CN110849587A - 光源测试仪、方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种光源测试仪、方法、装置、设备及存储介质，该光源测试仪包括具有相互垂直的三个轴的三轴平台；第一轴用于固定被测光源，采光板固定在第二轴和第三轴所在平面上，被测光源与采光板相对；采光板在第二轴和第三轴所在平面上进行移动，在移动过程中采集多个采光位置的光照强度。本申请可减小光源测试成本。

Description

光源测试仪、方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本申请实施例涉及测试技术，尤其涉及一种光源测试仪、方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

有很多测试过程中均需要光源，且，对光源的要求相当高。因此，为保证测试结果的准确性，需先对光源的关键参数进行测量，如光源的波长、强度、一致性等参数。

目前，常见的对于光源的测试，可通过电荷耦合器件(Charge Coupled Device，简称CCD)摄像机加特制镜头对被测光源进行拍照，继而实现对该被测光源的测试。

然而，该方法中，镜头需要特制，制作成本较高，并且，当被测光源的出光面较大时，做不了对应的镜头，这使得针对光源测试的成本较高。

发明内容

本申请实施例提供一种光源测试仪、方法、装置、设备及存储介质，以减小光源测试成本。

本申请实施例提供一种光源测试仪，包括：

外壳；

三轴平台，位于所述外壳内，所述三轴平台包括：相互垂直的第一轴、第二轴和第三轴；所述第一轴用于固定被测光源；以及

采光板，其位于所述外壳内，并固定在所述第二轴和所述第三轴所在平面上，使得所述被测光源的出光面与所述采光板的采光面相对，所述采光板用于在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动，并在所述移动过程中，采集移动面积内多个采光位置的光照强度。

本申请实施例还可提供一种光源测试方法，所述光源测试方法适用于包括三轴平台的光源测试仪，所述三轴平台包括：相互垂直的第一轴、第二轴和第三轴；被测光源固定在所述第一轴上，所述采光板固定在所述第二轴和所述第三轴所在平面上，使得所述被测光源的出光面与所述采光板的采光面相对；所述方法包括：

控制所述采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动；

在移动过程中，控制所述采光板采集预设移动面积内多个采光位置的光照强度；

获取所述多个采光位置的光照强度。

本申请实施例还可提供一种光源测试装置，该光源测试装置适用于包括三轴平台的光源测试仪，所述三轴平台包括：相互垂直的第一轴、第二轴和第三轴；被测光源固定在所述第一轴上，所述采光板固定在所述第二轴和所述第三轴所在平面上，使得所述被测光源的出光面与所述采光板的采光面相对；

所述光源测试装置包括：

移动控制模块，用于控制所述采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动；

采光控制模块，用于在移动过程中，控制所述采光板采集预设移动面积内多个采光位置的光照强度；

获取模块，用于获取所述多个采光位置的光照强度。

本申请实施例还可提供一种计算机设备，包括：存储器和处理器；所述存储器与所述处理器耦合；

所述存储器，用于存储程序指令；

所述处理器，用于调用所述存储器存储的程序指令，使得所述计算机设备执行上述光源测试方法。

本申请实施例还可提供一种计算机可读存储介质，包括：其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行上述光源测试方法

本申请实施例提供的光源测试仪、方法、装置、设备及存储介质，其中，可包括外壳、三轴平台、采光板，其中，该三轴平台包括：相互垂直的第一轴、第二轴和第三轴，三轴平台和该采光板可位于该外壳内；三轴平台的第一轴用于固定被测光源，该采光板固定在该第二轴和该第三轴所在平面上，使得该被测光源的出光面与该采光板的采光面相对，该采光板可在该第二轴和该第三轴所在平面上进行移动，并在该移动过程中，采集移动面积内多个采光位置的光照强度。该光源测试仪，可实现通过固定在三轴平台的第二轴和第三轴所在平面上的采光板，采集固定在三轴平台的第一轴上的被测光源在多个采光位置的光照强度，实现对被测光源的测试，无需配置专用的镜头，即便出光面较大，也可通过控制采光板的移动面积实现采集，有效降低了光源测试的成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1A为本申请实施例提供的一种光源测试仪的主视图；

图1B为本申请实施例提供的一种光源测试仪中三轴平台的俯视图；

图2为本申请实施例提供的另一种光源测试仪的主视图；

图3为本申请实施例提供的一种采光板的示意图；

图4为本申请实施例提供的又一种光源测试仪的主视图；

图5为本申请实施例提供的光源测试仪中采光板的移动轨迹的示意图；

图6为本申请实施例提供的一种光源测试方法的流程图；

图7为本申请实施例提供的一种光源测试装置的结构示意图；

图8为本申请实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。下面结合附图，对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本申请下述各实施例提供的光源测试仪、光源测试方法、装置及计算机设备，可应用于进行光源测试，例如光源进行光照一致性的测试、光照强度的测试、光源波长的测试等至少一种类型的光源测试。

如下先通过多个示例对光源测试仪进行示例说明。

图1A为本申请实施例提供的一种光源测试仪的主视图，图1B为本申请实施例提供的一种光源测试仪中三轴平台的俯视图。该实施例可结合图1A和图1B对光源测试仪进行说明。如图1A和图1B所示，该光源测试仪可包括如下：外壳1、三轴平台2、采光板3；三轴平台2包括：相互垂直的第一轴21、第二轴22和第三轴23。三轴平台2和采光板3位于外壳1内。

第一轴21用于固定被测光源4，即被测光源4可固定在第一轴21上。采光板3固定在第二轴22和第三轴23所在平面上，使得被测光源4的出光面与采光板3的采光面相对。

采光板3用于在第二轴22和第三轴23所在平面上进行移动，并在该移动过程中，采集移动面积内多个采光位置的光照强度。

具体地，外壳1可以为整体的外壳，也可以通过两部分壳体进行扣合形成。三轴平台2内的三个轴，即第一轴21、第二轴22和第三轴23，可两两相互垂直，则第一轴21可垂直于第二轴22和第三轴23所在的平面。被测光源4可直接固定在第一轴21上，也可通过对应的夹具固定在第一轴21上。采光板3可直接固定在第二轴22和第三轴23所在的平面上，也可通过对应的夹具固定在第二轴22和第三轴23所在的平面上。其中，被测光源4可以为如下任一类型的光源：发光二极管(Light-Emitting Diode，LED)光源、红外光源、激光光源、点阵光源组成的面光源。其中，面光源的出光面可以为平面。

通过将被测光源4固定在第一轴21上，将采光板3固定在第二轴22和第三轴23所在的平面上，使被测光源4的出光面与采光板3的采光面相对，那么被测光源4发出的光线便可照射至采光板3的采光面，从而使得采光板3可进行采集对应位置的光照强度。

可选的，为使得采光板3所采集到的光照强度的准确性，可使得被测光源4的出光面不仅与采光板3的采光面相对，还与采光板3的采光面平行，即平行相对。被测光源4的出光面与采光板3的采光面平行相对，可使得采光板3在移动至不同采光位置处，被测光源4至采光板3的垂直距离是相等的。

由于三轴平台2的第一轴21垂直于第二轴22和第三轴23所在的平面，被测光源4固定在第一轴上，且，被测光源4的出光面与第一轴21垂直，便可使得被测光源4的出光面与采光板3的采光面平行相对。

三轴平台2和采光板3位于外壳1内，可避免外界环境光度采光板3的干扰，保证采光的准确性。为使得外壳1的对环境光的隔离效果更佳，可选的，外壳1的内部可涂设有吸光材料，则该外壳1还可称为暗箱或者黑盒子等类似的描述。

三轴平台2的第二轴22和/或第三轴23可与计算机设备连接，第二轴22和/或第三轴23可在计算机设备的控制下进行移动，从而带动在第二轴22和第三轴23所在平面上固定的采光板3进行移动，使得采光板3可在移动过程中进行采光。在采光板3的移动面积内可具有多个采光位置，在每个采光位置处，可采光板3可进行至少一次的采光，即采集至少一次的光照强度。需要说明的是，上述通过计算机设备控制第二轴22和/或第三轴23移动的方式，仅为一种可能的示例，第二轴22和/或第三轴23还可由其它设备控制移动，也可以通过手动控制移动，在此不再赘述。

为使得对被测光源4的检测更加准确，可使得采光板3的移动面积大于被测光源4的出光面的面积，使得采光板3的采光范围至少大于被测光源4的出光面的范围，以确保被测光源4照射到的地方都能被采光板3采集到。

本申请实施例提供的光源测试仪，可包括外壳、三轴平台、采光板，其中，该三轴平台包括：相互垂直的第一轴、第二轴和第三轴，三轴平台和该采光板可位于该外壳内；该第一轴可用于固定被测光源，该采光板可固定在该第二轴和该第三轴所在平面上，使得该被测光源的出光面与该采光板的采光面相对，该采光板可在该第二轴和该第三轴所在平面上进行移动，并在该移动过程中，采集移动面积内多个采光位置的光照强度。该光源测试仪，可实现通过固定在三轴平台的第二轴和第三轴所在平面上的采光板，采集固定在三轴平台的第一轴上的被测光源在多个采光位置的光照强度，实现对被测光源的测试，无需配置专用的镜头，即便出光面较大，也可通过控制采光板的移动面积实现采集，有效降低了光源测试的成本。

在上述图1A和图1B所示的光源测试仪的基础上，本申请实施例还可提供一种光源测试仪。图2为本申请实施例提供的另一种光源测试仪的主视图。如图2所示，该光源测试仪还包括：第一夹具5，被测光源4通过第一夹具5固定在第一轴21上。

该实施例中，可通过第一夹具5对被测光源4进行夹持，并对夹持有被测光源4的第一夹具5固定在第一轴21上，实现了被测光源4在第一轴21上的固定。或者，也可先将第一夹具5固定在第一轴21上，再通过第一夹具5对被测光源4进行夹持，实现了被测光源4在第一轴21上的固定。

可选的，第一夹具5包括调节部件；调节部件用于调节被测光源4的出光面所在的平面。

该调节部件可以为万向调节部件，通过调节该调节部件，可调节被测光源4的出光面所在的平面，可使得被测光源4的出光面与采光面3的采光面相对。示例地，可通过调节该调节部件，使得被测光源4的出光面与采光面3的采光面平行相对。

继续参照上述图2，可选的，该光源测试仪还包括：第二夹具6，采光板3可通过第二夹具6固定在第二轴21和第三轴22所在平面上。

在该实施例中，可通过采光板3对采光板3进行夹持，并对夹持有采光板3的第二夹具6固定在第二轴22和第三轴23所在的平面上，实现采光板3的固定；也可先将第二夹具6固定在第二轴22和第三轴23所在的平面上，再通过第二夹具6对采光板3进行夹持，实现对采光板3的固定。

该实施例中，可通过第一夹具和第二夹具实现了光源测试过程中被测光源和采光板的固定，有效保证采光板对被测光源的光照强度的采集。

本申请实施例还可提供一种光源测试仪。在该实施例所提供的光源测试仪中，可通过示例对上述图1A、图1B以及图2所示的光源测试仪中的采光板3进行示例说明。图3为本申请实施例提供的一种采光板的示意图。如图3所示，采光板3可包括：感光传感器31及微处理单元(Microcontroller Unit，简称MCU)32。

感光传感器31与MCU 32连接；MCU 32与计算机设备连接，用于接收计算机设备发送的采集控制指令，并将该采光控制指令传输至感光传感器31。

感光传感器31用于根据该采集控制指令，采集该移动面积内该多个采光位置的光照强度，并将该多个采光位置的光照强度通过MCU 32传输至该计算机设备。

在该实施例中，采光板3上除了感光传感器31和MCU 32外，还可包括通信接口，MCU32可通过该通信接口与计算机设备进行通信，以接收计算机设备发送的采集控制指令，向计算机设备传输该多个采光位置的光照强度。即MCU 32可与通信接口连接，当该通信接口还与计算机设备连接时，该MCU 3便可通过该通信接口与计算机设备进行通信。其中，该通信接口例如可以为通用串行总线(Universal Serial Bus，简称USB)接口，还可以为其它类型的接口，在此不再赘述。

其中，该采集控制指令，可包括：采集参数。该采集控制指令包括采集参数，可使得感光传感器31可根据该采集参数，采集该移动面积内每个采集位置的光照强度。该采集参数例如可包括如下至少一种：单个采光位置的采光时长、单个采光位置的采光次数等。该单个采光位置的采光时长可以为每个采光位置处，采光板3的连续采光时长。该单个采光位置的采光次数，可以为在该每个采光位置处，采光板3在该采光时长内的采光次数。

在该每个采光位置处，可使得采光板3均接收相同时长即该采光时长的光照，得到该每个采光位置在该采光时长内的光照强度。

若该采光时长内，在每个采光位置处，采光板3可采集至少一次的光照强度，MCU32可根据该至少一次的光照强度，得到该每个采光位置的平均光照强度。

当计算机设备得到采光板3在该移动面积内多个采光位置的光照强度，可根据该多个采光位置的光照强度，确定被测光源4的光照有效范围，计算被测光源4的光照有效范围内的被测光源4的光照一致性，并确定被测光源4的出光面上的光源一致性范围。

其中，被测光源4的光照有效范围内，对应的采光位置的光照强度可大于或等于预设光照强度。也就是说，该计算机设备可根据该多个采光位置的光强强度以及预设光照强度，将光照强度大于或等于预设光照强度的采光位置对应的范围确定为被测光源4的光照有效范围。

计算机设备例如可根据任意两个采光位置的光照强度的差值等信息，确定被测光源4的光照一致性，该光照一致性参数例如可包括：该任意两个采光位置的光照强度的差值等信息。

该计算机设备例如可根据该任意两个采光位置的光照强度的差值等信息，确定被测光源4的出光面上的光源一致性范围，在该光源一致性范围内的任意两个采光位置的光照强度的差值在预设范围内。如上所示的每个采光位置的光照强度可包括：该每个采光位置处的至少一次采集的光照强度，和/或，该每个采光位置的平均光照强度。

该实施例提供的光源测试仪中，采光板的MCU可根据计算机设备发送的采集控制指令，控制采光板的感光传感器进行采光，实现对被测光源照射在每个采光位置的光照强度的检测，可使得对光源测试的精准控制，使得光源测试结果更加准确。

在如上任一所述的光源测试仪的基础上，本申请实施例还可提供一种光源测试仪。图4为本申请实施例提供的又一种光源测试仪的主视图。如图4所示，该光源测试仪还可包括：控制器7。

控制器7分别与第一轴21、第二轴22和第三轴23连接。

控制器7与第一轴21连接，用以控制第一轴21进行移动，使得被测光源4可沿着第一轴21移动。当被测光源4沿着第一轴21进行移动，可使得被测光源4的出光面与采光板3的采光面的垂直距离可调，可使得光源测试仪测试被测光源4在不同高度的光照强度，从而得到被测光源4在不同高度处的光照一致性并进行比对，继而选择最佳的光照高度，以使得被测光源4的最佳安装高度即为该最佳的光照高度，以尽可能地避免光照散射角的影响。该最佳的光照高度可以为光照一致性最佳时被测光源4的出光面与采光板3的采光面的垂直距离。

控制器7还可与第二轴22连接，用以控制第二轴22进行移动，使得采光板3在第二轴22和第三轴23所在平面上沿着第三轴23进行移动，实现了采光板3沿着第三轴23的移动。控制器7还可与第三轴23连接，以控制第三轴23进行移动，使得采光板3在第二轴22和第三轴23所在平面上沿着第二轴22进行移动，实现了采光板3沿着第三轴23的移动。

控制器7可根据预设的移动参数，控制第二轴22或者第三轴23进行移动，使得采光板3在第二轴22和第三轴23所在平面上，沿着预设的移动轨迹进行移动。其中，该移动参数包括如下至少一种：移动步进、移动速度、该预设移动面积。

图5为本申请实施例提供的光源测试仪中采光板的移动轨迹的示意图。如图5所示，控制器7可根据该预设的移动参数，控制第二轴22进行移动，使得采光板3在第二轴22和第三轴23所在平面上，以移动方向50沿着第三轴23的方向上的轨迹进行移动；当采光板3移动至该预设移动范围内第三轴23对应的边界时，可根据该预设的移动参数，控制第三轴23进行移动，使得采光板3在第二轴22和第三轴23所在平面上，以移动方向50沿着第二轴22的方向上的轨迹进行移动。如此反复，直至采光板3的移动面积达到该预设移动面积51。预设移动面积51可大于被测光源4的出光面的面积。

其中，控制器7例如可控制第二轴22以预设的移动步进进行移动，使得采光板3沿着第三轴23进行移动。或者，控制第三轴23以预设的移动步进进行移动，使得采光板3沿着第二轴22进行移动。

采光板51可在移动过程中，在每个采光位置52处，以预设的采光时长，采集至少一次的光照强度。

可选的，控制器7还与计算机设备连接，用以接收计算机设备发送的移动控制指令，并根据该移动控制指令，控制该三轴平台上的对应轴进行移动。

当控制器7与计算机设备连接，该计算机设备可将该预设的移动参数携带在该移动控制指令中传输至控制器7，使得控制器7可根据该预设的移动参数控制对应的轴进行移动。

该实施例提供的光源测试仪可在控制器的控制下控制采光板在第二轴和第三轴所在平面上移动，使得采光板可在移动过程中采集每个采光位置的光照强度，其采光范围的控制更灵活更准确。

本申请实施例还可提供一种光源测试方法。该光源测试方法可适用于如上所述的任一光源测试仪。该光源测试仪可包括：三轴平台，该三轴平台看包括：相互垂直的第一轴、第二轴和第三轴；被测光源固定在该第一轴上，该采光板固定在该第二轴和该第三轴所在平面上，使得该被测光源的出光面与该采光板的采光面相对。

该光源测试方法可由计算机设备执行，图6为本申请实施例提供的一种光源测试方法的流程图。如图6所示，该光源测试方法可包括：

S601、控制该采光板在该第二轴和该第三轴所在平面上进行移动。

S602、在移动过程中，控制该采光板采集预设移动面积内多个采光位置的光照强度。

S603、获取该多个采光位置的光照强度。

该光源测试方法，可通过控制光源测试仪对被测光源的光照强度进行采集，无需配置专用的镜头，即便出光面较大，也可通过控制采光板的移动面积实现采集，有效降低了光源的测试成本。

可选的，光源测试仪还包括：控制器，控制器与第一轴连接。

该方法还可包括：

向该控制器发送第一移动控制指令，使得该控制器根据该第一移动控制指令，控制该第一轴进行移动，使得该被测光源沿着该第一轴移动。

通过控制第一轴进行移动，可实现对不同高度的被测光源的测试，从而得到该被测光源在不同高度的光照一致性，继而选择最佳的光照高度，以使得被测光源的最佳安装高度即为该最佳的光照高度，以尽可能地避免光照散射角的影响。

可选的，该控制器还与该第二轴和/或该第三轴连接。

如上所示的S601中控制采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动，可包括：

向该控制器发送第二移动控制指令。

第二移动控制指令可使得控制器根据该第二移动控制指令，控制该第二轴进行移动，使得该被测光源在该第二轴和该第三轴所在平面上沿着该第三轴进行移动。

第二移动控制指令还可使得控制器根据该第二移动控制指令，控制该第三轴进行移动，使得该被测光源在该第二轴和该第三轴所在平面上沿着该第二轴进行移动。

可选的，如上所示的S601中控制采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动，可包括：

根据预设的移动参数，控制该采光板在该第二轴和该第三轴所在平面上进行移动；该移动参数包括如下至少一种：移动步进、移动速度、该预设移动面积。

可选的，该预设移动面积大于该被测光源的出光面的面积。

可选的，该采光板包括：感光传感器及MCU。

如上所述的S602中在移动过程中，控制所述采光板采集移动面积内多个采光位置的光照强度，可包括：

向该MCU发送采集控制指令，以使该MCU将该采光控制指令传输至该感光传感器，使得该感光传感器将根据该采集控制指令，采集该移动面积内该多个采光位置的光照强度。

如上所示的S603中获取该多个采光位置的光照强度，可包括：

接收该感光传感器通过该MCU传输的该多个采光位置的光照强度。

可选的，如上所述的采集控制指令包括单个采光位置的采光时长，和/或，单个采光位置的采光时长。

可选的，每个采光位置的光照强度包括：该每个采光位置的平均光照强度。该平均光照强度为该MCU根据采集到的该每个采光位置的至少一次的光照强度所得到的。

本申请实施例提供的光源测试方法，可应用于上述光源测试仪中，其具体实现过程及有益效果参见上述，在此不再赘述。

本申请实施例还可可提供一种光源测试装置。图7为本申请实施例提供的一种光源测试装置的结构示意图。该光源测试装置可适用于包括三轴平台的光源测试仪，该三轴平台包括：相互垂直的第一轴、第二轴和第三轴；被测光源固定在该第一轴上，该采光板固定在该第二轴和该第三轴所在平面上，使得该被测光源的出光面与该采光板的采光面相对。

如图7所示，光源测试装置70包括：

第一移动控制模块71，用于控制该采光板在该第二轴和该第三轴所在平面上进行移动。

采光控制模块72，用于在移动过程中，控制该采光板采集预设移动面积内多个采光位置的光照强度。

获取模块73，用于获取该多个采光位置的光照强度。

可选的，如上所示的该光源测试仪还包括：控制器，该控制器与该第一轴连接。

光源测试装置70还包括：

第二移动控制模块，用于向该控制器发送第一移动控制指令，使得该控制器根据该第一移动控制指令，控制该第一轴进行移动，使得该被测光源沿着该第一轴移动。

可选的，该控制器还与该第二轴和/或该第三轴连接。

第一移动控制模块71，具体用于向控制器发送第二移动控制指令，使得该控制器根据该第二移动控制指令，控制该第二轴或第三轴进行移动，使得该被测光源在该第二轴和该第三轴所在平面上沿着该第二轴进行移动，或者，沿着该第三轴进行移动。

可选的，第一移动控制模块71具体用于根据预设的移动参数，控制该采光板在该第二轴和该第三轴所在平面上进行移动；该移动参数包括如下至少一种：移动步进、移动速度、该预设移动面积。

可选的，该预设移动面积大于该被测光源的出光面的面积。

可选的，采光板包括：感光传感器及MCU。

采集控制模块72，具体用于向该MCU发送采集控制指令，以使该MCU将该采光控制指令传输至该感光传感器；该采集控制指令用于使得该感光传感器将根据该采集控制指令，采集该移动面积内该多个采光位置的光照强度。

获取模块73，具体用于接收该感光传感器通过该MCU传输的该多个采光位置的光照强度。

可选的，该采集控制指令包括单个采光位置的采光时长，和/或，单个采光位置的采光时长。

可选的，每个采光位置的光照强度包括：该每个采光位置的平均光照强度。

该平均光照强度为该MCU根据采集到的该每个采光位置的至少一次的光照强度所得到的。

本申请实施例提供的光源测试装置，可应用于上述光源测试仪中执行上述光源测试方法，其具体实现过程及有益效果参见上述，在此不再赘述。

本申请实施例还可提供一种计算机设备。图8为本申请实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。如图8所示，该计算机设备80可包括：存储器81和处理器82。存储器81与处理器82耦合。

存储器81，用于存储程序指令。

处理器82，用于调用存储器81存储的程序指令，使得计算机设备80执行上述任一所述的光源测试方法。

本申请实施例还可提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器82执行时实现执行上述任一所述的光源测试方法。

本申请实施例提供的计算机设备及计算机可读存储介质，可执行上述任一所述实施例提供的光源测试方法，其具体的实现过程及有益效果参见上述，在此不再赘述。

后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (21)

1.一种光源测试仪，其特征在于，包括：

外壳；

三轴平台，位于所述外壳内，所述三轴平台包括：相互垂直的第一轴、第二轴和第三轴，其中所述第一轴用于固定被测光源；以及

采光板，其位于所述外壳内，并固定在所述第二轴和所述第三轴所在平面上，使得所述被测光源的出光面与所述采光板的采光面相对，所述采光板用于在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动，并在所述移动过程中，采集移动面积内多个采光位置的光照强度。

2.根据权利要求1所述的光源测试仪，其特征在于，所述外壳的内侧涂有吸光材料。

3.根据权利要求1所述的光源测试仪，其特征在于，所述移动面积大于或等于所述被测光源的出光面的面积。

4.根据权利要求3所述的光源测试仪，其特征在于，所述被测光源为如下任一类型的光源：

发光二极管LED光源、红外光源、激光光源、点阵光源组成的面光源。

5.根据权利要求1所述的光源测试仪，其特征在于，所述光源测试仪还包括：第一夹具，所述被测光源通过所述第一夹具固定在所述第一轴上。

6.根据权利要求5所述的光源测试仪，其特征在于，所述第一夹具包括调节部件，所述调节部件用于调节所述被测光源的出光面所在的平面。

7.根据权利要求1所述的光源测试仪，其特征在于，所述光源测试仪还包括第二夹具，所述采光板通过所述第二夹具固定在所述第二轴和所述第三轴所在平面上。

8.根据权利要求1-7中任一项所述的光源测试仪，其特征在于，所述采光板包括：感光传感器及微处理单元MCU；

所述感光传感器与所述MCU连接；所述MCU与计算机设备连接，用于接收所述计算机设备发送的采集控制指令，并将所述采光控制指令传输至所述感光传感器；

所述感光传感器，用于根据所述采集控制指令，采集所述移动面积内所述多个采光位置的光照强度，并将所述多个采光位置的光照强度通过所述MCU传输至所述计算机设备。

9.根据权利要求1-7中任一项所述的光源测试仪，其特征在于，所述光源测试仪还包括：控制器；

所述控制器分别与所述第一轴、所述第二轴和所述第三轴连接；

所述控制器用于：控制所述第一轴进行移动，使得所述被测光源沿着所述第一轴移动；控制所述第二轴进行移动，使得所述采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上沿着所述第三轴进行移动；控制所述第三轴进行移动，使得所述采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上沿着所述第二轴进行移动。

10.根据权利要求9所述的光源测试仪，其特征在于，所述控制器还与计算机设备连接，用以接收所述计算机设备发送的移动控制指令，并根据所述移动控制指令，控制所述三轴平台上的对应轴进行移动。

11.一种光源测试方法，其特征在于，所述光源测试方法适用于包括三轴平台的光源测试仪，所述三轴平台包括：相互垂直的第一轴、第二轴和第三轴；被测光源固定在所述第一轴上，采光板固定在所述第二轴和所述第三轴所在平面上，使得所述被测光源的出光面与所述采光板的采光面相对；所述方法包括：

控制所述采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动；

在移动过程中，控制所述采光板采集预设移动面积内多个采光位置的光照强度；

获取所述多个采光位置的光照强度。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述光源测试仪还包括：控制器，所述控制器与所述第一轴连接；

所述方法还包括：

向所述控制器发送第一移动控制指令，使得所述控制器根据所述第一移动控制指令，控制所述第一轴进行移动，使得所述被测光源沿着所述第一轴移动。

13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述控制器还与所述第二轴和/或所述第三轴连接；

所述控制采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动，包括：

向所述控制器发送第二移动控制指令，使得所述控制器根据所述第二移动控制指令，控制所述第二轴或第三轴进行移动，使得所述被测光源在所述第二轴和所述第三轴所在平面上沿着所述第二轴进行移动，或者，沿着所述第三轴进行移动。

14.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述控制采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动，包括：

根据预设的移动参数，控制所述采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动；所述移动参数包括如下至少一种：移动步进、移动速度、所述预设移动面积。

15.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述预设移动面积大于所述被测光源的出光面的面积。

16.根据权利要求11-15中任一项所述的方法，其特征在于，所述采光板包括：感光传感器及微处理单元MCU；所述在移动过程中，控制所述采光板采集移动面积内多个采光位置的光照强度，包括：

向所述MCU发送采集控制指令，以使所述MCU将所述采光控制指令传输至所述感光传感器；所述采集控制指令用于使得所述感光传感器将根据所述采集控制指令，采集所述移动面积内所述多个采光位置的光照强度；

所述获取所述多个采光位置的光照强度，包括：

接收所述感光传感器通过所述MCU传输的所述多个采光位置的光照强度。

17.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，所述采集控制指令包括单个采光位置的采光时长，和/或，单个采光位置的采光时长。

18.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，每个采光位置的光照强度包括：所述每个采光位置的平均光照强度；

所述平均光照强度为所述MCU根据采集到的所述每个采光位置的至少一次的光照强度所得到的。

19.一种光源测试装置，其特征在于，所述光源测试装置适用于包括三轴平台的光源测试仪，所述三轴平台包括：相互垂直的第一轴、第二轴和第三轴；被测光源固定在所述第一轴上，采光板固定在所述第二轴和所述第三轴所在平面上，使得所述被测光源的出光面与所述采光板的采光面相对；

所述光源测试装置包括：

移动控制模块，用于控制所述采光板在所述第二轴和所述第三轴所在平面上进行移动；

采光控制模块，用于在移动过程中，控制所述采光板采集预设移动面积内多个采光位置的光照强度；

获取模块，用于获取所述多个采光位置的光照强度。

20.一种计算机设备，其特征在于，包括：存储器和处理器；所述存储器与所述处理器耦合；

所述存储器，用于存储程序指令；

所述处理器，用于调用所述存储器存储的程序指令，使得所述计算机设备执行上述权利要求11-18中任一项所述的光源测试方法。

21.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括：其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求11-18中任一项所述的光源测试方法。

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