CN110568348A - 断路器电校验质量判定方法 - Google Patents
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Abstract
一种断路器电校验质量判定方法，其包括以下步骤：S1：获得合格断路器的时间‑最小安全电学特性曲线和时间‑最大安全电学特性曲线；S2：获得待测断路器的时间‑电学特性曲线；S3：将待测断路器的时间‑电学特性曲线分别与时间‑最大安全电学特性曲线和时间‑最小安全电学特性曲线对比；通过将待测断路器的时间‑电学特性曲线与合格断路器的时间‑电学特性曲线进行对比分析，能够快速、准确地检测出断路器产品的瑕疵，防止瑕疵断路器在生产过程中被当成合格品流出。
Description
技术领域
本发明创造涉及低压电器领域，特别是涉及一种断路器电校验质量判定方法。
背景技术
目前断路器、漏电断路器产品经常在生产、退货中发现各种烧毁、缺相不通电等不合格的产品，其原因就在于瑕疵断路器在生产过程中被当成合格品流出。这些瑕疵包括：接触电阻偏大、点焊不良、线圈与双金短路、双金点焊错误、线圈装错等问题。而常规的电校验台不具备挑出这些产品的能力，常规的校验台会根据断路器阻值自动调整电流，即使电流偏大也不会停止校验，导致不合格品被当成合格品流出。但是目前技术条件下，上述接触电阻偏大、双金点焊错误、点焊不良、线圈装错、线圈与双金短路等瑕疵问题由于缺乏明确的指标，尚不能完全杜绝，导致断路器质量的不稳定。
发明内容
本发明创造的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种能够准确快速的断路器电校验质量判定方法。
为实现上述目的，本发明创造采用了如下技术方案：
一种断路器电校验质量判定方法，其包括以下步骤：
S1：获得合格断路器的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线；
S2：获得待测断路器的时间-电学特性曲线；
S3：将待测断路器的时间-电学特性曲线分别与时间-最大安全电学特性曲线和时间-最小安全电学特性曲线对比；
取待测断路器的时间-电学特性曲线上任一时间点的电学特性值，并分别与该时间点上时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值和时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值，均小于时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值，且均大于时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值，则待测断路器为合格产品。
优选的，还包括步骤S4，取待测断路器的时间-电学特性曲线上任一时间点的电学特性值，并分别与该时间点上时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值和时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值，均大于时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值，则为第一类故障；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值，均小于时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值，则为第二类故障。
优选的，还包括步骤S5，如果待测断路器的时间-电学特性曲线与时间-最大安全电学特性曲线存在交点，则获取待测断路器的时间-电学特性曲线与标准断路器的时间-最大安全电学特性曲线的交点，取得该时间点上的待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，与该时间点上标准断路器的时间-最大安全电学特性曲线的斜率对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，大于时间-最大安全电学特性曲线的斜率，则为第三类故障；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，小于时间-最大安全电学特性曲线的斜率，则为第四类故障。
优选的，还包括步骤S6，如果待测断路器的时间-电学特性曲线与时间-最小安全电学特性曲线存在交点，则获取待测断路器的时间-电学特性曲线与标准断路器的时间-最小安全电学特性曲线的交点，取得该时间点上的待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，与该时间点上标准断路器的时间-最小安全电学特性曲线的斜率对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，大于时间-最小安全电学特性曲线的斜率，则为第五类故障；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，小于时间-最小安全电学特性曲线的斜率，则为第六类故障。
优选的，所述步骤S1中的时间-电学特性曲线、时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，均为时间-电流特性曲线或时间-电压特性曲线或时间-功率特性曲线或时间-阻值特性曲线。
优选的，所述步骤S1中的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，基于大数据统计分析得到。
优选的，所述步骤S1包括以下步骤：
S11：检测获得多个标准断路器的时间-电学特性曲线；
S12：分别针对不同的时间，取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最大值，获得断路器的时间-最大安全电学特性曲线；或者，取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最大值乘以最大值系数，获得断路器的时间-最大安全电学特性曲线；
S13：分别针对不同的时间，取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最小值，获得时间-最小安全电学特性曲线；或者取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最小值乘以最小值系数，获得时间-最小安全电学特性曲线。
优选的，还包括以下跟踪步骤，当判定待测断路器不合格后，复核检测该待测断路器，如果经复核该待测断路器为合格，则基于该待测断路器的时间-电学特性曲线修正断路器的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线。
优选的，对于经检测为合格产品之后又发现为故障产品，技术人员分析故障产品的原因，如故障为与断路器电校验质量判定方法检测相关的原因导致的，则基于该故障产品的时间-电学特性曲线修正断路器的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线。
优选的，取故障产品的时间-电学特性曲线上对应的故障电学特性值，以及对应时间点的时间-最大安全电学特性曲线上的最大电学特性值，以及对应时间点上的时间-最小安全电学特性曲线是的最小电学特性值；
如果故障电学特性值小于最大电学特性值，且大于最大电学特性值乘以最大值故障修正系数，最大值故障修正系数小于1，则用该故障电学特性值修正对应时间点的时间-最大安全电学特性曲线；
如果故障电学特性值大于最小电学特性值，且小于最小电学特性值乘以最小值故障修正系数，最小值故障修正系数大于1，则用该故障电学特性值修正对应时间点的时间-最小安全电学特性曲线。
本发明创造的断路器电校验质量判定方法，通过将待测断路器的时间-电学特性曲线与合格断路器的时间-电学特性曲线进行对比分析，能够快速、准确地检测出断路器产品的电校验质量是否合格，防止瑕疵断路器在生产过程中被当成合格品流出。
此外，步骤S4至步骤S6能够在检测出不合格产品的基础上，迅速定位不合格断路器的故障原因，便于将不合格断路器修改为合格产品，在提高合格产品比例的基础上提高产能。
附图说明
图1是本发明创造电校验质量判定方法的流程图；
图2是本发明创造实施例的具体流程图；
图3是本发明创造实施例合格产品的时间-电学特性曲线图；
图4是本发明创造实施例第一类故障中的时间-电学特性曲线图；
图5是本发明创造实施例第二类故障的时间-电学特性曲线图；
图6是本发明创造实施例第三类故障的时间-电学特性曲线图；
图7是本发明创造实施例第四类故障的时间-电学特性曲线图；
图8是本发明创造实施例第五类故障的时间-电学特性曲线图；
图9是本发明创造实施例第六类故障的时间-电学特性曲线图。
具体实施方式
以下结合附图1至9给出的实施例，进一步说明本发明创造的断路器电校验质量判定方法的具体实施方式。本发明创造的断路器电校验质量判定方法不限于以下实施例的描述。
断路器通常包括相对设置的静触头和动触头，静触头通过磁脱扣机构和第一接线端子接入电路的一端，动触头通过热脱扣机构和第二接线端子接入电路的另一端，动触头与操作机构连接，操作机构与手柄连接，转动手柄能够驱动操作机构带动动触头与静触头接触将接入的电路导通，此时操作机构被锁定在储能状态，热脱扣机构和磁脱扣机构分别在电路过载和短路时解锁操作机构，通过操作机构带动动触头与静触头分开，断开电路实现保护。
如图1所示，本发明创造的断路器电校验质量判定方法包括以下步骤：
S1：获得合格断路器的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线；
S2：获得待测断路器的时间-电学特性曲线；
S3：将待测断路器的时间-电学特性曲线分别与时间-最大安全电学特性曲线和时间-最小安全电学特性曲线对比；
如果待测断路器的时间-电学特性曲线与时间-最大安全电学特性曲线和时间-最小安全电学特性曲线均不存在交点，取待测断路器的时间-电学特性曲线上任一时间点的电学特性值，并分别与该时间点上时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值和时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值，均小于时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值，且均大于时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值，即待测断路器的时间-电学特性曲线始终位于时间-最大安全电学特性曲线和时间-最小安全电学特性曲线之间，则待测断路器为合格产品，否则为不合格产品。
本发明创造的断路器电校验质量判定方法，通过将待测断路器的时间-电学特性曲线与合格断路器的时间-电学特性曲线进行对比分析，能够快速、准确地检测出断路器产品的电校验质量，防止瑕疵断路器在生产过程中被当成合格品流出。
进一步，对于不合格产品，通过比较待测断路器的时间-电学特性曲线与时间-最大安全电学特性曲线和时间-最小安全电学特性曲线，能够分析其不合格原因，还包括分析其不合格原因的步骤。
还包括步骤S4，如果待测断路器的时间-电学特性曲线与时间-最大安全电学特性曲线和时间-最小安全电学特性曲线均不存在交点，则取待测断路器的时间-电学特性曲线上任一时间点的电学特性值，并分别与该时间点上时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值和时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值，均大于时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值，即待测断路器的时间-电学特性曲线始终位于时间-最大安全电学特性曲线之上，则为第一类故障(图4)；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值，均小于时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值，即待测断路器的时间-电学特性曲线始终位于时间-最小安全电学特性曲线之下，则为第二类故障(图5)。
本发明创造步骤S4的好处在于，步骤S4能够在步骤S3检测出不合格产品的基础上，判断出该不合格产品是否满足第一类故障和第二类故障中的情况，迅速定位不合格断路器的故障原因，便于将不合格断路器修正为合格产品，在提高合格产品比例的基础上提高产能。
进一步，还包括步骤S5，如果待测断路器的时间-电学特性曲线与时间-最大安全电学特性曲线存在交点，则进行步骤S5，否则跳过步骤S5；
所述步骤S5包括：获取待测断路器的时间-电学特性曲线与标准断路器的时间-最大安全电学特性曲线的交点，即该时间点上待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值等于时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值时，取得该时间点上的待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，与该时间点上标准断路器的时间-最大安全电学特性曲线的斜率对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，大于时间-最大安全电学特性曲线的斜率，则为第三类故障(图6)；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，小于时间-最大安全电学特性曲线的斜率，则为第四类故障(图7)。
本发明创造步骤S5的好处在于，步骤S5能够在步骤S1检测出不合格产品的基础上，判断出该不合格产品是否满足第三类故障或第四类故障中的情况，迅速定位不合格断路器的故障原因，便于将不合格断路器修改为合格产品，在提高合格产品比例的基础上提高产能。
进一步，还包括步骤S6，如果待测断路器的时间-电学特性曲线与时间-最小安全电学特性曲线存在交点，则进行步骤S6，否则跳过步骤S6；
所述步骤S6包括：获取待测断路器的时间-电学特性曲线与标准断路器的时间-最小安全电学特性曲线的交点，即该时间点上待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值等于时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值时，取得该时间点上的待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，与该时间点上标准断路器的时间-最小安全电学特性曲线的斜率对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，大于时间-最小安全电学特性曲线的斜率，则为第五类故障(图8)；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，小于时间-最小安全电学特性曲线的斜率，则为第六类故障(图9)。
本发明创造步骤S5的好处与步骤S6相似，步骤S6能够在步骤S3检测出不合格产品的基础上，判断出该不合格产品是否满足第五类故障或第六类故障中的情况，迅速定位不合格断路器的故障原因，便于将不合格断路器修改为合格产品，在提高合格产品比例的基础上提高产能。
当然，如果待测断路器的时间-电学特性曲线与时间-最小安全电学特性曲线或时间-最大安全电学特性曲线存在多个交点，则待测断路器也属于不合格产品。
进一步，所述步骤S1中的时间-电学特性曲线、时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，均为时间-电流特性曲线或时间-电压特性曲线。
进一步，所述步骤S1中的时间-电学特性曲线、时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，均为时间-阻值特性曲线。
进一步，所述步骤S1中的时间-电学特性曲线、时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，均为时间-功率特性曲线。
参阅图3示出的具体实施例，所述步骤S1中的时间-电学特性曲线、时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，均为时间-阻值特性曲线，所述步骤S4中分别采集待测断路器的电流信号和电压信号得到待测断路器的时间-阻值特性曲线，基于时间-阻值特性曲线便于分析不合格产品的原因。
参阅图4所示，由步骤S3得到的第一类故障的断路器的故障原因为工艺不良或零部件错装导致的电阻异常，阻值在校验的时间内整体高于合格范围，表示产品内部点焊不良、双金电阻偏大或双金用错规格或动静触头接触电阻偏大，该不良会导致产品正常使用时烧毁、缺相。
具体分析：这种情况一般是在动触头压力偏小、双金用错、点焊不良时发生，表现就是电阻稳定的整体偏大。
参阅图5所示，由步骤S3得到的第二类故障的断路器的故障原因为零部件错装，阻值在校验的时间内整体低于合格范围，表示产品内部线圈、双金可能用错，型号不匹配。
具体分析：断路器的整体电阻为接线板接触电阻、双金阻值、线圈阻值和动静触头接触电阻，接线板接触电阻与动静触头接触电阻一般只能偏大，能偏小的只有双金、线圈，故这种情况可能线圈、双金规格错误、质量不合格导致阻值异常。
参阅图6所示，由步骤S5得到的第三类故障的断路器的故障原因为零件特性一致性差，阻值先符合合格范围后又超出合格范围，表示产品内部可能双金一致性差。
具体分析：断路器的整体电阻为接线板接触电阻、双金阻值、线圈阻值和动静触头接触电阻，接线板接触电阻、动静触头接触电阻和线圈阻值一般比较稳定，可能是双金的一致性导致了异常。
参阅图8所示，由步骤S6得到的第五类故障的断路器的故障原因为工艺不良，阻值先低于合格范围后又达到合格范围内，表示产品内部有短路，随着双金的受热弯曲而不再短路：该不合格会导致产品长延时早动作。
具体分析：双金是长条形，软导线仅头部点焊在双金上，一般短路会是长条形的双金的一部分与软导线短路，当双金发生发热弯曲时，双金与软导线短路的长度会发生变化，在采集到的电阻曲线中就表现为先是电阻低于正常值，随着短路距离的减少，阻值慢慢恢复。
本发明创造实施例在绘制时间-电学特性曲线时，通过校验台对断路器的进、出线之间施加恒定的预置电流(会有少许波动)，预置电流持续10-20s，使断路器的进、出线之间电压随着阻值波动而变化，同时对断路器的进、出线之间的电压和电流分别进行测量，得到待测断路器的时间-电学特性曲线。
在进行电校验质量检测时，为了提高产品质量进行严格的检测标准，并且便于电学特性数据的采集，待测断路器的时间-电学特性曲线中的电学特性可以是阻值、电流、电压或功率，即对待测断路器的时间-阻值特性曲线、时间-电流特性曲线、时间-电压特性和时间-功率特性曲线进行选择，选择任一时间-电学特性曲线通过检测时，可以判定为合格产品。当然，也可以对上述多种时间-电学特性曲线选择多项进行检测，此时只有均通过检测才为合格产品。
进一步，所述步骤S1中的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，为技术人员根据断路器的特性基于经验分析绘制得到。
进一步，作为一种优选的方案，所述步骤S1中的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，基于大数据统计分析得到。优选的，可以采用以下方法获得时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线：
S11：检测获得多个标准断路器的时间-电学特性曲线；
S12：分别针对不同的时间，取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最大值，获得断路器的时间-最大安全电学特性曲线；或者，取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最大值乘以最大值系数，如0.97，获得断路器的时间-最大安全电学特性曲线；
S13：分别针对不同的时间，取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最小值，获得时间-最小安全电学特性曲线；或者取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最小值乘以最小值系数，如1.03，获得时间-最小安全电学特性曲线。
优选的，所述多个标准断路器大于1000个，经检测合格的产品。
进一步，还包括以下跟踪步骤，在步骤S1至S6中，当判定待测断路器不合格后，人为干预复核检测该待测断路器，如果经复核该待测断路器为合格，则基于该待测断路器的时间-电学特性曲线修正断路器的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线。或者，将该待测断路器加入标准断路器中，重新获得断路器的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线。
进一步，还包括以下跟踪步骤，对于经检测为合格产品之后又发现为故障产品的(如退货产品)，技术人员分析故障产品的原因，如故障是与本发明的断路器电校验质量判定方法检测相关的原因导致的，如接触电阻偏大、点焊不良、线圈与双金短路、双金点焊错误、线圈装错等问题，则调取该故障产品的时间-电学特性曲线，基于该故障产品的时间-电学特性曲线修正断路器的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线。
优选的，分别针对不同的时间，取故障产品的时间-电学特性曲线上对应的故障电学特性值，以及对应时间点的时间-最大安全电学特性曲线上的最大电学特性值，以及对应时间点上的时间-最小安全电学特性曲线是的最小电学特性值。如果故障电学特性值小于最大电学特性值，且大于最大电学特性值乘以最大值故障修正系数，最大值故障修正系数小于1，如为0.95，则用该故障电学特性值修正对应时间点的时间-最大安全电学特性曲线。
如果故障电学特性值大于最小电学特性值，且小于最小电学特性值乘以最小值故障修正系数，最小值故障修正系数大于1，如为1.05，则用该故障电学特性值修正对应时间点的时间-最小安全电学特性曲线。
需要说明的是，在进行电校验质量检测时，检测设备可以同时采集周围的环境温度信号，匹配对应温度下的时间-电学特性曲线，用于纠正环境温度带来的误差，获得更准确的测试结果。例如可以通过数据统计不同温度的数据，得出不同温度下的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，在温度变化时做出适当的调整，将待测断路器的时间-电学特性曲线与不同温度下的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线进行对比。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明创造所作的进一步详细说明，不能认定本发明创造的具体实施只局限于这些说明。对于本发明创造所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明创造的保护范围。
Claims (10)
1.一种断路器电校验质量判定方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1：获得合格断路器的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线；
S2：获得待测断路器的时间-电学特性曲线；
S3：将待测断路器的时间-电学特性曲线分别与时间-最大安全电学特性曲线和时间-最小安全电学特性曲线对比；
取待测断路器的时间-电学特性曲线上任一时间点的电学特性值，并分别与该时间点上时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值和时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值，均小于时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值，且均大于时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值，则待测断路器为合格产品。
2.根据权利要求1所述的断路器电校验质量判定方法，其特征在于：还包括步骤S4，取待测断路器的时间-电学特性曲线上任一时间点的电学特性值，并分别与该时间点上时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值和时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值，均大于时间-最大安全电学特性曲线的电学特性值，则为第一类故障；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的电学特性值，均小于时间-最小安全电学特性曲线的电学特性值，则为第二类故障。
3.根据权利要求1所述的断路器电校验质量判定方法，其特征在于：还包括步骤S5，如果待测断路器的时间-电学特性曲线与时间-最大安全电学特性曲线存在交点，则获取待测断路器的时间-电学特性曲线与标准断路器的时间-最大安全电学特性曲线的交点，取得该时间点上的待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，与该时间点上标准断路器的时间-最大安全电学特性曲线的斜率对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，大于时间-最大安全电学特性曲线的斜率，则为第三类故障；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，小于时间-最大安全电学特性曲线的斜率，则为第四类故障。
4.根据权利要求1所述的断路器电校验质量判定方法，其特征在于：还包括步骤S6，如果待测断路器的时间-电学特性曲线与时间-最小安全电学特性曲线存在交点，则获取待测断路器的时间-电学特性曲线与标准断路器的时间-最小安全电学特性曲线的交点，取得该时间点上的待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，与该时间点上标准断路器的时间-最小安全电学特性曲线的斜率对比；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，大于时间-最小安全电学特性曲线的斜率，则为第五类故障；
如果该时间点上，待测断路器的时间-电学特性曲线的斜率，小于时间-最小安全电学特性曲线的斜率，则为第六类故障。
5.根据权利要求1-4任一所述的断路器电校验质量判定方法，其特征在于：所述步骤S1中的时间-电学特性曲线、时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，均为时间-电流特性曲线或时间-电压特性曲线或时间-功率特性曲线或时间-阻值特性曲线。
6.根据权利要求1所述的断路器电校验质量判定方法，其特征在于：所述步骤S1中的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线，基于大数据统计分析得到。
7.根据权利要求1-4任一所述的断路器电校验质量判定方法，其特征在于：所述步骤S1包括以下步骤：
S11：检测获得多个标准断路器的时间-电学特性曲线；
S12：分别针对不同的时间，取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最大值，获得断路器的时间-最大安全电学特性曲线；或者，取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最大值乘以最大值系数，获得断路器的时间-最大安全电学特性曲线；
S13：分别针对不同的时间，取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最小值，获得时间-最小安全电学特性曲线；或者取上述的多个标准断路器的时间-电学特性曲线中的最小值乘以最小值系数，获得时间-最小安全电学特性曲线。
8.根据权利要求7所述的断路器电校验质量判定方法，其特征在于：还包括以下跟踪步骤，当判定待测断路器不合格后，复核检测该待测断路器，如果经复核该待测断路器为合格，则基于该待测断路器的时间-电学特性曲线修正断路器的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线。
9.根据权利要求8所述的断路器电校验质量判定方法，其特征在于：对于经检测为合格产品之后又发现为故障产品，技术人员分析故障产品的原因，如故障为与断路器电校验质量判定方法检测相关的原因导致的，则基于该故障产品的时间-电学特性曲线修正断路器的时间-最小安全电学特性曲线和时间-最大安全电学特性曲线。
10.根据权利要求9所述的断路器电校验质量判定方法，其特征在于：取故障产品的时间-电学特性曲线上对应的故障电学特性值，以及对应时间点的时间-最大安全电学特性曲线上的最大电学特性值，以及对应时间点上的时间-最小安全电学特性曲线是的最小电学特性值；
如果故障电学特性值小于最大电学特性值，且大于最大电学特性值乘以最大值故障修正系数，最大值故障修正系数小于1，则用该故障电学特性值修正对应时间点的时间-最大安全电学特性曲线；
如果故障电学特性值大于最小电学特性值，且小于最小电学特性值乘以最小值故障修正系数，最小值故障修正系数大于1，则用该故障电学特性值修正对应时间点的时间-最小安全电学特性曲线。
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