200B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1916700A (zh) * | 2005-08-17 | 2007-02-21 | 三星电子株式会社 | 液晶显示装置及其测试和修复方法 |
CN101587247A (zh) * | 2008-05-23 | 2009-11-25 | 上海广电Nec液晶显示器有限公司 | 液晶显示装置及其修复方法 |
CN102789077A (zh) * | 2012-08-01 | 2012-11-21 | 京东方科技集团股份有限公司 | 液晶显示装置及其修复方法 |
CN105469752A (zh) * | 2014-09-29 | 2016-04-06 | 群创光电股份有限公司 | 显示装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20220115280A1 (en) * | 2020-05-12 | 2022-04-14 | Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Display panel and display apparatus |
US11728228B2 (en) * | 2020-05-12 | 2023-08-15 | Chengdu Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Display panel and display apparatus |
TWI762324B (zh) * | 2020-11-10 | 2022-04-21 | 友達光電股份有限公司 | 顯示裝置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202101405A (zh) | 2021-01-01 |
CN110908200B (zh) | 2022-06-21 |
TWI703540B (zh) | 2020-09-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8023059B2 (en) | Array substrate of liquid crystal display, method of repairing same, and liquid crystal display | |
US6657231B2 (en) | Thin film transistor array panel | |
KR100260611B1 (ko) | 배선을 수리하기 위한 평판 표시 장치용 기판 | |
KR100374435B1 (ko) | 액정 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
US8083561B1 (en) | Liquid crystal display panel and method for repairing signal line thereof | |
US7649580B2 (en) | Liquid crystal display panel and repairing method thereof | |
US8189132B2 (en) | Liquid crystal display and substrate thereof | |
KR100230666B1 (ko) | 액정 디스플레이 장치(Liquid crystal display apparatus) | |
US7978278B2 (en) | Display apparatus and repair method thereof | |
WO2013011855A1 (ja) | アクティブマトリクス型表示装置 | |
KR20000062512A (ko) | 리페어 가능한 액정표시장치 및 그 제조방법 | |
JPH0933874A (ja) | 液晶表示装置およびその製造方法 | |
JPH0439055B2 (zh) | ||
CN110908200B (zh) | 显示面板 | |
JPH08320466A (ja) | アクティブマトリクス基板及びその欠陥修正方法 | |
JP2007192968A (ja) | 液晶表示装置 | |
KR20010019210A (ko) | 리페어 기능을 갖는 액정표시소자 | |
US7990486B2 (en) | Liquid crystal display panel with line defect repairing mechanism and repairing method thereof | |
KR20040074931A (ko) | 표시 장치용 전극 기판 | |
KR100477131B1 (ko) | 액정 표시 장치의 화소 수리 방법 | |
KR100293503B1 (ko) | 박막트랜지스터형 액정 디스플레이소자 및 그 장치의 리페어방법 | |
JPH04283725A (ja) | 薄膜トランジスタマトリクス及びその断線修復方法 | |
KR100529562B1 (ko) | 다수개의 수리 선을 갖는 액정 표시 장치 | |
KR100975801B1 (ko) | 액정표시장치 | |
KR20010064400A (ko) | 데이터 라인 오픈 리페어용 수단이 구비된 박막트랜지스터 액정표시장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |