CN110596568B - 运放测试电路和系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种运放测试电路和系统。运放测试电路包括第一电压电流源、第二电压电流源、第一输入单元、第二输入单元和待测运算放大器。第一电压电流源和第二电压电流源分别将脉冲沿电压信号和共模/差模电压提供给信号源节点P，通过第一输入单元向待测运算放大器的负向输入端输出共模/差模电压或低电平电压信号，通过第第二输入单元向待测运算放大器的正向输入端输出、所述程控跳变电压或所述低电平电压信号，其中，所述程控跳变电压是通过由于所述共模/差模电压和所述脉冲沿电压信号组合后形成的，因此在测试的过程中复用了第二电压电流源，减少了运放测试电路电压电流源的数量，进而降低测试成本。

Description

运放测试电路和系统

技术领域

本发明涉及半导体集成电路测试技术领域，特别是涉及一种运放测试电路和系统。

背景技术

目前在运算放大器投入到集成电路的应用过程之前，通常需要对运算放大器进行多参数的测试，在对每一个参数进行测试的过程中，就要提供一个测试电路，如此，则需要多个测试电路，运算放大器要频繁的更换测试电路，这测试人员来说是较为麻烦的，同时由于频繁的更换运算放大器的测试电路，会对运算放大器的造成损坏，测试效率也不高。

为提高测试效率，目前在运放的量产测试中，需要借助辅助运放环路以及一定数量的电压电流源来完成运放所有电气参数的测试，但电压电流源数量的增多，则会导致测试成本的增加。

发明内容

基于此，有必要针运放测试电路中电压电流源数量多的问题，提供一种运放测试电路和系统。

本发明提供了一种运放测试电路，包括：

第一电压电流源；将脉冲沿电压信号提供给信号源节点；

第二电压电流源，将共模/差模电压提供给所述信号源节点；

第一输入单元，所述第一输入单元的第一输入端与所述信号源节点电连接，所述第一输入单元的第二输入端接地，所述第一输入单元的输出端与所述待测运算放大器的负向输入端电连接，用于接收所述共模/差模电压和低电平电压信号，以及输出所述共模/差模电压或所述低电平电压信号；以及

第二输入单元，所述第二输入单元的第一输入端与所述信号源节点电连接，所述第二输入单元的第二输入端和第三输入端均接地，用于接收所述共模/差模电压、所述低电平电压信号以及由于所述共模/差模电压和所述脉冲沿电压信号组合后形成的程控跳变电压，以及输出所述共模/差模电压、所述程控跳变电压或所述低电平电压信号；以及

待测运算放大器，所述待测运算放大器的正向输入端与所述第二输入单元的输出端电连接，所述待测运算放大器的负向输入端与所述第一输入单元的输出端电连接，所述待测运算放大器的输出端与第三电压电流源电连接，利用所述第三电压电流源对所述待测运算放大器在接收所述共模/差模电压、所述程控跳变电压或所述低电平电压信号后输出的电压信号，得到测试结果。

在其中一个实施例中，所述第一电压电流源包括：

直流信号源，用于提供直流电压；

脉冲发生支路，所述脉冲发生支路的控制端与时序信号输入端电连接，所述脉冲发生直流的电源输入端与所述直流信号源电连接，所述脉冲发生支路的输出端与所述信号调制电路的第一输入端电连接，接收所述直流电压和所述时序信号，以及在需要测试压摆率时，根据所述直流电压和所述时序信号生成所述脉冲沿电压，并提供给所述信号源节点。

在其中一个实施例中，脉冲发生支路包括时钟驱动芯片。

在其中一个实施例中，所述第一输入单元包括：

第一开关，所述第一开关的第一静触头与所述信号源节点电连接，所述第二开关的第二静触头接地；

第一电阻，所述第一电阻的第一端与所述第一开关的刀片电连接；以及

第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述第一电阻的第二端电连接，所述第二电阻的第二端与所述待测运算放大器的负向输入端电连接。

在其中一个实施例中，所述第二输入单元包括：

第二开关，所述第二开关的第一静触头与所述信号源节点电连接，所述第二开关的第二静触头接地；

第三电阻，所述第三电阻的第一端与所述第二开关的刀片电连接；以及

第四电阻，所述第四电阻的第一端与所述第三电阻的第二端电连接，所述第四电阻的第二端与所述待测运算放大器的正向输入端电连接。

在其中一个实施例中，所述第一开关和所述第二开关与所述信号源节点连接时，所述第二电压电流源为所述待测运算放大器提供所述共模/差模电压。

在其中一个实施例中，所述第一输入单元还包括第三开关，所述第三开关并联在所述第二电阻的两端，用于改变所述第一输入单元的电阻；

所述第二输入单元还包括第四开关，所述第四开关并联在所述第四电阻的两端，用于改变所述第二输入单元的电阻。

在其中一个实施例中，所述运放测试电路还包括：

辅助运算放大器，所述辅助运算放大器的正向输入端与所述待测运算放大器的输出端电连接，所述辅助运算放大器的负向输入端与第四电压电流源电连接，所述辅助运算放大器的输出端与第五电压电流源电连接，通过所述第五电压电流源对所述辅助运算放大器的输出信号进行测试，得到测试信号；

第五开关，所述第二开关的第一端与所述待测运算放大器的输出端电连接；

第五电阻，所述第五电阻的第一端与所述第二开关的第二端电连接，所述第五电阻的第二端与所述辅助运算放大器的正向输入端电连接；以及

第六电阻，所述第六电阻的第一端与所述第五电阻的第二端以及所述辅助运算放大器的正向输入端电连接，所述第六电阻的第二端接地。

在其中一个实施例中，所述运放测试电路还包括：反馈单元，所述反馈单元的第一输入端与所述待测运算放大器的输出端电连接，所述反馈单元的第二输入端与所述辅助运算放大器的输出端电连接，所述反馈单元的输出端与所述待测运算放大器的负向输入端电连接。

在其中一个实施例中，所述反馈单元包括：

第六开关，所述第六开关的第一端与所述辅助运算放大器的输出端电连接；

第七开关，所述第七开关的第一端与所述待测运算放大器的输出端电连接；

第七电阻，所述第七电阻的第一端与所述第一电阻的第二端以及所述第二电阻的第一端电连接，所述第七电阻的第二端与所述第六开关的第二端以及所述第七开关的第二端电连接；以及

第一电容，并联在所述第七电阻的两端。

在其中一个实施例中，所述待测运算放大器的输出端连接有至少一个负载，且所述负载和所述待测运算放大器的输出端之间设置有第八开关。

在其中一个实施例中，所述第三电源与所述待测运算放大器的输出端之间串联设置有第九开关；

所述第五电压电流源与所述辅助运算放大器的输出端之间设置有第十开关。

基于同一发明构思，本发明还提供了一种运放测试系统，所述运放测试系统包括多个如上述任一实施例所述的运放测试电路。

综上，本发明提供了一种运放测试电路和系统。本发明中，利用所述运放测试电路即可完成待测运算放大器所有电气参数的测试，且通过复用第二电压电流源，将共模/差模电压和第一电压电流源输出的脉冲沿电压信号组成生成程控跳变电压，可减少运放测试电路电压电流源的数量，降低测试成本。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种运放测试电路结构示意图；

图2为本发明实施例提供的第一电压电流源的电气结构示意图；

图3为本发明提供的共模电压抑制比的等效测试电路示意图；

图4为本发明提供的上升沿压摆率的等效测试电路示意图；

图5为本发明提供的下降沿压摆率的等效测试电路示意图；

图6为本发明提供的流入待测运算放大器的电流的等效测试电路示意图；

图7为本发明实施例提供的一种双运放测试系统的电路结构示意图；

图8为本发明实施例提供的一种四运放测试系统的电路结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。

请参见图1，本发明实施例提供了一种运放测试电路，包括第一电压电流源VI_1、第二电压电流源VI_2、第一输入单元100、第二输入单元200和待测运算放大器DUT。

所述第一电压电流源VI_1将脉冲沿电压信号提供给信号源节点P；

所述第二电压电流源VI_2将共模/差模电压提供给所述信号源节点P；

所述第一输入单元100的第一输入端与所述信号源节点P电连接，所述第一输入单元100的第二输入端接地，所述第一输入单元100的输出端与所述待测运算放大器DUT的负向输入端电连接，用于接收所述共模/差模电压和低电平电压信号，以及输出所述共模/差模电压或所述低电平电压信号。

所述第二输入单元200的第一输入端与所述信号源节点P电连接，所述第二输入单元200的第二输入端和第三输入端均接地，用于接收所述共模/差模电压、所述低电平电压信号以及由于所述共模/差模电压和所述脉冲沿电压信号组合后形成的程控跳变电压，以及输出所述共模/差模电压、所述程控跳变电压或所述低电平电压信号。

所述待测运算放大器DUT的正向输入端与所述第二输入单元200的输出端电连接，所述待测运算放大器DUT的负向输入端与所述第一输入单元100的输出端电连接，所述待测运算放大器DUT的输出端与第三电压电流源VI_3电连接，利用所述第三电压电流源VI_3对所述待测运算放大器DUT在接收所述共模/差模电压、所述程控跳变电压或所述低电平电压信号后输出的电压信号，得到测试结果。

本实施例中，利用所述运放测试电路即可完成待测运算放大器DUT所有电气参数的测试，且通过复用第二电压电流源VI_2，将共模/差模电压和第一电压电流源VI_1输出的脉冲沿电压信号组成生成程控跳变电压，可减少运放测试电路电压电流源的数量，降低测试成本。

在其中一个实施例中，所述第一电压电流源VI_1包括直流信号源310和脉冲发生支路320。

所述直流信号源310，用于提供直流电压。

所述脉冲发生支路320的控制端与时序信号输入端电连接，所述脉冲发生直流的电源输入端与所述直流信号源310电连接，所述脉冲发生支路320的输出端与所述信号调制电路的第一输入端电连接，接收所述直流电压和所述时序信号，以及在需要测试压摆率时，根据所述直流电压和所述时序信号生成所述脉冲沿电压，并提供给所述信号源节点P。

在其中一个实施例中，所述脉冲发生支路320包括时钟驱动芯片。

请参见图2，所述时钟驱动芯片为EL7156型号的芯片，所述直流信号源310与EL7156芯片的高电平管脚连接，EL7156芯片的低电平管脚接地，EL7156芯片的电源管脚“VS+”连接15V的驱动电压为，EL7156芯片的电源管脚“VS-”接地，EL7156芯片的输入管脚连接时序信号。EL7156芯片被使能后，根据时序输入管脚的状态不同，EL7156芯片的输出管脚连接高电平管脚或低电平管脚，从而产生脉冲沿信号。例如，输入的时序信号为高电平时，EL7156芯片的输出管脚连接高电平管脚，输出电压为高电平信号；输入的时序信号为低电平时，EL7156芯片的输出管脚连接低电平管脚，输出电压为0。需指出的是，还可以利用具有相同功能的其它信号的芯片形成所述脉冲发生支路320。

在其中一个实施例中，所述第一输入单元100包括第一开关K1、第一电阻R1和第二电阻R2。

所述第一开关K1的第一静触头与所述信号源节点P电连接，所述第二开关K2的第二静触头接地。

所述第一电阻R1的第一端与所述第一开关K1的刀片电连接。

所述第二电阻R2的第一端与所述第一电阻R1的第二端电连接，所述第二电阻R2的第二端与所述待测运算放大器DUT的负向输入端电连接。

本实施例中，所述第二电阻R2为可调电阻，用于改变待测运算放大器DUT负向输入端的电阻。

在其中一个实施例中，所述第二输入单元200包括第二开关K2、第三电阻R3和第四电阻R4。

所述第二开关K2的第一静触头与所述信号源节点P电连接，所述第二开关K2的第二静触头接地。

所述第三电阻R3的第一端与所述第二开关K2的刀片电连接。

所述第四电阻R4的第一端与所述第三电阻R3的第二端电连接，所述第四电阻R4的第二端与所述待测运算放大器DUT的正向输入端电连接。

本实施例中，所述第一电阻R1和所述第三电阻R3的阻值相等，所述第四电阻R4为可调电阻，用于改变待测运算放大器DUT正向输入端的电阻。

在其中一个实施例中，所述第一开关K1和所述第二开关K2与所述信号源节点P连接时，所述第二电压电流源VI_2为所述待测运算放大器DUT提供所述共模/差模电压。

在其中一个实施例中，所述第一输入单元100还包括第三开关K3，所述第三开关K3并联在所述第二电阻R2的两端，用于改变所述第一输入单元100的电阻；所述第二输入单元200还包括第四开关，所述第四开关并联在所述第四电阻R4的两端，用于改变所述第二输入单元200的电阻。本实施例中，在控制第三开关K3和第四开关可实现失调电流测试。

在其中一个实施例中，所述运放测试电路还包括辅助运算放大器AMP、第五开关K5、第五电阻R5和第六电阻R6。

所述辅助运算放大器AMP的正向输入端与所述待测运算放大器DUT的输出端电连接，所述辅助运算放大器AMP的负向输入端与第四电压电流源VI_4电连接，所述辅助运算放大器AMP的输出端与第五电压电流源VI_5电连接，通过所述第五电压电流源VI_5对所述辅助运算放大器AMP的输出信号进行测试，得到测试信号。

所述第二开关K2的第一端与所述待测运算放大器DUT的输出端电连接。

所述第五电阻R5的第一端与所述第二开关K2的第二端电连接，所述第五电阻R5的第二端与所述辅助运算放大器AMP的正向输入端电连接。

所述第六电阻R6的第一端与所述第五电阻R5的第二端以及所述辅助运算放大器AMP的正向输入端电连接，所述第六电阻R6的第二端接地。

本实施例中，辅助运算放大器AMP、第五开关K5、第五电阻R5和第六电阻R6构成辅助运放环路，结合所述辅助运算放大器AMP的输出信号以及所述待测运算放大器DUT的输出信号，确定出待测运算放大器DUT的各项参数。

在其中一个实施例中，所述运放测试电路还包括反馈单元400，所述反馈单元400的第一输入端与所述待测运算放大器DUT的输出端电连接，所述反馈单元400的第二输入端与所述辅助运算放大器AMP的输出端电连接，所述反馈单元400的输出端与所述待测运算放大器DUT的负向输入端电连接。

在其中一个实施例中，所述反馈单元400包括第六开关K6、第七电阻R7和第一电容C：

所述第六开关K6的第一端与所述辅助运算放大器AMP的输出端电连接。

所述第七开关的第一端与所述待测运算放大器DUT的输出端电连接。

所述第七电阻R7的第一端与所述第一电阻R1的第二端以及所述第二电阻R2的第一端电连接，所述第七电阻R7的第二端与所述第六开关K6的第二端以及所述第七开关的第二端电连接。

所述第一电容C并联在所述第七电阻R7的两端。

在其中一个实施例中，所述待测运算放大器DUT的输出端连接有至少一个负载，且所述负载R_L和所述待测运算放大器DUT的输出端之间设置有第八开关K8，通过第八电压电流源VI_8为所述负载提供驱动电压。

在其中一个实施例中，所述第三电源与所述待测运算放大器DUT的输出端之间串联设置有第九开关K9；

所述第五电压电流源VI_5与所述辅助运算放大器AMP的输出端之间设置有第十开关K10。

此外，所述运放测试电路还包括为所述待测运算放大器DUT供电的第六电压电流源VI_6和第七电压电流源VI_7，以及为所述负载供电的第八电压电流源。即，本实施例仅利用8个电压电流源即可完成对运放所有电气参数的测试，利用该运放测试电路进行测试时，不仅具有易操作、效率高等优点，还可以降低测试成本。

为了更好的解释本方案，在下面的实施例中，将具体列举多个具体的测试电路，对上述器件之间的连接关系，以及连接作用进行详述。

实施例一

请参见图3，本实施例主要进行待测运算放大器DUT的共模抑制比的检测，即在规定的电源电压和输出电压的范围内，待测运算放大器DUT差模电压增益与共模电压增益之比。本实施例中，第一电阻和第三电阻为R_I，第五电阻的阻值3R_REF，第六电阻的阻值为R_REF，第六开关K6和第十开关K10闭合，将辅助运算放大器AMP的输出端引入反馈；同时，闭合第三开关K3和第四开关。同时改变第六电压电流源VI_6和第七电压电流源VI_7的电压，使得待测运算放大器DUT输入端等效得到共模电压Vi。如通过设置第四电压电流源VI_4的电压能够调节待测运算放大器DUT的输出端电压为设定值，此时通过第五电压电流源VI_5测试辅助运算放大器AMP输出端的输出电压Vm0。然后，再调节改变第六电压电流源VI_6和第七电压电流源VI_7的电压，得到新的待测运算放大器DUT输入端等效得到共模电压Vi^’，并重复通过设置第四电压电流源VI_4的电压使得待测运算放大器DUT的输出端电压为设定值的步骤，此时再通过第五电压电流源VI_5测试辅助运算放大器AMP输出端的输出电压Vm1。则得到共模抑制比CMRR＝(Vi'-Vi)/((Vm1–Vm0)/(RF/RI))，其中CMRR的单位为V/V。

实施例二

请参见图4，本实施例主要进行待测运算放大器DUT的上升沿压摆率Sr+的检测，即输入端在施加规定的大信号阶跃脉冲电压时，输出电压的上升沿随时间的最大变化率。本实施例中，第七开关和第九开关K9闭合，将待测运算放大器DUT的输出端引入反馈；同时，第一开关K1的刀片接地，第二开关K2与电压电流源节点电连接，接收所述程控跳变电压。此时，检测到待测运算放大器DUT输出端的输出电压上升沿幅度变化ΔV1和对应的变化时间Δt1，根据计算公式，得到上升沿压摆率Sr+＝ΔV1/1。

实施例三

请参见图5，本实施例主要进行待测运算放大器DUT的下降沿压摆率Sr-的检测，即输入端在施加规定的大信号阶跃脉冲电压时，输出电压的下降沿随时间的最大变化率。本实施例中，第七开关和第九开关K9闭合，将待测运算放大器DUT的输出端引入反馈；同时，第一开关K1的刀片接地，第二开关K2与电压电流源节点电连接，接收所述程控跳变电压。此时，检测到待测运算放大器DUT输出端的输出电压下降沿幅度变化ΔV2和对应的变化时间Δt2，根据计算公式，得到下降沿压摆率Sr+＝ΔV2/2。

实施例四

请参见图6，实施例主要对流入待测运算放大器DUT的电源端的电流进行测试。本实施例中，第一开关K1和第二开关K2接地，第三开关K3和第四开关闭合，为所述待测运算放大器DUT输入共模电压。第六开关K6闭合，将辅助运算放大器AMP的输出端引入反馈至待测运算放大器DUT的负向输入端，通过第六电压电流源VI_6和第七电压电流源VI_7为待测运算放大器DUT施加规定的电源电压V+和V-，以及通过第六电压电流源VI_6检测到流入待测运算放大器DUT的正电源端的电流为IS+，通过第七电压电流源VI_7检测流入待测运算放大器DUT的负电源端的电流为IS-。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种运放测试系统，所述运放测试系统包括多个上述任一实施例中的运放测试电路。请参见图7和图8，其中图7所示的为双运放测试系统，图8所示的为四运放测试系统。从图7和图8中可以看出，各个测试电路共用一套电压电流源，在测试开启后，通过第六电压电流源VI_6和第七电压电流源VI_7通过给各个待测运算放大器DUT供电，相比单运放测试电路，有利于节省每一待测运算放大器DUT的开启时间，提高测试效率。

综上，本发明中，利用所述运放测试电路即可完成待测运算放大器DUT所有电气参数的测试，且通过复用第二电压电流源VI_2，将共模/差模电压和第一电压电流源VI_1输出的脉冲沿电压信号生成程控跳变电压，为待测运算放大器DUT提供测试压摆率参数所需的脉冲沿电平，减少了运放测试电路电压电流源的数量，降低测试成本。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (12)

1.一种运放测试电路，其特征在于，包括：

第一电压电流源；将脉冲沿电压信号提供给信号源节点；

第二电压电流源，将共模/差模电压提供给所述信号源节点；

第一输入单元，所述第一输入单元的第一输入端与所述信号源节点电连接，所述第一输入单元的第二输入端接地，所述第一输入单元的输出端与待测运算放大器的负向输入端电连接，用于接收所述共模/差模电压和低电平电压信号，以及输出所述共模/差模电压或所述低电平电压信号；以及

第二输入单元，所述第二输入单元的第一输入端与所述信号源节点电连接，所述第二输入单元的第二输入端和第三输入端均接地，用于接收所述共模/差模电压、所述低电平电压信号以及由于所述共模/差模电压和所述脉冲沿电压信号组合后形成的程控跳变电压，以及输出所述共模/差模电压、所述程控跳变电压或所述低电平电压信号；以及

待测运算放大器，所述待测运算放大器的正向输入端与所述第二输入单元的输出端电连接，所述待测运算放大器的负向输入端与所述第一输入单元的输出端电连接，所述待测运算放大器的输出端与第三电压电流源电连接，利用所述第三电压电流源对所述待测运算放大器在接收所述共模/差模电压、所述程控跳变电压或所述低电平电压信号后输出的电压信号，得到测试结果；

所述第一电压电流源包括：

直流信号源，用于提供直流电压；

脉冲发生支路，所述脉冲发生支路的控制端与时序信号输入端电连接，所述脉冲发生支路的电源输入端与所述直流信号源电连接，所述脉冲发生支路的输出端与信号调制电路的第一输入端电连接，接收所述直流电压和所述时序信号，以及在需要测试压摆率时，根据所述直流电压和所述时序信号生成所述脉冲沿电压，并提供给所述信号源节点；

所述信号调制电路包括：电容和电阻；

所述电容的第一端与所述脉冲发生支路的输出端连接，所述电容的第二端与所述信号源节点连接，所述电容的第二端还与所述电阻的第一端连接；所述电阻的第二端连接所述第二电压电流源。

2.如权利要求1所述的运放测试电路，其特征在于，所述脉冲发生支路包括时钟驱动芯片。

3.如权利要求1所述的运放测试电路，其特征在于，所述第一输入单元包括：

第一开关，所述第一开关的第一静触头与所述信号源节点电连接，所述第一开关的第二静触头接地；

第一电阻，所述第一电阻的第一端与所述第一开关的刀片电连接；以及

第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述第一电阻的第二端电连接，所述第二电阻的第二端与所述待测运算放大器的负向输入端电连接。

4.如权利要求3所述的运放测试电路，其特征在于，所述第二输入单元包括：

第二开关，所述第二开关的第一静触头与所述信号源节点电连接，所述第二开关的第二静触头接地；

第三电阻，所述第三电阻的第一端与所述第二开关的刀片电连接；以及

第四电阻，所述第四电阻的第一端与所述第三电阻的第二端电连接，所述第四电阻的第二端与所述待测运算放大器的正向输入端电连接。

5.如权利要求4所述的运放测试电路，其特征在于，所述第一开关和所述第二开关与所述信号源节点连接时，所述第二电压电流源为所述待测运算放大器提供所述共模/差模电压。

6.如权利要求4所述的运放测试电路，其特征在于，所述第一输入单元还包括第三开关，所述第三开关并联在所述第二电阻的两端，用于改变所述第一输入单元的电阻；

所述第二输入单元还包括第四开关，所述第四开关并联在所述第四电阻的两端，用于改变所述第二输入单元的电阻。

7.如权利要求3所述的运放测试电路，其特征在于，还包括：

辅助运算放大器，所述辅助运算放大器的正向输入端与所述待测运算放大器的输出端电连接，所述辅助运算放大器的负向输入端与第四电压电流源电连接，所述辅助运算放大器的输出端与第五电压电流源电连接，通过所述第五电压电流源对所述辅助运算放大器的输出信号进行测试，得到测试信号；

第五开关，所述第五开关的第一端与所述待测运算放大器的输出端电连接；

第五电阻，所述第五电阻的第一端与所述第五开关的第二端电连接，所述第五电阻的第二端与所述辅助运算放大器的正向输入端电连接；以及

第六电阻，所述第六电阻的第一端与所述第五电阻的第二端以及所述辅助运算放大器的正向输入端电连接，所述第六电阻的第二端接地。

8.如权利要求7所述的运放测试电路，其特征在于，还包括反馈单元，所述反馈单元的第一输入端与所述待测运算放大器的输出端电连接，所述反馈单元的第二输入端与所述辅助运算放大器的输出端电连接，所述反馈单元的输出端与所述待测运算放大器的负向输入端电连接。

9.如权利要求8所述的运放测试电路，其特征在于，所述反馈单元包括：

第六开关，所述第六开关的第一端与所述辅助运算放大器的输出端电连接；

第七开关，所述第七开关的第一端与所述待测运算放大器的输出端电连接；

第七电阻，所述第七电阻的第一端与所述第一电阻的第二端以及所述第二电阻的第一端电连接，所述第七电阻的第二端与所述第六开关的第二端以及所述第七开关的第二端电连接；以及

第一电容，并联在所述第七电阻的两端。

10.如权利要求1所述的运放测试电路，其特征在于，所述待测运算放大器的输出端连接有至少一个负载，且所述负载和所述待测运算放大器的输出端之间设置有第八开关。

11.如权利要求7所述的运放测试电路，其特征在于，所述第三电压电流源与所述待测运算放大器的输出端之间串联设置有第九开关；

所述第五电压电流源与所述辅助运算放大器的输出端之间设置有第十开关。

12.一种运放测试系统，其特征在于，包括多个如权利要求1～11任一权项所述的运放测试电路。