CN110895302B - 发光二极管检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种发光二极管检测系统，其包括多个发光二极管和驱动器。多个发光二极管排列为发光二极管数组；驱动器设置在发光二极管数组的中心，并分别电性连接多个发光二极管，且通过接收开启维持信号，使驱动器启动且接收输入地址，接着依据输入地址使对应输入地址的发光二极管点亮，而得知对应输入地址的发光二极管的电压大小，从而判断发光二极管的性能以及发光二极管数组的良率。

Description

发光二极管检测系统
技术领域
本发明关于一种发光二极管检测系统，通过将驱动器设置在发光二极管数组的中心并接收输入地址，使发光二极管数组中对应输入地址的发光二极管点亮，进而判断发光二极管的优劣。
背景技术
显示影像的显示器需求日趋增加，人们对显示质量的要求也随之增高，而显示器的光源质量势必相当重要。现今，显示器的光源逐渐从荧光灯管转换成发光二极管为主，发光二极管的发光效率高且寿命长，已被显示器厂商广为采用，因此，发光二极管的质量则对显示器的画面有相当程度的影响。
目前市面上的显示器的光源为发光二极管所组成的发光二极管数组，驱动电路和扫描电路分别设置在发光二极管数组的行侧和列侧，以检测发光二极管数组的每个发光二极管并得知每个发光二极管的优劣，然而，由于驱动电路设置在发光二极管的侧边，靠近驱动电路的发光二极管的检测速度较快，远离驱动电路的发光二极管的检测速度较慢，造成发光二极管的检测会有相当程度的误差。
综观前所述，本发明的发明人思索并设计一种发光二极管检测系统，以期针对现有技术的缺失加以改善，进而增进产业上的实施利用。
发明内容
(一)要解决的技术问题
有鉴于上述现有的问题，本发明的目的在于提供一种发光二极管检测系统，用以解决现有技术中所面临的问题。
(二)技术方案
基于上述目的，本发明提供一种发光二极管检测系统，其包括多个发光二极管以及驱动器。多个发光二极管以数组方式排列为发光二极管数组；驱动器设置在发光二极管数组的中心，并分别电性连接多个发光二极管，驱动器包括启动端、地址输入端、列选择部、行选择部、模拟数字转换部以及移位暂存部。启动端接收开启维持信号以使驱动器启动；地址输入端接收输入地址；列选择部连接地址输入端并具有多条列输入线以分别连接各发光二极管的共用端；行选择部连接地址输入端并具有多条行输入线以分别连接各发光二极管的感测端，并在对应输入地址的行输入线施加定电流，使位于输入地址的发光二极管为顺向导通，进而在位于输入地址的发光二极管的感测端输出输出电压；模拟数字转换部连接各发光二极管的感测端以接收输出电压，并将输出电压转换为数字输出电压；移位暂存部连接模拟数字转换部，并将数字输出电压以串流形式输出至负载组件，进而在负载组件的输出端输出具有串流形式的输出电压。由于驱动器设置在发光二极管数组的中心，驱动器检测每个发光二极管的速度一致，进而降低检测误差的发生。
优选地，驱动器包括时钟端，时钟端接收脉波信号以定时控制驱动器的启动。
优选地，驱动器还包括记忆部，记忆部连接模拟数字转换部，以储存数字输出电压，且根据记忆部累积储存的各个发光二极管的数字输出电压，适当地调整各个发光二极管的定电流，优化各个发光二极管的亮度。
优选地，模拟数字转换部具有参考端，参考端接收参考电压，模拟数字转换部根据参考电压将输出电压转换为相对数字电压，参考电压依据工程师检测标准而设定，据此判断出各发光二极管的优异。
优选地，驱动器位于发光二极管数组的发光侧或背光侧。
优选地，各发光二极管的基板为玻璃基板。
基于上述目的，一种显示面板检测系统，其包括多个发光二极管数组以及多个驱动器。多个发光二极管数组分别具有至少两个或两个以上的发光二极管并形成显示面板；多个驱动器对应多个发光二极管数组而设置，多个驱动器的数目和多个发光二极管数组的数目相同，而各发光二极管数组具有单个驱动器，各发光二极管数组的各发光二极管皆以驱动器为中心且电性连接驱动器，各驱动器包括启动端、地址输入端、列选择部、行选择部、模拟数字转换部以及移位暂存部。地址输入端接收输入地址；启动端连接地址输入端，并根据输入地址使驱动器启动；列选择部连接地址输入端并具有多条列输入线以分别连接各发光二极管的共用端；行选择部连接地址输入端并具有多条行输入线以分别连接各发光二极管的感测端，并在对应输入地址的行输入线施加定电流，使位于输入地址的发光二极管为顺向导通，进而在位于输入地址的发光二极管的感测端输出输出电压；模拟数字转换部连接各发光二极管的感测端以接收输出电压，并将输出电压转换为数字输出电压；移位暂存部连接模拟数字转换部，并将数字输出电压以串流形式输出至负载组件，进而在负载组件的输出端输出具有串流形式的输出电压。
优选地，各启动端通过接收开启维持信号以使各驱动器启动，各启动端依据输入地址判定接收开启维持信号来启动。
优选地，各驱动器包括时钟端，各时钟端接收脉波信号以定时控制各驱动器的启动。
优选地，各驱动器还包括记忆部，各记忆部连接各模拟数字转换部，以储存数字输出电压，根据记忆部累积储存的各个发光二极管的数字输出电压，适当地调整各个发光二极管的定电流，优化各个发光二极管的亮度。
优选地，各模拟数字转换部具有参考端，各参考端接收参考电压，各模拟数字转换部根据参考电压将输出电压转换为相对数字电压，参考电压依据工程师检测标准而设定，据此判断出各发光二极管的优异。
优选地，各驱动器位于所属的发光二极管数组的发光侧或背光侧。
优选地，各发光二极管数组的各发光二极管的基板为玻璃基板。
优选地，显示面板的检测时间为显示面板组装后或显示面板的空白时间。
(三)有益效果
承上所述，本发明的发光二极管检测系统，其可具有以下一个或多个优点：
通过将驱动器设置在发光二极管数组的中心，使驱动器检测各个发光二极管的速度一致，降低检测的误差。
通过记忆部的设置，累积储存各个发光二极管的数字输出电压，据此检视出适合于各个发光二极管的定电流，优化各个发光二极管的亮度。
附图说明
图1为本发明的发光二极管检测系统的第一实施例的配置图。
图2为本发明的发光二极管检测系统的第一实施例的对应输入地址的发光二极管的方块图。
图3为本发明的发光二极管检测系统的第一实施例的其余的发光二极管的方块图。
图4为本发明的发光二极管检测系统的第二实施例的对应输入地址的发光二极管的方块图。
图5为本发明的显示面板检测系统的第一实施例的配置图。
图6为本发明的显示面板检测系统的第一实施例的信号图。
附图标记说明
10、10_1～10_K：驱动器
11、11_1～11_K：列选择部
12、12_1～12_K：行选择部
13：模拟数字转换部
14：记忆部
15：移位暂存部
16：负载组件
20：发光二极管
21：共用端
22：感测端
ACT：开启维持信号
AD：输入地址
ARRAY、ARRAY_1～ARRAY_K：发光二极管数组
C：定电流
CLK：时钟端
Column_1～Column_m、Column C、Column1_1～Columnm1_m、Column2_1～Column2_m～ColumnK_1～ColumnK_m：行输入线
Column_R1～Column_Rm：红线
Column_B1～Column_Bm：蓝线
Column_G1～Column_Gm：绿线
DIN、DIN_1～DIN_K：地址输入端
DOUT：输出端
R：参考端
Row_1～Row_n、Row C、Row1_1～Row1_n、Row2_1～Row2_n～RowK_1～RowK_n：列输入线
SEN_EN：启动端
Vb：相对数字电压
VD：数字输出电压
VOUT：输出电压
Vref：参考电压
具体实施方式
本发明的优点、特征以及达到的技术方法将参照例示性实施例及附图进行更详细地描述而更容易理解，且本发明可以以不同形式来实现，故不应被理解为仅限于此处所陈述的实施例，相反地，对所属技术领域的普通技术人员而言，所提供的实施例将使本发明更加透彻、全面且完整地传达本发明的范畴，且本发明将仅由权利要求书所定义。
虽然本文中使用「第一」、「第二」等词汇来描述各种电压，这些电压应当不被这些词汇限制。这些词汇仅用来从另一个电压区分出一个电压。
参照图1、图2以及图3，其为本发明的发光二极管检测系统的第一实施例的配置图、本发明的发光二极管检测系统的第一实施例的对应输入地址的发光二极管的方块图以及本发明的发光二极管检测系统的第一实施例的其余的发光二极管的方块图。在本实施例中，本发明提供一种发光二极管检测系统，其包括多个发光二极管20以及驱动器10。多个发光二极管20以数组方式排列为发光二极管数组ARRAY，各发光二极管20的基板为玻璃基板；驱动器10设置在发光二极管数组ARRAY的中心，并分别电性连接多个发光二极管20且位于所述发光二极管数组ARRAY的发光侧或背光侧，驱动器10包括启动端SEN_EN、地址输入端DIN、时钟端CLK、列选择部11、行选择部12、模拟数字转换部13以及移位暂存部15。启动端SEN_EN接收开启维持信号ACT以使驱动器10启动；地址输入端DIN接收输入地址AD；时钟端CLK接收脉波信号以定时控制驱动器10的启动；列选择部11连接地址输入端DIN并具有多条列输入线Row_1～Row_n，以分别连接各发光二极管20的共用端21；行选择部12连接地址输入端DIN并具有多条行输入线Column_1～Column_m以分别连接各发光二极管20的感测端22，各条行输入线Column_1～Column_m分别具有红线Column_R1～Column_Rm、蓝线Column_B1～Column_Bm以及绿线Column_G1～Column_Gm；模拟数字转换部13连接各发光二极管20的感测端22；移位暂存部15连接模拟数字转换部13。此外，还包括连接模拟数字转换部13的记忆部14。由于驱动器10设置在发光二极管数组ARRAY的中心，驱动器10检测每个发光二极管20的速度一致，进而降低检测误差的发生，驱动器10控制发光二极管20的数目并根据工程师的需要加以调整，并未限制发光二极管20的控制数目。
在此，搭配图2、图3以及图1说明检测对应输入地址AD的发光二极管20如下：(1)列选择部11和行选择部12根据输入地址AD选择对应输入地址AD的行输入线Column C以及列输入线Row C，在对应输入地址AD的行输入线Column C施加定电流C，其余的发光二极管20未施加定电流C，使位于输入地址AD的发光二极管20顺向导通而发亮，其余的发光二极管20由于未接受到定电流C而不发亮，因此，在位于输入地址AD的发光二极管20的感测端22输出输出电压VOUT，接续将输出电压VOUT输出至模拟数字转换部13。(2)模拟数字转换部13将输出电压VOUT转换为数字输出电压VD，并同时传输至记忆部14和移位暂存部15，记忆部14将数字输出电压VD储存，且根据记忆部14累积储存的各个发光二极管20的数字输出电压VD，适当地调整各个发光二极管20的定电流C的数值，优化各个发光二极管20的亮度，移位暂存部15则将数字输出电压VD以串流形式输出至负载组件16，进而在负载组件16的输出端DOUT输出具有串流形式的输出电压VOUT。通过选择对应输入地址AD的行输入线Column C和列输入线Row C，并使对应输入地址AD的发光二极管20为顺偏状态，根据对应输入地址AD的发光二极管20的发光程度判断其是否为优良的发光二极管20。
另外，输入地址AD的格式为二进制格式，地址输入端DIN的数据源包括驱动器10的读取头、列选择部以及行选择部的二进制格式。
参照图4，其为本发明的发光二极管检测系统的第二实施例的对应输入地址的发光二极管的方块图。在本实施例中，相同附图标记的组件，其配置与前述类似，其类似处在此便不再加以赘述。
如图4所示，模拟数字转换部13具有参考端R，参考端R接收参考电压Vref，模拟数字转换部13根据参考电压Vref将输出电压VOUT转换为相对数字电压Vb。具体而言，模拟数字转换部13将根据参考电压Vref将输出电压VOUT转换为相对数字电压Vb，参考电压Vref依据工程师检测标准而设定，进而得知位于输入地址AD的发光二极管20的状况及判定此发光二极管20是否需要加以调整，接续传输相对数字电压Vb至记忆部14和移位暂存部15，记忆部14将相对数字电压Vb储存，且根据记忆部14累积储存的各个发光二极管20的相对数字电压Vb，适当地调整各个发光二极管20的定电流C，优化各个发光二极管20的亮度，移位暂存部15则将数字输出电压VD以串流形式输出至负载组件16，进而在负载组件16的输出端DOUT输出具有串流形式的输出电压VOUT，负载组件16可以为晶体管、电阻或金氧半场效晶体管，仅要跟所列举的电子组件具有相同功能即可，而并未局限于本发明所列举的范围。
参照图5和图6，其为本发明的显示面板检测系统的第一实施例的配置图和本发明的显示面板检测系统的第一实施例的信号图。在本实施例中，本发明提供一种显示面板检测系统，其包括多个发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K以及多个驱动器10_1～10_K，驱动器10_1～10_K的标示仅为区别各个驱动器10_1～10_K，发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的标示仅为区别各发光二极管数组。多个发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K分别具有至少两个或两个以上发光二极管20并形成显示面板，各发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的各发光二极管20的基板为玻璃基板；多个驱动器10_1～10_K对应多个发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K设置，多个驱动器10_1～10_K的数目和多个发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的数目相同，而各发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K分别具有对应的单个驱动器10_1～10_K，各发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的各发光二极管20皆以其所属的驱动器10_1～10_K为中心且电性连接驱动器10_1～10_K，各驱动器10_1～10_K包括启动端SEN_EN、地址输入端DIN_1～DIN_K、时钟端CLK、列选择部11_1～11_K、行选择部12_1～12_K、模拟数字转换部13以及移位暂存部15，各启动端SEN_EN互相连接，各时钟端CLK互相连接，各模拟数字转换部13以及各移位暂存部15皆为相同配置而不需加以区分。各启动端SEN_EN分别连接其所属的地址输入端DIN_1～DIN_K，并根据输入地址AD而接收开启维持信号ACT使其所属的驱动器10_1～10_K启动；各地址输入端DIN_1～DIN_K分别接收输入地址AD；时钟端CLK接收脉波信号以定时控制各驱动器10_1～10_K的启动；各列选择部11_1～11_K连接其所属的地址输入端DIN_1～DIN_K而分别具有多条列输入线Row1_1～Row1_n、Row2_1～Row2_n至RowK_1～RowK_n，以分别连接其所属发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的各发光二极管20的共用端21；各行选择部12_1～12_K连接其所属的地址输入端DIN_1～DIN_K并分别具有多条行输入线Column1_1～Columnm1_m、Column2_1～Column2_m至ColumnK_1～ColumnK_m，以分别连接其所属发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的各发光二极管20的感测端22；各模拟数字转换部13连接各发光二极管20的感测端22并具有参考端R，各参考端R接收参考电压Vref；各暂存部13连接其所属的模拟数字转换部13。此外，还包括连接各模拟数字转换部13的记忆部14。通过驱动器10_1～10_K的设置，而将显示面板的多个发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K加以分区，在检测方面仅需先驱动驱动器10_1～10_K中的其中一个，并驱动其内部相应的发光二极管20即可，并不需大范围的全面检测，而提升检测各个发光二极管20的速度。再者，显示面板的检测时间为显示面板组装后或显示面板的空白时间(即为画面之间的切换时间)，以实时得知显示面板的性能。需说明的是，多个驱动器10_1～10_K的实际数目乃根据显示面板的实际需求而对应设置，以将显示面板的各个发光二极管20分作许多区，在此并不限定多个驱动器10_1～10_K的实际数目，且各驱动器10_1～10_K位于所属的发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的发光侧或背光侧，不论是发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的发光侧或背光侧皆可，但各个驱动器10_1～10_K需皆为在同侧设置，例如驱动器10_1～10_K皆设置在发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的背光侧。
此外，由于多个驱动器10_1～10_K的设置，为了要使多个驱动器10_1～10_K中的单个驱动器驱动，输入地址AD会多一个位以决定驱动哪个驱动器，例如输入地址AD为1110110，前面第1个位为驱动第1个驱动器，110110为代表驱动第6列第6行的发光二极管20。
由于各个驱动器10_1～10_K的设置为和第1图的设置相同，在此驱动单个驱动器10_K加以阐述显示面板检测系统的检测，搭配图1、图2、图3以及图6说明如下：(1)当启动端SEN_EN根据输入地址AD使驱动器10_K启动时，驱动器10_K接收时钟端CLK的脉波信号而周期性运作，列选择部11_K和行选择部12_K根据输入地址AD选择对应输入地址AD的行输入线Column C以及列输入线Row C，在对应输入地址AD的行输入线Column C施加定电流C，其余的发光二极管20未施加定电流C，使位于输入地址AD的发光二极管20顺向导通而发亮，其余的发光二极管20由于未接受到定电流C而不发亮，因此，在位于输入地址AD的发光二极管20的感测端22输出输出电压VOUT。(2)模拟数字转换部13将输出电压VOUT转换为数字输出电压VD，并同时传输至记忆部14和移位暂存部15，记忆部14将数字输出电压VD储存，且根据记忆部14累积储存的各个发光二极管20的数字输出电压VD，适当地调整各个发光二极管20的定电流C，优化各个发光二极管20的亮度，移位暂存部15则将数字输出电压VD以串流形式输出至负载组件16，进而在负载组件16的输出端DOUT输出具有串流形式的输出电压VOUT。通过上述的机制，简化显示面板的各个发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的检测流程，而非习知需要连接各个发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的各个发光二极管20，进而提升检测效率。其余的发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K和驱动器10_1～10_K的作动机制也同前述，在此不再重复叙述。
另外，各模拟数字转换部13根据参考电压Vref将输出电压VOUT转换为相对数字电压Vb，参考电压Vref为依据工程师检测标准而设定，相对数字电压Vb和参考电压Vref的差距则能看出各个发光二极管20的运作状况，据此适当地调整各个发光二极管20的亮度。
综上所述，本发明的发光二极管检测系统，通过驱动器10位于发光二极管数组ARRAY中心的配置，使驱动器10检测每个发光二极管20的速度一致，降低检测误差的产生，另外，本发明的显示面板，通过驱动器10_1～10_K和发光二极管数组ARRAY_1～ARRAY_K的对应设置，将显示面板的各个发光二极管进行有效地分区，加速各个发光二极管的检测程序。总而言之，本发明的发光二极管检测系统具有如上述的优点，降低检测发光二极管20的误差。
以上所述仅为举例性，而非为限制性。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含在权利要求书中。

Claims (12)

1.一种发光二极管检测系统，其特征在于，包括：
多个发光二极管，以数组方式排列为发光二极管数组；
驱动器，设置在所述发光二极管数组的中心，并分别电性连接所述多个发光二极管，其包括：
启动端，接收开启维持信号以使所述驱动器启动；
地址输入端，接收输入地址；
列选择部，连接所述地址输入端并具有多条列输入线以分别连接各所述发光二极管的共用端；
行选择部，连接所述地址输入端并具有多条行输入线以分别连接各所述发光二极管的感测端，并在对应所述输入地址的所述行输入线施加定电流，使位于所述输入地址的所述发光二极管为顺向导通，进而在位于所述输入地址的所述发光二极管的所述感测端输出输出电压，根据所述输入地址的所述发光二极管的发光程度判断是否为优良的发光二极管；
模拟数字转换部，连接各所述发光二极管的感测端以接收所述输出电压，并将所述输出电压转换为数字输出电压；
移位暂存部，连接所述模拟数字转换部，并将所述数字输出电压以串流形式输出至负载组件，进而在所述负载组件的输出端输出具有所述串流形式的所述输出电压；以及
记忆部，所述记忆部连接所述模拟数字转换部，以储存所述数字输出电压，调整各个所述发光二极管的所述定电流的数值。
2.根据权利要求1所述的发光二极管检测系统，其特征在于，所述驱动器包括时钟端，所述时钟端接收脉波信号以定时控制所述驱动器的启动。
3.根据权利要求1所述的发光二极管检测系统，其特征在于，所述模拟数字转换部具有参考端，所述参考端接收参考电压，所述模拟数字转换部根据所述参考电压将所述输出电压转换为相对数字电压。
4.根据权利要求1所述的发光二极管检测系统，其特征在于，所述驱动器位于所述发光二极管数组的发光侧或背光侧。
5.根据权利要求1所述的发光二极管检测系统，其特征在于，各所述发光二极管的基板为玻璃基板。
6.一种显示面板检测系统，其特征在于，包括：
多个发光二极管数组，分别具有至少二个发光二极管并形成显示面板；
多个驱动器，对应所述多个发光二极管数组而设置，而各所述发光二极管数组具有单个所述驱动器，各所述发光二极管数组的各所述发光二极管皆以所述驱动器为中心且电性连接所述驱动器，各所述驱动器包括：
地址输入端，接收输入地址；
启动端，连接所述地址输入端，并根据所述输入地址使所述驱动器启动；
列选择部，连接所述地址输入端并具有多条列输入线以分别连接各所述发光二极管的共用端；
行选择部，连接所述地址输入端并具有多条行输入线以分别连接各所述发光二极管的感测端，并在对应所述输入地址的所述输入线施加定电流，使位于所述输入地址的所述发光二极管为顺向导通，进而在位于所述输入地址的所述发光二极管的所述感测端输出输出电压，根据所述输入地址的所述发光二极管的发光程度判断是否为优良的发光二极管；
模拟数字转换部，连接各所述发光二极管的感测端以接收所述输出电压，并将所述输出电压转换为数字输出电压；
移位暂存部，连接所述模拟数字转换部，并将所述数字输出电压以串流形式输出至负载组件，进而在所述负载组件的输出端输出具有所述串流形式的所述输出电压；以及
记忆部，各所述记忆部连接各所述模拟数字转换部，以储存所述数字输出电压，调整各个所述发光二极管的所述定电流的数值。
7.根据权利要求6所述的显示面板检测系统，其特征在于，各所述启动端通过接收开启维持信号以使各所述驱动器启动。
8.根据权利要求6所述的显示面板检测系统，其特征在于，各所述驱动器包括时钟端，各所述时钟端接收脉波信号以定时控制各所述驱动器的启动。
9.根据权利要求6所述的显示面板检测系统，其特征在于，各所述模拟数字转换部具有参考端，各所述参考端接收参考电压，各所述模拟数字转换部根据所述参考电压将所述输出电压转换为相对数字电压。
10.根据权利要求6所述的显示面板检测系统，其特征在于，各所述驱动器位于所属的所述发光二极管数组的发光侧或背光侧。
11.根据权利要求6所述的显示面板检测系统，其特征在于，各所述发光二极管数组的各所述发光二极管的基板为玻璃基板。
12.根据权利要求6所述的显示面板检测系统，其特征在于，所述显示面板的检测时间为所述显示面板组装后或所述显示面板的空白时间。
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