CN101169337A - 发光二极管测量仪 - Google Patents
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Abstract
一种新型的发光二极管测量仪，由光电探头，二维或二维以上运动机构，测量控制器和显示控制接口组成。该仪器可以自动地移动到相应的测量位置，自动测量每支发光器件的发光亮度或其它光电参数并保存，从而实现对多支发光二极管组成的组件进行高速的测量和记录，具有高效、准确的优点。
Description
所属技术领域
本发明涉及一种发光二极管光电参数自动测量仪器。适用于发光二极管点阵、显示板、发光二极管显示屏、由发光二极管组成的背光源的生产、计量、检测等领域。
背景技术
发光二极管，是属于一种电致发光器件。随着技术的进步，目前已经有红色、绿色、蓝色、紫色的发光二极管，通过添加荧光粉，还可以用蓝色的发光二极管发出白色光。发光二极管和其他光源相比，具有长寿命，高响应速度，高亮度和高可靠性等优点，因此广泛应用于电子显示屏，背光源，交通指示灯等场合。随着应用范围的不断扩大，对于发光二极管的测量要求也在不断的提升。目前，发光二极管的测量手段主要是采用光度计等仪器对单个的发光器件进行测量，对于由多支发光二极管组成的组件，只能采用手工移动测量探头并逐个记录的模式进行，由于测量结果和探头与被测器件的相对位置直接相关，因此，目前的测量方法在测量多支发光二极管组成的组件时存在着效率低下，测量精度无法保证的缺陷。
发明内容
为了克服现有测量手段的不足，本发明提供了一种新型的发光二极管测量仪器，对于多支发光二极管组成的组件，该仪器可以自动地移动到相应的测量位置，自动测量每支发光器件的发光亮度或其它光电参数并保存，从而实现对多支发光二极管组成的组件进行高速的测量和记录，具有高效、准确的优点。
本发明的解决方案是：发光二极管测量仪由光电探头，二维或二维以上运动机构，测量控制器和显示控制接口组成。
其中，光电探头为一光电传感器和必要的放大电路，可以是测量发光器件光强的光度探头，也可以是测量发光二极管频率特性的频率测量探头，还可以是测量发光二极管光通量的积分球。
二维或二维以上运动机构主要负责完成光电探头和被测器件相对位置的移动。该机构的每一维可以由丝杆及螺母、滑轨及滑块、连轴器、电机及驱动器，再配上相应的丝杆支撑座、指示零点位置的开关及必要的连接件组成，也可以直接采用直线电机加相应的驱动器来完成。该机构主要负责根据测量控制器发来的位置移动指令，完成光电探头和被测组件相对位置的移动。由于测量主要和相对位置相关，因此，可以采用多种方式来固定光电探头和被测组件，可以是将被测组件固定不动而光电探头固定在运动机构上进行移动，也可以将被测组件固定在运动机构上进行移动而光电探头固定不动，还可以将光电探头固定在其中一维的运动机构(比如说固定在x方向的运动机构)上而被测组件固定在另一维或多维运动机构(比如说固定在Y方向的运动机构)上，以上多种固定模式均可完成被测组件与光电探头相对位置的改变。
测量控制器，该测量控制器用来对光电探头的测量结果进行读取，对运动机构的运动位置进行控制，同时通过显示控制接口，对被测组件的显示内容进行控制。测量控制器由中央处理器、程序存储器、数据存储器加上必要的逻辑接口电路组成。在光电探头的输出为模拟信号时，测量控制器上需装有A/D转换器，用来对模拟量进行数字化。同时，为了改善使用的方便性，测量控制器可装有显示器和键盘。
显示控制接口，测量控制器通过该接口直接控制被测组件的显示，如某一支发光二极管以一定的电流值进行显示，从而配合光电探头完成需要的光电参数的测量。
本发明的有益效果是，可以自动地测量有多个发光器件组成的显示组件的光电参数，具有准确快速的优点。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明一个二维发光二极管亮度测量仪的实施例的结构正面示意图
图2是本发明一个二维发光二极管亮度测量仪的实施例的结构侧面示意图
图3是本发明其中一维运动机构的结构示意图
图4是本发明一个二维发光二极管亮度测量仪的实施例的原理框图。
图中：1.测试台外壳支架，2.测量控制器，3.光度探头，4.X方向运动机构，5.Y方向运动机构，6.被测组件7.显示控制接口，501.滑块，502.滑轨，503.丝杆支撑座，504.丝杆及丝杆螺母，505.光电开关，506.步进电机，507.联轴器，508.光电开关档片，509.步进电机驱动器，510.连接件
具体实施方式
如图1、图2、图4所示，整个二维发光二极管亮度测量仪器的结构如下：
在测试台外壳支架(1)上装有X方向运动的机构(4)和Y方向运动机构(5)，同时，在外壳支架(1)上装有测量控制器(2)和用来控制被测组件(6)的显示控制接口(7)，被测组件(6)被固定在Y轴运动机构上，光度探头(3)被固定在X方向运动机构上。
其中Y方向的运动机构的构造如图3所示，由滑块(501)，滑轨(502)，丝杆支撑座(503)，丝杆及丝杆螺母(504)，光电开关(505)，步进电机(506)，联轴器(507)，光电开关档片(508)，步进电机驱动器(509)、连接件(510)组成。丝杆及丝杆螺母(504)由两个丝杆支撑座(503)固定，固定在测试台外壳支架(1)上的步进电机(506)通过联轴器(507)和丝杆连接，丝杆螺母、滚珠滑块(501)、光电开关档片(508)通过必要的连接件(510)连接在一起，步进电机驱动器(509)接收测量控制器(2)发来的运动脉冲和方向信号，驱动步进电机(506)转动从而带动丝杠转动，丝杠转动推动丝杠螺母及连接件(510)进行直线运动。在丝杠螺母运动过程中，在某一位置光电开关档片(508)将刚好位于光电开关(505)的缺口位置，使光电开关(505)的输出发生变化，测量控制器(2)从而确定Y轴的零点参考位置。由于丝杠的导程为一固定值，且步进电机驱动器(509)每接收一个脉冲和方向指令，将使步进电机带着丝杠转动一个固定的角度，因此测量控制器(2)可以将定位目标值转换为脉冲数和方向信号从而完成坐标定位。X轴的运动机构组成和Y轴相似，仅仅是将滑轨和滑块的数量均变为一个而已。
测量控制器(2)由一个微处理器，数据存储器，程序存储器，运动控制接口电路，显示控制接口电路，键盘和显示器，通讯接口，对外编程接口组成。其中微处理器，数据存储器，程序存储器为程序执行的必须部件，运动控制接口电路用来连接步进电机驱动器，显示控制接口电路可通过壳体支架(1)上的显示控制接口(7)控制被测组件(6)按一定的内容和电流参数显示一支或多支发光二极管。键盘用来输入测量参数和测量指令，显示器用来显示测量位置及测量结果等信息。通讯接口可以用来将测量结果及其他信息传送到打印机或电脑上。在测量一些被测组件上装有可存储自身参数的非易失存储器，可通过对外编程接口直接将测量结果进行处理，然后写入到被测组件的存储器上，整个测量记录过程全自动完成。
下面以测量一个8×8的发光二极管显示板被测组件为例，来说明测量过程。
被测组件的显示内容输入端通过显示控制接口(7)和测试仪相连，同时，被测组件被固定在Y方向运动机构(5)上
首先，测量控制器(2)向X方向运动的机构(4)和Y方向运动机构(5)发送定位方向和定位脉冲，使光度探头(3)对准8×8的发光二极管显示板的第一行第一列发光管的位置，通过显示控制接口(7)，测量控制器发送显示信号，使第一行第一列的发光二极管以一定的电流点亮，其余发光管全部不点亮，测量控制器通过板上的A/D转换器读取光度探头(3)的输出值，并将其显示在液晶显示器上，同时记录在测量控制器的内部存储器中。在完成第一行第一列的发光二极管测量后，测量控制器再次向X方向运动的机构(4)和Y方向运动机构(5)发送定位方向和定位脉冲，使光度探头对准8×8的发光二极管显示板的第一行第二列发光管的位置，通过显示控制接口，测量控制器发送显示信号，使第一行第一列的发光二极管不点亮，第一行第二列的发光二极管以一定的电流点亮，测量控制器再次读取光度探头(3)的输出值进行显示和存储，如此重复进行64次，即可完成一个8×8显示板的测量。由于丝杠的定位精度极高(一般可以达到0.05mm)，而8×8的发光二极管显示板的每支发光管的位置是确定的，因此，每次光度探头均可准确对准发光二极管，从而保证测量标准的一致性。而且，整个测量过程为自动完成，无需人工干预，因此测量的速度极快，可在较短的时间内完成整个的测量过程。
测量的结果可通过测量控制器上的通讯接口传送到外部打印机进行打印，或传给外部电脑进行进一步处理。对于板上装有非易失存储器的被测组件，测量控制器可通过对外编程接口，将测量结果及其他相关信息进行处理，然后写入到被测组件的非易失存储器上。
上述实施例是本发明的一个典型实施例，在针对一些具体的被测组件时，可对其中的一些部件进行调整，下面的这些调整将使本发明带来的有益效果更为明显。
在被测组件的发光二极管数量较多时，可以通过一些改进进一步地提升测量速度。如将步进电机和驱动器更换成伺服电机和驱动器，可进一步提升测量速度和定位精度，或者将整个运动机构采用直线电机及驱动器来代替，也可进一步提升速度和定位精度。还可以采用插有运动控制卡和A/D采集卡的电脑加上必要的接口板作为测量控制器，以进一步提升测量速度和用户界面的友好程度。
对于测量一些带有角度或发光二极管高度不同的被测组件(6)，可通过增加Z方向的运动机构或旋转运动机构来完成更为复杂的测量动作。
上述实施例中，光电探头(3)为光度探头，在一些需要测量被测组件上的发光二极管的波长或光通量的场合，可以将光度探头变换为频率测量探头或积分球。
同时，也可以增加光电探头(3)的数量，如采用多个同类或不同类的光电探头，进一步增强测量功能和提升测量速度。
Claims (8)
1.一种发光二极管测量仪，包含有外壳支架、光电探头，其特征是，在外壳支架上装有测量控制器、二维或二维以上运动机构和用来控制被测组件显示内容的显示控制接口。
2.根据权利要求1所述的发光二极管测量仪，其特征在于测量控制器由中央处理器，数据存储器，程序存储器，A/D转换器接口电路组成。
3.根据权利要求1所述的发光二极管测量仪，其特征在于测量控制器由微型电脑、运动控制卡和数据采集卡组成。
4.根据权利要求1所述的发光二极管测量仪，其特征在于测量控制器带有编程接口，可通过该接口向被测组件上的存储器写入被测组件的测量相关信息。
5.根据权利要求1所述的发光二极管测量仪，其特征在于测量控制器带有显示屏幕，用来显示测量数据和坐标等信息。
6.根据权利要求1所述的发光二极管测量仪，其特征在于测量控制器带有键盘，可以用来设置测量相关的参数和输入测量命令。
7.根据权利要求1所述的发光二极管测量仪，其特征在于二维或二维以上运动机构由丝杠及螺母、丝杆支撑座、电机、电机驱动器、滑轨、滑块、联轴器及零点位置开关、开关挡片和连接件组成。
8.根据权利要求1所述的发光二极管测量仪，其特征在于二维或二维以上运动机构由直线电机及其驱动器组成。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 200610136465 CN101169337A (zh) | 2006-10-24 | 2006-10-24 | 发光二极管测量仪 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 200610136465 CN101169337A (zh) | 2006-10-24 | 2006-10-24 | 发光二极管测量仪 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101169337A true CN101169337A (zh) | 2008-04-30 |
Family
ID=39390033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN 200610136465 Pending CN101169337A (zh) | 2006-10-24 | 2006-10-24 | 发光二极管测量仪 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN101169337A (zh) |
Cited By (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102288543A (zh) * | 2011-07-28 | 2011-12-21 | 深圳中科光华科技有限公司 | 一种led显示屏模组检测装置及其检测方法 |
| CN102032984B (zh) * | 2009-09-25 | 2012-01-11 | 惠特科技股份有限公司 | 发光二极管的光性量测方法 |
| CN102455417A (zh) * | 2010-10-14 | 2012-05-16 | 泰金宝光电(苏州)有限公司 | 发光二极管灯具的测试系统 |
| CN102544255A (zh) * | 2010-11-01 | 2012-07-04 | 三星Led株式会社 | 用于测量led封装的光学性质的设备 |
| CN101726404B (zh) * | 2008-10-15 | 2012-10-10 | 中茂电子(深圳)有限公司 | 具有多个发光元件的发光组件的检测机台及其检测方法 |
| CN103438994A (zh) * | 2013-06-24 | 2013-12-11 | 京东方科技集团股份有限公司 | 紫外光辐射照度自动测量装置 |
| CN103776612A (zh) * | 2014-01-13 | 2014-05-07 | 哈尔滨工程大学 | 评估仿生非光滑表面减阻效果的试验装置及方法 |
| CN104697752A (zh) * | 2015-03-27 | 2015-06-10 | 常州光电技术研究所 | 一种扫描式光源测试系统 |
| CN104792498A (zh) * | 2015-03-27 | 2015-07-22 | 常州光电技术研究所 | 一种光源动态测试方法 |
| CN104851823A (zh) * | 2015-04-03 | 2015-08-19 | 沈阳拓荆科技有限公司 | X、y双轴联动非接触式晶圆翘曲度测量设备 |
| CN105013720A (zh) * | 2015-07-07 | 2015-11-04 | 长治市华杰光电科技有限公司 | Led分光机结构 |
| CN105334476A (zh) * | 2015-11-30 | 2016-02-17 | 广东酷柏光电股份有限公司 | 一种led灯丝检测装置 |
| CN108107381A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-06-01 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 | Led寿命测试系统 |
| CN108332949A (zh) * | 2018-01-22 | 2018-07-27 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） | 发光器件可靠性测试箱、测试装置和方法 |
| RU186164U1 (ru) * | 2018-03-13 | 2019-01-11 | Роман Сергеевич Ульянов | Спектрометр для измерения излучения видимого диапазона с функцией определения местоположения |
| CN109186755A (zh) * | 2018-08-20 | 2019-01-11 | 北京国科世纪激光技术有限公司 | 一种激光器能量监测装置 |
| CN109708845A (zh) * | 2018-12-20 | 2019-05-03 | 合肥市航嘉电子技术有限公司 | 一种检测设备 |
| CN110849587A (zh) * | 2018-08-21 | 2020-02-28 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 光源测试仪、方法、装置、设备及存储介质 |
| CN111650398A (zh) * | 2020-05-29 | 2020-09-11 | 上海交通大学 | Ldv测量圆管内部二维流场的装置 |
| CN111795803A (zh) * | 2020-06-23 | 2020-10-20 | 深圳市摩西尔工业检测设备有限公司 | 一种面发光体二维发光检测方法 |
| CN112985595A (zh) * | 2021-03-25 | 2021-06-18 | 青岛天仁微纳科技有限责任公司 | 一种用于纳米压印设备的uv灯监测装置及其监测方法 |
-
2006
- 2006-10-24 CN CN 200610136465 patent/CN101169337A/zh active Pending
Cited By (29)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101726404B (zh) * | 2008-10-15 | 2012-10-10 | 中茂电子(深圳)有限公司 | 具有多个发光元件的发光组件的检测机台及其检测方法 |
| CN102032984B (zh) * | 2009-09-25 | 2012-01-11 | 惠特科技股份有限公司 | 发光二极管的光性量测方法 |
| CN102455417A (zh) * | 2010-10-14 | 2012-05-16 | 泰金宝光电(苏州)有限公司 | 发光二极管灯具的测试系统 |
| CN102455417B (zh) * | 2010-10-14 | 2013-09-18 | 泰金宝光电(苏州)有限公司 | 发光二极管灯具的测试系统 |
| CN102544255A (zh) * | 2010-11-01 | 2012-07-04 | 三星Led株式会社 | 用于测量led封装的光学性质的设备 |
| CN102288543A (zh) * | 2011-07-28 | 2011-12-21 | 深圳中科光华科技有限公司 | 一种led显示屏模组检测装置及其检测方法 |
| WO2014205891A1 (zh) * | 2013-06-24 | 2014-12-31 | 京东方科技集团股份有限公司 | 紫外光辐射照度自动测量装置 |
| CN103438994A (zh) * | 2013-06-24 | 2013-12-11 | 京东方科技集团股份有限公司 | 紫外光辐射照度自动测量装置 |
| CN103776612B (zh) * | 2014-01-13 | 2016-06-29 | 哈尔滨工程大学 | 评估仿生非光滑表面减阻效果的试验装置及方法 |
| CN103776612A (zh) * | 2014-01-13 | 2014-05-07 | 哈尔滨工程大学 | 评估仿生非光滑表面减阻效果的试验装置及方法 |
| CN104697752A (zh) * | 2015-03-27 | 2015-06-10 | 常州光电技术研究所 | 一种扫描式光源测试系统 |
| CN104792498A (zh) * | 2015-03-27 | 2015-07-22 | 常州光电技术研究所 | 一种光源动态测试方法 |
| CN104792498B (zh) * | 2015-03-27 | 2018-03-06 | 常州光电技术研究所 | 一种光源动态测试方法 |
| CN104851823A (zh) * | 2015-04-03 | 2015-08-19 | 沈阳拓荆科技有限公司 | X、y双轴联动非接触式晶圆翘曲度测量设备 |
| CN104851823B (zh) * | 2015-04-03 | 2018-03-23 | 沈阳拓荆科技有限公司 | X、y双轴联动非接触式晶圆翘曲度测量设备 |
| CN105013720A (zh) * | 2015-07-07 | 2015-11-04 | 长治市华杰光电科技有限公司 | Led分光机结构 |
| CN105334476A (zh) * | 2015-11-30 | 2016-02-17 | 广东酷柏光电股份有限公司 | 一种led灯丝检测装置 |
| CN108107381A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-06-01 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 | Led寿命测试系统 |
| CN108332949A (zh) * | 2018-01-22 | 2018-07-27 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） | 发光器件可靠性测试箱、测试装置和方法 |
| RU186164U1 (ru) * | 2018-03-13 | 2019-01-11 | Роман Сергеевич Ульянов | Спектрометр для измерения излучения видимого диапазона с функцией определения местоположения |
| CN109186755A (zh) * | 2018-08-20 | 2019-01-11 | 北京国科世纪激光技术有限公司 | 一种激光器能量监测装置 |
| CN109186755B (zh) * | 2018-08-20 | 2021-02-12 | 北京国科世纪激光技术有限公司 | 一种激光器能量监测装置 |
| CN110849587A (zh) * | 2018-08-21 | 2020-02-28 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 光源测试仪、方法、装置、设备及存储介质 |
| CN109708845A (zh) * | 2018-12-20 | 2019-05-03 | 合肥市航嘉电子技术有限公司 | 一种检测设备 |
| CN111650398A (zh) * | 2020-05-29 | 2020-09-11 | 上海交通大学 | Ldv测量圆管内部二维流场的装置 |
| CN111650398B (zh) * | 2020-05-29 | 2021-08-06 | 上海交通大学 | Ldv测量圆管内部二维流场的装置 |
| CN111795803A (zh) * | 2020-06-23 | 2020-10-20 | 深圳市摩西尔工业检测设备有限公司 | 一种面发光体二维发光检测方法 |
| CN111795803B (zh) * | 2020-06-23 | 2022-11-01 | 深圳市摩西尔工业检测设备有限公司 | 一种面发光体二维发光检测方法 |
| CN112985595A (zh) * | 2021-03-25 | 2021-06-18 | 青岛天仁微纳科技有限责任公司 | 一种用于纳米压印设备的uv灯监测装置及其监测方法 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C57 | Notification of unclear or unknown address | ||
| DD01 | Delivery of document by public notice |
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|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C57 | Notification of unclear or unknown address | ||
| DD01 | Delivery of document by public notice |
Addressee: Jiu Chaohui Document name: Notification of Publication of the Application for Invention |
|
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Open date: 20080430 |