CN110555840B - 闭环控制方法、装置、控制设备及可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种闭环控制方法、装置、控制设备及可读存储介质，该闭环控制方法包括：获取目标产品的标志位信息，所述标志位信息包括组成所述目标产品的两个组件上的多个标志位间距值，所述标志位间距值用于表征所述两个组件上的同一标志位之间的距离；根据所述标志位信息计算纠偏数据；将所述纠偏数据发送给纠偏设备，以使所述纠偏设备根据所述纠偏数据在合成下一个产品时，对组成所述下一个产品的两个组件进行纠偏。以此可以实现产品加工过程中的闭环控制，提升产品合格率。

Description

闭环控制方法、装置、控制设备及可读存储介质

技术领域

本申请涉及产品加工技术领域，具体而言，涉及一种闭环控制方法、装置、控制设备及可读存储介质。

背景技术

现有的缝隙检测、缝隙纠偏方法采用的是开环处理方式，通常是对贴合后形成的当前产品进行缝隙检测，并判断当前产品是否合格。

在发现大量的产品都不合格的情况下，才由相关工作人员对产品的各个工序逐一进行排查，这样的处理方式效率低，且不合格产品的数量难以控制。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种闭环控制方法、装置、控制设备及可读存储介质，用以改善现有技术中难以提升产品合格率的问题。

第一方面，本申请实施例提供一种闭环控制方法，所述方法包括：

获取目标产品的标志位信息，所述标志位信息包括组成所述目标产品的两个组件上的多个标志位间距值，所述标志位间距值用于表征所述两个组件上的同一标志位之间的距离；

根据所述标志位信息计算纠偏数据；

将所述纠偏数据发送给纠偏设备，以使所述纠偏设备根据所述纠偏数据在合成下一个产品时，对组成所述下一个产品的两个组件进行纠偏。

通过上述方法，根据获取的标志位信息确定出纠偏数据，并将计算出的纠偏数据发送给纠偏设备，以使纠偏设备能够根据计算出的纠偏数据对下一个产品进行纠偏，实现了产品加工过程中的闭环控制，能够提升后续加工产品的合格率。相较于在发现大量不合格产品后由工作人员进行繁琐的排查以纠偏的方式，上述方法可以降低用户的核查工作量，且能够较快地对下一个产品进行纠偏、修正，从而可以避免加工误差累积而继续出现更多不可控的不合格产品。

结合第一方面，在一种可能的设计中，所述目标产品为多个，所述根据所述标志位信息计算纠偏数据，包括：

获取多个所述目标产品的多组标志位信息；

根据所述多组标志位信息获取多个所述目标产品的标志位间距值的变化趋势信息；

根据所述变化趋势信息判断多个所述目标产品的标志位间距值的变化趋势是否在有效范围内；

若所述变化趋势不在有效范围内，则根据所述多组标志位信息，计算得到纠偏数据。

通过上述实现方式，可以避免对每一个产品都进行纠偏，能够提升设备运行效率，从而提升产品处理效率。

结合第一方面，在一种可能的设计中，所述获取目标产品的标志位信息，包括：

获取目标产品的第一组件上的多个标志位的坐标；

获取目标产品的第二组件上的多个标志位的坐标；

根据所述第一组件上的多个标志位的坐标以及所述第二组件上的多个标志位的坐标，计算所述第一组件与所述第二组件的每个相同标志位之间的间距值，得到所述多个标志位间距值。

通过上述实现方式，可以快速得到包含多个标志位间距值的标志位信息，根据得到的多个标志位间距值有助于计算出纠偏数据。

结合第一方面，在一种可能的设计中，所述纠偏数据包括纠偏角度，所述根据所述标志位信息计算纠偏数据，包括：

根据所述第一组件上的多个标志位的坐标、所述第二组件上的多个标志位的坐标，计算得到所述第一组件与所述第二组件的角度差，作为所述纠偏角度，所述角度差表示所述第一组件与所述第二组件的相对旋转角度。

通过上述实现方式，计算出的纠偏角度可用于调整下一个产品的两个组件之间的相对位置关系，有助于提升产品合格率。

结合第一方面，在一种可能的设计中，所述纠偏数据包括至少一个方向上的纠偏矢量，所述根据所述标志位信息计算纠偏数据，包括：

根据所述第一组件上的多个标志位的坐标、所述第二组件上的多个标志位的坐标，计算得到所述第一组件与所述第二组件在至少一个方向上的矢量，作为所述纠偏矢量，所述至少一个方向上的矢量表示在至少一个方向上的相对位移。

通过上述实现方式，计算出的纠偏矢量可用于调整下一个产品的两个组件之间的相对位置关系，有助于提升产品合格率。

结合第一方面，在一种可能的设计中，根据所述标志位信息计算纠偏数据，包括：

根据所述多个标志位间距值，判断组成所述目标产品的两个组件在每个相同标志位之间的间距是否在允许的间距范围内；

若所述两个组件存在任一处相同标志位之间的间距不在允许的间距范围内，则根据所述多个标志位间距值，计算得到纠偏数据。

通过上述实现方式，以此能够根据单个目标产品的数据判断是否需要进行纠偏操作，相较于根据多个产品的数据进行判断的方式，获取的数据更少。

第二方面，本申请实施例提供一种闭环控制装置，所述装置包括：

获取模块，用于获取目标产品的标志位信息，所述标志位信息包括组成所述目标产品的两个组件上的多个标志位间距值，所述标志位间距值用于表征所述两个组件上的同一标志位之间的距离；

计算模块，用于根据所述标志位信息计算纠偏数据；

反馈模块，用于将所述纠偏数据发送给纠偏设备，以使所述纠偏设备根据所述纠偏数据在合成下一个产品时，对组成所述下一个产品的两个组件进行纠偏。

通过上述装置可以执行第一方面所述的闭环控制方法，能够提升产品合格率，降低用户的工作量。

结合第二方面，在一种可能的设计中，所述目标产品为多个；

所述获取模块，还用于获取多个所述目标产品的多组标志位信息；

所述计算模块还用于：

根据所述多组标志位信息获取多个所述目标产品的标志位间距值的变化趋势信息；

根据所述变化趋势信息判断多个所述目标产品的标志位间距值的变化趋势是否在有效范围内；

若所述变化趋势不在有效范围内，则根据所述多组标志位信息，计算得到纠偏数据。

第三方面，本申请实施例提供一种控制设备，所述控制设备与一纠偏设备通信连接；

所述控制设备包括：处理器、存储器，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当所述控制设备运行时，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行前述第一方面所述的方法中的步骤。

第四方面，本申请实施例提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行前述第一方面所述方法的步骤。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的一种控制设备的示意图。

图2为本申请实施例提供的一种闭环控制方法的流程图。

图3为本申请实施例提供的一个实例中的目标产品的示意图。

图4为本申请实施例提供的一个实例中的两个中心点坐标的示意图。

图5为本申请实施例提供的另一个实例中的目标产品的示意图。

图6为本申请实施例提供的另一种闭环控制方法的流程图。

图7为本申请实施例提供的一种闭环控制装置的功能模块框图。

图标：100-控制设备；101-处理器；102-存储器；103-通信接口；104-总线；400-闭环控制装置；401-获取模块；402-计算模块；403-反馈模块。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。

发明人经过研究发现，现有技术中的产品在加工过程中容易受到加工平台、放置结构等机器的影响，从而导致形成的产品可能是不合格的。为了提升产品的合格率，现有做法通常是对形成的产品进行缝隙检测，但获得的检测结果仅用于判断当前的产品是否合格。在发现出现大量的不合格产品的情况下，由工作人员进行多次排查以核查确定出现不合格产品的具体问题点，再对问题点对应的结构进行不断的调试、修正。这样的处理方式效率低，由于当前产品的检测结果与后续产品的加工无关，现有技术的做法实际是一种开环处理方式，在人为进行核查、调试的过程中，耗时长，且不合格产品的数量是不受控的，维护成本高，不利于产品的大量生产。

有鉴于此，发明人提供了以下实施例以改善上述缺陷。下面将结合附图对本申请实施例的技术方案进行介绍。

为便于更好地理解本方案，下面对本申请实施例中的一些术语进行解释。

感兴趣区域(region of interest，ROI)：在机器视觉、图像处理中，对被处理的图像以方框、圆、椭圆、不规则多边形等方式勾勒出需要处理的区域，称为感兴趣区域。在Halcon、OpenCV、Matlab等机器视觉软件上常用到各种算子(Operator)和函数来求得感兴趣区域，并进行图像的下一步处理。例如，通过抓边工具在感兴趣区域内抓取多个点位，通过最小二乘法将多个点位信息拟合成线段，即可得到相对应的线段信息。

请参阅图1，图1为本申请实施例提供的一种控制设备100的示意图。该控制设备100可与一个或多个纠偏设备通信连接，控制设备100可用于向任一纠偏设备发送相应的纠偏数据，以使纠偏设备能够根据接收到的纠偏数据对后续产品进行纠偏。

其中，纠偏设备可以是但不限于机械手、驱动机构、贴合设备等能够进行移动以助于产品加工的设备。

当纠偏设备根据纠偏数据对后续产品进行纠偏后，可以继续执行后续加工操作，后续加工操作包括但不限于压合、贴合等能够对各个组件进行固定以形成产品的操作。

如图1所示，该控制设备100可包括处理器101、存储器102、通信接口103。处理器101、存储器102、通信接口103相互之间直接或间接地通过总线104电性连接，以实现数据的传输或交互。处理器101用于执行存储器102中存储的可执行模块，例如计算机程序。

其中，上述的处理器101可能是一种集成电路芯片，具有信号处理能力。处理器101可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)、网络处理器(Network Processor，简称NP)等；还可以是数字信号处理器、专用集成电路、现场可编程门阵列或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。处理器101可以实现或执行本申请实施例中公开的各方法、步骤及逻辑框图。本申请实施例揭示的过程定义的控制设备100所执行的方法可应用于处理器101中，或由处理器101实现。

存储器102可以是但不限于，随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，PROM)，可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)，电可擦除只读存储器(Electric Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)等。存储器102用于存储程序，例如可用于存储闭环控制装置400对应的程序或机器可读指令。闭环控制装置400包括至少一个可以软件或固件(firmware)的形式存储于存储器102中或固化在控制设备100的操作系统(operating system，OS)中的软件功能模块。处理器101在接收到执行指令后执行存储器102中存储的程序或机器可读指令，以实现闭环控制方法。处理器101及其他可能的组件对存储器102的访问在存储控制器的控制下进行。

总线104可以是ISA(Industry Standard Architecture)总线、PCI(PeripheralComponent Interconnect)总线或EISA(Extended Industry Standard Architecture)总线等。图1中仅用一个双向箭头表示，但并不表示仅有一根总线104或一种类型的总线104。

控制设备100通过至少一个通信接口103实现与外部的其它设备之间的有线或无线通信连接。例如，控制设备100可通过通信接口103接收外部设备发送的图像数据进而获取到目标产品的标志位信息，再例如，控制设备100可通过通信接口103向纠偏设备发送纠偏数据。

本领域普通技术人员可以理解，图1所示的结构仅为示意，其并不对控制设备100的结构造成限定。控制设备100还可以比图1中所示更多或更少的组件，或具有与图1所示不同的配置。图1中所示的各组件可采用硬件、软件或其组合实现。

作为一种实现方式，控制设备100可以是服务器、个人计算机等具有运算处理能力的设备。

请参阅图2，图2为本申请实施例提供的一种可应用于图1所示的控制设备100的闭环控制方法的流程图。下面将对图2所示的具体流程进行详细阐述。

如图2所示，该闭环控制方法可包括步骤：S22-S26。S22-S26可以由控制设备100执行。

S22：获取目标产品的标志位信息，标志位信息包括组成目标产品的两个组件上的多个标志位间距值，标志位间距值用于表征两个组件上的同一标志位之间的距离。

作为一种实现方式，可以通过图像采集设备对目标产品进行拍照以获得目标产品的图像数据。控制设备100可接收目标产品的图像数据，并根据目标产品的图像数据识别出两个组件的感兴趣区域，基于感兴趣区域得到与两个组件对应的标志位信息。其中，图像采集设备可以是相机、摄像头等具有图像采集功能的设备。

其中，两个组件所对应的标志位的数量相同。例如，对于组成同一产品的两个组件，两个组件中每个组件的标志位的数量根据实际的组件形状确定。

S24：根据标志位信息计算纠偏数据。

S26：将纠偏数据发送给纠偏设备，以使纠偏设备根据纠偏数据在合成下一个产品时，对组成下一个产品的两个组件进行纠偏。

可选地，为了提升加工效率，在执行S24时可以先根据设定的判断条件以判断是否需要进行纠偏操作，在确定出需要进行纠偏操作的情况下计算纠偏数据，或在确定出需要进行纠偏操作的情况下将计算出的纠偏数据发送给纠偏设备。

在需要进行纠偏操作的情况下，控制设备100将纠偏数据发送给纠偏设备。纠偏设备可根据纠偏数据将纠偏数据转化为纠偏后的控制数据，例如可将纠偏数据中的纠偏角度转化为纠偏操作对应的实际角度，可将纠偏数据中的纠偏矢量转化为纠偏操作对应的实际位移值，进而根据转化后的数据对下一个产品的两个组件进行纠偏。

在一个应用场景下，对于组成待加工产品的两个组件，两个组件之间能够进行相对运动。在控制设备100将计算出的纠偏数据发送给纠偏设备后，纠偏设备可以根据接收到的纠偏数据以及预先配置的运动参数控制两个组件进行相对运动，以使组成产品的两个组件在各个标志位的标志位间距值符合产品需求。两个组件之间的相对运动可以包括平移、旋转。

纠偏设备根据接收的纠偏数据在合成下一个产品时，对组成下一个产品的两个组件进行纠偏，可使得下一个产品的两个组件上的多个标志位间距值得到修正，避免了下一个产品因未得到纠偏而造成后续出现更多的不合格产品。

其中，不合格产品是指，在贴合或压合形成的目标产品中，组成目标产品的两个组件在部分标志位出现缝隙不等现象。

一种可能的不合格现象为：目标产品的其中一条边上的标志位间距值明显大于对边位置的标志位间距值。

另一种可能的不合格现象为：目标产品的其中一条边上的多个标志位间距值明显不相等。

通过上述方法，根据获取的标志位信息确定出纠偏数据，并将计算出的纠偏数据发送给纠偏设备，以使纠偏设备能够根据计算出的纠偏数据对下一个产品进行纠偏，实现了产品加工过程中的闭环控制，能够提升后续加工产品的合格率，有利于促进产品的大规模生产。相较于在发现大量不合格产品后由工作人员进行繁琐的排查以纠偏的方式，上述方法可以降低用户的核查工作量，且能够较快地对下一个产品进行纠偏、修正，从而可以避免加工误差累积而继续出现更多不可控的不合格产品。

作为上述S22的一种实现方式，S22可以包括：S221-S223。

S221：获取目标产品的第一组件上的多个标志位的坐标。

S222：获取目标产品的第二组件上的多个标志位的坐标。

S223：根据第一组件上的多个标志位的坐标以及第二组件上的多个标志位的坐标，计算第一组件与第二组件的每个相同标志位之间的间距值，得到多个标志位间距值。

其中，组成目标产品的两个组件分别为第一组件、第二组件。第一组件、第二组件的轮廓为多边形，例如，可以是具有平行对边的多边形。第一组件、第二组件的形状可以是但不限于平行四边形、六边形、八边形。

在一个实例中，对于形状大致为长方形的两个组件，每个组件的每条边上可以有多个标志位。

为便于理解，下面将结合图3所示的目标产品的示意图对本申请实施例提供的闭环控制方法作详细介绍。

如图3所示的是一个实例中的目标产品的示意图，图3中的“C1”、“C2”、“C3”、“C4”、“C5”、“C6”、“C7”、“C8”表示第一组件上的8个标志位，“C1’”、“C2’”、“C3’”、“C4’”、“C5’”、“C6’”、“C7’”、“C8’”表示第二组件上的8个标志位。其中，“C1”与“C1’”可表示两个组件上的同一标志位。

通过获取C1-C8的坐标以及C1’-C8’的坐标，可以计算出第一组件与第二组件的每个相同标志位之间的间距值，得到8个标志位间距值，即d1-d8。“d1”表示“C1”这一标志位处的标志位间距值。

通过上述实现方式，可以得到目标产品的第一组件上的多个标志位的坐标、目标产品的第二组件上的多个标志位的坐标，以及多个标志位间距值，有利于快速计算出纠偏数据。且根据获取到的多个标志位间距有助于判断是否有必要进行纠偏操作。

需要说明的是，本申请实施例中提到的所有坐标是基于同一参考坐标系进行描述的，本领域技术人员可以根据实际需求选取参考坐标系，参考坐标系的圆心可以设在任一组件的中心位置，也可以设在组件上或组件外部，只要能够计算出两个组件之间的相对位置关系即可。

可选地，对于上述S24，可以包括子步骤：S241-S242。

S241：根据多个标志位间距值，判断组成目标产品的两个组件在每个相同标志位之间的间距是否在允许的间距范围内。

其中，对于存在多个标志位间距值的一个目标产品，多个标志位中的每个标志位可对应一个允许的间距范围。在判断出多个标志位间距值中是否每个间距值都在允许的间距范围内后，可以确定出目标产品是否有必要进行纠偏。

S242：若两个组件存在任一处相同标志位之间的间距不在允许的间距范围内，则根据多个标志位间距值，计算得到纠偏数据。

若该目标产品的两个组件的所有标志位对应的标志位间距值都是在允许的间距范围内的，则可以认为无需执行纠偏操作，以此能够降低计算量。

以图3所示的目标产品为例，可以分别对d1、d2、d3、d4、d5、d6、d7、d8进行判断，以确定是否每个间距值都是在对应的允许范围内。

在一个实例中，位于相对边的多个标志位所设置的可允许间距范围相同。例如，图3中的d1、d2、d5、d6对应的允许的间距范围相同，d3、d4、d7、d8对应的允许的间距范围相同，关于具体的每个标志位对应允许的间距范围可以根据实际生产需求进行设置，例如，一种允许的间距范围可以是1±0.05mm，1.5±0.02、2±0.08mm等任意范围。

通过上述S241-S242的执行过程提供了一种用于判断是否执行纠偏操作的方式，可以实现根据单个目标产品的标志位信息判断出是否进行后续的纠偏计算，并在判断出两个组件存在任一处相同标志位之间的间距不在允许的间距范围内时，确定需要执行纠偏操作，根据单个目标产品的多个标志位间距值计算得到纠偏数据。相较于默认对每个产品都进行纠偏的方式，可以降低对于纠偏数据的计算量，提升处理效率。

可选地，作为S24的另一种实现方式，目标产品可以是多个，上述S24可以包括子步骤：S243-S246。

S243：获取多个目标产品的多组标志位信息。

S244：根据多组标志位信息获取多个目标产品的标志位间距值的变化趋势信息。

S245：根据变化趋势信息判断多个目标产品的标志位间距值的变化趋势是否在有效范围内。

S246：若变化趋势不在有效范围内，则根据多组标志位信息，计算得到纠偏数据。

其中，多个目标产品中的每个目标产品可以对应获取一组标志位信息。每一组标志位信息中包含多个标志位间距值，多个标志位间距值中的每个间距值对应一个标志位。通过统计多个目标产品的多组标志位信息，可以得到多个目标产品的标志位间距值的变化趋势信息。当每个标志位对应的变化趋势信息都处于相应的有效范围内时，表示多个目标产品之间的差异是合理的。本领域技术人员可以根据实际需要对每个标志位设置对应的有效范围，以便于对多个产品的变化趋势进行分析判断。

若存在一处标志位的变化趋势被判定为不在有效范围内，则表示多个目标产品之间所发生的差异是不合理的，纠偏设备可能出现了异常，需要进行纠偏操作。在确定出需要进行纠偏操作后，可以根据多组标志位信息计算得到纠偏数据。

例如，对于5个如图3所示的目标产品，可以获取得到5组标志位信息，根据5组标志位信息可以得到5个d1、5个d2、5个d3……5个d8，根据5个d1可以得出5个目标产品关于第一标志位C1处的变化趋势信息，即，5个d1的变化趋势。若该5个d1的变化趋势被判定为在有效范围内，则认为第一标志位C1处的变化是合理的，关于其他标志位对应的标志位间距值的趋势判断可以参照对于第一标志位C1的判断过程。

通过上述S243-246提供了另一种用于判断是否执行纠偏操作的方式，先根据多个目标产品的多组标志位信息统计得到多个目标产品对应的变化趋势信息，再基于变化趋势信息判断多个目标产品的标志位间距值的变化趋势是否在有效范围内，进而确定出是否需要进行纠偏计算。在变化趋势不在有效范围内的情况下，根据多组标志位信息计算得到纠偏数据。以此能够在允许偶然因素的情况下进行纠偏控制。偶然因素的一种可能情况为：在加工设备本身正常的情况下，因误触某个组件造成单个产品不合格。

可以理解的是，本领域技术人员可以根据实际需要设置合理的目标产品数量，以判断出是否需要进行纠偏操作，例如，目标产品可以是1个、3个、5个、10个等。

下面将结合图3所示的目标产品对纠偏数据的计算过程进行介绍。

其中，纠偏数据可以包括纠偏角度以及至少一个方向上的纠偏矢量。

作为一种可能的实现方式，可以根据目标产品的同边方向上的标志位间距值之差，确定计算纠偏数据的计算内容。

例如，对于图3所示的目标产品，若同边的d1与d2之差、d3与d4之差、d5与d6之差、d7与d8之差超过了允许范围(例如为0.2、0.5毫米等任意值)，则可以先计算纠偏角度以进行角度纠偏。其中，计算出的纠偏角度若小于一个角度阈值，则认为纠偏可行性高，可以将计算出的纠偏角度发送给纠偏设备。若计算出的纠偏角度大于该角度阈值，则表示纠偏难度较高，此时可以生成一个重调指令，以通知工作人员对纠偏设备或控制设备100进行检查。

在一个实例中，若在目标产品的左边的两个标志位距离值中，d1为1mm、d2为2mm，右边的两个标志位距离值中，d6为2mm、d5为1mm，d1与d2之差超过了0.3mm这一允许范围，d5与d6之差超过了0.3mm这一允许范围，表明需要对目标产品的两个组件进行角度纠偏。

若同边的d1与d2之差、d3与d4之差、d5与d6之差、d7与d8之差未超过允许范围，则可以省略对于纠偏角度的计算过程，并计算至少一个方向上的纠偏矢量。

可选地，为了计算纠偏角度，上述S24可以包括：根据第一组件上的多个标志位的坐标、第二组件上的多个标志位的坐标，计算得到第一组件与第二组件的角度差，作为纠偏角度，角度差表示第一组件与第二组件的相对旋转角度。

其中，可以根据两个组件的同边方向上的两个标志位间距值的大小，确定旋转方向。

可以根据第一组件上的多个标志位的坐标、第二组件上的多个标志位的坐标，计算得到第一组件、第二组件上表征相同标志位的两个坐标之间的中心点坐标，以此可得到位于同边方向的标志位对应的两个中心点坐标。然后基于计算出的同边方向的标志位对应的两个中心点坐标，以及该同边方向的两个标志位间距值之差，可计算得到该条边上的标志位对应的一个偏差角度。

以图3所示的目标产品为例，根据两个组件的同边方向上的两个标志位对应的标志位间距值d1、d2，比较d1、d2的大小，以确定出旋转方向。当d1>d2时，表示应该将第二组件逆时针旋转，或将第一组件顺时针旋转。当d1<d2时，表示应该将第二组件顺时针旋转，或将第一组件顺时针旋转。

例如，根据第一标志位C1及C1’的坐标，可以计算出C1、C1’这两个坐标之间的第一中心点坐标(x1，y1)，根据第二标志位C2及C2’的坐标，可以计算出C2、C2’这两个坐标之间的第二中心点坐标(x2，y2)。关于第一中心点坐标(x1，y1)、第二中心点坐标(x2，y2)的细节请参见图4，图4示出了一个目标产品的同边方向上的两个标志位与相应的中心点坐标之间的关系。

当同边的两个标志位间距值之差的绝对值|d1-d2|大于允许范围时，计算得到该条边对应的第一偏差角度R12，第一偏差角度R12的计算表达式如下：

其中，tanh()表示双曲正切函数。

基于第一偏差角度R12的计算方式，可以计算出目标产品上的其他边方向对应的偏差角度，例如，根据d3、d4的大小，以及C3、C3’、C4、C4’的坐标，可以计算出另一同边方向对应的第三中心点坐标(x3，y3)、第四中心点坐标(x4，y4)，进而计算出该条边对应的第二偏差角度R34。第二偏差角度R34的计算表达式如下：

其中，当d3>d4时，表示需要将第二组件逆时针旋转，或将第一组件顺时针旋转。当d3<d4时，表示需要将第二组件顺时针旋转，或将第一组件逆时针旋转。

同理，可以计算出d5、d6对应的第三偏差角度R56，以及d7、d8对应的第四偏差角度R78。

在根据目标组件的所有边上的标志位信息计算得到每条边对应的偏差角度后，对所有偏差角度求平均，得到的角度平均值，即为所求的纠偏角度。

对于图3所示的目标产品，计算得到四个偏差角度R12、R34、R56、R78后，对该四个偏差角度求平均得到一个角度平均值，作为纠偏角度△r。

可选地，为了计算至少一个方向上的纠偏矢量，上述S24可以包括：根据第一组件上的多个标志位的坐标、第二组件上的多个标志位的坐标，计算得到第一组件与第二组件在至少一个方向上的矢量，作为纠偏矢量，至少一个方向上的矢量表示在至少一个方向上的相对位移。

其中，可以分别针对参考坐标系的两个坐标轴延伸方向计算两个方向上的两个纠偏矢量。两个纠偏矢量分别记作第一矢量、第二矢量，第一矢量表示参考坐标系的第一方向上的相对位移，第二矢量表示参考坐标系的第二方向上的相对位移。

以图3为例，第一方向可以是W方向，第二方向可以是H方向。

对于第一矢量、第二矢量中的任一矢量，可以根据目标产品的相对边上的标志位间距值计算得到。

例如，根据左方同边的两个标志位间距值d1、d2，可以计算出左方的尺寸平均值d12＝(d1+d2)/2。

相对于左方的尺寸平均值d12，根据右方同边的两个标志位间距值d5、d6，可以计算出右方的尺寸平均值d56＝(d5+d6)/2。

对相对边的两个尺寸平均值d12、d56求平均，可以得到在参考坐标系的第一方向上需要平移的矢量△w＝(d56-d12)/2，作为第一矢量。

同理，根据下方同边的两个标志位间距值d3、d4，可以计算出下方的尺寸平均值d34＝(d3+d4)/2。根据上方同边的两个标志位间距值d7、d8，可计算出上方的d78＝(d7+d8)/2。然后可以计算出在参考坐标系的第二方向上需要平移的矢量△h＝(d78-d34)/2，作为第二矢量。

在一个实例中，若目标产品的左边的两个标志位距离值d1、d2均是1mm，右边的两个标志位距离值d5、d6均是2mm，计算出d12为1mm，d56为2mm，第一矢量△w＝(d56-d12)/2＝0.5mm，则表明需要将第二组件向第一方向移动0.5mm，或将第一组件向第一方向的相反方向移动0.5mm。以使下一个产品的两个组件在左边、右边上的缝隙相等，实现d1＝d2＝d5＝d6。

需要说明的是，前述实例中的各个数据的值仅作为示例，不应理解为对本申请的限制。

在其他实施例中，通过前述闭环控制方法可以对其他形状的组件形成的目标产品进行计算，例如，可以对图5所示的目标产品进行计算，从而计算出对应的纠偏数据，在图5中的“d1’”可以相当于图3中的“d6”,“d2’”可以相当于图3中的“d5”。本领域技术人员可以理解，通过本申请实施例提供的方案原理，可以对具有对边的两个组件进行计算、纠偏，以使产品的对边上的缝隙满足生产需求，高效提升产品合格率。

请参阅图6，图6为本申请实施例提供的另一种闭环控制方法的流程图，该闭环控制方法应用于包含前述控制设备100的加工系统(图未示)，该加工系统中可包括控制设备100，以及与该控制设备100连接的纠偏设备。

图6所示的闭环控制方法与图2所示的闭环控制方法类似，区别在于，加入了纠偏设备的执行步骤。如图6所示，该闭环控制方法包括步骤S31-S36。

S31：获取目标产品的标志位信息。

S32：根据标志位信息判断是否进行纠偏计算。

关于S32的判断过程可以参照前述闭环控制方法中关于S24的相关描述。其中，判断结果为是时，表示需要进行纠偏操作或表示需要进行纠偏计算，执行S33；判断结果为否时，表示无需进行纠偏操作或表示无需进行纠偏计算，跳转执行S36。

S33：根据标志位信息计算纠偏数据。

S34：将纠偏数据发送给纠偏设备。

S35：纠偏设备接收纠偏数据，并根据纠偏数据对下一个产品的两个组件进行纠偏。

关于S35，纠偏设备可以根据接收到的纠偏数据以及原始加工参数计算出适用于下一个产品的新的加工参数。

S36：形成下一个产品。

关于S36，可以是纠偏设备上的贴合结构对下一个产品上的两个组件进行贴合，或纠偏设备上的压合结构对下一个产品上的两个组件进行压合，以合成下一个产品。下一个产品可以作为新的目标产品。

其中，S31-S34由控制设备100执行，S35-S36可以由纠偏设备执行。

在上述闭环控制方法中，控制设备100在获取到目标产品的标志位信息后，根据标志位信息判断是否进行纠偏计算，并在判断结果为是时，计算得到纠偏数据，然后将纠偏数据反馈给纠偏设备。纠偏设备执行根据纠偏数据以对下一个产品的两个组件进行纠偏，通过其他加工设备和/或纠偏设备形成下一个产品，形成的下一个产品可以作为新的目标产品。以此方法实现了产品加工过程中的完整闭环控制，可以高效提升产品合格率，降低了人工核查工作量，提升了处理效率。

关于本申请实施例提供的闭环控制方法中的其他细节，可以参考前述闭环控制方法中的相关描述，在此不再赘述。

请参阅图7，图7为本申请实施例提供的一种闭环控制装置400的功能模块框图。该闭环控制装置400的各个功能模块可以存储在控制设备100的存储器102中。

如图7所示，该闭环控制装置400可包括：获取模块401、计算模块402、反馈模块403。

获取模块401，用于获取目标产品的标志位信息，标志位信息包括组成目标产品的两个组件上的多个标志位间距值，标志位间距值用于表征两个组件上的同一标志位之间的距离。

计算模块402，用于根据标志位信息计算纠偏数据。

反馈模块403，用于将纠偏数据发送给纠偏设备，以使纠偏设备根据纠偏数据在合成下一个产品时，对组成下一个产品的两个组件进行纠偏。

通过上述装置可以执行前述的闭环控制方法，能够提升产品合格率，降低用户的工作量。

可选地，获取模块401还用于获取多个所述目标产品的多组标志位信息。计算模块402还用于根据所述多组标志位信息获取多个所述目标产品的标志位间距值的变化趋势信息，根据所述变化趋势信息判断多个所述目标产品的标志位间距值的变化趋势是否在有效范围内；若所述变化趋势不在有效范围内，则根据所述多组标志位信息，计算得到纠偏数据。

可选地，获取模块401还可用于获取目标产品的第一组件上的多个标志位的坐标；获取目标产品的第二组件上的多个标志位的坐标；计算模块402可用于根据所述第一组件上的多个标志位的坐标以及所述第二组件上的多个标志位的坐标，计算所述第一组件与所述第二组件的每个相同标志位之间的间距值，得到所述多个标志位间距值。

可选地，纠偏数据包括纠偏角度，计算模块402还可用于：根据所述第一组件上的多个标志位的坐标、所述第二组件上的多个标志位的坐标，计算得到所述第一组件与所述第二组件的角度差，作为所述纠偏角度，所述角度差表示所述第一组件与所述第二组件的相对旋转角度。

可选地，纠偏数据包括至少一个方向上的纠偏矢量，计算模块402还可用于：根据所述第一组件上的多个标志位的坐标、所述第二组件上的多个标志位的坐标，计算得到所述第一组件与所述第二组件在至少一个方向上的矢量，作为所述纠偏矢量，所述至少一个方向上的矢量表示在至少一个方向上的相对位移。

可选地，所述计算模块402，还用于根据所述多个标志位间距值，判断组成所述目标产品的两个组件在每个相同标志位之间的间距是否在允许的间距范围内；若所述两个组件存在任一处相同标志位之间的间距不在允许的间距范围内，则根据所述多个标志位间距值，计算得到纠偏数据。

关于本申请实施例提供的闭环控制装置400的其他细节，请参考前述关于闭环控制方法中的相关描述，在此不再赘述。

除了上述实施例以外，本申请实施例还提供一种可读存储介质，可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器101运行时执行前述闭环控制方法中的步骤。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口103，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

需要说明的是，功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器102、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

本申请的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示必须的方位或位置关系，因此不能解释为本申请的限制。

在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种闭环控制方法，其特征在于，所述方法包括：

获取目标产品的标志位信息，所述标志位信息包括组成所述目标产品的两个组件上的多个标志位间距值，所述标志位间距值用于表征在同一参考坐标系中，所述两个组件上的同一标志位之间的坐标距离；

根据所述标志位信息计算纠偏数据；

将所述纠偏数据发送给纠偏设备，以使所述纠偏设备根据所述纠偏数据在合成下一个产品时，对组成所述下一个产品的两个组件进行纠偏；

若所述目标产品为多个，则所述根据所述标志位信息计算纠偏数据，包括：

获取多个所述目标产品中每个目标产品对应的一组标志位信息，以获取多组标志位信息；

根据所述多组标志位信息获取多个所述目标产品的标志位间距值的变化趋势信息；

根据所述变化趋势信息判断多个所述目标产品的标志位间距值的变化趋势是否在有效范围内；

若所述变化趋势不在有效范围内，则根据所述多组标志位信息，计算得到纠偏数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标产品的标志位信息，包括：

获取目标产品的第一组件上的多个标志位的坐标；

获取目标产品的第二组件上的多个标志位的坐标；

根据所述第一组件上的多个标志位的坐标以及所述第二组件上的多个标志位的坐标，计算所述第一组件与所述第二组件的每个相同标志位之间的间距值，得到所述多个标志位间距值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述纠偏数据包括纠偏角度，所述根据所述标志位信息计算纠偏数据，包括：

根据所述第一组件上的多个标志位的坐标、所述第二组件上的多个标志位的坐标，计算得到所述第一组件与所述第二组件的角度差，作为所述纠偏角度，所述角度差表示所述第一组件与所述第二组件的相对旋转角度。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述纠偏数据包括至少一个方向上的纠偏矢量，所述根据所述标志位信息计算纠偏数据，包括：

根据所述第一组件上的多个标志位的坐标、所述第二组件上的多个标志位的坐标，计算得到所述第一组件与所述第二组件在至少一个方向上的矢量，作为所述纠偏矢量，所述至少一个方向上的矢量表示在至少一个方向上的相对位移。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述标志位信息计算纠偏数据，包括：

根据所述多个标志位间距值，判断组成所述目标产品的两个组件在每个相同标志位之间的间距是否在允许的间距范围内；

若所述两个组件存在任一处相同标志位之间的间距不在允许的间距范围内，则根据所述多个标志位间距值，计算得到纠偏数据。

6.一种闭环控制装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取目标产品的标志位信息，所述标志位信息包括组成所述目标产品的两个组件上的多个标志位间距值，所述标志位间距值用于表征在同一参考坐标系中，所述两个组件上的同一标志位之间的坐标距离；

计算模块，用于根据所述标志位信息计算纠偏数据；

反馈模块，用于将所述纠偏数据发送给纠偏设备，以使所述纠偏设备根据所述纠偏数据在合成下一个产品时，对组成所述下一个产品的两个组件进行纠偏；

若所述目标产品为多个；

则所述获取模块，还用于获取多个所述目标产品中每个目标产品对应的一组标志位信息，以获取多组标志位信息；

所述计算模块还用于：

根据所述多组标志位信息获取多个所述目标产品的标志位间距值的变化趋势信息；

根据所述变化趋势信息判断多个所述目标产品的标志位间距值的变化趋势是否在有效范围内；

若所述变化趋势不在有效范围内，则根据所述多组标志位信息，计算得到纠偏数据。

7.一种控制设备，其特征在于，所述控制设备与一纠偏设备通信连接，

所述控制设备包括：处理器、存储器，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当所述控制设备运行时，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行权利要求1-5任一项所述的方法中的步骤。

8.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行权利要求1-5任一项所述方法的步骤。

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