CN110619242B - 读卡器及异物检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种能够检测出特定形状的插入式侧录器等异物已被插入读卡器内部的读卡器及异物检测方法。读卡器(1)具备：预读头(10)，其用于从插入到插入口(4)的卡(2)检测磁力；本体部(6)，其包含输送从插入口(4)插入的卡(2)的卡输送路径(7)；卡检测机构(15a)，其配置于本体部(6)，用于检测卡(2)在卡(2)的插入方向上的前端；以及控制部(17)，其在由卡检测机构(15a)检测到插入物的前端的情况下，开始监视由预读头(10)检测的磁力，且在未检测到该磁力的期间中的插入物的移动距离达到规定值以上的情况下，检测出插入了除卡(2)以外的物体。

Description

读卡器及异物检测方法

技术领域

本发明涉及进行记录于卡上的数据的读取或数据向卡的记录的读卡器。另外，本发明涉及该读卡器的异物检测方法。

背景技术

进行记录于卡上的磁数据的读取或磁数据向卡的记录的读卡器正在被广泛利用。在利用读卡器的金融机构等业界，罪犯将磁头安装在读卡器的卡插入部并利用该磁头非法取得卡上的磁数据的所谓侧录已经成为一个大问题。罪犯进行的侧录的方法越来越高明，已经产生在读卡器的内部安装用于读取卡上的磁数据的侧录用磁头等侧录用的装置(以下称为“插入式侧录器”。)的事态。专利文献1中公开有检测在读卡器的内部插入了插入式侧录器的技术。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2017－174164号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

检测插入式侧录器插入的技术不限于专利文献1中记载的技术，可将多个技术组合并实施在防犯上是非常有利的。

本发明是鉴于上述情况而创建的，其目的在于，提供一种能够通过与专利文献1不同的方法检测出特定形状的插入式侧录器等异物已被插入读卡器的内部的读卡器及异物检测方法。

解决技术问题所采用的技术方案

本发明提供一种读卡器，其具有：磁检测部，所述磁检测部用于从插入到插入口的卡检测磁力；本体部，所述本体部包含输送从所述插入口插入的所述卡的卡输送路径；以及卡检测传感器，所述卡检测传感器配置于所述本体部，用于检测所述卡在所述卡的插入方向上的前端，其中，所述磁检测部和所述卡检测传感器隔开距离而配置，所述距离小于所述卡在所述插入方向上的长度，所述读卡器具备控制部，所述控制部在由所述卡检测传感器检测到插入到所述插入口的插入物的前端的情况下，开始进行由所述磁检测部检测的磁力的监视，当所述插入物在由所述磁检测部未检测到磁力的期间的移动距离达到规定值以上时，所述控制部检测出已插入所述卡以外的物体。

本发明提供一种读卡器中的异物检测方法，该读卡器具有：磁检测部，所述磁检测部用于从插入到插入口的卡检测磁力；本体部，所述本体部包含输送从所述插入口插入的所述卡的卡输送路径；以及卡检测传感器，所述卡检测传感器配置于所述本体部，用于检测所述卡在所述卡的插入方向上的前端，其中，所述磁检测部和所述卡检测传感器隔开距离而配置，所述距离小于所述卡在所述插入方向上的长度，在由所述卡检测传感器检测到插入到所述插入口的插入物的前端的情况下，开始监视由所述磁检测部检测的磁力，当所述插入物在由所述磁检测部未检测到磁力的期间的移动距离达到规定值以上时，检测出已插入所述卡以外的物体。

发明效果

根据本发明，可以提供能够检测出特定形状的插入式侧录器等异物已被插入读卡器的内部的读卡器及异物检测方法。

附图说明

图1是用于说明作为本发明的读卡器的一实施方式的读卡器1的结构的俯视图。

图2是用于说明图1所示的卡插入检测机构14的结构的主视图。

图3是用于说明图1所示的预读头10、IC芯片传感器9、卡检测机构15a及输送辊26的结构的侧视图。

图4是装载图1所示的读卡器1的上位装置3及读卡器1的框图。

图5(a)是表示假定为插入到读卡器1的内部的插入式侧录器的第一结构例的图，(b)是表示假定为插入到读卡器1的内部的插入式侧录器的第二结构例的图。

图6是表示将图5(a)所示的插入式侧录器50插入到读卡器1的本体部6的状态的俯视图。

图7是表示插入物(插入式侧录器50或卡2)插入到插入口4且闸门部件13处于开放位置的状态的图。

图8是表示从图7的状态进一步将插入物(插入式侧录器50或卡2)向前后方向的里侧推入的状态的图。

图9是表示插入物(插入式侧录器50或卡2)从图8的状态移动到前后方向的里侧的状态的图。

图10是用于说明读卡器1的控制部17进行第一检测处理时的动作例的详情的流程图。

图11是用于说明图10所示的步骤S8的强制排出处理的流程图。

图12是用于说明读卡器1的控制部17进行第二检测处理时的动作例的详情的流程图。

附图标记说明

1：读卡器

2：卡

4：插入口

6：本体部

7：卡输送路径

9：IC芯片传感器(金属检测部)

10：预读头(磁检测部)

15a：卡检测机构(卡检测传感器)

17：控制部

具体实施方式

(读卡器的结构)

图1是用于说明作为本发明的读卡器的一实施方式的读卡器1的结构的俯视图。图2是用于说明图1所示的卡插入检测机构14的结构的主视图。图3是用于说明图1所示的预读头10、IC芯片传感器9、卡检测机构15a及输送辊26的结构的侧视图。图4是装载图1所示的读卡器1的上位装置3及读卡器1的框图。

读卡器1是用于进行记录于卡2上的数据的读取或数据向卡2的记录的装置，被装载于ATM(Automated Teller Machine：自动柜员机)等上位装置3(参照图4)上来使用。如图1所示，读卡器1具备形成有供卡2插入的插入口4的卡插入部5和本体部6。在读卡器1的本体部6的内部形成有输送从插入口4插入的卡2的卡输送路径7，读卡器1具备在卡输送路径7中输送卡2的卡输送机构8(参照图3)。

在读卡器1中，在图1等所示的X方向上输送卡2。另外，卡2沿图1等的X1方向插入，沿X2方向排出。即，X1方向是卡2向插入口4插入的插入方向，X2方向是卡从插入口4排出的排出方向。另外，与X方向正交的图1等的Z方向是插入到插入口4中的卡2的厚度方向，与X方向和Z方向正交的图1等的Y方向是卡2的宽度方向。在以下的说明中，将X方向设为前后方向，将Y方向设为左右方向，将Z方向设为上下方向。另外，将前后方向中的、形成插入口4的一侧(X2方向侧)设为“跟前”侧，将其相反侧(X1方向侧)设为“里(后)”侧。另外，将上下方向中的、一侧(Z1方向侧)设为“上”侧，将其相反侧(Z2方向侧)设为“下”侧。

卡2例如是厚度为0.7～0.8mm左右的长方形状的氯乙烯制的卡。另外，卡2是以国际标准(ISO/IEC7811)或JIS标准(JISX6302)为基准的带磁条的接触式IC卡。如图1所示，在卡2的背面(下表面)形成有记录磁数据的磁条2a。另外，在卡2中内置有IC芯片，在卡2的主面(上表面)形成有IC芯片的外部连接端子2b。磁条2a及外部连接端子2b形成于在国际标准或JIS标准中规定的规定位置。

读卡器1在本体部6的内部具备磁头24(参照图1)和IC触点块12，其中，磁头24进行记录于磁条2a上的磁数据的读取及磁数据向磁条2a的记录的至少任一种，IC触点块12具有与卡2的外部连接端子2b接触的多个IC触点弹簧11。

另外，读卡器1具备：用于关闭卡输送路径7的闸门部件13、用于检测卡2已插入到插入口4的卡插入检测机构14、预读头10、IC芯片传感器9、用于检测卡输送路径7中的卡2的有无的卡检测机构15a、15b、15c、15d以及控制读卡器1的控制部17。控制部17与上位装置3的控制部即上位控制部18连接(参照图4)。

卡插入部5连接到本体部6的前端。如图3所示，卡输送路径7具备构成卡输送路径7的上表面的上导向部件19和构成卡输送路径7的下表面的下导向部件20。上导向部件19及下导向部件20由具有绝缘性的树脂材料形成。如图1所示，磁头24及IC触点块12配置于本体部6的内部。磁头24配置为磁头24的间隙部从下侧面对卡输送路径7。IC触点块12配置于比磁头24靠里侧。另外，IC触点块12配置为从上侧面对卡输送路径7。磁头24与控制部17电连接(参照图4)。此外，IC触点块12也可以是配置于比磁头24靠跟前(例如，从接近闸门部件13的一侧数，第二个的输送辊26和第一个的输送辊26之间)的结构。

在IC触点块12上连接有移动机构21，该移动机构21使IC触点块12在IC触点弹簧11能够与卡2的外部连接端子2b接触的能接触位置和IC触点弹簧11退避为不与卡2的外部连接端子2b接触的(具体而言，向上侧退避)退避位置之间移动(参照图4)。移动机构21具备螺线管等驱动源和将驱动源的动力传递到IC触点块12的连杆机构等动力传递机构。移动机构21与控制部17连接。具体而言，移动机构21的驱动源与控制部17电连接。IC触点弹簧11与控制部17电连接。控制部17向IC触点弹簧11供给电流。作为移动机构21，例如，可以使用国际公开第2018/61685号小册子中所记载的构造、国际公开第2016/158946号小册子中所记载的构造、或者使用凸轮槽而移动的构造等。

卡插入检测机构14配置于插入口4的里侧，检测插入到插入口4的卡2。卡插入检测机构14是通过检测插入到插入口4的卡2的宽度(左右方向的宽度)而检测卡2已插入到插入口4这一情况的宽度检测机构。如图2所示，该卡插入检测机构14具备分别配置于左右方向的两侧的两个杆部件22和两个传感器23。卡插入检测机构14配置于卡插入部5的前端侧部分。另外，卡插入检测机构14与控制部17电连接。具体而言，两个传感器23与控制部17电连接。传感器23是具有以相互对置的方式配置的发光部和受光部的透射型光学式传感器。该传感器23配置于卡输送路径7的上侧，使得发光部和受光部在前后方向上对置。此外，图1中省略传感器23的图示。

杆部件22形成为从前后方向观察时的形状为大致L形状，由分别配置于左右方向上的卡输送路径7的两端侧的卡接触部22a和从卡接触部22a的上端向左右方向的内侧延伸的遮光部22b构成。该杆部件22被卡插入部5的框架能转动地保持，使其能够进行以卡接触部22a和遮光部22b的边界部分为转动的中心并且以前后方向为转动的轴向的转动。遮光部22b配置于卡输送路径7的上侧。另外，杆部件22由省略图示的弹簧部件施力，使得卡接触部22a的下端侧配置于卡输送路径7中。

在卡2插入到插入口4之前的待机时，如图2的实线所示，卡接触部22a的下端侧配置于卡输送路径7中，两个遮光部22b分别遮挡传感器23的发光部和受光部之间。此时，卡插入检测机构14处于断开状态。在该状态下，当短边方向的宽度为规定宽度的卡2插入到插入口4时，如图2的双点划线所示，卡2的左右两端分别与两个卡接触部22a的下端侧接触，两根杆部件22转动，直到两个遮光部22b分别从传感器23的发光部和受光部之间脱开。当两个遮光部22b分别从两个传感器23的发光部和受光部之间脱开时，卡插入检测机构14处于接通状态。

另一方面，插入到插入口4的卡2的宽度比规定宽度窄，在遮光部22b没有从两个传感器23中的至少任一个传感器23的发光部和受光部之间脱开的情况下，卡插入检测机构14保持在断开状态。这样，卡插入检测机构14通过在插入到插入口4的卡2的左右方向的宽度为规定宽度时从断开状态切换为接通状态来检测卡2。此外，在卡2插入到插入口4之前的待机时，两个遮光部22b分别从传感器23的发光部和受光部之间脱开，由此，卡插入检测机构14也可以处于断开状态。在这种情况下，当将规定宽度的卡2插入到插入口4，传感器23的发光部和受光部之间被两个遮光部22b分别遮挡时，卡插入检测机构14处于接通状态。卡插入检测机构14的结构不限于图2所示的结构。例如，也可以是卡接触部22a仅配置于卡的宽度方向的一侧，另一侧成为卡的输送路径的侧面。在这种情况下，通过将卡接触部22a与卡的输送路径的侧面的距离设定为(比卡的宽度稍窄的)规定宽度，当插入卡时，该插入则被检测到。

闸门部件13配置于卡插入部5和本体部6的边界部分，换言之，配置于卡插入部5的里端侧部分。在闸门部件13上连接有闸门驱动机构25(参照图4)。闸门驱动机构25具备螺线管等驱动源和将驱动源的动力传递到闸门部件13的连杆机构等动力传递机构。闸门驱动机构25与控制部17连接。具体而言，闸门驱动机构25的驱动源与控制部17电连接。

闸门部件13能够在关闭卡输送路径7的关闭位置(图3的双点划线所示的位置)和从卡输送路径7退避而开放卡输送路径7的开放位置(图3的实线所示的位置)之间移动。

预读头10是用于检测在从插入口4插入的卡2的磁条2a中是否记录有按标准确定的期望的磁数据的磁头。预读头10在卡插入部5配置于卡插入检测机构14和闸门部件13之间，从插入到插入口4的卡2的应形成磁条2a的位置检测磁力。预读头10作为磁检测部起作用。预读头10在左右方向上配置于与本体部6内的磁头24大致相同的位置。如图3所示，预读头10配置为预读头10的间隙部从下侧面对插入到插入口4的卡2。如图1所示，预读头10和卡检测机构15a之间的前后方向的距离L1低于作为读卡器1的读取对象的常规卡2的前后方向的长度。

IC芯片传感器9是用于检测在从插入口4插入的卡2上是否装载有IC芯片的传感器。具体而言，IC芯片传感器9是检测从插入口4插入的卡2的外部连接端子2b中包含的金属的金属传感器。IC芯片传感器9在卡插入部5配置于卡插入检测机构14和闸门部件13之间，从插入于插入口4的卡2的应形成外部连接端子2b的位置检测金属。IC芯片传感器9作为金属检测部起作用。IC芯片传感器9的前后方向上的位置与预读头10相同，在左右方向上，配置于本体部6内的与IC触点块12大致相同的位置。如图3所示，IC芯片传感器9配置为从上侧面对插入到插入口4的卡2。IC芯片传感器9和卡检测机构15a之间的前后方向的距离L2与上述距离L1相同。此外，距离L2也可以不与距离L1相同。距离L2的下限值设定为大于从卡2的前后方向的里侧的端部到外部连接端子2b的前后方向的跟前侧的端部的距离的值。

卡检测机构15a、15b、15c、15d配置于本体部6的内部。即，卡检测机构15a、15b、15c、15d配置于比卡插入检测机构14、预读头10以及IC芯片传感器9靠里侧。另外，卡检测机构15a、15b、15c、15d配置为分别在前后方向上错位的状态。在比卡检测机构15a靠里侧配置有卡检测机构15b，在比卡检测机构15b靠里侧配置有卡检测机构15c，在比卡检测机构15c靠里侧配置有卡检测机构15d。如图4所示，卡检测机构15a、15b、15c、15d与控制部17电连接。另外，如图3所示，卡检测机构15a、15b、15c、15d分别是具有以相互对置的方式配置的发光部15A和受光部15B的透射型光学式传感器。此外，在图3中，关于卡检测机构15b、15c、15d，省略图示。如图3所示，发光部15A和受光部15B配置成在上下方向上将卡输送路径7夹在中间的状态。

在发光部15A和受光部15B之间没有卡2的情况下，受光部15B接收来自发光部15A的光。此时，卡检测机构15a、15b、15c、15d处于断开状态。当卡2在该状态下进入发光部15A和受光部15B之间时，从发光部15A朝向受光部15B的光被遮挡，卡检测机构15a、15b、15c、15d处于接通状态。这样，卡检测机构15a、15b、15c、15d通过从断开状态切换为接通状态而检测卡2。卡检测机构15a、15b、15c、15d中，卡检测机构15a在本体部6内配置于最靠跟前侧，构成用于检测插入到插入口4的卡2的前后方向的前端(方向X1的前端)的卡检测传感器。

此外，卡检测机构15a、15b、15c、15d也可以是反射型光学式传感器。在这种情况下，在受光部没有接收来自卡检测机构15a、15b、15c、15d的发光部的光的情况下，卡检测机构15a、15b、15c、15d处于断开状态，当受光部接收从卡检测机构15a、15b、15c、15d的发光部射出且被卡2反射的光时，卡检测机构15a、15b、15c、15d处于接通状态。

如图3所示，卡输送机构8具备：与卡2接触而在卡输送路径7中输送卡2的三个输送辊26(参照图1。图3中仅图示最靠近跟前侧的输送辊)、驱动各输送辊26的电动机28(参照图4)、将电动机28的动力传递到各输送辊26的动力传递机构(图示省略)。各输送辊26配置于本体部6的内部。即，输送辊26配置于比卡插入检测机构14靠里侧。

如图3所示，垫辊29与各输送辊26对置配置。各输送辊26和垫辊29在上下方向上对置。另外，垫辊29被朝向输送辊26施力，卡2以夹持于输送辊26和垫辊29之间的状态输送。

在电动机28上安装有用于检测电动机28的旋转的编码器30(参照图4)。在本实施方式中，即使在电动机28停止的状态下，也能够使输送辊26旋转，当输送辊26在电动机28停止的状态下旋转时，由编码器30检测电动机28的旋转。即，当输送辊26在电动机28停止的状态下旋转时，由编码器30检测输送辊26的旋转。电动机28及编码器30与控制部17电连接。

(假定的插入式侧录器的结构例)

图5(a)是表示假定为插入到读卡器1的内部的插入式侧录器的第一结构例的图。图5(b)是表示假定为插入到读卡器1的内部的插入式侧录器的第二结构例的图。图6是表示将图5(a)所示的插入式侧录器50插入读卡器1的本体部6的状态的俯视图。

图5(a)、(b)所示的插入式侧录器50具有本体部，该本体部由左右方向的宽度与卡2的宽度大致相同的长方形的平板状且具有导电性的导电性材料形成。具体而言，插入式侧录器50的本体部由金属形成。在图5(a)、(b)所示的插入式侧录器50的本体部形成有缺口部50a或开口部50d，该缺口部50a或开口部50d用于避免插入式侧录器50的本体部与处于读卡器1的本体部6内的最跟前侧的输送辊26接触。另外，在图5(a)、(b)所示的插入式侧录器50的本体部形成有贯通孔50b，使得插入式侧录器50被安装到读卡器1的本体部6时，从卡检测机构15a的发光部15A朝向受光部15B的光不被遮断。另外，在图5(b)所示的插入式侧录器50的本体部形成有缺口部50c，使得插入式侧录器50被安装到读卡器1的本体部6时，从卡检测机构15b的发光部15A朝向受光部15B的光不被遮断。图5(a)所示的插入式侧录器50由于缺口部50a较大，可与输送辊26接触的本体部的面积较小，所以通过手推即可插入本体部6。图5(b)所示的插入式侧录器50由于可与输送辊26接触的本体部的面积较大，所以当向插入口4插入时，通过利用输送辊26进行输送而被插入本体部6。

在图5(a)、(b)所示的插入式侧录器50的本体部的前后方向的里侧的端部(前端)形成有伪造的磁条51，在该磁条51的左侧形成有用于从常规卡2的磁条读取磁信息的磁头52。在该磁条51上记录有与记录于常规卡2上的磁条2a的前端的信息相同的信息。因为必须要在插入式侧录器50的本体部的与左右方向的磁条51相同的位置形成贯通孔50b和磁头52，所以与常规卡2的磁条2a的前后方向的长度相比，磁条51的前后方向的长度非常短。此外，磁头52的位置也被假定为例如在贯通孔50b的左侧。另外，假定贯通孔50b的前后方向上的宽度大到一定程度，以便可靠地避开卡检测机构15a。

图4所示的读卡器1的控制部17统一控制整个读卡器1，具体而言，包含：执行程序而进行处理的各种处理器、RAM(Ramdom Access Memory：随机存取存储器)、以及ROM(ReadOnly Memory：只读存储器)。作为各种处理器，包含：执行程序而进行各种处理的通用的处理器即CPU(Central Processing Unit：中央处理器)、FPGA(Field Programmable GateArray：现场可编程门阵列)等在制造后可变更电路结构的处理器即可编程逻辑器件(Programmable Logic Device：PLD)、或者ASIC(Application Specific IntegratedCircuit：专用集成电路)等专用电路，该专用电路是为了执行特定处理而具有专门设计的电路机构的处理器等。这些各种处理器的构造更具体而言是将半导体元件等电路元件组合而成的电路。控制部17可以由各种处理器中的一个构成，也可以由相同或不同的两种以上的处理器的组合(例如多个FPGA的组合或CPU和FPGA的组合)构成。

控制部17在常规卡2插入到插入口4并通过卡插入检测机构14检测到卡2的插入时，使预读头10和IC芯片传感器9动作。而且，当通过预读头10成功从卡2的磁条2a的前端读取到期望的信息、或者通过IC芯片传感器9检测到IC芯片(金属)时，控制部17使闸门部件13从关闭位置向开放位置移动。由此，形成卡2能够取入本体部6的内部的状态。

另外，在具有图5所示的磁条51的插入式侧录器50插入到插入口4且由卡插入检测机构14检测到插入式侧录器50的插入的情况下，控制部17也使预读头10和IC芯片传感器9动作。而且，在由预读头10成功从插入式侧录器50的磁条51读取到期望的信息、或者通过IC芯片传感器9检测到插入式侧录器50的本体部的金属时，控制部17使闸门部件13从关闭位置向开放位置移动。由此，如图7所示，形成插入式侧录器50可插入本体部6的内部的状态。在图7中，闸门部件13用虚线表示，示出处于开放位置的情况。

在图7所示的状态之后，控制部17进行第一检测处理和第二检测处理，作为用于检测插入物是如图5所示的插入式侧录器50的处理。具体而言，当从图7的状态将插入物(插入式侧录器50或卡2)推入卡输送路径7，并通过处于最跟前侧的卡检测机构15a检测到插入物(插入式侧录器50或卡2)的前端时，控制部17开始第一检测处理或第二检测处理。控制部17进行第一检测处理和第二检测处理的哪一个处理，例如可以从上位装置3进行设定。

(插入式侧录器的第一检测处理)

图8是表示插入物(插入式侧录器50或卡2)从图7的状态进一步向前后方向的里侧推入的状态的图。在如图8所示卡状的插入物(插入式侧录器50或卡2)被推入且由卡检测机构15a检测到插入物(插入式侧录器50或卡2)的前端的情况下，控制部17开始监视由预读头10检测的磁力。而且，在由预读头10未检测到磁力的状态继续且插入物(插入式侧录器50或卡2)在未检测到磁力的状态持续的期间中的移动距离达到规定值以上的情况下，控制部17检测出已插入常规卡2以外的物体(即插入式侧录器50)。

在插入物是卡2的情况下，在由卡检测机构15a检测到卡2的前端的时点，预读头10位于卡2的磁条2a的下方。因此，从该时点到卡2沿X1方向移动并且卡插入检测机构14处于断开状态期间，预读头10连续地检测磁力。

另一方面，在插入物是插入式侧录器50的情况下，在由卡检测机构15a检测到插入式侧录器50的前端的时点，如图8所示，预读头10位于插入式侧录器50的贯通孔50b的下方。因此，从该时点到插入式侧录器50沿X1方向移动并且卡插入检测机构14处于断开状态期间，通过预读头10未检测到磁力。控制部17根据检测驱动输送辊26的电动机28的旋转的编码器30的输出而求出从上述时点起通过预读头10未检测到磁力的期间的插入物的移动距离，在该移动距离达到预定的规定值以上的情况下，可以判定为插入物是插入式侧录器50。

(插入式侧录器的第二检测处理)

在如图8所示推入插入物(插入式侧录器50或卡2)，且由卡检测机构15a检测到插入物(插入式侧录器50或卡2)的前端的情况下，控制部17开始监视IC芯片传感器9的输出信号。而且，在由IC芯片传感器9检测到金属的情况下，控制部17判定为插入物是插入式侧录器50，检测出插入了除常规卡2以外的物体(即插入式侧录器50)。

在插入物是卡2的情况下，在由卡检测机构15a检测到卡2的前端的时点，处于外部连接端子2b已经通过IC芯片传感器9的下方的状态。因此，在从该时点到卡2沿X1方向移动并且完成卡2的取入期间，不进行通过IC芯片传感器9的金属的检测。

另一方面，在插入物是插入式侧录器50的情况下，在由卡检测机构15a检测到插入式侧录器50的前端的时点，如图8所示，插入式侧录器50的本体部的后端位于IC芯片传感器9的跟前侧。因此，当插入式侧录器50从该时点起沿X1方向移动，且如图9所示，插入式侧录器50的本体部来到IC芯片传感器9的下方时，通过IC芯片传感器9检测金属。因此，在从上述的时点起由IC芯片传感器9检测到金属的情况下，控制部17可以判定为插入物是插入式侧录器50。

(第一检测处理的动作的具体例)

图10是用于说明读卡器1的控制部17进行第一检测处理时的动作例的详情的流程图。

在由卡检测机构15a检测到插入物(插入式侧录器50或卡2)的前端的情况下，控制部17开始监视由预读头10检测的磁力。而且，当从预读头10输出信号时，控制部17基于该信号判定是否检测到磁力(步骤S1)。

控制部17在判定为检测到磁力的情况下(步骤S1：是)，将检测到磁力的信息和从预读头10输出信号的时刻相对应地存储于RAM，并将处理转换到步骤S9。在步骤S9中，控制部17判定卡插入检测机构14是否处于断开状态并且插入物的取入是否完成，在完成了取入的情况下(步骤S9：是)，结束第一检测处理，在取入未完成的情况下(步骤S9：否)，使处理返回步骤S1。

在步骤S1中判定为未检测到磁力的情况下(步骤S1：否)，控制部17判定扭矩限制功能是否有效(步骤S2)。

扭矩限制功能是指在驱动输送辊26的电动机28的扭矩远远大于通常的输送所需的值的情况下，对扭矩施加限制以不使扭矩超过规定值的功能。在插入到读卡器1的卡2产生卡堵塞、或者使用者不能抓住卡2进行卡2的输送的状态下，该扭矩限制功能有效。可以通过监视编码器30的输出和电源电压来进行扭矩限制功能是否有效的判定。

在步骤S2中判定为扭矩限制功能无效的情况下(步骤S2：否)，控制部17将未检测到磁力的信息、从预读头10输出信号的时刻、该时刻的编码器30的检测脉冲数相应地存储于RAM，并转换到步骤S5。

在步骤S2中判定为扭矩限制功能有效的情况下(步骤S2：是)，控制部17判定扭矩限制功能变为有效的定时(timing)，在该定时为开始第一检测处理之前的情况下(步骤S3：是)，将未检测到磁力的信息、从预读头10输出信号的时刻、该时刻的编码器30的检测脉冲数相应地存储于RAM，并转换至步骤S5。

在该定时为开始第一检测处理之后的情况下(步骤S3：否)，控制部17判断为因卡堵塞或抓卡而不能检测到磁力的状态(步骤S4)，将有扭矩限制的信息、未检测到磁力的信息、从预读头10输出信号的时刻相应地存储于RAM，且使处理转换至步骤S9。

在步骤S5中，控制部17提取存储于RAM中的未检测到磁力的信息中的、除了与有扭矩限制的信息具有相应关系的信息以外的未检测到磁力的信息。而且，控制部17将与所提取的未检测到磁力的信息对应的编码器30的检测脉冲数中、对应的时刻连续的脉冲数彼此的差换算成距离，计算该距离的累计值，并将其作为插入物在未检测到磁力的状态下移动的距离Gap(步骤S5)。

而且，控制部17判定距离Gap是否超过预定的阈值TH1(相当于上述的规定值)(步骤S6)，在距离Gap为阈值TH1以下的情况下(步骤S6：否)，使处理转换至步骤S9。

在步骤S6的判定中距离Gap超过阈值TH1的情况下(步骤S6：是)，控制部17判断为插入物是插入式侧录器50(步骤S7)，检测插入式侧录器50的插入。而且，控制部17进行将插入式侧录器50从卡输送路径7强制排出的强制排出处理(步骤S8)。

(强制排出处理的具体例)

图11是用于说明图10所示的步骤S8的强制排出处理的流程图。首先，控制部17停止输送辊26进行的插入物向前后方向的里侧的输送(步骤S31)，开始使输送辊26反转而将插入物向前后方向的跟前侧输送的排出输送(步骤S32)。

在步骤S32之后，控制部17判定卡检测机构15a是否处于接通状态(步骤S33)，在处于断开状态的情况下(步骤S33：否)，判定从步骤S32的处理开始的时点起经过的时间是否达到规定时间的超时状态(步骤S34)。

在未超时的情况下(步骤S34：否)，控制部17使处理返回步骤S33。在超时的情况下(步骤S34：是)，控制部17在步骤S39中将表示已插入了插入式侧录器50的错误信息存储于ROM。在步骤S39之后，控制部17停止输送辊26的驱动(步骤S40)。

当进行步骤S39的处理时，直至存储于ROM的错误信息被删除为止，控制部17针对来自上位装置3的请求返回错误，不进行卡2的取入动作。控制部17在从上位装置3接收到错误解除请求时，删除存储于ROM的错误信息，返回通常的动作模式。

在步骤S33中判定为卡检测机构15a处于接通状态的情况下(步骤S33：是)，控制部17判定卡检测机构15a是否处于断开状态(步骤S35)，在接通状态继续的情况下(步骤S35：否)，判定是否为超时状态(步骤S36)。在不是超时的情况下(步骤S36：否)，控制部17使处理返回步骤S35，在是超时的情况下(步骤S36：是)，进行步骤S39的处理。

在步骤S35中判定为卡检测机构15a处于断开状态的情况下(步骤S35：是)，控制部17判定卡插入检测机构14是否为接通状态(步骤S37)，在卡插入检测机构14为断开状态的情况下(步骤S37：否)，判定是否为超时状态(步骤S38)。控制部17在未超时的情况下(步骤S38：否)，使处理返回步骤S37，在超时的情况下(步骤S38：是)，进行步骤S39的处理。

在步骤S37中，在判定为卡插入检测机构14为接通状态的情况下(步骤S37：是)，控制部17在步骤S40中停止输送辊26的驱动。在插入式侧录器50为如图5(b)所示的结构的情况下，步骤S37的判定为是，成为该插入式侧录器50被强制排出的状态。在插入式侧录器50为如图5(a)所示的结构的情况下，从步骤S34到步骤S38的任何判定均为是，成为该插入式侧录器50被收容于本体部6内部的状态。

(第二检测处理的动作的具体例)

图12是用于说明读卡器1的控制部17进行第二检测处理时的动作例的详情的流程图。在图12中，对于与图10相同的处理标注同一符号。

控制部17在由卡检测机构15a检测到插入物(插入式侧录器50或卡2)的前端的情况下，开始IC芯片传感器9的输出的监视。而且，在取得由IC芯片传感器9取样的信号Sns时，控制部17基于该信号Sns判定是否检测到金属。

具体而言，控制部17取得开始第二检测处理之后从IC芯片传感器9输出的过去的信号Sns的移动平均值SnsAv，计算该移动平均值SnsAv和在步骤S11中取得的信号Sns之差的绝对值，在该绝对值超过预定的阈值TH2的情况下(步骤S12：是)，判定为由IC芯片传感器9检测到金属，并且判断为插入物是插入式侧录器50(步骤S13)。在步骤S13之后，在步骤S8中开始图11所示的强制排出处理。

控制部17在上述的绝对值为阈值TH2以下的情况下(步骤S12：否)，判定为由IC芯片传感器9未检测到金属，计算包含在步骤S11中取得的信号Ssn在内的过去的信号Sns的移动平均值SnsAv(步骤S15)。

然后，控制部17在判定为卡插入检测机构14处于断开状态且完成了插入物的取入的情况下(步骤S16：是)，结束第二检测处理，在判定为卡插入检测机构14保持接通状态且未完成插入物的取入的情况下(步骤S16：否)，使处理返回步骤S11。

(实施方式的读卡器的效果)

根据读卡器1进行的第一检测处理，当假定插入前端具有前后方向的长度比常规卡2短的虚拟磁条51的插入式侧录器50时，该插入式侧录器50的前端被本体部6内的卡检测机构15a检测到后，通过预读头10对插入式侧录器50的不存在磁条51的部位进行磁检测。因此，在由预读头10未检测到磁力的期间变长的情况下，可以判断为已插入了插入式侧录器50，从而可以检测插入式侧录器50的插入。

读卡器1进行的第一检测处理利用装载于已有的产品上的预读头10进行插入式侧录器50的插入的检测，可以通过已有产品的固件更新来对应，因此，可以防止产品成本上升。

另外，就读卡器1进行的第一检测处理而言，在由卡检测机构15a检测到插入物的前端后，在输送辊26的扭矩发生异常的情况下(即扭矩限制功能有效的情况下)，针对产生了该异常的时刻，将有扭矩限制的信息和未检测到磁力的信息相对应地存储。而且，在图10的步骤S5中计算距离Gap时，在排除与发生该异常的时刻对应的未检测到磁力的信息(与有扭矩限制的信息具有相应关系的信息)之后，进行距离Gap的计算。因此，即使在插入了常规卡2，且因卡堵塞等而不能从该卡2准确地检测到磁力的状态连续产生的情况下，也可以防止判断为该卡2是插入式侧录器50，从而可以高精度地检测插入式侧录器50的插入。

另外，根据读卡器1进行的第二检测处理，即使是不具有虚拟磁条51的插入式侧录器，只要是本体部使用了金属的插入式侧录器，就能够对其进行检测。因此，可以提高防犯效果。另外，由于第二检测处理利用装载于已有的产品上的IC芯片传感器9进行插入式侧录器50的插入的检测，且可以通过已有产品的固件更新进行对应，所以能够防止产品成本上升。

(实施方式的读卡器的变形例)

控制部17也可以在由预读头10未检测到磁力的状态继续，且未检测到磁力的状态持续的期间的长度达到阈值以上的情况下，检测出插入了常规卡2以外的物体(即插入式侧录器50)。

在读卡器1中，为了进行插入式侧录器50的检测，使用已有的预读头10和IC芯片传感器9，但也可以是将用于进行该检测的专用的磁传感器和金属传感器设置于卡插入部5的结构。

在从上位装置3设定控制部17进行第一检测处理的情况下，在由卡插入检测机构14检测到插入物的插入后，没有通过预读头10检测到磁力的情况下，也可以不进行第一检测处理。在这种情况下，在由卡插入检测机构14检测到插入物的插入后，由IC芯片传感器9检测到IC芯片的情况下，控制部17只要使闸门部件13移动到开放位置即可。根据该结构，在插入了仅装载有IC芯片的不具有磁条的常规卡2的情况下，可以防止该卡2被检测为插入式侧录器50。

在从上位装置3设定控制部17进行第二检测处理的情况下，在由卡插入检测机构14检测到插入物的插入后，由预读头10进行了磁力的检测的情况下，也可以不进行第二检测处理。在这种情况下，在由卡插入检测机构14检测到插入物的插入后，由IC芯片传感器9检测到金属的情况下，控制部17只要使闸门部件13移动到开放位置即可。根据该结构，在插入了金属制的磁卡或内置金属制天线的非接触IC磁卡等常规卡的情况下，可以防止这些常规卡被检测为插入式侧录器50。

控制部17也可以并行地进行第一检测处理和第二检测处理。在这种情况下，控制部17在通过第一检测处理和第二检测处理的任一方检测到插入式侧录器50的插入的情况下，只要进行图11所示的强制排出处理即可。或者，控制部17在通过第一检测处理和第二检测处理双方检测到插入式侧录器50的插入的情况下，只要进行图11所示的强制排出处理即可。由此，能够提高插入式侧录器50的插入检测的精度。

读卡器1有时在插入口4的附近还具有干扰磁场发生装置。在这种情况下，控制部17以在进行第一检测处理或第二检测处理时，从干扰磁场发生装置间歇地产生磁场的方式进行控制，且在没有从干扰磁场发生装置发生磁场期间，可以进行预读头10进行的磁力的检测和IC芯片传感器9进行的金属的检测。

在判定为插入物是插入式侧录器50的情况下，控制部17也可以不进行强制排出处理，而是将错误信息存储于ROM并结束动作。在这种情况下，控制部17通知上位装置3插入式侧录器50已被插入。而且，接受该通知，上位装置3的管理员进行移除插入式侧录器50等应对即可。

在图10的动作例中，步骤S2、步骤S3及步骤S4不是必须的，也可以省略。

如以上说明，本说明书中公开有以下事项。

(1)一种读卡器，其具有：磁检测部，上述磁检测部用于从插入到插入口的卡检测磁力；本体部，上述本体部包含输送从上述插入口插入的上述卡的卡输送路径；以及卡检测传感器，上述卡检测传感器配置于上述本体部，用于检测上述卡在上述卡的插入方向上的前端，其中，

上述磁检测部和上述卡检测传感器隔开距离而配置，上述距离小于上述卡在上述插入方向上的长度，

上述读卡器具备控制部，上述控制部在由上述卡检测传感器检测到插入到上述插入口的插入物的前端的情况下，开始进行由上述磁检测部检测的磁力的监视，当上述插入物在由上述磁检测部未检测到磁力的期间的移动距离为规定值以上时，上述控制部检测出已插入上述卡以外的物体。

假定插入前端部具有长度比常规卡短的虚拟的磁条的插入式侧录器。根据(1)，在由本体部内的卡检测传感器检测到该插入式侧录器的前端后，通过磁检测部对插入式侧录器的不存在磁条的部位进行磁检测。因此，在未检测到磁力的期间的插入物的移动距离较大的情况下，可以将插入物判断为插入式侧录器，可以检测出插入式侧录器的插入。

(2)根据(1)所述的读卡器，其中，

具备在上述卡输送路径中输送上述卡的输送辊和检测上述输送辊的旋转量的编码器，

上述控制部基于上述编码器的输出而求出上述移动距离。

根据(2)，能够准确且容易地求出移动距离。

(3)根据(2)所述的读卡器，其中，

在由上述卡检测传感器检测到上述插入物的前端后，上述输送辊的扭矩发生了异常的情况下，上述控制部将上述异常发生的期间从未检测到上述磁力的期间排除。

根据(3)，即使是在由于卡堵塞或用户抓卡，导致尽管输送辊旋转但卡不移动的情况下，也能够将发生卡堵塞或抓卡的期间排除来判定未检测到磁力的期间，因此，可以减少将常规卡判断为插入式侧录器的可能性。

(4)根据(1)～(3)中任一项所述的读卡器，其中，

在上述插入物被插入到上述插入口的状态下由上述磁检测部未检测到磁力的情况下，上述控制部不进行上述磁力的监视。

根据(4)，在插入了仅具有IC芯片的常规卡的情况下，可以防止将该卡判断为插入式侧录器，

(5)根据(1)～(4)中任一项所述的读卡器，其中，

具备用于从插入到上述插入口的卡检测金属的金属检测部，

在由上述卡检测传感器检测到上述插入物的前端后，开始监视上述金属检测部的输出，且由上述金属检测部检测到金属的情况下，上述控制部检测出已插入上述卡以外的物体。

根据(5)，即使是不具有虚拟磁条的插入式侧录器，只要是本体部使用了金属的插入式侧录器，就能够对其检测出。

(6)根据(5)所述的读卡器，其中，

在上述插入物插入到上述插入口的状态下由上述磁检测部检测到磁力的情况下，上述控制部不进行上述金属检测部的输出的上述监视。

根据(6)，在插入了金属制磁卡或内置金属制天线的非接触IC磁卡等常规卡的情况下，可以防止将该卡判断为插入式侧录器，

(7)一种读卡器中的异物检测方法，该读卡器具有：磁检测部，上述磁检测部用于从插入到插入口的卡检测磁力；本体部，上述本体部包含输送从上述插入口插入的上述卡的卡输送路径；以及卡检测传感器，上述卡检测传感器配置于上述本体部，用于检测上述卡在上述卡的插入方向上的前端，其中，

上述磁检测部和上述卡检测传感器隔开距离而配置，上述距离小于上述卡在上述插入方向上的长度，

在由上述卡检测传感器检测到插入到上述插入口的插入物的前端的情况下，开始监视由上述磁检测部检测的磁力，当上述插入物在由上述磁检测部未检测到磁力的期间的移动距离达到规定值以上时，检测出已插入常规卡以外的物体。

Claims (6)

1.一种读卡器，其具有：磁检测部，所述磁检测部用于从插入到插入口的卡检测磁力；本体部，所述本体部包含输送从所述插入口插入的所述卡的卡输送路径；以及卡检测传感器，所述卡检测传感器配置于所述本体部，用于检测所述卡在所述卡的插入方向上的前端，其特征在于，

所述磁检测部和所述卡检测传感器隔开距离而配置，所述距离小于所述卡在所述插入方向上的长度，

所述读卡器具备控制部，所述控制部在由所述卡检测传感器检测到插入到所述插入口的插入物的前端的情况下，开始进行由所述磁检测部检测的磁力的监视，当所述插入物在由所述磁检测部未检测到磁力的期间的移动距离达到规定值以上时，所述控制部检测出已插入所述卡以外的物体，

所述读卡器具备在所述卡输送路径中输送所述卡的输送辊和检测所述输送辊的旋转量的编码器，

所述控制部基于所述编码器的输出而求出所述移动距离。

2.根据权利要求1所述的读卡器，其特征在于，

在由所述卡检测传感器检测到所述插入物的前端后，所述输送辊的扭矩发生了异常的情况下，所述控制部将所述异常产生的期间从未检测到所述磁力的期间排除。

3.根据权利要求1或2所述的读卡器，其特征在于，

在所述插入物被插入到所述插入口的状态下由所述磁检测部未检测到磁力的情况下，所述控制部不进行所述磁力的监视。

4.根据权利要求1或2所述的读卡器，其特征在于，

所述读卡器具备用于从插入到所述插入口的卡检测金属的金属检测部，

在由所述卡检测传感器检测到所述插入物的前端后，开始监视所述金属检测部的输出，且由所述金属检测部检测到金属的情况下，所述控制部检测出已插入所述卡以外的物体。

5.根据权利要求4所述的读卡器，其特征在于，

在所述插入物插入到所述插入口的状态下由所述磁检测部检测到磁力的情况下，所述控制部不进行所述金属检测部的输出的所述监视。

6.一种读卡器中的异物检测方法，该读卡器具有：磁检测部，所述磁检测部用于从插入到插入口的卡检测磁力；本体部，所述本体部包含输送从所述插入口插入的所述卡的卡输送路径；以及卡检测传感器，所述卡检测传感器配置于所述本体部，用于检测所述卡在所述卡的插入方向上的前端，所述异物检测方法的特征在于，

所述磁检测部和所述卡检测传感器隔开距离而配置，所述距离小于所述卡在所述插入方向上的长度，

在由所述卡检测传感器检测到插入到所述插入口的插入物的前端的情况下，开始监视由所述磁检测部检测的磁力，当所述插入物在由所述磁检测部未检测到磁力的期间的移动距离达到规定值以上时，检测出已插入所述卡以外的物体，

所述读卡器具备在所述卡输送路径中输送所述卡的输送辊和检测所述输送辊的旋转量的编码器，

基于所述编码器的输出而求出所述移动距离。