CN110730044A - 射频测试通道定位方法、装置及射频测试系统、控制终端 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例适用于射频测试技术领域,公开了一种射频测试通道定位方法、装置及射频测试系统、控制终端、计算机可读存储介质。其中,方法包括:获取目标测试终端对应的至少一个测试频点;获取每个射频测试通道在每个测试频点上的预估能量损耗;根据预估能量损耗,分别获得每个测试频点上的每个射频测试通道的测试值;根据目标测试终端的每个测试频点的标准值和测试值,确定每个测试频点的最佳射频测试通道。本申请实施例可以使得射频测试更加便利高效。
Description
技术领域
本申请属于射频测试技术领域,尤其涉及一种射频测试通道定位方法、装置及射频测试系统、控制终端、计算机可读存储介质。
背景技术
目前,具备射频功能的终端设备在生产时,一般需要先进行射频测试,射频测试合格后才能出厂,以保证终端设备的射频功能良好。
现有的终端射频测试系统一般是单个天线、单个射频通道的,且一般是一个射频开关对应一个天线。另外,在射频测试过程中,如果需要增加天线,即增加射频通道,则需要人为增加天线。增加天线后,还需要人工手动验证确定最佳的射频测试通道。也就是说,射频测试的最佳测试位置的定位过程十分繁琐,且效率低下。
发明内容
本申请实施例提供一种射频测试通道定位方法、装置及射频测试系统、控制终端、计算机可读存储介质,可以解决现有射频测试最佳测试位置或者通道的定位过程十分繁琐,且效率低下的问题。
第一方面,本申请实施例提供一种射频测试通道定位方法,应用于射频测试系统,所述射频测试系统包括射频开关和至少两个天线阵列,一个所述射频开关对应M个所述天线阵列,M为正整数,M大于或等于2;所述射频测试系统包括M个射频测试通道;
所述射频测试通道定位方法包括:
获取目标测试终端对应的至少一个测试频点;
获取每个射频测试通道在每个所述测试频点上的预估能量损耗;
根据所述预估能量损耗,分别获得每个所述测试频点上的每个所述射频测试通道的测试值;
根据所述目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和所述测试值,确定每个所述测试频点的最佳射频测试通道。
结合第一方面,在一种可能的实现方式中,所述预估能量损耗的获取过程具体包括:
分别根据对应的预设频点频率和对应的预设发射功率,测得每个所述射频测试通道对应的天线端功率;
根据所述预设发射功率和所述天线端功率,分别计算每一个所述射频测试通道的所述预估能量损耗。
结合第一方面,在一种可能的实现方式中,所述根据所述预设发射功率和所述天线端功率,分别计算每一个所述射频测试通道的所述预估能量损耗,包括:
分别将每一个所述射频测试通道的预设发射功率减去对应的天线端功率,得到功率差值,所述功率差值为所述预估能量损耗。
结合第一方面,在一种可能的实现方式中,所述根据所述目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和所述测试值,确定每个所述测试频点的最佳射频测试通道,包括:
对于每一个所述测试频点,分别计算各个所述射频测试通道的测试值与所述标准值的差值;
分别比较所述差值与预设差值阈值之间的大小;
当所述差值小于所述预设差值阈值时,将所述差值对应的射频测试通道作为所述测试频点的所述最佳射频测试通道。
结合第一方面,在一种可能的实现方式中,在所述根据所述目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和所述测试值,确定每个所述测试频点的最佳射频测试通道之后,还包括:
根据所述最佳射频测试通道,对待测试终端执行射频测试。
第二方面,本申请实施例提供一种射频测试系统,包括控制终端、屏蔽箱、至少两个天线阵列和射频开关;所述射频开关和所述天线阵列均位于所述屏蔽箱内;所述控制终端与所述射频开关连接;
一个所述射频开关对应M个所述天线阵列,M为正整数,M大于或等于2;所述终端射频测试系统包括M个射频测试通道;
所述控制终端用于获取目标测试终端对应的至少一个测试频点;获取每个射频测试通道在每个所述测试频点上的预估能量损耗;根据所述预估能量损耗,分别获得每个所述测试频点上的每个所述射频测试通道的测试值;根据所述目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和所述测试值,确定每个所述测试频点的最佳射频测试通道。
结合第二方面,在一种可能的实现方式中,所述控制终端还用于根据所述最佳射频测试通道,对待测试终端执行射频测试。
第三方面,本申请实施例提供一种射频测试通道定位装置,应用于射频测试系统,所述射频测试系统包括射频开关和至少两个天线阵列,一个所述射频开关对应M个所述天线阵列,M为正整数,M大于或等于2;所述射频测试系统包括M个射频测试通道;
所述射频测试通道定位装置包括:
测试频点获取模块,用于获取目标测试终端对应的至少一个测试频点;
预估能量损耗获取模块,用于获取每个射频测试通道在每个所述测试频点上的预估能量损耗;
测试值获得模块,用于根据所述预估能量损耗,分别获得每个所述测试频点上的每个所述射频测试通道的测试值;
确定模块,用于根据所述目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和所述测试值,确定每个所述测试频点的最佳射频测试通道。
第四方面,本申请实施例提供一种控制终端,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面任一项所述的射频测试通道定位方法。
第五方面,本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面任一项所述的射频测试通道定位方法。
第六方面,本申请实施例提供一种计算机程序产品,当计算机程序产品在控制终端上运行时,使得控制终端执行上述第一方面中任一项所述的射频测试通道定位方法。
本申请实施例通过设置至少两个天线阵列,且一个射频开关对应多个天线阵列,使得射频测试系统包括多个射频测试通道,这样,在测试过程中,不用人为额外增加射频通道,直接切换至所需的射频通道即可;另外,通过每个射频测试通道的预估能量损耗和测试值,可以从多个射频测试通道中快速地确定每个测试频点的最佳测试通道,从而使得射频测试更加便利高效。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种射频测试系统的结构示意框图;
图2为本申请实施例提供的16天线阵列布局示意图;
图3为本申请实施例提供的1-16射频开关示意图;
图4为本申请实施例提供的一种射频测试通道定位方法的流程示意框图;
图5为本申请实施例提供的预估能量损耗的评估过程的流程示意框图;
图6为本申请实施例提供的一种射频测试通道定位装置的结构示意框图;
图7为本申请实施例提供的控制终端的结构示意图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本申请实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
应当理解,当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解,在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样,术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地,短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
另外,在本申请说明书和所附权利要求书的描述中,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此,在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例,而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”,除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”,除非是以其他方式另外特别强调。
下面将通过具体实施例介绍本申请实施例提供的技术方案。
实施例一
请参见图1,为本申请实施例提供的一种射频测试系统的结构示意框图,该系统可以包括控制终端11、屏蔽箱12、至少两个天线阵列13和射频开关14;射频开关和天线阵列均位于屏蔽箱内。控制终端与射频开关连接。
其中,一个射频开关对应M个天线阵列,M为正整数,M大于或等于2;终端射频测试系统包括M个射频测试通道。
控制终端用于获取目标测试终端对应的至少一个测试频点;获取每个射频测试通道在每个测试频点上的预估能量损耗;根据预估能量损耗,分别获得每个测试频点上的每个射频测试通道的测试值;根据目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和测试值,确定每个测试频点的最佳射频测试通道。
可以理解的是,上述天线阵列可以有N个,N可以等于8、16、32或其他。N个天线阵列根据相应的阵列布局设置于屏蔽箱内。当N=16时,天线阵列布局可以参见图2示出的16天线阵列布局示意图。
射频开关和天线阵列可以集成在一起,一个射频开关对应M个天线阵列,一般情况下,M=N,即一个射频开关可以控制N个天线阵列。当M=N=16时,即当系统包括16个天线阵列时,射频开关可以参见图3示出的1-16射频开关示意图。
需要说明的是,上述控制终端可以具体为但不限于PC端。上述目标测试终端为金机,该金机对应一个或多个测试频点。针对每一个测试频点,分别测量每个测试频点下的测试值,再根据测试值和标准值,确定出最佳射频测试通道。该最佳射频测试通道一般是线损最小的射频通道,其数量可以为一个或多个。
在确定出每个测试频点的最佳射频测试通道之后,则可以基于最佳射频测试通道对相应的待测试终端进行射频测试。即在一些实施例中,上述控制终端还可以用于根据最佳射频测试通道,对待测试终端执行射频测试。其中,上述待测试终端可以具体为但不限于手机或者具备射频功能的智能终端。
另外,上述射频测试系统还可以测试仪表15,该测试仪表与控制终端、屏蔽箱通信连接。其中,测试仪表与屏蔽箱之间可以通过射频线连接,控制终端和测试仪表之间可以通过网线连接。
可见,上述射频测试系统中,通过设置至少两个天线阵列,且一个射频开关对应多个天线阵列,使得射频测试系统包括多个射频测试通道,这样,在测试过程中,不用人为额外增加射频通道,直接切换至所需的射频通道即可;另外,通过每个射频测试通道的预估能量损耗和测试值,可以从多个射频测试通道中快速地确定每个测试频点的最佳测试通道,从而使得射频测试更加便利高效。
实施例二
本实施例将介绍控制终端侧的相关流程。
请参见图4,为本申请实施例提供的一种射频测试通道定位方法的流程示意框图。该方法可以应用于上述实施例一中的射频测试系统。该射频测试系统包括射频开关和至少两个天线阵列,一个射频开关对应M个天线阵列,M为正整数,M大于或等于2;射频测试系统包括M个射频测试通道。另外,关于该射频系统的其他相关介绍请参见上文实施例一,在此不再赘述。
上述射频测试通道定位方法可以具体包括以下步骤:
步骤401、获取目标测试终端对应的至少一个测试频点。
步骤402、获取每个射频测试通道在每个测试频点上的预估能量损耗。
需要说明的是,目标测试终端有一个或多个测试频点,对于每一个测试频点,各个射频测试通道上均有对应的预估能量损耗。例如,测试频点有Y个,射频测试通道有X个,每一个Y,都对应有多个X。具体可以参见下表1所示。
表1
通道\频点 | 1 | 2 | 3 | y | Y |
1 | L(11) | L(12) | L(13) | L(1y) | L(1Y) |
2 | L(21) | L(22) | L(23) | L(2y) | L(2Y) |
3 | L(31) | L(32) | L(33) | L(3y) | L(3Y) |
x | L(x1) | L(x2) | L(x3) | L(xy) | L(xY) |
X | L(X1) | L(X2) | L(X3) | L(Xy) | L(XY) |
上表2中,射频测试通道包括1、2、3…x、X,测试频点包括1、2、3…y、Y,L(XY)表示X测试频点上的Y射频测试通道的预估能量损耗。例如,L(23)指的是第2个测试频点上的第3个射频测试通道的预估能量损耗。
值得指出的是,上述测试频点和预估能量损耗可以是预先设置好的,直接读取相应的信息即可。例如,将测试频点和对应的预估能量损耗预先设置,并存储在信息文档中,当需要测试频点和预估能量损失时,则可以直接通过读取信息文档,以获取到所需的信息。当然,上述测试频点和预估能量损耗也可以是人为手动输入的,例如,通过手动设置相应的仪表,以输入相应的测试频点和预估能量损耗。
上述预估能量损耗可以表征每个天线通道上的损耗情况。该预估能量损耗可以是预先评估计算出来的,其中,损耗评估可以按照一定周期进行,即每隔一定周期,则评估一次天线通道上的能量损耗。周期可以是任意的,例如,一个月或者一个季度。
在一些实施例中,参见图5示出的预估能量损耗的评估过程的流程示意框图,上述预估能量损耗的获取过程可以具体包括以下步骤:
步骤501、分别根据对应的预设频点频率和对应的预设发射功率,测得每个射频测试通道对应的天线端功率。
步骤502、根据预设发射功率和天线端功率,分别计算每一个射频测试通道的预估能量损耗。
进一步地,上述根据预设发射功率和天线端功率,分别计算每一个射频测试通道的预估能量损耗的具体过程可以包括:分别将每一个射频测试通道的预设发射功率减去对应的天线端功率,得到功率差值,功率差值为预估能量损耗。
具体地,对于一个射频测试通道,在信号源设置上述预设频点频率和预设发射功率P0,然后测得对应的天线端功率P1。再将该射频测试通道的预设发射功率P0减去天线端功率P1,得到功率差值,即L=P0-P1,该功率差值即为该射频测试通道的预估能量损耗。依次对所有的射频测试通道进行损耗评估,得出每一个频点下每一个射频测试通道的预估能量损耗。
步骤403、根据预估能量损耗,分别获得每个测试频点上的每个射频测试通道的测试值。
具体地,获得测试频点x和该频点下射频测试通道y的预估能量损耗L(xy),系统测试得到对应的测试值V(xy)。其中,由于每个测试频点对应多个射频测试通道,故可以获得每个测试频点对应的测试值序列V(1y)…V(xy)…V(Xy)。其中,测试值为能量值,该能量值可以从各个仪表设备中获取。
步骤404、根据目标测试终端的每个测试频点的标准值和测试值,确定每个测试频点的最佳射频测试通道。
具体地,在获得每个测试频点对应的测试值序列之后,将测试值序列中的每一个测试值与金机的标准值相比,选取最接近于标准值的一个或多个目标测试值,然后将目标测试值对应的射频测试通道确定为最佳射频测试通道。
在一些实施例中,上述根据目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和测试值,确定每个测试频点的最佳射频测试通道的具体过程可以包括:对于每一个测试频点,分别计算各个射频测试通道的测试值与标准值的差值;分别比较差值与预设差值阈值之间的大小;当差值小于预设差值阈值时,将差值对应的射频测试通道作为测试频点的最佳射频测试通道。
例如,某个测试频点的测试值序列为V(1y)…V(xy)…V(Xy),金机的标准值为V0,分别将每个测试值与标准值V0作差,得到相应的差值。然后将每个差值与预设差值阈值比较,将差值小于预设差值阈值的射频测试通道作为该测试频点的最佳测试通道。
其中,上述预设差值阈值可以根据实际需要进行设定,在此不再赘述。
通过上述射频测试通道定位方法可以快速便捷地确定出各个测试频点的最佳射频测试通道,然后,可以根据确定出的最佳射频测试通道对待测试终端进行射频测试。即在根据目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和测试值,确定每个测试频点的最佳射频测试通道之后,还可以包括:根据最佳射频测试通道,对待测试终端执行射频测试。
其中,上述待测试终端可以是手机或者其他具体射频功能的终端。
可见,上述射频测试通道定位方法中,通过设置至少两个天线阵列,且一个射频开关对应多个天线阵列,使得射频测试系统包括多个射频测试通道,这样,在测试过程中,不用人为额外增加射频通道,直接切换至所需的射频通道即可;另外,通过每个射频测试通道的预估能量损耗和测试值,可以从多个射频测试通道中快速地确定每个测试频点的最佳测试通道,从而使得射频测试更加便利高效。
应理解,上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
实施例三
对应于上述射频测试通道定位方法,下面将射频测试通道定位装置进行介绍。
请参见图6,为本申请实施例提供的一种射频测试通道定位装置的结构示意框图,该装置可以应用于射频测试系统,射频测试系统包括射频开关和至少两个天线阵列,一个射频开关对应M个天线阵列,M为正整数,M大于或等于2;射频测试系统包括M个射频测试通道。关于该射频测试系统的相关介绍请参加上文相应内容,在此不再赘述。
该射频测试通道定位装置可以包括:
测试频点获取模块61,用于获取目标测试终端对应的至少一个测试频点;
预估能量损耗获取模块62,用于获取每个射频测试通道在每个测试频点上的预估能量损耗;
测试值获得模块63,用于根据预估能量损耗,分别获得每个测试频点上的每个射频测试通道的测试值;
确定模块64,用于根据目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和测试值,确定每个测试频点的最佳射频测试通道。
在一种可能的实现方式中,上述装置还可以包括评估模块,该评估模块用于:
分别根据对应的预设频点频率和对应的预设发射功率,测得每个射频测试通道对应的天线端功率;
根据预设发射功率和天线端功率,分别计算每一个射频测试通道的预估能量损耗。
在一种可能的实现方式中,上述评估模块具体用于:
分别将每一个射频测试通道的预设发射功率减去对应的天线端功率,得到功率差值,功率差值为预估能量损耗。
在一种可能的实现方式中,上述确定模块具体用于:
对于每一个测试频点,分别计算各个射频测试通道的测试值与标准值的差值;
分别比较差值与预设差值阈值之间的大小;
当差值小于预设差值阈值时,将差值对应的射频测试通道作为测试频点的最佳射频测试通道。
在一种可能的实现方式中,上述装置还可以包括测试模块,该测试模块用于:根据最佳射频测试通道,对待测试终端执行射频测试。
需要说明的是,上述射频测试通道定位装置与上述实施例的射频测试通道定位方法一一对应,相关介绍请参见上文相应内容,在此不再赘述。
实施例四
图7为本申请一实施例提供的控制终端的结构示意图。如图7所示,该实施例的控制终端7包括:至少一个处理器70、存储器71以及存储在所述存储器71中并可在所述至少一个处理器70上运行的计算机程序72,所述处理器70执行所述计算机程序72时实现上述任意各个射频测试通道定位方法实施例中的步骤。
所述控制终端7可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。该控制终端可包括,但不仅限于,处理器70、存储器71。本领域技术人员可以理解,图7仅仅是控制终端7的举例,并不构成对控制终端7的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如还可以包括输入输出设备、网络接入设备等。
所称处理器70可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),该处理器70还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器71在一些实施例中可以是所述控制终端7的内部存储单元,例如控制终端7的硬盘或内存。所述存储器71在另一些实施例中也可以是所述控制终端7的外部存储设备,例如所述控制终端7上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器71还可以既包括所述控制终端7的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器71用于存储操作系统、应用程序、引导装载程序(BootLoader)、数据以及其他程序等,例如所述计算机程序的程序代码等。所述存储器71还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
需要说明的是,上述装置/单元之间的信息交互、执行过程等内容,由于与本申请方法实施例基于同一构思,其具体功能及带来的技术效果,具体可参见方法实施例部分,此处不再赘述。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现可实现上述各个射频测试通道定位方法实施例中的步骤。
本申请实施例提供一种计算机程序产品,当计算机程序产品在控制终端上运行时,使得控制终端执行时实现可实现上述各个射频测试通道定位方法实施例中的步骤。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程,可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质至少可以包括:能够将计算机程序代码携带到拍照装置/终端设备的任何实体或装置、记录介质、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,RandomAccess Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质。例如U盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等。在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不可以是电载波信号和电信信号。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置/网络设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置/网络设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种射频测试通道定位方法,其特征在于,应用于射频测试系统,所述射频测试系统包括射频开关和至少两个天线阵列,一个所述射频开关对应M个所述天线阵列,M为正整数,M大于或等于2;所述射频测试系统包括M个射频测试通道;
所述射频测试通道定位方法包括:
获取目标测试终端对应的至少一个测试频点;
获取每个射频测试通道在每个所述测试频点上的预估能量损耗;
根据所述预估能量损耗,分别获得每个所述测试频点上的每个所述射频测试通道的测试值;
根据所述目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和所述测试值,确定每个所述测试频点的最佳射频测试通道。
2.根据权利要求1所述的射频测试通道定位方法,其特征在于,所述预估能量损耗的获取过程具体包括:
分别根据对应的预设频点频率和对应的预设发射功率,测得每个所述射频测试通道对应的天线端功率;
根据所述预设发射功率和所述天线端功率,分别计算每一个所述射频测试通道的所述预估能量损耗。
3.根据权利要求2所述的射频测试通道定位方法,其特征在于,所述根据所述预设发射功率和所述天线端功率,分别计算每一个所述射频测试通道的所述预估能量损耗,包括:
分别将每一个所述射频测试通道的预设发射功率减去对应的天线端功率,得到功率差值,所述功率差值为所述预估能量损耗。
4.根据权利要求1所述的射频测试通道定位方法,其特征在于,所述根据所述目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和所述测试值,确定每个所述测试频点的最佳射频测试通道,包括:
对于每一个所述测试频点,分别计算各个所述射频测试通道的测试值与所述标准值的差值;
分别比较所述差值与预设差值阈值之间的大小;
当所述差值小于所述预设差值阈值时,将所述差值对应的射频测试通道作为所述测试频点的所述最佳射频测试通道。
5.根据权利要求1所述的射频测试通道定位方法,其特征在于,在所述根据所述目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和所述测试值,确定每个所述测试频点的最佳射频测试通道之后,还包括:
根据所述最佳射频测试通道,对待测试终端执行射频测试。
6.一种射频测试系统,其特征在于,包括控制终端、屏蔽箱、至少两个天线阵列和射频开关;
一个所述射频开关对应M个所述天线阵列,M为正整数,M大于或等于2;所述终端射频测试系统包括M个射频测试通道;
所述射频开关和所述天线阵列均位于所述屏蔽箱内,所述控制终端与所述射频开关连接;
所述控制终端用于获取目标测试终端对应的至少一个测试频点;获取每个射频测试通道在每个所述测试频点上的预估能量损耗;根据所述预估能量损耗,分别获得每个所述测试频点上的每个所述射频测试通道的测试值;根据所述目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和所述测试值,确定每个所述测试频点的最佳射频测试通道。
7.根据权利要求6所述的射频测试系统,其特征在于,所述控制终端还用于根据所述最佳射频测试通道,对待测试终端执行射频测试。
8.一种射频测试通道定位装置,其特征在于,应用于射频测试系统,所述射频测试系统包括射频开关和至少两个天线阵列,一个所述射频开关对应M个所述天线阵列,M为正整数,M大于或等于2;所述射频测试系统包括M个射频测试通道;
所述射频测试通道定位装置包括:
测试频点获取模块,用于获取目标测试终端对应的至少一个测试频点;
预估能量损耗获取模块,用于获取每个射频测试通道在每个所述测试频点上的预估能量损耗;
测试值获得模块,用于根据所述预估能量损耗,分别获得每个所述测试频点上的每个所述射频测试通道的测试值;
确定模块,用于根据所述目标测试终端的每个所述测试频点的标准值和所述测试值,确定每个所述测试频点的最佳射频测试通道。
9.一种控制终端,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述的射频测试通道定位方法。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述的射频测试通道定位方法。
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