CN110732916B - 测头校对装置及方法 - Google Patents

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    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
    • B23Q17/00—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools

Abstract

本发明公开了一种测头校对装置及方法，装置包括千分表、OMP400测头拉丁、夹头、连接盘、CUT200Dedicaced机床主轴托盘、拉丁和CUT200Dedicaced机床主轴，千分表的表头紧贴OMP400测头的探针，OMP400测头拉丁与OMP400测头尾端连接，夹头夹持住OMP400测头拉丁，连接盘上端与夹头通过螺栓连接，CUT200Dedicaced机床主轴托盘，所述CUT200Dedicaced机床主轴托盘上端与连接盘下端螺栓连接，CUT200Dedicaced机床主轴通过拉丁与CUT200Dedicaced机床主轴托盘下端连接。本发明结构简单，效率高，操作时仅仅需旋转主轴读取千分表读数即可对应调整，能够替代厂家提供的校对仪。

Description

测头校对装置及方法
技术领域
本发明属于机械加工技术领域，特别是针对CUT200Dedicaced机床上OMP400测头的校对装置和校对方法。
背景技术
OMP400测头在机床上使用时需进行测针偏心的调整。调整精准需要专用校准仪。CUT200Dedicaced机床在使用OMP400测头时每半月要校对一次，每更换不同规格探针时都需要重新调整校对，如果使用原厂设计的校对装置，不仅费时费工，工作效率低，同时一台校对仪需30万元，成本较高。
发明内容
本发明旨在针对OMP400测头，提出一种测头校对装置及方法，装置结构简单，效率高，操作方便，能够替代厂家提供的校对仪。
本发明采用的技术方案如下：
测头校对装置，包括，
千分表，所述千分表的表头紧贴OMP400测头的探针；
OMP400测头拉丁，所述OMP400测头拉丁与OMP400测头尾端连接；
夹头，所述夹头夹持住OMP400测头拉丁；
连接盘，所述连接盘上端与夹头通过螺栓连接；
CUT200Dedicaced机床主轴托盘，所述CUT200Dedicaced机床主轴托盘上端与连接盘下端螺栓连接；
CUT200Dedicaced机床主轴，所述CUT200Dedicaced机床主轴通过拉丁与CUT200Dedicaced机床主轴托盘下端连接。
优选的，所述夹头为System-3R公司生产的型号为3R-600.28-S的手动卡盘。
优选的，所述连接盘为阶梯状圆盘体，其上端面和下端面开有连接螺孔。
一种采用前述测头校对装置的测头校对方法，包括以下步骤：
步骤一，在CUT200Dedicaced机床主轴上依次连接CUT200Dedicaced机床主轴托盘、连接盘和夹头；
步骤二，对连接盘和夹头进行同轴度校正；
步骤三，在OMP400测头尾端安装OMP400测头拉丁，并通过夹头夹持住OMP400测头拉丁，对夹头和OMP400测头进行同轴度校正；
步骤四，将千分表固定连接在机床床身，千分表表头紧贴OMP400测头的探针，CUT200Dedicaced机床主轴绕A轴旋转，读取千分表表盘的跳动值；
步骤五，根据步骤四中读取的千分表数值调整OMP400测头探针的偏心值。
优选的，所述步骤四中，CUT200Dedicaced机床主轴主轴采用点动旋转。
本发明利用了CUT200Dedicaced机床的特征，机床A轴可旋转带动OMP400测头校正探针中心位置。由于CUT200Dedicaced机床主轴无法与OMP400测头直接连接，因此设计了一个连接盘将主轴托盘、夹头和OMP400测头连接起来，通过旋转机床的A轴，根据千分表的跳动值调整测头上的调整螺钉校正探针。
与现有技术相比，本发明利用了CUT200Dedicaced机床的主轴旋转特性，通过夹头、连接盘、主轴托盘最终将测头与机床主轴连接，通过千分表测量测头旋转过程中的跳动值相应调整其偏心值，整套校正装置简单易用，成本远远低于现有的校对仪器。
附图说明
图1是本发明中测头校对装置示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的技术方案作进一步说明，但所要求的保护范围并不局限于所述。
如图1所示，测头校对装置包括千分表7、OMP400测头拉丁、夹头5、连接盘4、CUT200Dedicaced机床主轴托盘3、拉丁2和CUT200Dedicaced机床主轴1。其中，千分表7的表头紧贴OMP400测头6的探针61，OMP400测头拉丁与OMP400测头6尾端连接；夹头5选用System-3R公司的3R-600.28-S手动卡盘，夹持住OMP400测头拉丁，连接盘4为一块两个梯级的圆柱盘，每个台阶面上都开有螺孔，夹头5通过螺栓与连接盘4上端连接，CUT200Dedicaced机床主轴托盘3上端与连接盘4下端螺栓连接，CUT200Dedicaced机床主轴1通过拉丁2与CUT200Dedicaced机床主轴托盘3下端连接。
校对时，按照下述步骤实施：
步骤一，在CUT200Dedicaced机床主轴1上依次连接CUT200Dedicaced机床主轴托盘3、连接盘4和夹头5；
步骤二，对连接盘4和夹头5进行同轴度校正；
步骤三，在OMP400测头6尾端安装OMP400测头拉丁，并通过夹头5夹持住OMP400测头拉丁，对夹头5和OMP400测头6进行同轴度校正；
步骤四，将千分表7通过磁性吸附支架固定连接在机床床身，千分表7表头紧贴OMP400测头6的探针61，CUT200Dedicaced机床主轴1绕A轴旋转，读取千分表7表盘的跳动值；
步骤五，根据步骤四中读取的千分表7数值调整OMP400测头6上的调整螺钉，从而调整探针61的偏心值。

Claims (2)

1.一种测头校对方法，其特征在于：采用的测头校对装置包括，
千分表，所述千分表的表头紧贴OMP400测头的探针；
OMP400测头拉丁，所述OMP400测头拉丁与OMP400测头尾端连接；
夹头，所述夹头夹持住OMP400测头拉丁，所述夹头为型号为3R-600.28-S的手动卡盘；
连接盘，所述连接盘上端与夹头通过螺栓连接，所述连接盘为阶梯状圆盘体，其上端面和下端面开有连接螺孔；
CUT200Dedicaced机床主轴托盘，所述CUT200Dedicaced机床主轴托盘上端与连接盘下端螺栓连接；
CUT200Dedicaced机床主轴，所述CUT200Dedicaced机床主轴通过拉丁与CUT200Dedicaced机床主轴托盘下端连接；
采用所述测头校对装置的测头校对方法包括以下步骤：
步骤一，在CUT200Dedicaced机床主轴上依次连接CUT200Dedicaced机床主轴托盘、连接盘和夹头；
步骤二，对连接盘和夹头进行同轴度校正；
步骤三，在OMP400测头尾端安装OMP400测头拉丁，并通过夹头夹持住OMP400测头拉丁，对夹头和OMP400测头进行同轴度校正；
步骤四，将千分表固定连接在机床床身，千分表表头紧贴OMP400测头的探针，CUT200Dedicaced机床主轴绕A轴旋转，读取千分表表盘的跳动值；
步骤五，根据步骤四中读取的千分表数值调整OMP400测头探针的偏心值。
2.根据权利要求1所述的测头校对方法，其特征在于：所述步骤四中，CUT200Dedicaced机床主轴采用点动旋转。
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JPH06254747A (ja) * 1993-03-03 1994-09-13 Daishowa Seiki Co Ltd 工具の取付位置調整方法と調整のための測定具
CN1751847A (zh) * 2005-11-08 2006-03-29 中国航空工业第一集团公司第六一三研究所 利用工艺球校正加工中心立卧转换误差的方法
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CN107838810A (zh) * 2017-09-30 2018-03-27 哈尔滨工业大学 一种金刚石刀具圆弧波纹度的在位检测方法

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