CN110631521A - 薄膜宽度检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及薄膜生产领域，尤其涉及一种薄膜宽度检测方法，将测宽仪安装在吹膜机的出口处，测宽仪的两个随动探头分布在薄膜两侧，开启吹膜机，计时器开始计时，起始时间T0，薄膜经过两个随动探头，调整两个随动探头的位置，使随动探头检测到薄膜边缘，并设定为初始位置，检测两个随动探头之间的间距d0，设定为初始膜宽，设定膜宽上限值d+，设定膜宽下限值d‑，设定边缘偏移触发量△d0，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T1，测宽仪计算随动探头移动的距离△d1，计算薄膜的宽度值d1，重复多次至膜宽超限，报警，能够实时检测薄膜宽度值。

Description

薄膜宽度检测方法
技术领域
本发明涉及薄膜生产领域，尤其涉及一种薄膜宽度检测方法。
背景技术
塑料薄膜具有一定的弹性和热缩性，通过吹膜机吹膜成圆柱状，然后进行裁切，不同材质的，不同批号需要的吹膜机设置参数不同，且随着时间的推移，产品质量可能发生变化，为保证产品质量，需要监控薄膜的状态以确定吹膜机是否工作正常。
现阶段生产的过程中，大多通过人工定期观察的方式监测薄膜生产的状态，精度差，且人工劳动强度高，还有通过在薄膜两侧安装光栅的方式检测薄膜两侧是否超范围，然而薄膜多为透明薄膜，光栅的检测精度差，且通过光栅仅能够检测薄膜边缘是否在检测范围内，不能准确检测到薄膜的宽度，检测精度不能达到要求。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中的不足，提供一种能够实时检测薄膜宽度值的薄膜宽度检测方法。
本发明是通过以下技术方案实现的：一种薄膜宽度检测方法，包括以下步骤，
A，将测宽仪安装在吹膜机的出口处，测宽仪的两个随动探头分布在薄膜两侧，开启吹膜机，计时器开始计时，起始时间T0，薄膜经过两个随动探头，调整两个随动探头的位置，使随动探头检测到薄膜边缘，并设定为初始位置，检测两个随动探头之间的间距d0，设定为初始膜宽，设定膜宽上限值d+，设定膜宽下限值d-，设定边缘偏移触发量△d0；
B，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T1，测宽仪计算随动探头移动的距离△d1，计算薄膜的宽度值d1，将d1设置为初始膜宽，若随动探头向内移动，d1= d0-△d1，若随动探头向外移动，d1= d0+△d1；
C，重复步骤B n次，得到dn、Tn，当测宽仪检测到dn高于d+或者低于d-时，测宽仪发出报警。
进一步地，所述测宽仪包括主机，所述主机连接有显示器，所述随动探头包括机架，所述机架上设置有丝杠，所述丝杠连接有驱动电机，所述驱动电机连接有编码器，所述丝杠上设置有丝母，所述丝母与机架之间设置有导向柱，所述丝母连接有跟边传感器，所述跟边传感器、编码器、显示器与主机电连接。
进一步地，所述跟边传感器为超声波跟边传感器。
本发明的有益效果在于：将测宽仪的随动探头安装在薄膜的两侧，调整随动探头的位置，得到初始膜宽，由于吹膜机的参数是经过多次实验调整的，且初始状态工作稳定，测定的初始间距d0具有较高的参考价值，设置d+和d-，为薄膜边缘的检测范围，超出范围后报警，提醒操作人员及时处理，降低生产风险，进而节约成本，随动探头能够将薄膜边缘的偏移量反馈给测宽仪，测宽仪控制随动探头动作，控制精度高，反应速度快，初始膜宽不断的变化，为下次检测提供基础，为随动探头的移动定位原点，方便计算移动距离，计时器的计时与初始膜宽的变化同步，方便测宽仪绘制膜宽变化曲线，为更好的设置吹膜机参数提供参考，设置△d，在随动探头检测到膜宽变化量达到△d时，随动探头动作调整位置，方便进行控制；测宽仪包括主机、随动探头，随动探头通过电机驱动，通过丝杠进行传动，通过编码器测算电机转数，进而能够得到丝母的移动距离，测算精度高，且成本低。
附图说明
图1为测宽仪结构图示意图；
其中：1-左超声波跟边传感器 ，2-左驱动电机，3-左编码器，4-左丝杆，5-薄膜，6-右超声波跟边传感器，7-右丝杆，8-右驱动电机，9-右编码器，10-主机。
具体实施方式
在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面将结合发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
以下各实施例中，测宽仪如图1所示，包括主机，主机内有控制器，控制器为STM32F3单片机控制器，主机连接有显示器，显示器为佳维视 JWS02XSQ工控显示器，显示时间、薄膜的宽度曲线、吹膜机温度、吹膜原料类型、吹膜原料批号等信息，随动探头为左随动探头和右随动探头，左随动探头包括左机架，左机架上安装有左丝杠，左丝杠连接有左驱动电机，左驱动电机连接有左编码器，左丝杠上套装有丝母，丝母连接有支杆，丝母与机架之间安装有导向柱，支杆上端连接有左超声波跟边传感器，右随动探头包括右机架，右机架上安装有右丝杠，右丝杠连接有右驱动电机，右驱动电机连接有右编码器，右丝杠上套装有丝母，丝母连接有支杆，丝母与机架之间安装有导向柱，支杆上端连接有右超声波跟边传感器，左超声波跟边传感器、左驱动电机、左编码器、右超声波跟边传感器、右驱动电机、右编码器均与主机电连接，座驱动电机和后驱动电机均选用ASLONG的JGB37-3530GB电机，能够正反转，工作稳定性高，左编码器和右编码器均选用欧姆龙E6B2-CWZ6C型编码器，左超声波跟边传感器和右超声波跟边传感器均选用重庆恩睿斯科技有限公司的AE-210超声波跟边传感器。
以下各实施例中，T0初始值为0s。
实施例1
为聚偏二氯乙烯膜，一种薄膜宽度检测方法，包括以下步骤，
A，将测宽仪安装在吹膜机的出口处，测宽仪的两个随动探头分布在薄膜两侧，开启吹膜机，计时器开始计时，起始时间T0为0s，薄膜经过两个随动探头，调整两个随动探头的位置，使随动探头检测到薄膜边缘，并设定为初始位置，检测两个随动探头之间的间距d0=900mm，设定为初始膜宽，设定膜宽上限值d+=904.5mm，设定膜宽下限值d-=895.5mm，设定边缘偏移触发量△d0=0.5mm；
B，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T1=2963s，测宽仪计算左随动探头移动的距离△d=+0.5mm，计算薄膜的宽度值d1=900.5mm，将d1设置为初始膜宽；
C，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T2=4516s，右随动探头移动的距离△d=-0.5mm，计算薄膜的宽度值d2=900mm，将d2设置为初始膜宽；
D，重复步骤C，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T14=18933s，右随动探头移动的距离△d=+0.5mm，计算薄膜的宽度值d14=905mm，d14大于d+，测宽仪发出报警。
实施例2
为聚乙烯膜，一种薄膜宽度检测方法，包括以下步骤，
A，将测宽仪安装在吹膜机的出口处，测宽仪的两个随动探头分布在薄膜两侧，开启吹膜机，计时器开始计时，起始时间T0为0s，薄膜经过两个随动探头，调整两个随动探头的位置，使随动探头检测到薄膜边缘，并设定为初始位置，检测两个随动探头之间的间距d0=1500mm，设定为初始膜宽，设定膜宽上限值d+=1507.5mm，设定膜宽下限值d-=1492.5mm，设定边缘偏移触发量△d0=0.5mm；
B，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T1=1926s，测宽仪计算右随动探头移动的距离△d=+0.5mm，计算薄膜的宽度值d1=1500.5mm，将d1设置为初始膜宽；
C，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T2=2779s，右随动探头移动的距离△d=+0.5mm，计算薄膜的宽度值d2=1501mm，将d2设置为初始膜宽；
D，重复步骤C，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T17=15321s，右随动探头移动的距离△d=+0.5mm，计算薄膜的宽度值d17=1508mm，d17大于d+，测宽仪发出报警。
实施例3
为聚氯乙烯膜，一种薄膜宽度检测方法，包括以下步骤，
A，将测宽仪安装在吹膜机的出口处，测宽仪的两个随动探头分布在薄膜两侧，开启吹膜机，计时器开始计时，起始时间T0为0s，薄膜经过两个随动探头，调整两个随动探头的位置，使随动探头检测到薄膜边缘，并设定为初始位置，检测两个随动探头之间的间距d0=2500mm，设定为初始膜宽，设定膜宽上限值d+=2512.5mm，设定膜宽下限值d-=2487.5mm，设定边缘偏移触发量△d0=0.5mm；
B，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T1=7592s，测宽仪计算右随动探头移动的距离△d=-0.5mm，计算薄膜的宽度值d1=1499.5mm，将d1设置为初始膜宽；
C，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T2=11129s，右随动探头移动的距离△d=+0.5mm，计算薄膜的宽度值d2=1500mm，将d2设置为初始膜宽；
D，重复步骤C，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T25=89145s，右随动探头移动的距离△d=+0.5mm，计算薄膜的宽度值d25=1513mm，d25大于d+，测宽仪发出报警。
值得注意的是，本申请提供的薄膜宽度检测方法，左随动探头和右随动探头能够同时动作，两边分别计算相应的△d，计算后得到薄膜的宽度值，若薄膜的宽度值超过限定范围，测宽仪发出报警。
通过本申请提供的薄膜宽度检测方法，以△d0为分度值进行调整，有较高的跟踪检测精度，通过T值及相应的d值，能够得到膜宽的变化曲线，通过与温度曲线的对比，能够帮助技术人员更好的设定控制参数，进而有效的保护设备，生产出合格的产品。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种薄膜宽度检测方法，其特征在于，包括以下步骤，
A，将测宽仪安装在吹膜机的出口处，测宽仪的两个随动探头分布在薄膜两侧，开启吹膜机，计时器开始计时，起始时间T0，薄膜经过两个随动探头，调整两个随动探头的位置，使随动探头检测到薄膜边缘，并设定为初始位置，检测两个随动探头之间的间距d0，设定为初始膜宽，设定膜宽上限值d+，设定膜宽下限值d-，设定边缘偏移触发量△d0；
B，随动探头检测薄膜边缘，若薄膜边缘发生偏移，随动探头检测到薄膜边缘发生偏移，将偏移量转化为数字信号发送给测宽仪，测宽仪接收信号，并控制随动探头向相应的方向移动，至薄膜边缘重新回到初始位置，测宽仪记录时间T1，测宽仪计算随动探头移动的距离△d1，计算薄膜的宽度值d1，将d1设置为初始膜宽，若随动探头向内移动，d1= d0-△d1，若随动探头向外移动，d1= d0+△d1；
C，重复步骤B n次，得到dn、Tn，当测宽仪检测到dn高于d+或者低于d-时，测宽仪发出报警。
2.根据权利要求1所述的薄膜宽度检测方法，其特征在于，所述测宽仪包括主机，所述主机连接有显示器，所述随动探头包括机架，所述机架上设置有丝杠，所述丝杠连接有驱动电机，所述驱动电机连接有编码器，所述丝杠上设置有丝母，所述丝母与机架之间设置有导向柱，所述丝母连接有跟边传感器，所述跟边传感器、编码器、显示器与主机电连接。
3.根据权利要求2所述的薄膜宽度检测方法，其特征在于，所述跟边传感器为超声波跟边传感器。
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