CN110694937A - 一种低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺 - Google Patents

一种低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺 Download PDF

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Abstract

本发明属于白钨矿矿石分选技术领域，公开了一种低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，该工艺包括：在原矿不进行预先水洗、风吹和增加矿石湿度的前提下，对低品位原矿进行筛分、传送、鉴别、分拣，完成低品位尾矿的筛拣，可高效完成低品阶尾矿的筛分抛废处理，大大降低工业生产后续破碎、磨矿的能耗，减少选矿加工的成本，提高企业的经济效益。

Description

一种低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺
技术领域
本发明属于白钨矿矿石分选技术领域，具体涉及一种浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺。
背景技术
钨矿资源具有稀有性、难以替代性的特点，随着白钨矿资源的不断开发，易于选择和品质好的白钨矿资源不断减少，低品位型白钨矿成为主要加工对象。在矿物分选处理过程中，磨矿过程能耗最高，占生产升本比例最大，为减少入磨矿量，提高入磨品位，降低选矿能耗，减少尾矿处理的费用，在磨矿前设置预先抛废环节，将贫矿中的大部分脉石抛掉，可有效降低低品位矿企业的生产成本。
国内复合型白钨矿资源主要为细脉浸染型、云英岩矽卡岩复合型，常与多种有色金属共生或者伴生，有用矿物嵌布粒度较细，多呈浸染状嵌布于矿石中，导致对低品位浸染状矽卡岩型白钨矿的预先抛废存在效率低，处理量小，尾矿回收率不高等问题。在选矿行业很早就利用X射线技术进行分拣，但对于粒度较细，呈浸染状的矿物颗粒，采用一般的X射线技术分拣效率低，检测精度不高，分拣处理量小。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种高效率、高精度的低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，该工艺包括以下步骤：
步骤一：对低品位白钨矿原矿进行筛分，得到不同粒径级别的白钨矿矿石；
步骤二：将上述不同粒径级别的白钨矿矿石以震动分散的方式散布于传送带上，由传送带将所述矿石送去鉴别；
步骤三：鉴别时通过X射线衍射形貌识别出密度大的金属矿石，并将识别的金属矿石的图像信息传送至传感器；
步骤四：由所述传感器发送指令至传送带末端的喷阀，对传送带上已鉴别出的金属矿石喷射压缩空气，将其喷射入相应的料仓，完成分拣。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤一中所述原矿无需进行预先水洗、风吹和增加矿石湿度。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤一中所述低品位白钨矿粒级为10-100mm的原矿。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤一所述筛分种类分为10-30mm、+30-60mm、+60mm三种粒级，做粒级分析；或者分为10-60mm、+60mm两种粒级，做粒级分析。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤二所述内部传送带，皮带速度为2～3米/秒。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤三所述的X射线衍射形貌为同步辐射白光形貌法，X射线波长为0.5-20nm，电子能量为2.0-4.0GeV，束流为50-100mA，传送带与X射线源的垂直距离为5-15cm。优选地，所述X射线波长为1-15nm，电子能量为2.2-3.0GeV，束流为80-100mA，传送带与X射线源的垂直距离为5-10cm。该方法辐射强度高，准直性好，曝光时间短，光谱范围宽且连续可调，检测效率高。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤三所述的传感器为具有远程控制的多通道图像处理传感器，该传感器具有高效的图像信息处理能力，并且通过无线网络，能够实现远程查看、调取和控制。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤四所述的喷射控制卡为矩阵式多功能电磁控制阀，喷射响应次数不小于500次/秒，打点频率可达1000次/秒，可高效精准完成细小颗粒矿石的分拣要求。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明工艺流程短、经济实用、操作环境好，分拣效率高，处理量大。该工艺能保证尾矿品位、抛废率和精矿回收率，显著提高了处理量，大大的提升了处理能力，降低了工业生产后续破碎、磨矿的成本，提高了低品位白钨矿企业的生产效益。
附图说明
图1是本发明实施例1所述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺流程框图。
具体实施方式
本发明提供了一种高效率、高精度低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，该工艺包括以下步骤：
步骤一：筛分，将低品位白钨矿原矿用工业振动筛按特定的粒径级别进行筛分；
步骤二：传送，将不同粒径级别的白钨矿矿石通过进料皮带依次传送至振动给料斗，经给料漏斗的震动将矿石均匀散布于传送皮带上，传送带以特定速率将矿石传送至矿石鉴别区域；
步骤三：鉴别，矿石经过传感器和射线直射区域时，利用X射线衍射形貌识别出密度大的金属矿石，并将识别的图像信息传送至传感器；
步骤四：分拣，由传感器发送指令至传送带末端的喷射控制卡(喷阀)，对传送皮带上已鉴别出的金属矿石喷射压缩空气，将其喷射入相应的料仓，完成分拣。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤一中所述原矿不进行预先水洗、风吹和增加矿石湿度。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤一中所述低品位白钨矿粒级为10-100mm的原矿。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤一所述筛分种类分为10-30mm、+30-60mm、+60mm三种粒级，做粒级分析；或者分为10-60mm、+60mm两种粒级，做粒级分析。。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤三所述的X射线衍射形貌技术为同步辐射白光形貌术，该技术辐射强度高，准直性好，曝光时间短，光谱范围宽且连续可调，检测效率高。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤三所述的传感器为具有远程控制的多通道图像处理传感器，该传感器具有高效的图像信息处理能力，并且通过无线网络，能够实现远程查看、调取和控制。
其中，上述低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，步骤四所述的喷射控制卡为矩阵式多功能电磁控制阀，喷射响应次数不小于500次/秒，打点频率可达1000次/秒，可高效精准完成细小颗粒矿石的分拣要求。
本发明工艺原理：将需分拣的矿石按粒径级别筛分后，均匀分散地通过X射线检测区域，利用同步辐射白光形貌术，可高效地采集到矿石中金属元素的特定衍射图谱辨别其种类和含量，并生成高分辨率的形貌图，通过多通道图像处理传感器采集接受，并将相应喷射指令下达给矩阵式多功能电磁控制喷射阀，对相应矿石进行精准喷射，完成分拣。由于鉴别和分拣装置的高效能，可以匹配较快的矿石传送速度，显著提高分拣处理量。
以下结合具体的实施例对本发明作进一步的解释和说明，但并不因此限制本发明的保护范围。
实施例1-4中：X射线波长为10nm，电子能量为2.5GeV，束流为100mA，传送带与X射线源的垂直距离为6cm。
实施例1
将1吨重的低品位白钨矿原矿用工业振动筛按10-30mm、+30-60mm、+60mm三种粒级进行筛分，+60mm的矿石直接称重分装；将10-30mm、+30-60mm两种粒径的白钨矿矿石通过进料皮带依次传送至振动给料斗，经给料漏斗的震动将矿石均匀散布于传送皮带上，传送带以2米/秒的速度将矿石传送至矿石鉴别区域；矿石经过传感器和射线直射区域时，利用X射线衍射形貌技术识别出密度大的金属矿石，并将识别的图像信息传送至传感器；由传感器发送指令至传送带末端的喷射控制卡(喷阀)，对传送皮带上已鉴别出的金属矿石喷射压缩空气，将其喷射入相应的料仓，完成分拣。
原矿分两份进行分拣。
实施例2
将1吨重的低品位白钨矿原矿用工业振动筛按10-60mm、+60mm两种粒级进行筛分，+60mm的矿石直接称重分装；将10-60mm粒径的白钨矿矿石通过进料皮带依次传送至振动给料斗，经给料漏斗的震动将矿石均匀散布于传送皮带上，传送带以2米/秒的速度将矿石传送至矿石鉴别区域；矿石经过传感器和射线直射区域时，利用X射线衍射形貌技术识别出密度大的金属矿石，并将识别的图像信息传送至传感器；由传感器发送指令至传送带末端的喷射控制卡(喷阀)，对传送皮带上已鉴别出的金属矿石喷射压缩空气，将其喷射入相应的料仓，完成分拣。
原矿分两份进行分拣。
实施例3
将1吨重的低品位白钨矿原矿用工业振动筛按10-30mm、+30-60mm、+60mm三种粒级进行筛分，+60mm的矿石直接称重分装；将10-30mm、+30-60mm两种粒径的白钨矿矿石通过进料皮带依次传送至振动给料斗，经给料漏斗的震动将矿石均匀散布于传送皮带上，传送带以3米/秒的速度将矿石传送至矿石鉴别区域；矿石经过传感器和射线直射区域时，利用X射线衍射形貌技术识别出密度大的金属矿石，并将识别的图像信息传送至传感器；由传感器发送指令至传送带末端的喷射控制卡(喷阀)，对传送皮带上已鉴别出的金属矿石喷射压缩空气，将其喷射入相应的料仓，完成分拣。
原矿分两份进行分拣。
实施例4
将1吨重的低品位白钨矿原矿用工业振动筛按10-60mm、+60mm两种粒级进行筛分，+60mm的矿石直接称重分装；将10-60mm粒径的白钨矿矿石通过进料皮带依次传送至振动给料斗，经给料漏斗的震动将矿石均匀散布于传送皮带上，传送带以3米/秒的速度将矿石传送至矿石鉴别区域；矿石经过传感器和射线直射区域时，利用X射线衍射形貌技术识别出密度大的金属矿石，并将识别的图像信息传送至传感器；由传感器发送指令至传送带末端的喷射控制卡(喷阀)，对传送皮带上已鉴别出的金属矿石喷射压缩空气，将其喷射入相应的料仓，完成分拣。
原矿分两份进行分拣。
(1)粒度分析情况
实施例1和3矿样粒度分析结果：
表1.
Figure BDA0002216713230000071
实施例2和4矿样粒度分析结果：
表2.
Figure BDA0002216713230000072
综合分析：原矿样缩分成两份分别做粒级筛析，综合模拟原矿品位为0.184％，综合模拟+10-60mm粒级品位为0.182％，综合模拟+60mm粒级品位为0.207％。综合+10-60mm粒级金属分布为90.587％，综合+60mm粒级金属分布为9.413％。
试验数据
1)2米/秒皮带速度试验结果记录如表3所示：
表3.
Figure BDA0002216713230000081
2)3米/秒皮带速度试验结果记录如表4：
表4.
Figure BDA0002216713230000091
Figure BDA0002216713230000101
表5为实施例1～4中不同粒级不同皮带速度结果对比，从中可以看出，预先抛废工艺总体效果较稳定，皮带速度由2米/秒提升到3米/秒的情况下，三种粒级的尾矿品位、尾矿产率(抛废率)、金属回收率都基本相同；皮带速度为3米/秒时，平均回收率达到90％以上，平均处理量达到50t/h以上，处理量能为皮带速度2米/秒下的1.45倍，显著提升了处理能力，大大降低了工业生产后续破碎、磨矿的成本。
表5不同粒级、不同皮带速度结果对比
Figure BDA0002216713230000102
总体试验效果比较稳定。皮带速度由2米/秒提升到3米/秒的情况下，三种粒级的尾矿品位、尾矿产率(抛废率)、金属回收率都基本相同；+10-30mm粒级的小时处理量由2米/秒皮带速度下的29.96T/H提高到3米/秒皮带速度下的39.92T/H；+30-60mm粒级的小时处理量由2米/秒皮带速度下的39.21T/H提高到3米/秒皮带速度下的59.98T/H；+10-60mm粒级的小时处理量由2米/秒皮带速度下的34.80T/H提高到3米/秒皮带速度下的50.51T/H。
通过多组的试验对比研究，在新机型下(XRT-1200-3米/秒皮带速度)的试验可以在保证尾矿品位、抛废率和精矿回收率的前提下处理量能达到2米/秒皮带速度下处理量的1.45倍左右，大大的提升了处理能力，为工业生产大大降低后续破碎、磨矿的成本。

Claims (9)

1.一种低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，其特征在于，该工艺包括以下步骤：
步骤一：筛分，将低品位白钨矿进行筛分，得到不同粒径级别的白钨矿矿石；
步骤二：传送，将上述不同粒径级别的白钨矿矿石以震动分散的方式散布于传送带上，传送带将白钨矿矿石传送至矿石鉴别区域；
步骤三：鉴别，鉴别时通过X射线衍射形貌识别出密度大的金属矿石，并将识别的金属矿石的图像信息传送至传感器；
步骤四：分拣，由所述传感器发送指令至传送带末端的喷阀，对传送带上已鉴别出的金属矿石喷射压缩空气，将其喷射入相应的料仓，完成分拣。
2.根据权利要求1所述的低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，其特征在于，所述原矿无需进行预先水洗、风吹和增加矿石湿度。
3.根据权利要求1所述的低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，其特征在于，步骤一所述低品位白钨矿粒级为10-100mm的原矿。
4.根据权利要求1所述的低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，其特征在于，步骤一所述筛分粒径，级别有两类，一类为10-30mm、+30-60mm、+60mm三种粒级，另一类为10-60mm、+60mm两种粒级。
5.根据权利要求1所述的低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，其特征在于，步骤二所述传送带的特定速度范围为2～3米/秒。
6.根据权利要求1所述的低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，其特征在于，步骤三所述的X射线衍射形貌技术为同步辐射白光形貌术。
7.根据权利要求6所述的低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，其特征在于，所述同步辐射白光形貌术法中X射线波长为0.5-20nm，电子能量为2.0-4.0GeV，束流为50-100mA，传送带与X射线源的垂直距离为5-15cm。
8.根据权利要求1所述的低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，其特征在于，步骤三所述的传感器为远程控制的多通道图像处理传感器。
9.根据权利要求1所述的低品位浸染状矽卡岩型白钨矿预先抛废工艺，其特征在于，步骤四所述的喷射控制卡为矩阵式多功能电磁控制阀，喷射响应次数不小于500次/秒，打点频率可达1000次/秒。
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