CN110779624A - 屏幕闪烁检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本公开涉及一种屏幕闪烁检测方法及装置，该方法适用于主机对待测屏幕进行检测，包括：于待测屏幕开机显示时，通过闪烁检测器检测待测屏幕的亮度变化，其中闪烁检测器与主机电性连接，闪烁检测器具有一光敏电阻，且光敏电阻架设于待测屏幕上，并使光敏电阻朝向待测屏幕的显示画面；将光敏电阻的测量值与阈值进行比较。当测量值大于阈值时，输出第一准位以表示待测屏幕的显示画面为暗画面；当测量值小于阈值时，输出第二准位以表示待测屏幕的显示画面为亮画面。最后根据闪烁检测器的检测结果，以波形图显示第一准位及第二准位的波形变化。

Description

屏幕闪烁检测方法及装置

技术领域

本申请涉及屏幕闪烁的领域，尤其涉及一种屏幕闪烁检检测方法及可执行此方法的装置。

背景技术

传统阴极射线管(CRT)屏幕应用逐条扫描的原理成像，当屏幕更新率过低时将产生会闪烁。相较而言，发光二极管(LED)背光则是通过脉冲宽度调制(PWM)的方式来调光，让LED通过反复亮暗来进行亮度的调整，亮度调得越暗，那么LED反复亮暗的频率就会下降，而容易被肉眼感知到闪烁。

据用户反馈，当计算机与扩充基座(Docking Station)连接使用且将屏幕外接在扩充基座产品上面时。屏幕在闲置状态下，会发生不预期的闪烁现象，且发生频率约1周1次。这种情况下使用人工去监控是不合理且浪费人力。

目前市场上的屏幕闪烁检测设备，存在下列缺点：多以高速摄影机为主，且大部分监测时间都不长，因为进行图像识别以判断屏幕闪烁变化时，所监控图像都是属于大文件、高清图像，这需要很大的数据存储空间；需要在暗房、无其他光源干扰的环境下方能正常运行；再者，闪烁检测设备与环境的建置费用相当昂贵。

发明内容

有鉴于此，根据本发明的一实施例，在此提出了一种屏幕闪烁检测方法，适用于一主机对一待测屏幕进行检测，包括：于一待测屏幕开机显示时，通过一闪烁检测器检测待测屏幕的亮度变化，其中闪烁检测器与主机电性连接，闪烁检测器具有一光敏电阻，且光敏电阻架设于待测屏幕上，并使光敏电阻朝向待测屏幕的一显示画面；将光敏电阻的一测量值与一阈值进行比较；当测量值大于阈值时，输出一第一准位以表示待测屏幕的显示画面为一暗画面；当测量值小于阈值时，输出一第二准位以表示待测屏幕的显示画面为一亮画面；以及根据闪烁检测器的检测结果，以一波形图显示第一准位及第二准位的波形变化。

根据本发明的一实施例，在此提出了一种屏幕闪烁检测装置，适用于一待测屏幕进行检测包括：一主机；一闪烁检测器，电性连接主机，闪烁检测器具有一光敏电阻；其中光敏电阻架设于待测屏幕上，并使光敏电阻朝向待测屏幕的一显示画面；其中主机将光敏电阻的一测量值与一阈值进行比较，当测量值大于阈值时，输出一第一准位以表示待测屏幕的显示画面为一暗画面，当测量值小于阈值时，输出一第二准位以表示待测屏幕的显示画面为一亮画面；其中主机根据闪烁检测器的检测结果，以一波形图显示第一准位及第二准位的波形变化。

本公开使用价格相对低廉的光敏电阻搭配硬件治具，架设在屏幕画面上方，无须以大文件图像去做图像识别，数据存储空间要求相对降低许多，测试环境上也不需要特别的暗房环境去隔绝光源干扰，在一般实验室环境即可执行。

为了能更进一步了解本发明为实现既定目的所采取的技术、方法及技术效果，请参阅以下有关本发明的详细说明、附图，相信本发明的目的、特征与特点，当可由此得以深入且具体的了解，然而说明书附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制者。

附图说明

为了更清楚的说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出过多努力的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。其中：

图1呈现本发明一实施例所示出闪烁检测器的架设示意图；

图2呈现本发明一实施例所示出屏幕闪烁检测装置的系统方框图；

图3呈现本发明一实施例所示出主机根据闪烁检测器的检测结果所输出的波形图；

图4呈现本发明一实施例所示出屏幕闪烁检测装置的系统方框图；

图5呈现本发明一实施例所示出屏幕闪烁检测方法的流程图。

具体实施方式

以下是通过特定的具体实施例来说明本发明所公开有关“屏幕闪烁检测方法及装置”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本发明的优点与效果。本发明可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不悖离本发明的构思下进行各种修改与变更。另外，本发明的附图仅为简单示意说明，并非依实际尺寸的描绘，事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本发明的相关技术内容，但所公开的内容并非用以限制本发明的保护范围。

应当可以理解的是，虽然本文中可能会使用到“第一”、“第二”、“第三”等术语来描述各种组件或者信号，但这些组件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要是用以区分一组件与另一组件，或者一信号与另一信号。另外，本文中所使用的术语“或”，应视实际情况可能包括相关联的列出项目中的任一个或者多个的组合。

请参阅图1，其呈现本发明一实施例所示出闪烁检测器的架设示意图。如图所示，闪烁检测器111可例如包含多组光敏电阻112，在此是以4组光电阻举例说明。光敏电阻112被固定于待测屏幕110，进一步来说，光敏电阻112是朝向待测屏幕110的显示画面；4组光敏电阻112接触待测屏幕110的周围已被两件遮光条121所覆盖，以减少环境光源对光敏电阻112的影响。

由于光敏电阻112在接受光源照射时，光敏电阻112内部原本处于稳定状态的电子受到激发，成为自由电子。本发明即可从而得知光敏电阻112电阻值的变化以分析光源亮度状态，进而实现长时间自动化屏幕闪烁检测。

在其他实施例中，仅须将1组光敏电阻112固定于一待测屏幕110前方即可进行屏幕闪烁检测，本发明并不以此为限。

请参阅图2，其呈现本发明一实施例所示出屏幕闪烁检测装置的系统方框图。如所示，闪烁检测装置10适用于对一待测屏幕110进行检测。屏幕闪烁检测装置10包括主机119以及具有一光敏电阻112的一闪烁检测器111，其中闪烁检测器111被固定于待测屏幕110前方。

在本实施例中，主机119(比如扩充基座、工业计算机、个人计算机、笔记本电脑或移动装置)可通过一传输线电性连接闪烁检测器111，例如以通用串行总线(USB)缆线将闪烁检测器111与主机119彼此连接。当光敏电阻112被架设于待测屏幕110前方，并确认待测屏幕110可正常显示后，使得光敏电阻112朝向待测屏幕110的一显示画面。主机119即可将光敏电阻112的测量值与一阈值进行比较，并根据比较结果，进一步判断待测屏幕110是否发生闪烁。最后，主机119可通过波形方式显示此一检测结果。

由欧姆定律可知，导电体两端的电压与通过导电体的电流成正比。光敏电阻112的两端的电压压降值即光敏电阻本身的电阻值与所流经的电流值的乘积。

在一实施例中，当光敏电阻112在完全没有接受光线照射的状态下，这时光敏电阻的电阻值为暗电阻(1K欧姆)；当光敏电阻112在充足光线照射的状态下，这时光敏电阻的电阻值为亮电阻(1欧姆)。当待测屏幕110被正常点亮时，闪烁检测器111中的光敏电阻112会呈现亮电阻的稳定状态，相对此时，光敏电阻112所产生的亮电流也呈稳定状态。而当待测屏幕110发生闪烁，也就是待测屏幕110有变暗的情况发生时，此时光敏电阻112也会产生相对应的暗电流。因此，通过以亮电流减去暗电流，即可算出待测屏幕110发生闪烁时，光敏电阻112上的光电流变化。

当光敏电阻112的电阻值由亮电阻变化到暗电阻，或由暗电阻变化到亮电阻时，即可检测光敏电阻112的两端的电压压降值的变化而得知此时待测屏幕110发生闪烁。

在一实施例中，主机119取得光敏电阻112的一引脚的一测量值。在测量电压压降值时，工作电压可以例如是5V，并将所测量到的电压压降经0-1023阶的标准化过程以产生一相对电压压降值，以利后续的数字信号处理。之后，可以经由欧姆定律可推导出R＝V/I，得知当相对电压压降值越大时，则代表电阻值越大。

于一第一时刻，当测量值大于一阈值时，输出一第一准位至主机119以表示待测屏幕110的显示画面为一暗画面；于一第二时刻，当测量值小于一阈值时，输出一第二准位至主机119以表示待测屏幕110的显示画面为一亮画面；以及根据闪烁检测器111的检测结果，以一波形图显示第一准位及第二准位的波形变化。

在一实施例中，测量值为电压测量值，第一准位为第一相对电压准位，第二准位为第二相对电压准位。

在图2的实施例中，主机119可依据上述波形图，分析闪烁检测器111的检测结果。当检测结果为在波形图出现由第一准位(于第一时刻)变化到第二准位(于第二时刻)时，或由第二准位(于第三时刻)变化到第一准位(于第四时刻)时，可分别判定于第一时刻与第二时刻之间，或第三时刻与第四时刻之间，待测屏幕110发生闪烁。

在一实施例中，第一相对电压准位和第二相对电压准位皆介于0-1023之间，阈值介于350-500之间，第一准位等于90，第二准位等于10。

请同时参阅图2和图3，图3呈现本发明一实施例所示出主机119根据闪烁检测器111的检测结果所输出的波形图。如所示，横轴代表时间轴，纵轴代表经二极化转换后的光敏电阻112的一引脚的相对电压压降值，即二极化压降值。经由测量待测屏幕110的黑色背光的压降值可以得出，当待测屏幕110变成黑屏时，相对电压压降值落在350～500之间。

由上述，可取最低350相对压降值为阈值，而将光敏电阻112的一引脚所输出的每笔数据做二极化分类。只要光敏电阻112的一引脚的相对电压压降值大于或等于350，则把其归类在高压降，定义为黑屏，并赋予纵轴数值“90”；倘若光敏电阻112的一引脚的相对电压压降值低于350，则其归类在待测屏幕110已被正常点亮，并赋予纵轴数值”10”。

图3已示出，横轴0-7ms以及24-50ms的期间，纵轴数值等于“10”，待测屏幕110皆呈现出屏幕正常(A)的状态；横轴8-23ms的期间，纵轴数值等于“90”，待测屏幕110呈现出屏幕黑屏(B)的状态；横轴7-8ms的期间，纵轴数值由“10”升至“90”，待测屏幕110呈现闪烁(X)的状态；以及横轴23-24ms的期间，纵轴数值由“90”降至“10”，待测屏幕110亦呈现屏幕闪烁(X)的状态。

在一实施例中，于待测屏幕110发生闪烁时，主机119检测到光敏电阻112的两端的电压压降值的变化并发送一警示信号，警示信号为一声音信号或一显示信号，以提醒用户待测屏幕110当下发生闪烁。

请参阅图4，其呈现本发明一实施例所示出屏幕闪烁检测装置的系统方框图。如图所示，一种闪烁检测装置109，适用于对待测屏幕110进行检测，闪烁检测器111被固定于待测屏幕110，所述装置109包括：具有一光敏电阻112的一闪烁检测器111；与闪烁检测器111电性耦接的一微控制单元(MCU)150以及一主机119，其中主机119、微控制单元150和闪烁检测器111之间已电性连接，待测屏幕110与所述装置109的主机119之间具一电性连接以控制待测屏幕110。

在此实施例中，于一第一时刻，通过MCU150取得光敏电阻112的一引脚的一相对电压压降值；将相对电压压降值与一阈值进行比较；若相对电压压降值大于阈值，记录二极化压降值波形图于第一时刻的相应的纵轴值为一峰值，否则记录二极化压降值波形图于第一时刻的相应纵轴值为一谷值；以及于一第二时刻，计算二极化压降值波形图的纵轴斜率，以分析待测屏幕110的明暗状态。

在一实施例中，于第二时刻，二极化压降值波形图的纵轴出现一前沿值时，指示待测屏幕110当下出现屏幕闪烁。主机119输出一警示信号，警示信号为一声音信号或一显示信号以提醒用户待测屏幕110发生闪烁。

在一实施例中，于第二时刻，二极化压降值波形图的纵轴出现一后缘值时，指示待测屏幕110当下出现一屏幕闪烁。主机119输出一警示信号，警示信号为一声音信号或一显示信号以提醒用户待测屏幕110发生闪烁。

在一实施例中，于第二时刻，出现前沿值即二极化压降值波形图的纵轴先出现谷值，随即出现峰值。

在一实施例中，于第二时刻，出现后缘值即二极化压降值波形图的纵轴先出现峰值，随即出现谷值。

请同时参阅图3、图4和图5，图5呈现本发明一实施例所示出屏幕闪烁检测方法的流程图。此方法适用于闪烁检测装置109对一待测屏幕110进行检测。

在步骤S501之中，于待测屏幕110开机显示时，通过一闪烁检测器111检测待测屏幕110的亮度变化，其中闪烁检测器111已与主机119电性连接，闪烁检测器111之中具有一光敏电阻112，且光敏电阻112被架设于待测屏幕110上，并使光敏电阻112朝向待测屏幕110的一显示画面以利于进行闪烁检测。

在步骤S503之中，测量光敏电阻112的一引脚的一测量值。在一实施例中，测量值为电压测量值。

之后，将测量值进行标准化，并将结果与一阈值进行比较。

在一实施例中，可以利用比如使用一测试程序，比如以Visual Studio C#所编写的程序，每隔10～300ms的时间间隔去读取光敏电阻112的一引脚的压降值。在其他的实施例之中，亦可应用另外的软件或固件以编写测试程序，本发明并不以此为限。

在一实施例中，可利用微控制单元150以实现每隔一段时间间隔而读取光敏电阻112的一引脚压降值。比如可以应用Arduino UNO PLUS读取所述引脚压降值。

在一实施例中，第一准位为第一相对电压准位，第二准位为第二相对电压准位。

于一第一时刻，当标准化后的测量值大于一阈值时，输出一第一准位至主机119以表示待测屏幕110的显示画面为一暗画面；于一第二时刻，当标准化后的测量值小于阈值时，输出一第二准位至主机119以表示待测屏幕110的显示画面为一亮画面。根据闪烁检测器111的检测结果，以一波形图显示第一准位及第二准位的波形变化。

在步骤S505之中，通过分析光敏电阻112的一引脚压降值去判断待测屏幕110状态，并将压降值数据传送至测试程序，测试程序再将收集到的压降值做二极化分类以及分析，在分析完成后即可得知待测屏幕110的明暗状态。

在一实施例中，图5所示的屏幕闪烁检测方法，还包括：分析闪烁检测器111的检测结果；当检测结果为在波形图出现由第一准位(于第一时刻)变化到第二准位(于第二时刻)时，或由第二准位(于第三时刻)变化到第一准位(于第四时刻)时，可分别判定于第一时刻与第二时刻之间，或第三时刻与第四时刻之间，待测屏幕110发生闪烁。

在一实施例中，图5所示的屏幕闪烁检测方法，还包括：于待测屏幕110发生闪烁时，主机119检测到光敏电阻112的两端的电压压降值的变化并发送一警示信号，警示信号为一声音信号或一显示信号。

在步骤S507之中，记录闪烁检测器110的检测结果以及计算于第一时刻与第二时刻之间，或第三时刻与第四时刻之间所出现的屏幕闪烁频率以对待测屏幕110进行功能性评估。

〔实施例的可能技术效果〕

本发明所请求的屏幕闪烁检测方法及装置，具备下列的优点：光敏电阻可以被直接固定于待测屏幕上方，方便架设，并且无须考虑光源干扰以及建置特殊实验环境。闪烁检测装置可直接安装于待测屏幕前方，简化测试架设时间；通过自行开发的软件及固件，可以实时监控屏幕的状态；以波型图及时输出检测结果，可以有效地检测屏幕闪烁；测试程序为一键化操作，无须使用者输入参数，避免误操作发生；以及本屏幕闪烁检测装置的成本较低，不到市面上屏幕闪烁检测设备及环境建置费用的万分之一。

最后须说明地是，于前述说明中，尽管已将本发明技术的概念以多个示例性实施例具体地示出与阐述，然而本领域技术人员将理解，在不背离由以下权利要求所界定的本发明技术的概念的范围的条件下，可对其作出形式及细节上的各种变化。

Claims (10)

1.一种屏幕闪烁检测方法，其特征在于，适用于一主机对一待测屏幕进行检测，包括：

于一待测屏幕开机显示时，通过一闪烁检测器检测该待测屏幕的亮度变化，其中该闪烁检测器与该主机电性连接，该闪烁检测器具有一光敏电阻，且该光敏电阻架设于该待测屏幕上，并使该光敏电阻朝向该待测屏幕的一显示画面；

将该光敏电阻的一测量值与一阈值进行比较；

当该测量值大于该阈值时，输出一第一准位以表示该待测屏幕的该显示画面为一暗画面；

当该测量值小于该阈值时，输出一第二准位以表示该待测屏幕的该显示画面为一亮画面；以及

根据该闪烁检测器的检测结果，以一波形图显示该第一准位及该第二准位的波形变化。

2.如权利要求1所述的屏幕闪烁检测方法，其特征在于，其中该测量值为电压测量值，该第一准位为第一相对电压准位，该第二准位为第二相对电压准位。

3.如权利要求1所述的屏幕闪烁检测方法，其特征在于，还包括：分析该闪烁检测器的检测结果；其中，当检测结果为在该波形图中由该第一准位变化到该第二准位时，或由该第二准位变化到该第一准位时，判定该待测屏幕发生闪烁。

4.如权利要求3所述的屏幕闪烁检测方法，其特征在于，还包括：于该待测屏幕发生闪烁时，输出一警示信号，该警示信号为一声音信号或一显示信号。

5.如权利要求3所述的屏幕闪烁检测方法，其特征在于，还包括：记录该闪烁检测器的检测结果以及计算一屏幕闪烁频率。

6.一种屏幕闪烁检测装置，适用于对一待测屏幕进行检测，其特征在于，包括：

一主机；

一闪烁检测器，电性连接该主机，该闪烁检测器具有一光敏电阻；其中该光敏电阻架设于该待测屏幕上，并使该光敏电阻朝向该待测屏幕的一显示画面；

其中该主机将该光敏电阻的一测量值与一阈值进行比较，当该测量值大于该阈值时，输出一第一准位以表示该待测屏幕的该显示画面为一暗画面，当该测量值小于该阈值时，输出一第二准位以表示该待测屏幕的该显示画面为一亮画面；

其中该主机根据该闪烁检测器的检测结果，以一波形图显示该第一准位及该第二准位的波形变化。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，其中该测量值为电压测量值，该第一准位为第一相对电压准位，该第二准位为第二相对电压准位。

8.如权利要求6所述的装置，其特征在于，其中依据该波形图，分析该闪烁检测器的检测结果，当检测结果为在该波形图中由该第一准位变化到该第二准位时，或由该第二准位变化到该第一准位时，判定该待测屏幕发生闪烁。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，其中于该待测屏幕发生闪烁时，该主机输出一警示信号，该警示信号为一声音信号或一显示信号。

10.如权利要求8所述的装置，其特征在于，其中该主机记录该闪烁检测器的检测结果以及计算一屏幕闪烁频率。

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