CN110687351A - 一种导电胶碳粒检测治具及检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种导电胶碳粒检测治具及检测方法。治具包括第一导线组和第二导线组，第一导线组包括第一触脚，第二导线组包括第二触脚，第一触脚与第二触脚穿插设置形成第一间隙，第一导线组、第二导线组分别用于连接万用表的正负极以使得碳粒放置在第一间隙时能够检测碳粒的阻值。本发明通过设置第一导线组和第二导线组，第一导线组的第一触脚与第二导线组的第二触脚穿插设置形成第一间隙，第一导线组、第二导线组分别连接万用表的正负极，测试时将碳粒放置在第一间隙即可检测碳粒阻值，克服了现有技术中直接使用万用表进行测量结果不准确的技术问题，利用固定的两个触脚代替万用表的两个表笔，使得测量结果准确率高，而且操作简单。
Description
技术领域
本发明涉及测试治具领域，尤其是涉及一种导电胶碳粒检测治具及检测方法。
背景技术
现有技术中，遥控器的按键与遥控器内部的PCB电路板通过导电胶连接，导电胶上刷有碳油或设置一颗碳粒，按压按键时碳粒与PCB板的两根导线接触，作为导电部分，碳粒的大小可根据PCB板的两根导线之间的间距进行选择。在检测遥控器的按键时，其中导电胶的导电部分需对其进行阻值检测，有一项碳粒、碳油测试，通常行业中叫作导电胶的阻值测试，也就是碳粒、碳油平方毫米电阻值是多少。若碳粒阻值偏大，超出芯片MCU控制IO口的正常导通电阻时，遥控器按键将无法正常工作，此项指标会直接影响遥控器功能。目前很常用的方法就是使用万用表表笔直接测量，但是由于电阻测量值会随万用表表笔与碳粒的接触面积、接触力度等变化而变化，测量出来的数据也会变化，结果很不准确。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的是提供一种导电胶碳粒检测治具及检测方法，操作简单，测试结果准确率高。
本发明所采用的技术方案是：
第一方面，本发明提供一种导电胶碳粒检测治具，包括第一导线组和第二导线组，所述第一导线组包括第一触脚，所述第二导线组包括第二触脚，所述第一触脚与所述第二触脚穿插设置形成第一间隙，所述第一导线组、所述第二导线组分别用于连接万用表的正负极以使得碳粒放置在所述第一间隙时能够检测所述碳粒的阻值。
进一步地，所述检测治具包括多个测试区域，其中，第一测试区域包括多个所述第一触脚、多个所述第二触脚和多个所述第一间隙。
进一步地，第二测试区域包括多个第一触脚、多个第二触脚以及其穿插设置形成的多个第二间隙。
进一步地，所述第一间隙宽度为0.7mm。
进一步地，所述第二间隙宽度为1.0mm。
第二方面，本发明提供一种导电胶碳粒检测方法，所述方法包括以下步骤：
设置第一导线组和第二导线组，所述第一导线组包括第一触脚，所述第二导线组包括第二触脚；
将所述第一触脚与所述第二触脚穿插设置形成第一间隙；
将所述第一导线组、所述第二导线组分别连接万用表的正负极；
将碳粒放置在所述第一间隙；
利用所述万用表检测所述碳粒的阻值。
进一步地，所述方法还包括以下步骤：
设置多个测试区域，其中，第一测试区域包括多个所述第一触脚、多个所述第二触脚和多个所述第一间隙。
进一步地，所述方法还包括以下步骤：
设置第二测试区域，所述第二测试区域包括多个所述第一触脚、多个所述第二触脚以及其穿插设置形成的多个第二间隙。
进一步地，所述第一间隙宽度为0.7mm。
进一步地，所述第二间隙宽度为1.0mm。
本发明的有益效果是：
本发明通过设置第一导线组和第二导线组，第一导线组包括第一触脚，第二导线组包括第二触脚，第一触脚与第二触脚穿插设置形成第一间隙，第一导线组、第二导线组分别连接万用表的正负极，测试时将碳粒放置在第一间隙能够检测碳粒的阻值，克服了现有技术中直接使用万用表进行测量结果不准确的技术问题，利用固定的两个触脚代替万用表的两个表笔，使得测量结果准确率高，而且操作简单。
附图说明
图1是本发明中导电胶碳粒检测治具的一实施例的结构示意图；
图2是本发明中导电胶碳粒检测治具的另一实施例的结构示意图；
图3是本发明中导电胶碳粒检测治具的又一实施例的结构示意图。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
实施例一
本实施例提供了一种导电胶碳粒检测治具，包括第一导线组和第二导线组，第一导线组包括第一触脚，第二导线组包括第二触脚，第一触脚与第二触脚穿插设置形成第一间隙，第一导线组、第二导线组分别用于连接万用表的正负极以使得碳粒放置在第一间隙时能够检测碳粒的阻值。
图1为导电胶碳粒检测治具的结构示意图。参照图1，1为第一导线组，2为第二导线组，11为第一触脚，21为第二触脚。第一触脚11与第二触脚21之间形成第一间隙3。第一导线组1、第二导线组2分别连接万用表的正负极。
本实施例中，第一间隙3的宽度为0.7mm。
实施例二
基于实施例一，本实施例提供了一种导电胶碳粒检测治具，参照图2，第一导线组1、第二导线组2分别连接万用表的正负极。该测试治具包括两个测试区域：第一测试区域和第二测试区域。
在第一测试区域中，包括多个第一触脚11、多个第二触脚21以及多个第一触脚11和多个第二触脚21形成的多个第一间隙3。
在第二测试区域中，同样包括多个第一触脚11、多个第二触脚21以及多个第一触脚11和多个第二触脚21穿插设置形成的多个第二间隙4。
如图2所示，本实施例中，第一间隙3的宽度为0.7mm，第二间隙4的宽度为1.0mm。
可以理解的是，第一间隙3和第二间隙4的宽度可根据需要检测的碳粒的大小进行设置和调整。
实施例三
基于对实施例二的改进，本实施例提供了一种导电胶碳粒检测治具，参照图3，第一导线组1、第二导线组2分别连接万用表的正负极。该测试治具包括四个测试区域：第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域和第四测试区域。
在第一测试区域中，包括多个第一触脚11、多个第二触脚21以及多个第一触脚11和多个第二触脚21形成的多个第一间隙3。
在第二测试区域中，同样包括多个第一触脚11、多个第二触脚21以及多个第一触脚11和多个第二触脚21穿插设置形成的多个第二间隙4。
在第三测试区域中，包括多个第一触脚11、多个第二触脚21以及多个第一触脚11和多个第二触脚21形成的多个第三间隙5。
在第四测试区域中，同样包括多个第一触脚11、多个第二触脚21以及多个第一触脚11和多个第二触脚21穿插设置形成的多个第四间隙6。
如图3所示，本实施例中，第一间隙3的宽度为0.7mm，第二间隙4的宽度为1.0mm，第三间隙5的宽度为0.3mm，第四间隙6的宽度为0.5mm。
可以理解的是，第一间隙3、第二间隙4、第三间隙5和第四间隙6的宽度可根据需要检测的碳粒的大小进行设置和调整。
本实施例中，参照图3，第一导线组1采用弯折设计，第二导线组2置于第一导线组1的中间，使得第一测试区域、第二测试区域、第三测试区域和第四测试区域共用一段第二导线组2，相较于实施例二中的横排设置方式，减少了第二导线组2的长度，降低了导线成本。
结合实施例一至实施例三，测试时，打开万用表的电阻档选择好档位，根据待测碳粒的大小，将碳粒放置在第一间隙3或第二间隙4或第三间隙5或第四间隙6，观察万用表的显示数值，即可得到待测碳粒的阻值，操作简单，测试数据准确。
实施例四
本实施例提供了一种导电胶碳粒检测方法，该方法包括以下步骤：
设置第一导线组和第二导线组，第一导线组包括第一触脚，第二导线组包括第二触脚；
将第一触脚与第二触脚穿插设置形成第一间隙；
将第一导线组、第二导线组分别连接万用表的正负极；
将碳粒放置在第一间隙；
利用万用表检测碳粒的阻值。
更进一步地，该方法还包括以下步骤：
设置多个测试区域，其中，第一测试区域包括多个第一触脚、多个第二触脚和多个第一间隙；
设置第二测试区域，第二测试区域包括多个第一触脚、多个第二触脚以及其穿插设置形成的多个第二间隙。
本实施例中，第一间隙宽度为0.7mm，第二间隙宽度为1.0mm。
本实施例中的导电胶碳粒检测方法的过程，请参照上述实施例的描述，此处不再赘述。
以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可做出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
Claims (10)
1.一种导电胶碳粒检测治具，其特征在于，包括第一导线组和第二导线组，所述第一导线组包括第一触脚，所述第二导线组包括第二触脚，所述第一触脚与所述第二触脚穿插设置形成第一间隙，所述第一导线组、所述第二导线组分别用于连接万用表的正负极以使得碳粒放置在所述第一间隙时能够检测所述碳粒的阻值。
2.根据权利要求1所述的一种导电胶碳粒检测治具，其特征在于，包括多个测试区域，其中，第一测试区域包括多个所述第一触脚、多个所述第二触脚和多个所述第一间隙。
3.根据权利要求2所述的一种导电胶碳粒检测治具，其特征在于，第二测试区域包括多个第一触脚、多个第二触脚以及其穿插设置形成的多个第二间隙。
4.根据权利要求2所述的一种导电胶碳粒检测治具，其特征在于，所述第一间隙宽度为0.7mm。
5.根据权利要求3所述的一种导电胶碳粒检测治具，其特征在于，所述第二间隙宽度为1.0mm。
6.一种导电胶碳粒检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
设置第一导线组和第二导线组，所述第一导线组包括第一触脚，所述第二导线组包括第二触脚；
将所述第一触脚与所述第二触脚穿插设置形成第一间隙；
将所述第一导线组、所述第二导线组分别连接万用表的正负极；
将碳粒放置在所述第一间隙；
利用所述万用表检测所述碳粒的阻值。
7.根据权利要求6所述的一种导电胶碳粒检测方法，其特征在于，所述方法还包括以下步骤：
设置多个测试区域，其中，第一测试区域包括多个所述第一触脚、多个所述第二触脚和多个所述第一间隙。
8.根据权利要求7所述的一种导电胶碳粒检测方法，其特征在于，所述方法还包括以下步骤：
设置第二测试区域，所述第二测试区域包括多个所述第一触脚、多个所述第二触脚以及其穿插设置形成的多个第二间隙。
9.根据权利要求7所述的一种导电胶碳粒检测方法，其特征在于，所述第一间隙宽度为0.7mm。
10.根据权利要求8所述的一种导电胶碳粒检测方法，其特征在于，所述第二间隙宽度为1.0mm。
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