CN110608871B - 像素检测电路、显示装置及检测方法 - Google Patents

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Abstract

本申请提供一种像素检测电路、显示装置及检测方法，涉及显示装置的检测。该像素检测电路，包括：检测单元和用于驱动第一列像素的第一发光元件和第二列像素的第二发光元件的第一像素驱动单元；检测单元包括导线、以及分别电连接在导线两端的至少一个检测信号输入端和至少一个检测信号输出端，导线环绕待检测显示面板边缘；第一像素驱动单元包括第一开关模块、第二开关模块和第三开关模块。该显示装置包括像素检测电路，该检测方法应用于该像素检测电路。本申请用以解决现有的采用PCD电路进行检测带来的占用设计空间或显示异常的技术问题。

Description

像素检测电路、显示装置及检测方法
技术领域
本申请涉及显示装置的检测，尤其涉及一种像素检测电路、显示装置及检测方法。
背景技术
随着显示技术的不断革新，柔性OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)近几年已经成为了最大的热门，应用越来越广泛。虽然柔性OLED有很多的优点，但柔性产品的边缘会比较容易产生破裂Crack，而这些破裂Crack在后续制程中，会导致封装失效或显示异常问题。因此，设计检测柔性显示面板破裂Crack的电路与基于该电路的检测方法非常有必要。
目前，检测柔性显示面板破裂是否存在破裂Crack，是增加一个PCD(Panel CrackDetect，显示屏裂纹探测)电路进行检测，通过PCD电路是否点亮显示面板检测是否存在破裂Crack。但是，增加PCD电路进行检测的方式不仅占用了设计空间，而且如果PCD电路异常或缺陷还会带来显示异常的问题。
发明内容
本申请的目的旨在提供一种像素检测电路、显示装置及检测方法，用以解决现有的采用PCD电路进行检测带来的占用设计空间或显示异常的技术问题。
为了实现上述目的，第一方面，本申请提供一种像素检测电路，包括：检测单元和用于驱动第一列像素的第一发光元件和第二列像素的第二发光元件的第一像素驱动单元；
检测单元包括导线、以及分别电连接在导线两端的至少一个检测信号输入端和至少一个检测信号输出端，导线环绕待检测显示面板边缘；
第一像素驱动单元包括第一开关模块、第二开关模块和第三开关模块；
第一开关模块的第一端、第二端、第三端，分别用于与第一控制信号线、第一数据信号线、第一列像素的第一发光元件电连接；
第二开关模块的第一端、第二端、第三端，分别用于与第二控制信号线、第二数据信号线、第二列像素的第二发光元件电连接；
第三开关模块的第一端、第二端，分别与一个检测信号输出端、第一开关模块的第三端电连接；第三开关模块的第三端用于与第二列像素的第二发光元件电连接。
可选地，第一开关模块包括第一晶体管；
第一晶体管的控制极、第一极、第二极，分别作为第一开关模块的第一端、第二端、第三端；
第二开关模块包括第二晶体管；
第二晶体管的控制极、第一极、第二极，分别作为第二开关模块的第一端、第二端、第三端。
可选地，第三开关模块包括第三晶体管和第四晶体管；
第三晶体管的控制极用于与第三控制信号线电连接；
第四晶体管的控制极作为第三开关模块的第一端；
第三晶体管的第一极作为第三开关模块的第二端；
第三晶体管的第二极与第四晶体管的第一极电连接；
第四晶体管的第二极作为第三开关模块的第三端。
可选地，像素检测电路还包括用于驱动第三列像素的第三发光元件和第四列像素的第四发光元件的第二像素驱动单元；
第二像素驱动单元包括第四开关模块、第五开关模块和第六开关模块；
第四开关模块的第一端、第二端、第三端，分别用于与第四控制信号线、第四数据信号线、第三列像素的第三发光元件电连接；
第五开关模块的第一端、第二端、第三端，分别用于与第二控制信号线、第二数据信号线、第四列像素的第四发光元件电连接；
所示第六开关模块的第一端、第二端、第三端，分别与一个检测信号输出端、第四开关模块的第三端电连接；所示第六开关模块的第三端用于与第四列像素的第四发光元件电连接。
可选地，第四开关模块包括第五晶体管；
第五晶体管的控制极、第一极、第二极，分别作为第四开关模块的第一端、第二端、第三端；
第五开关模块包括第六晶体管；
第六晶体管的控制极、第一极、第二极，分别作为第五开关模块的第一端、第二端、第三端。
可选地，第六开关模块包括第七晶体管和第八晶体管；
第七晶体管的控制极用于与第三控制信号线电连接；
第八晶体管的控制极作为第六开关模块的第一端；
第七晶体管的第一极作为第六开关模块的第二端；
第七晶体管的第二极与第八晶体管的第一极电连接；
第八晶体管的第二极作为第六开关模块的第三端。
第二方面，本申请还提供一种显示装置，包括第一方面的像素检测电路。
第三方面，本申请还提供一种检测方法，应用于第一方面像素检测电路，包括如下步骤：
第一开关模块的第一端接收第一电平信号，第一开关模块导通；第二开关模块的第一端接收第二电平信号，第二开关模块关闭；第一开关模块的第二端接收第一数据信号，第一列像素的第一发光元件不发光；
若导线没有断裂，则检测信号依次经检测信号输入端、导线和检测信号输出端，传输至第三开关模块的第一端，第三开关模块导通，第一数据信号经第三开关模块输出至第二列像素的第二发光元件，第二列像素的第二发光元件不发光；
若导线发生断裂，则检测信号无法传输至第三开关模块的第一端，第三开关模块关闭，第二列像素的第二发光元件发光。
可选地，该检测方法具体包括如下步骤：
第三晶体管的控制极接收第三电平信号，第三晶体管导通；
若导线没有断裂，则检测信号依次经检测信号输入端、导线和检测信号输出端，传输至第四晶体管的控制极，第四晶体管导通，第一数据信号经第三晶体管和第四晶体管输出至第二列像素的第二发光元件，第二列像素的第二发光元件不发光；
若导线发生断裂，则检测信号无法传输至第四晶体管的控制极，第四晶体管关闭，第二列像素的第二发光元件发光；
第三开关模块包括第三晶体管和第四晶体管；第三晶体管的控制极用于与第三控制信号线连接；第四晶体管的控制极作为第三开关模块的第一端；第三晶体管的第一极作为第三开关模块的第二端；第三晶体管的的第二极与第四晶体管的第一极电连接；第四晶体管的第二极作为第三开关模块的第三端；第三电平信号经第三控制信号线输出。
相比现有技术，本申请的技术方案至少具有以下有益技术效果：
本申请用导线将检测信号输入端和检测信号输出端连接，导线环绕待检测显示面板的边缘，将第一像素驱动单元包括第一开关模块、第二开关模块和第三开关模块，第一开关模块的第二端接收第一数据信号，第一列像素的第一发光元件不发光，第二开关模块保持关闭状态控制无数据信号通过第二开关模块写入第二列像素的第二发光元件，第一数据信号只能通过第一开关模块和第三开关模块的路径写入第二列像素的第二发光元件，从而通过第三开关模块控制第二发光元件是否发光。
若导线没有断裂，检测信号依次经检测信号输入端、导线和检测信号输出端，传输至第三开关模块的第一端，使得第三开关模块导通，第一数据信号可以写入第二列像素的第二发光元件，第二列像素的第二发光元件不发光，显示面板呈黑态。
若导线发生断裂，则检测信号无法传输至第三开关模块的第一端，检测信号无法控制第三开关模块的第一端开启，第三开关模块处于关闭状态，第二列像素的第二发光元件发光，显示面板出现亮线，从而判断导线断裂，显示面板的边缘破损。
本申请通过增加检测信号输入端和检测信号输出端，然后采用导线将检测信号输入端和检测信号输出端连接，形成检测单元，无需额外增加PCD电路，即节省了PCD电路，节省空间，同时能够避免因PCD电路异常或缺陷带来的显示问题。
本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为本申请实施例像素检测电路的原理示意图；
图2为本申请实施例像素检测电路的结构示意图；
图3为本申请实施例一种检测方法的流程图；
图4为本申请实施例另一种检测方法的流程图。
附图标记：
1-检测信号输入端、2-检测信号输出端、3-导线、4-第一列像素、5-第二列像素、6-第三列像素、7-第四列像素。
11-第一开关模块、12-第二开关模块、13-第三开关模块、14-第四开关模块、15-第五开关模块、16-第六开关模块；
T1-第一晶体管、T2-第二晶体管、T3-第三晶体管、T4-第四晶体管、T5-第五晶体管、T6-第六晶体管、T7-第七晶体管、T8-第八晶体管、T9-第九晶体管、T10-第十晶体管、T11-第十一晶体管、T12-第十二晶体管、T13-第十三晶体管、T14-第十四晶体管、T15-第十五晶体管、T16-第十六晶体管。
具体实施方式
下面详细描述本申请的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能解释为对本申请的限制。
本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本申请所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
本技术领域技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本申请的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
本申请的发明人进行研究发现，现有技术中设计PCD电路检测显示面板是否发生破裂Crack，是增加一个PCD电路进行检测，通过PCD电路是否点亮显示面板检测是否存在破裂Crack。但是，增加PCD电路进行检测的方式不仅占用了设计空间，而且如果PCD电路异常或缺陷还会带来显示异常的问题。因此，需要设计一种新的检测柔性显示面板破裂Crack的电路与基于该电路的检测方法。
本申请的发明人进一步研究，设计了如图1所示的像素检测电路的原理图，发明人增加至少一个检测信号输入端1和至少一个检测信号输出端2，然后采用导线将至少一个检测信号输入端1和至少一个检测信号输出端2连接，形成检测单元。检测信号可经检测信号输入端1、导线3和检测信号输出端2输出到第三开关模块13，控制第三开关模块13导通。CT(Cell Test，显示屏单体检测)输入端输出第一数据信号，第一开关模块11处于导通状态时，第一数据信号输出到第一列像素4，第一列像素4的第一发光元件发光。第二开关模块12保持断开状态，数据信号不能通过第二开关模块12输出到第二列像素5。检测信号可以依次经检测信号输入端1、导线3和检测信号输出端2，传输至第三开关模块13，使得第三开关模块13导通，第一数据信号可以经第一开关模块11和第三开关模块13写入第二列像素5的第二发光元件。第二列像素5的第二发光元件在接收第一数据信号时不发光，则第二列像素5的第二发光元件不发光时，认为第二列像素5的第二发光元件接收到第一数据信号，可以判定导线3没有断裂。第二列像素5的第二发光元件发光时，第二列像素5的第二发光元件没有接收到第一数据信号，检测信号没有控制传输至第三开关模块13，第三开关模块13处于断开状态，则可以判定导线3发生断裂。
下面以具体地实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本申请的实施例进行描述。
本申请提供一种像素检测电路，结合图1和图2所示，该像素检测电路包括：检测单元和用于驱动第一列像素4的第一发光元件和第二列像素5的第二发光元件的第一像素驱动单元；
检测单元包括导线3、以及分别电连接在导线3两端的至少一个检测信号输入端1和至少一个检测信号输出端2，导线3环绕待检测显示面板边缘；
第一像素驱动单元包括第一开关模块11、第二开关模块12和第三开关模块13；
第一开关模块11的第一端、第二端、第三端，分别用于与第一控制信号线、第一数据信号线、第一列像素4的第一发光元件电连接；
第二开关模块12的第一端、第二端、第三端，分别用于与第二控制信号线、第二数据信号线、第二列像素5的第二发光元件电连接；
第三开关模块13的第一端、第二端，分别与一个检测信号输出端2、第一开关模块11的第三端电连接；第三开关模块13的第三端用于与第二列像素5的第二发光元件电连接。
本申请通过增加检测信号输入端1和检测信号输出端2，然后采用导线3将检测信号输入端1和检测信号输出端2连接，形成检测单元，通过检测信号是否能够从检测信号输入端1传输到检测信号输出端2，控制第三开关模块13导通与否，从而判断导线3是否发生断裂。若导线3没有断裂，检测信号传输至第三开关模块13的第一端，使得第三开关模块13导通，第一数据信号可以写入第二列像素5的第二发光元件，第二列像素5的第二发光元件不发光。若导线3发生断裂，则检测信号无法传输至第三开关模块13的第一端，检测信号无法控制第三开关模块13的第一端开启，第三开关模块13处于关闭状态，第二列像素5的第二发光元件发光。因此，可以通过第二列像素5的第二发光元件发光与否，也就是显示面板是否有亮线，判断导线3是否发生断裂，从而判断显示面板的边缘是否发生破损。本申请无需额外增加PCD电路，即节省了PCD电路，节省空间，同时能够避免因PCD电路异常或缺陷带来的显示问题。
本领域技术人员可以想的到是，在实际应用中，也可以设置第一数据信号写入第二列像素5的第二发光元件时，第二列像素5的第二发光元件发光；第一数据信号没有写入或没有完整写入第二列像素5的第二发光元件时，第二列像素5的第二发光元件不发光。根据预先设计的是否发光的情况不同，判断导线3是否发生断裂。
可选地，第一开关模块11包括第一晶体管T1；
第一晶体管T1的控制极、第一极、第二极，分别作为第一开关模块11的第一端、第二端、第三端。
第二开关模块12包括第二晶体管T2；
第二晶体管T2的控制极、第一极、第二极，分别作为第二开关模块12的第一端、第二端、第三端。
可选地，第三开关模块13包括第三晶体管T3和第四晶体管T4；
第三晶体管T3的控制极用于与第三控制信号线电连接；
第四晶体管T4的控制极作为第三开关模块13的第一端；
第三晶体管T3的第一极作为第三开关模块13的第二端；
第三晶体管T3的第二极与第四晶体管T4的第一极电连接；
第四晶体管T4的第二极作为第三开关模块13的第三端。
可选地，像素检测电路还包括用于驱动第三列像素6的第三发光元件和第四列像素7的第四发光元件的第二像素驱动单元；
第二像素驱动单元包括第四开关模块14、第五开关模块15和第六开关模块16；
第四开关模块14的第一端、第二端、第三端，分别用于与第四控制信号线、第四数据信号线、第三列像素6的第三发光元件电连接；
第五开关模块15的第一端、第二端、第三端，分别用于与第二控制信号线、第二数据信号线、第四列像素7的第四发光元件电连接；
第六开关模块16的第一端、第二端、第三端，分别与一个检测信号输出端2、第四开关模块14的第三端电连接；第六开关模块16的第三端用于与第四列像素7的第四发光元件电连接。
作为一种示例，本申请实施例采用两组带有检测单元的像素驱动单元，即第一像素驱动单元和第二像素驱动单元，在导线3发生破裂时，第二列像素5的第二发光元件和第四列像素7的第四发光元件均发光，显示面板上出现两列亮线。
本领域技术人员可以想到的是，本申请可以设置一组带有检测单元的像素驱动单元，可以设置两组带有检测单元的像素驱动单元，同理也可以设置多组带有检测单元的像素驱动单元，根据实际的检测需要设置带有检测单元的像素驱动单元的数量，然后根据带有检测单元的像素驱动单元的数量，对应设置检测信号输入端1和检测信号输出端2的数量。
当导线3的数量为一根时，采用一根导线3完整围绕显示面板，可以设置检测信号输入端1的数量为一个，检测信号输出端2的数量与带有检测单元的像素驱动单元的数量相同，也就是一个像素驱动单元对应与一个检测信号输出端2电连接。例如，在像素检测电路包括第一像素驱动单元和第二像素驱动单元时，可以设置一个检测信号输入端1和两个检测信号输出端2，第三开关模块13的第一端和第六开关模块16的第一端分别与一个检测信号输出端2电连接。
本领域技术人员可以想到的是，可以将显示面板划分为左右两侧，采用两根导线3分别环绕显示面板的左侧和显示面板的右侧设置，检测信号输入端1和检测信号输出端2的数量均为至少两个，根据检测信号输出端2的数量对应地设置像素驱动单元的数量。例如，当检测信号输入端1和检测信号输出端2的数量均为两个时，可以设置两组带有检测单元的像素驱动单元，每个像素驱动单元与同一根导线3上的一个检测信号输入端1和一个检测信号输出端2对应连接，进而可以通过哪组像素驱动单元发光，判断是显示面板的左侧或右侧边缘发生破损。
可选地，第四开关模块14包括第五晶体管T5；
第五晶体管T5的控制极、第一极、第二极，分别作为第四开关模块14的第一端、第二端、第三端。
第五开关模块15包括第六晶体管T6；
第六晶体管T6的控制极、第一极、第二极，分别作为第五开关模块15的第一端、第二端、第三端。
可选地，第六开关模块16包括第七晶体管T7和第八晶体管T8；
第七晶体管T7的控制极用于与第三控制信号线电连接；
第八晶体管T8的控制极作为第六开关模块16的第一端；
第七晶体管T7的第一极作为第六开关模块16的第二端；
第七晶体管T7的第二极与第八晶体管T8的第一极电连接；
第八晶体管T8的第二极作为第六开关模块16的第三端。
可选地，各晶体管均为薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)，任一晶体管的控制极为薄膜晶体管的栅极；若薄膜晶体管的第一极为薄膜晶体管的源极，则晶体管的第二极为薄膜晶体管的漏极；若晶体管的第一极为薄膜晶体管的漏极，则晶体管的第二极为所述薄膜晶体管的源极。
可选地，导线3为金属线，金属线设置在阵列基板上，环绕显示面板的边缘设置。所有发光元件为有机发光二极管OLED。
参见图2所示，提供一种本申请像素检测电路的结构，上述实施例中，第一列像素4的第一发光元件、第三列像素6的第三发光元件为R/B像素，第二列像素5第二发光元件、第四列像素7的第四发光元件为G像素。第一控制信号线与CTSW-RB(Cell Test Switch BlueRed，显示屏单体检测的蓝红列像素的控制信号开关)端口连接，第二控制信号线与CTSW-G(Cell Test Switch Green，显示屏单体检测的绿列像素的控制信号开关)端口连接，第三控制信号线与CT G02(Cell Test gate 02，控制AT(Array Test)单元导通的栅极信号02)端口连接；第一数据信号线与CTD-RB端口连接，第二数据信号线与CTD-G(Cell Test DataGreen，显示屏单体检测时绿列像素的数据信号)端口连接。同时，作为一种示例，图2示出了阵列基板上的其他电路，包括第三像素驱动单元和第四像素驱动单元。
第三像素驱动单元包括第九晶体管T9、第十晶体管T10、第十一晶体管T11、第十二晶体管T12，第三像素驱动单元的结构与第一像素驱动单元的结构类似，区别在于：第九晶体管T9的栅极通过控制信号线与CTSW-BR(Cell Test Switch Red Blue，显示屏单体检测的红蓝列像素的控制信号开关)端口电连接，第十二晶体管T12的栅极通过控制信号线与CTG01端口连接。第四像素驱动单元包括第十三晶体管T13、第十四晶体管T14、第十五晶体管T15、第十六晶体管T16，第四像素驱动单元的结构与第二像素驱动单元的结构类似，区别在于：第十三晶体管T13的栅极通过控制信号线与CTSW-RB端口电连接，第十六晶体管T16栅极通过控制信号线与CT G01端口电连接。第三像素驱动单元和第四像素驱动单元不涉及本申请的显示面板边缘破损的检测，仅作为一种具体电路的实施方式的示例。
此外，第三晶体管T3、第四晶体管T4的电连接处与ATD04(Array TestData04，阵列基板检测数据信号04)端口电连接，第七晶体管T7、第八晶体管T8的电连接处与ATD03(Array TestData043，阵列基板检测数据信号03)端口电连接，第十一晶体管T11、第十二晶体管T12的电连接处与ATD02(Array TestData02，阵列基板检测数据信号02)端口电连接，第十五晶体管T15、第十六晶体管T16的电连接处与ATD01(Array TestData01，阵列基板检测数据信号01)端口电连接。同时，CT G01(Cell Test gate 01，控制AT(Array Test)单元导通的栅极信号01)端口连接的控制信号线上还连接有AT G01(Array Test gate 01，阵列基板检测栅极信号01)端口，与CT G02端口连接的第三控制信号线上还连接有AT G02(Array Test gate 02，阵列基板检测栅极信号02)端口。AT G01端口、AT G02端口、ATD01端口、ATD02端口、ATD03端口和ATD03端口适用于AT(Array Test，阵列基板检测)，与本申请的显示面板边缘破损的检测不相关，仅作为一种具体电路的实施方式的示例。
本领域技术人员可以理解，本申请实施例提供的像素检测电路的一种示例，当各晶体管均为P型TFT或N型TFT或各晶体管的第一极和第二极分别为TFT的不同的极时，可适应地调整本申请实施例提供的像素检测电路中各元件的电连接方式，适应地调整后的电连接方式仍然属于本申请实施例的保护范围。
基于相同的发明构思，本申请还提供一种显示装置，包括上述像素检测电路。
基于相同的发明构思，本申请实施例还提供一种检测方法，应用于上述像素检测电路，该检测方法包括如下步骤：
S301、第一开关模块11的第一端接收第一电平信号，第一开关模块11导通；第二开关模块12的第一端接收第二电平信号，第二开关模块12关闭；第一开关模块11的第二端接收第一数据信号，第一列像素4的第一发光元件不发光。
S302、若导线3没有断裂，则检测信号依次经检测信号输入端1、导线3和检测信号输出端2，传输至第三开关模块13的第一端，第三开关模块13导通，第一数据信号经第三开关模块13输出至第二列像素5的第二发光元件，第二列像素5的第二发光元件不发光。
S303、若导线3发生断裂，则检测信号无法传输至第三开关模块13的第一端，第三开关模块13关闭，第二列像素5的第二发光元件发光。
可选地，第三开关模块13包括第三晶体管T3和第四晶体管T4；第三晶体管T3的控制极用于与第三控制信号线连接；第四晶体管T4的控制极作为第三开关模块13的第一端；第三晶体管T3的第一极作为第三开关模块13的第二端；第三晶体管T3的的第二极与第四晶体管T4的第一极电连接；第四晶体管T4的第二极作为第三开关模块13的第三端；第三电平信号经第三控制信号线输出。该检测方法具体包括如下步骤：
步骤S301中，还包括：第三晶体管T3的控制极接收第三电平信号，第三晶体管T3导通。
步骤S302中，具体包括：若导线3没有断裂，则检测信号依次经检测信号输入端1、导线3和检测信号输出端2，传输至第四晶体管T4的控制极，第四晶体管T4导通，第一数据信号经第三晶体管T3和第四晶体管T4输出至第二列像素5的第二发光元件，第二列像素5的第二发光元件不发光。
步骤S303中，具体包括：若导线3发生断裂，则检测信号无法传输至第四晶体管T4的控制极，第四晶体管T4关闭，第二列像素5的第二发光元件发光。
可选地，在本申请实施例的像素检测电路还包括用于驱动第三列像素6的第三发光元件和第四列像素7的第四发光元件的第二像素驱动单元；第二像素驱动单元包括第四开关模块14、第五开关模块15和第六开关模块16；第四开关模块14的第一端、第二端、第三端，分别用于与第四控制信号线、第四数据信号线、第三列像素6的第三发光元件电连接；第五开关模块15的第一端、第二端、第三端，分别用于与第二控制信号线、第二数据信号线、第四列像素7的第四发光元件电连接；第六开关模块16的第一端、第二端、第三端，分别与一个检测信号输出端2、第四开关模块14的第三端电连接；第六开关模块16的第三端用于与第四列像素7的第四发光元件电连接。
应用于上述像素检测电路的检测方法还包括如下步骤：
S401、第四开关模块14的第一端接收第四电平信号，第四开关模块14导通；第五开关模块15的第一端接收第五电平信号，第五开关模块15关闭；第四开关模块14的第二端接收第二数据信号，第三列像素6的第三发光元件不发光。
S402、若导线3没有断裂，则检测信号依次经检测信号输入端1、导线3和检测信号输出端2，传输至第六开关模块16的第一端，第六开关模块16导通，第二数据信号经第六开关模块16输出至第四列像素7的第四发光元件，第四列像素7的第四发光元件不发光。
S403、若导线3发生断裂，则检测信号无法传输至第六开关模块16的第一端，第六开关模块16关闭，第四列像素7的第四发光元件发光。
可选地，步骤S301、S302、S303和步骤S401、S402、S403可以同时进行。
同理，第六开关模块16包括第七晶体管T7和第八晶体管T8；第七晶体管T7的控制极用于与第三控制信号线电连接；第八晶体管T8的控制极作为第六开关模块16的第一端；第七晶体管T7的第一极作为第六开关模块16的第二端；第七晶体管T7的第二极与第八晶体管T8的第一极电连接；第八晶体管T8的第二极作为第六开关模块16的第三端。
可选地，该检测方法具体包括如下步骤：
步骤S401中，还包括：第七晶体管T7的控制极接收第六电平信号，第七晶体管T7导通；
步骤S402中，具体包括：若导线3没有断裂，则检测信号依次经检测信号输入端1、导线3和检测信号输出端2，传输至第八晶体管T8的控制极，第八晶体管T8导通，第二数据信号经第七晶体管T7和第八晶体管T8输出至第四列像素7的第四发光元件，第四列像素7的第四发光元件不发光。
步骤S403中，具体包括：若导线3发生断裂，则检测信号无法传输至第八晶体管T8的控制极，第八晶体管T8关闭，第四列像素7的第四发光元件发光。
结合图2、图3和图4所示，作为一种示例，以各晶体管均为P型薄膜晶体管TFT的情况为例，对本申请实施例提供的像素检测方法具体介绍如下：
控制CTSW-G端口保持输出高电平信号，即第二电平信号、第五电平信号均为高电平信号，图2中的第二晶体管T2、第六晶体管T6、第十晶体管T10、第十四晶体管T14关闭，即CTD-G端口的数据信号无法写入到第二列像素5的第二发光元件和第四列像素7第四发光元件中，也无法写入到与第十晶体管T10和第十四晶体管T14相连的两列像素中。
控制CTD-RB端口和CTD-BR端口保持输出高电平信号，即第一数据信号和第二数据信号为高电平信号；CTSW-RB端口和CTSW BR端口保持低电平信号，即第一电平信号和第四电平信号为低电平信号，第一晶体管T1、第五晶体管T5、第九晶体管T9、第十三晶体管T13导通，第一列像素4的第一发光元件和第三列像素6的第二发光元件均写入高电平信号，使得第一列像素4的第一发光元件和第三列像素6的第二发光元件均不发光，与第九晶体管T9、第十三晶体管T13电连接的两列像素也不发光。
控制CT G01端口、CT G02端口保持输出低电平信号，即第三电平信号和第六电平信号为低电平信号，第三晶体管T3、第七晶体管T7、第十一晶体管T11、第十二晶体管T12、第十五晶体管T15、第十六晶体管T16导通。
控制检测信号也为低电平信号，若导线3没有断裂，则检测信号依次经检测信号输入端1、导线3和检测信号输出端2，传输至第四晶体管T4、第八晶体管T8的控制极，第四晶体管T4、第八晶体管T8导通。第一数据信号通过第一晶体管T1、第三晶体管T3和第四晶体管T4，输出至第二列像素5的第二发光元件，第二列像素5的第二发光元件不发光。第二数据信号通过第五晶体管T5、第七晶体管T7和第八晶体管T8输出至第四列像素7的第四发光元件，第四列像素7的第四发光元件不发光，显示面板呈现黑态。同时，由于第十二晶体管T12和第十六晶体管T16处于导通状态，第十三晶体管T13的高电平信号通过第十五晶体管T15、第十六晶体管T16传输至与第十六晶体管T16连接的像素，第九晶体管T9的高电平信号通过第十一晶体管11、第十二晶体管T12传输至与第十二晶体管T12连接的像素，即不与检测单元连接的第三像素驱动单元和第四驱动单元连接的像素一直处于不发光状态，不影响检测单元对显示面板进行检测。
若导线3发生断裂，则检测信号不能控制第四晶体管T4、第八晶体管T8开启，第一数据信号、第一数据信号不能对应传输至第二列像素5的第二发光元件、第四列像素7的第四发光元件，第二列像素5和第四列像素7几乎处于零电位的浮空状态，第二列像素5的第二发光元件、第四列像素7的第四发光元件发光，显示面板上呈现两列亮线，显示面板的边缘存在破损。
此外，基于图2所示的电路结构，可以正常进行阵列基板检测AT，检测时，AT G01端口、AT G02端口、AT Crack Test端口输出低电平信号，第三晶体管T3、第四晶体管T4、第七晶体管T7、第八晶体管T8、第十一晶体管T11、第十二晶体管T12、第十五晶体管T15、第十六晶体管T16导通，ATD01端口、ATD02端口、ATD03端口、ATD04端口的数据信号正常写入，进行阵列基板检测AT。
基于图2所示的电路结构，可以正常进行显示屏单体信号检测Cell ET(Cellelectrical test显示屏电性检测)，检测时，控制Crack Test端口、CT G01端口、CT G02端口输出高电平信号，控制阵列基板检测AT单元中第三晶体管T3、第四晶体管T4、第七晶体管T7、第八晶体管T8、第十一晶体管T11、第十二晶体管T12、第十五晶体管T15、第十六晶体管T16关闭，避免信号串扰。MDL(module，模组显示屏)显示时，同样控制将阵列基板检测AT单元中第三晶体管T3、第四晶体管T4、第七晶体管T7、第八晶体管T8、第十一晶体管T11、第十二晶体管T12、第十五晶体管T15、第十六晶体管T16关闭，避免信号串扰。
因此，本申请的像素检测电路在进行显示面板边缘是否破损的检测时，并不会妨碍如AT、Cell ET、MDL显示的检测，适用性强。
本申请实施例提供的显示装置和检测方法，与前面所述的各实施例的像素检测电路具有相同的发明构思及相同的有益效果，该显示装置和检测方法中未详细示出的内容可参照前面所述的各实施例，在此不再赘述。
本技术领域技术人员可以理解，本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案可以被交替、更改、组合或删除。进一步地，具有本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的其他步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。进一步地，现有技术中的具有与本申请中公开的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。
术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。
术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。当诸如层、膜、区域或基板之类的元件被称作位于另一元件“上”或“下”时，该元件可以“直接”位于另一元件“上”或“下”，或者可以存在中间元件。
应该理解的是，虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，其可以以其他的顺序执行。而且，附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，其执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
以上所述是本申请的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。
以上所述仅是本申请的部分实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种像素检测电路，用于显示面板边缘破裂的检测，其特征在于，包括：检测单元和用于驱动第一列像素的第一发光元件和第二列像素的第二发光元件的第一像素驱动单元；
所述检测单元包括导线、以及分别电连接在所述导线两端的至少一个检测信号输入端和至少一个检测信号输出端，所述导线环绕待检测显示面板边缘；
所述第一像素驱动单元包括第一开关模块、第二开关模块和第三开关模块；
所述第一开关模块的第一端、第二端、第三端，分别用于与第一控制信号线、第一数据信号线、所述第一列像素的第一发光元件电连接；
所述第二开关模块的第一端、第二端、第三端，分别用于与第二控制信号线、第二数据信号线、所述第二列像素的第二发光元件电连接；
所述第三开关模块的第一端、第二端，分别与一个检测信号输出端、所述第一开关模块的第三端电连接；所述第三开关模块的第三端用于与所述第二列像素的第二发光元件电连接。
2.根据权利要求1所述的像素检测电路，其特征在于，所述第一开关模块包括第一晶体管；
所述第一晶体管的控制极、第一极、第二极，分别作为所述第一开关模块的第一端、第二端、第三端。
3.根据权利要求1所述的像素检测电路，其特征在于，所述第二开关模块包括第二晶体管；
所述第二晶体管的控制极、第一极、第二极，分别作为所述第二开关模块的第一端、第二端、第三端。
4.根据权利要求1所述的像素检测电路，其特征在于，所述第三开关模块包括第三晶体管和第四晶体管；
所述第三晶体管的控制极用于与第三控制信号线电连接；
所述第四晶体管的控制极作为所述第三开关模块的第一端；
所述第三晶体管的第一极作为所述第三开关模块的第二端；
所述第三晶体管的第二极与所述第四晶体管的第一极电连接；
所述第四晶体管的第二极作为所述第三开关模块的第三端。
5.根据权利要求1所述的像素检测电路，其特征在于，所述像素检测电路还包括用于驱动第三列像素的第三发光元件和第四列像素的第四发光元件的第二像素驱动单元；
所述第二像素驱动单元包括第四开关模块、第五开关模块和第六开关模块；
所述第四开关模块的第一端、第二端、第三端，分别用于与第四控制信号线、第四数据信号线、所述第三列像素的第三发光元件电连接；
所述第五开关模块的第一端、第二端、第三端，分别用于与所述第二控制信号线、所述第二数据信号线、所述第四列像素的第四发光元件电连接；
所述第六开关模块的第一端、第二端、第三端，分别与一个检测信号输出端、所述第四开关模块的第三端电连接；所示第六开关模块的第三端用于与所述第四列像素的第四发光元件电连接。
6.根据权利要求5所述的像素检测电路，其特征在于，所述第四开关模块包括第五晶体管；
所述第五晶体管的控制极、第一极、第二极，分别作为所述第四开关模块的第一端、第二端、第三端；
所述第五开关模块包括第六晶体管；
所述第六晶体管的控制极、第一极、第二极，分别作为所述第五开关模块的第一端、第二端、第三端。
7.根据权利要求5所述的像素检测电路，其特征在于，所述第六开关模块包括第七晶体管和第八晶体管；
所述第七晶体管的控制极用于与第三控制信号线电连接；
所述第八晶体管的控制极作为所述第六开关模块的第一端；
所述第七晶体管的第一极作为所述第六开关模块的第二端；
所述第七晶体管的第二极与所述第八晶体管的第一极电连接；
所述第八晶体管的第二极作为所述第六开关模块的第三端。
8.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-7中任一项所述的像素检测电路。
9.一种检测方法，应用于如权利要求1-7中任一项所述的像素检测电路，其特征在于，包括如下步骤：
所述第一开关模块的第一端接收第一电平信号，所述第一开关模块导通；所述第二开关模块的第一端接收第二电平信号，所述第二开关模块关闭；所述第一开关模块的第二端接收第一数据信号，所述第一列像素的第一发光元件不发光；
若所述导线没有断裂，则检测信号依次经所述检测信号输入端、所述导线和所述检测信号输出端，传输至所述第三开关模块的第一端，所述第三开关模块导通，所述第一数据信号经所述第三开关模块输出至所述第二列像素的第二发光元件，所述第二列像素的第二发光元件不发光；
若所述导线发生断裂，则所述检测信号无法传输至所述第三开关模块的第一端，所述第三开关模块关闭，所述第二列像素的第二发光元件发光。
10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，该检测方法还包括如下步骤：
第三晶体管的控制极接收第三电平信号，所述第三晶体管导通；
若所述导线没有断裂，则检测信号依次经所述检测信号输入端、所述导线和所述检测信号输出端，传输至第四晶体管的控制极，所述第四晶体管导通，所述第一数据信号经所述第三晶体管和所述第四晶体管输出至所述第二列像素的第二发光元件，所述第二列像素的第二发光元件不发光；
若所述导线发生断裂，则所述检测信号无法传输至所述第四晶体管的控制极，所述第四晶体管关闭，所述第二列像素的第二发光元件发光；
所述第三开关模块包括第三晶体管和第四晶体管；所述第三晶体管的控制极用于与第三控制信号线连接；所述第四晶体管的控制极作为所述第三开关模块的第一端；所述第三晶体管的第一极作为所述第三开关模块的第二端；所述第三晶体管的的第二极与所述第四晶体管的第一极电连接；所述第四晶体管的第二极作为所述第三开关模块的第三端；所述第三电平信号经所述第三控制信号线输出。
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