CN110907789A - 器件测试方法、装置及电子设备 - Google Patents

器件测试方法、装置及电子设备 Download PDF

Info

Publication number
CN110907789A
CN110907789A CN201911167152.XA CN201911167152A CN110907789A CN 110907789 A CN110907789 A CN 110907789A CN 201911167152 A CN201911167152 A CN 201911167152A CN 110907789 A CN110907789 A CN 110907789A
Authority
CN
China
Prior art keywords
current
led
result
current range
led assembly
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201911167152.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN110907789B (zh
Inventor
王非非
徐振宾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Goertek Optical Technology Co Ltd
Original Assignee
Goertek Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Goertek Inc filed Critical Goertek Inc
Priority to CN201911167152.XA priority Critical patent/CN110907789B/zh
Publication of CN110907789A publication Critical patent/CN110907789A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110907789B publication Critical patent/CN110907789B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2637—Circuits therefor for testing other individual devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/16571—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 comparing AC or DC current with one threshold, e.g. load current, over-current, surge current or fault current
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497—Means for monitoring or calibrating

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明涉及器件测试方法、装置及电子设备。该方法包括：将所述测试电路通电，根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果。

Description

器件测试方法、装置及电子设备
技术领域
本发明涉及器件测试技术领域，更具体地，涉及一种器件测试方法、一种器件测试装置、一种电子设备以及一种电路装置。
背景技术
在器件生产过程中，通常需要对器件的性能进行测试，以确定其是否满足要求。
在性能测试时，可以通过电流表测试器件的电流，根据电流大小确定器件是否合格。但是电流表价格较高，当待测器件数量很多时，为了提高工作效率，需要较多数量的电流表，因此成本较高。
因此，有必要提出一种新的器件性能测试的方案。
发明内容
本发明实施例的一个目的是提供一种器件性能测试的新的技术方案。
根据本发明的第一方面，提供了一种器件测试方法，所述器件与LED组件串联接入测试电路，所述LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成，所述方法包括：
将所述测试电路通电，根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果。
可选地，所述多个LED具有不同的发光颜色；
根据所述LED组件中发光LED的电流规格，获得所述器件的测试结果，包括：
根据所述LED组件中发光LED的发光颜色，获得所述发光LED的电流规格；
根据所述电流规格，获得所述测试结果。
可选地，所述电流规格包括对应于器件正常电流范围的第一规格、低于所述正常电流范围的第二规格和高于所述正常电流范围的第三规格；
所述测试结果包括所述器件电流处于正常电流范围的第一结果、所述器件电流低于所述正常电流范围的第二结果和所述器件电流高于所述正常电流范围的第三结果。
可选地，所述LED组件为RGB三原色LED彩灯。
可选地，所述器件为TOF模组器件。
根据本发明的第二方面，还提供了一种器件测试装置，所述器件与LED组件串联接入测试电路，所述LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成，所述装置包括：
电路控制模块，用于将所述测试电路通电；
结果获取模块，用于根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果。
可选地，所述多个LED具有不同的发光颜色；
根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果，包括：
根据所述LED组件中发光LED的发光颜色，获得所述发光的LED的电流规格；
根据所述电流规格，获得所述测试结果。
可选地，所述电流规格包括对应于器件正常电流范围的第一规格、低于所述正常电流范围的第二规格和高于所述正常电流范围的第三规格；
所述测试结果包括所述器件电流处于正常电流范围的第一结果、所述器件电流低于所述正常电流范围的第二结果和所述器件电流高于所述正常电流范围的第三结果。
根据本发明的第三方面，还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器；
所述存储器用于存储可执行命令；
所述处理器用于在所述可执行命令的控制下，执行如本发明第一方面描述的方法。
根据本发明的第四方面，还提供了一种电路装置，包括串联连接的器件和LED组件，所述LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成，所述电路装置用于实现本发明第一方面描述的方法。
本发明实施例中的器件测试方法，无需借助电流表便能完成测试，降低了测试所需的硬件成本。
通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。
图1是可用于实现本发明实施例的电子设备的示意图。
图2是本发明实施例提供的器件测试方法的流程图。
图3是本发明实施例提供的测试电路的示意图。
图4是本发明实施例提供的LED组件的结构示意图。
图5是本发明实施例提供的仪器测试装置的示意图。
图6是本发明实施例提供的电子设备的示意图。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人物已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
<硬件配置>
图1是可用于实现本发明实施例的电子设备的示意图。
参见图1，电子设备1000可以包括处理器1100、存储器1200、接口装置1300、通信装置1400、显示装置1500、输入装置1600、扬声器1700、麦克风1800，等等。其中，处理器1100可以是中央处理器CPU、微处理器MCU等。存储器1200例如包括ROM(只读存储器)、RAM(随机存取存储器)、诸如硬盘的非易失性存储器等。接口装置1300例如包括USB接口、耳机接口等。通信装置1400例如能够进行有线或无线通信。显示装置1500例如是液晶显示屏、触摸显示屏等。输入装置1600例如可以包括触摸屏、键盘等。用户可以通过扬声器1700和麦克风1800输入/输出语音信息。
尽管在图1中对电子设备1000示出了多个装置，但是，本发明可以仅涉及其中的部分装置，例如，电子设备1000只涉及存储器1200和处理器1100。
应用于本发明的实施例中，电子设备1000的存储器1200用于存储指令，指令用于控制处理器1100执行本发明实施例提供的器件测试方法。
在上述描述中，技术人员可以根据本发明所公开方案设计指令。指令如何控制处理器进行操作，这是本领域公知，故在此不再详细描述。
图1所示的电子设备1000仅是解释性的，并且决不是为了要限制本发明、其应用或用途。
<方法实施例>
本实施例提供了一种器件测试方法，该方法的实施主体例如是图1中的电子设备1000。
本实施例中，器件与LED组件串联接入测试电路，LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成。
本实施例中，待进行测试的器件例如是TOF(Time of flight，飞行时间测距)模组器件。TOF是飞行时间(Time of Flight)技术的缩写，即传感器发出经调制的近红外光，遇物体后反射，传感器通过计算光线发射和反射时间差或相位差，来换算被拍摄景物的距离，以产生深度信息，此外再结合传统的相机拍摄，就能将物体的三维轮廓以不同颜色代表不同距离的地形图方式呈现出来。
本实施例中，LED(Light Emitting Diode，发光二极管)组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成。LED是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件，它可以直接把电转化为光。
本实施例中，多个LED具有不同电流规格，即多个LED具有不同的工作电流范围。
在一个实施例中，电流规格包括对应于器件正常电流范围的第一规格、低于正常电流范围的第二规格和高于正常电流范围的第三规格。例如，假设器件正常工作的电流范围为区间[C1,C2]，第一规格对应于器件正常电流范围，即为[C1,C2]。第二规格低于正常电流范围，例如为[C0,C1)。第二规格高于正常电流范围，例如为(C2,C3]。
本实施例中，LED组件与待测的器件串联接入电路。容易理解，由于LED组件与待测的器件串联，因此二者的电流大小相同。
本实施例中，多个LED并联形成LED组件。容易理解，由于多个LED的电流规格不同，不同大小的电流会引起不同的LED发光。根据发光LED的电流规格，便可获得当前电流的大小范围。
在一个实施例中，多个LED具有不同的发光颜色，例如多个LED的发光颜色分别为红色、绿色、蓝色。在一个例子中，LED组件的结构如图4所示，发光颜色分别为红色、绿色、蓝色的LED以共阳极方式连接，形成LED组件。要点亮某一个发光二极管只需要给相应的引脚低电平即可。
在一个实施例中，待测的组件为RGB三原色LED彩灯。RGB三原色LED彩灯由红色、绿色和蓝色三个独立的灯珠构成，常见的有四个引脚，一个公共端和三个颜色控制端。三个颜色任意组合可以产生其他颜色，如红色和绿色同时亮，蓝色不亮则是黄色；绿色和蓝色同时亮，红色不亮则是青色；红色和蓝色同时亮，绿色不亮则是品红色；三色都亮则产生白色。
在一个例子中，测试电路如图3所示，包括电源、开关、待测器件以及LED组件，其中器件和LED组件为串联方式连接。
如图2所示，该方法包括以下步骤S2100-S2200：
步骤S2100，将测试电路通电。
例如，电子设备100控制开关闭合，以使测试电路通电。
步骤S2200，根据LED组件中发光LED的电流规格，获得器件的测试结果。
可以通过LED的特定标识判断LED的电流规格。该特定标识例如是预设的编码、编号，又例如是LED的发光颜色、发光亮度等。
在多个LED具有不同的发光颜色的情况下，步骤S2200进一步包括以下步骤：根据LED组件中发光LED的发光颜色，获得发光LED的电流规格；根据电流规格，获得测试结果。
测试结果例如包括器件合格和器件不合格。
在电流规格包括对应于器件正常电流范围的第一规格、低于正常电流范围的第二规格和高于正常电流范围的第三规格的情况下，测试结果包括器件电流处于正常电流范围的第一结果、器件电流低于正常电流范围的第二结果和器件电流高于正常电流范围的第三结果。
例如，当发光的LED为第一规格时，可判断器件电流处于正常电流范围。当发光的LED为第二规格时，可判断器件电流低于正常电流范围。当发光的LED为第三规格时，可判断器件电流高于正常电流范围。如此，有利于精确判断不合格器件的故障类型。
本实施例中的器件测试方法，无需借助电流表便能完成测试，降低了测试所需的硬件成本。
在一个具体例子中，测试电路如图3所示，其中LED组件为RGB三原色LED彩灯。该LED组件的具体结构如图4所示，由发光颜色分别为红色、绿色、蓝色的LED并联形成。蓝色LED的电流规格低于器件的正常电流范围，绿色LED的电流规格与器件的正常电流范围相同，红色LED的电流规格高于器件的正常电流范围。在测试时，将测试电路通电并检测发光结果，如果发光颜色为蓝色，说明器件的电流低于正常电流范围；如果发光颜色为绿色，说明器件的电流位于正常电流范围内。如果发光颜色为红色，说明器件的电流高于正常电流范围。
<器件测试装置实施例>
本实施例提供一种器件测试装置，器件与LED组件串联接入测试电路，LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成。该装置例如是图5所示的器件测试装置500，包括电路控制模块510和结果获取模块520。
电路控制模块510用于将测试电路通电；
结果获取模块520用于根据LED组件中发光的LED的电流规格，获得器件的测试结果。
在一个实施例中，多个LED具有不同的发光颜色；根据LED组件中发光的LED的电流规格，获得器件的测试结果，包括：根据LED组件中发光LED的发光颜色，获得发光的LED的电流规格；根据电流规格，获得测试结果。
在一个实施例中，电流规格包括对应于器件正常电流范围的第一规格、低于正常电流范围的第二规格和高于正常电流范围的第三规格；测试结果包括器件电流处于正常电流范围的第一结果、器件电流低于正常电流范围的第二结果和器件电流高于正常电流范围的第三结果。
在一个实施例中，LED组件为RGB三原色LED彩灯。
在一个实施例中，器件为TOF模组器件。
<电子设备实施例>
本实施例提供一种电子设备，该电子设备为图6所示的电子设备600，包括存储器610和处理器620。
存储器610用于存储可执行命令。
处理器620用于在存储器610存储的执行命令的控制下，执行本发明方法实施例中描述的方法。
<电路装置实施例>
本实施例提供一种电路装置，包括串联连接的器件和LED组件，LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成，该电路装置用于实现本发明方法实施例描述的方法
本发明可以是系统、方法和/或计算机程序产品。计算机程序产品可以包括计算机可读存储介质，其上载有用于使处理器实现本发明的各个方面的计算机可读程序指令。
计算机可读存储介质可以是可以保持和存储由指令执行设备使用的指令的有形设备。计算机可读存储介质例如可以是――但不限于――电存储设备、磁存储设备、光存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述的任意合适的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、静态随机存取存储器(SRAM)、便携式压缩盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能盘(DVD)、记忆棒、软盘、机械编码设备、例如其上存储有指令的打孔卡或凹槽内凸起结构、以及上述的任意合适的组合。这里所使用的计算机可读存储介质不被解释为瞬时信号本身，诸如无线电波或者其他自由传播的电磁波、通过波导或其他传输媒介传播的电磁波(例如，通过光纤电缆的光脉冲)、或者通过电线传输的电信号。
这里所描述的计算机可读程序指令可以从计算机可读存储介质下载到各个计算/处理设备，或者通过网络、例如因特网、局域网、广域网和/或无线网下载到外部计算机或外部存储设备。网络可以包括铜传输电缆、光纤传输、无线传输、路由器、防火墙、交换机、网关计算机和/或边缘服务器。每个计算/处理设备中的网络适配卡或者网络接口从网络接收计算机可读程序指令，并转发该计算机可读程序指令，以供存储在各个计算/处理设备中的计算机可读存储介质中。
用于执行本发明操作的计算机程序指令可以是汇编指令、指令集架构(ISA)指令、机器指令、机器相关指令、微代码、固件指令、状态设置数据、或者以一种或多种编程语言的任意组合编写的源代码或目标代码，编程语言包括面向对象的编程语言—诸如Smalltalk、C++等，以及常规的过程式编程语言—诸如“C”语言或类似的编程语言。计算机可读程序指令可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络—包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。在一些实施例中，通过利用计算机可读程序指令的状态信息来个性化定制电子电路，例如可编程逻辑电路、现场可编程门阵列(FPGA)或可编程逻辑阵列(PLA)，该电子电路可以执行计算机可读程序指令，从而实现本发明的各个方面。
这里参照根据本发明实施例的方法、装置(系统)和计算机程序产品的流程图和/或框图描述了本发明的各个方面。应当理解，流程图和/或框图的每个方框以及流程图和/或框图中各方框的组合，都可以由计算机可读程序指令实现。
这些计算机可读程序指令可以提供给通用计算机、专用计算机或其它可编程数据处理装置的处理器，从而生产出一种机器，使得这些指令在通过计算机或其它可编程数据处理装置的处理器执行时，产生了实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的装置。也可以把这些计算机可读程序指令存储在计算机可读存储介质中，这些指令使得计算机、可编程数据处理装置和/或其他设备以特定方式工作，从而，存储有指令的计算机可读介质则包括一个制造品，其包括实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的各个方面的指令。
也可以把计算机可读程序指令加载到计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上，使得在计算机、其它可编程数据处理装置或其它设备上执行一系列操作步骤，以产生计算机实现的过程，从而使得在计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上执行的指令实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作。
附图中的流程图和框图显示了根据本发明的多个实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或指令的一部分，模块、程序段或指令的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。对于本领域技术人物来说公知的是，通过硬件方式实现、通过软件方式实现以及通过软件和硬件结合的方式实现都是等价的。
以上已经描述了本发明的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人物来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择，旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术改进，或者使本技术领域的其它普通技术人物能理解本文披露的各实施例。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种器件测试方法，所述器件与LED组件串联接入测试电路，所述LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成，所述方法包括：
将所述测试电路通电，根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个LED具有不同的发光颜色；
根据所述LED组件中发光LED的电流规格，获得所述器件的测试结果，包括：
根据所述LED组件中发光LED的发光颜色，获得所述发光LED的电流规格；
根据所述电流规格，获得所述测试结果。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述电流规格包括对应于器件正常电流范围的第一规格、低于所述正常电流范围的第二规格和高于所述正常电流范围的第三规格；
所述测试结果包括所述器件电流处于正常电流范围的第一结果、所述器件电流低于所述正常电流范围的第二结果和所述器件电流高于所述正常电流范围的第三结果。
4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述LED组件为RGB三原色LED彩灯。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述器件为TOF模组器件。
6.一种器件测试装置，所述器件与LED组件串联接入测试电路，所述LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成，所述装置包括：
电路控制模块，用于将所述测试电路通电；
结果获取模块，用于根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果。
7.根据权利要求6所述的装置，其中，所述多个LED具有不同的发光颜色；
根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果，包括：
根据所述LED组件中发光LED的发光颜色，获得所述发光的LED的电流规格；
根据所述电流规格，获得所述测试结果。
8.根据权利要求6所述的装置，其中，所述电流规格包括对应于器件正常电流范围的第一规格、低于所述正常电流范围的第二规格和高于所述正常电流范围的第三规格；
所述测试结果包括所述器件电流处于正常电流范围的第一结果、所述器件电流低于所述正常电流范围的第二结果和所述器件电流高于所述正常电流范围的第三结果。
9.一种电子设备，包括存储器和处理器；
所述存储器用于存储可执行命令；
所述处理器用于在所述可执行命令的控制下，执行如权利要求1-5中任意一项所述的方法。
10.一种电路装置，包括串联连接的器件和LED组件，所述LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成，所述电路装置用于实现权利要求1所述的方法。
CN201911167152.XA 2019-11-25 2019-11-25 器件测试方法、装置及电子设备 Active CN110907789B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911167152.XA CN110907789B (zh) 2019-11-25 2019-11-25 器件测试方法、装置及电子设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911167152.XA CN110907789B (zh) 2019-11-25 2019-11-25 器件测试方法、装置及电子设备

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110907789A true CN110907789A (zh) 2020-03-24
CN110907789B CN110907789B (zh) 2022-09-09

Family

ID=69819379

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911167152.XA Active CN110907789B (zh) 2019-11-25 2019-11-25 器件测试方法、装置及电子设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110907789B (zh)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004027676A1 (de) * 2004-04-30 2005-11-24 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen wenigstens eines LED-Strangs
CN101153888A (zh) * 2006-09-29 2008-04-02 比亚迪股份有限公司 一种柔性印刷线路板发光并联支路测试方法
CN101755491A (zh) * 2007-05-22 2010-06-23 马维尔国际贸易有限公司 通过一个或更多放电灯的电流传递控制
CN101957406A (zh) * 2009-07-14 2011-01-26 致茂电子(苏州)有限公司 光棒检测方法及该检测机台
CN201903624U (zh) * 2010-12-20 2011-07-20 中国神华能源股份有限公司 发光二极管光源检测装置
CN202614830U (zh) * 2012-05-25 2012-12-19 游兵 电流感应指示灯
CN103499970A (zh) * 2013-10-18 2014-01-08 利欧集团股份有限公司 线路板电流检测仪
CN104683928A (zh) * 2015-01-22 2015-06-03 青岛海信移动通信技术股份有限公司 一种检测电路及系统
CN107064611A (zh) * 2017-02-24 2017-08-18 北京深思数盾科技股份有限公司 一种漏电流检测方法及装置
CN207070407U (zh) * 2017-07-28 2018-03-02 嘉兴市松立电器有限公司 全电压led驱动器
CN207832955U (zh) * 2017-12-28 2018-09-07 洛阳义安矿业有限公司 一种igbt在线检测装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004027676A1 (de) * 2004-04-30 2005-11-24 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen wenigstens eines LED-Strangs
CN101153888A (zh) * 2006-09-29 2008-04-02 比亚迪股份有限公司 一种柔性印刷线路板发光并联支路测试方法
CN101755491A (zh) * 2007-05-22 2010-06-23 马维尔国际贸易有限公司 通过一个或更多放电灯的电流传递控制
CN101957406A (zh) * 2009-07-14 2011-01-26 致茂电子(苏州)有限公司 光棒检测方法及该检测机台
CN201903624U (zh) * 2010-12-20 2011-07-20 中国神华能源股份有限公司 发光二极管光源检测装置
CN202614830U (zh) * 2012-05-25 2012-12-19 游兵 电流感应指示灯
CN103499970A (zh) * 2013-10-18 2014-01-08 利欧集团股份有限公司 线路板电流检测仪
CN104683928A (zh) * 2015-01-22 2015-06-03 青岛海信移动通信技术股份有限公司 一种检测电路及系统
CN107064611A (zh) * 2017-02-24 2017-08-18 北京深思数盾科技股份有限公司 一种漏电流检测方法及装置
CN207070407U (zh) * 2017-07-28 2018-03-02 嘉兴市松立电器有限公司 全电压led驱动器
CN207832955U (zh) * 2017-12-28 2018-09-07 洛阳义安矿业有限公司 一种igbt在线检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN110907789B (zh) 2022-09-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107135567B (zh) 发光控制系统
CN100492109C (zh) 设定led光源色彩点的方法和装置
US9795015B2 (en) Automatic identification and localization of wireless light emitting elements
CN110337158B (zh) 一种发光二极管的发光控制方法及装置
CN105163435A (zh) 照明方法和照明装置
CN103109582A (zh) 相对光通量传感器和确定最大光强度之间的比例的方法、控制装置、颜色可调灯、照明器和计算机程序产品
KR102074976B1 (ko) 공연 연출 제어 시스템
CN110907789B (zh) 器件测试方法、装置及电子设备
JP2011061177A (ja) 発光ダイオードの特性を模擬可能な電子負荷とその模擬方法
US9373276B2 (en) LED block display apparatus for providing educational function and control method thereof
CN104237171A (zh) 测量系统
CN105988521A (zh) 一种移动终端和用于移动终端的动态显示的方法
US20210140826A1 (en) Systems And Methods For Illuminating Paint Color Chip Locations Within A Display Assembly
CN208848026U (zh) 投影装置
CN105227237A (zh) 一种信息配对方法、智能鞋及电子设备
US8981956B2 (en) Indication control circuit for indicating workload of electronic device
CN112885634A (zh) 发光键盘
CN109152163B (zh) 一种非实时系统中呼吸灯的控制方法及装置
JP2019029893A (ja) 判定装置
JP6153954B2 (ja) Ｌｅｄ映像ディスプレイおよび標識での使用のためのフルカラーｌｅｄおよび白色ｌｅｄのピクセル組合せ
KR100913748B1 (ko) 간판용 조명장치 및 제어 방법
KR102011013B1 (ko) 보안등 관리 방법 및 보안등 관리 장치
KR102093280B1 (ko) 공연 연출 제어 시스템
KR20220008421A (ko) 가시광 통신을 통해 전원 상태 점검이 가능한 led 보안등
KR101618818B1 (ko) 발광소자 구동회로 및 그 동작방법

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20201012

Address after: 261031 north of Yuqing street, east of Dongming Road, high tech Zone, Weifang City, Shandong Province (Room 502, Geer electronic office building)

Applicant after: GoerTek Optical Technology Co.,Ltd.

Address before: 261031 Dongfang Road, Weifang high tech Development Zone, Shandong, China, No. 268

Applicant before: GOERTEK Inc.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant