CN110502383A - 终端设备的测试方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提出一种终端设备的测试方法及装置，其中终端设备的测试方法包括：搭建制造执行系统，并在所述制造执行系统中建立多个测试站点，为每个测试站点设置对应的测试设备和测试项，控制终端设备按照预设的站点顺序在每个所述测试站点进行测试，若测试通过，则控制所述终端设备进入下一个所述测试站点进行测试。本发明提出的终端设备的测试方法及装置，可以避免测试性能不达标的整机流出，或者漏测试工艺生产，以保证产品质量以及测试流程的完整性。
Description
技术领域
本发明涉及终端设备技术领域，尤其涉及一种终端设备的测试方法及装置。
背景技术
目前，在终端设备的生产过程中，为保证生产的产品的质量，需要对产品质量进行检测，对不合格的产品进行淘汰。
相关技术中，大部分的测试流程的实现需要人工的参与并依靠人为管控，因此容易导致测试性能不达标的整机流出，或者直接漏测试工艺生产，不能保证产品质量以及测试流程的完整性。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此，本发明的第一个目的在于提供一种终端设备的测试方法，以保证产品质量以及测试流程的完整性。
本发明的第二个目的在于提出一种终端设备的测试装置。
本发明的第三个目的在于提出一种电子设备。
本发明的第四个目的在于提出一种计算机可读存储介质。
为达上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种终端设备的测试方法，包括：搭建制造执行系统并在所述制造执行系统中建立多个测试站点；为每个测试站点设置对应的测试设备和测试项；控制终端设备按照预设的站点顺序在每个所述测试站点进行测试；若测试通过，则控制所述终端设备进入下一个所述测试站点进行测试。
本发明实施例提出的终端设备的测试方法，通过搭建制造执行系统，在制造执行系统中建立多个测试站点，之后为每个测试站点设置对应的测试设备和对应的测试项，控制终端设备按照预设的站点顺序在每个测试站点进行测试，若测试通过，则控制终端设备进入下一个测试站点进行测试。本发明实施例提出的终端设备的测试方法，可以避免测试性能不达标的整机流出，或者漏测试工艺生产，以保证产品质量以及测试流程的完整性。
根据本发明的一个实施例，本发明实施例的终端设备的测试方法还包括：若测试未通过，则控制所述终端设备停止进入下一个所述测试站点进行测试，并将所述终端设备作为坏机输出。
根据本发明的一个实施例，所述控制终端设备按照预设的站点顺序在每个所述测试站点进行测试之前，还包括：按照所述站点顺序将每个所述测试站点进行拼接，形成完整的测试流程。
根据本发明的一个实施例，每个所述测试站点对应的测试项不同。
根据本发明的一个实施例，每个所述测试站点对应的测试项的数量为多个。
为达上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种终端设备的测试装置，包括：搭建模块，用于搭建制造执行系统，并在所述制造执行系统中建立多个测试站点；设置模块，用于为每个测试站点设置对应的测试设备和测试项；控制模块，用于控制终端设备按照预设的站点顺序在每个所述测试站点进行测试；若测试通过，则控制所述终端设备进入下一个所述测试站点进行测试。
本发明实施例提出的终端设备的测试装置，通过搭建制造执行系统，在制造执行系统中建立多个测试站点，之后为每个测试站点设置对应的测试设备和对应的测试项，控制终端设备按照预设的站点顺序在每个测试站点进行测试，若测试通过，则控制终端设备进入下一个测试站点进行测试。本发明实施例提出的终端设备的测试装置，可以避免测试性能不达标的整机流出，或者漏测试工艺生产，以保证产品质量以及测试流程的完整性。
根据本发明的一个实施例，所述控制模块还用于：若测试未通过，则控制所述终端设备停止进入下一个所述测试站点进行测试，并将所述终端设备作为坏机输出。
根据本发明的一个实施例，所述控制模块还用于：在所述控制终端设备按照预设的站点顺序在每个所述测试站点进行测试之前，按照所述站点顺序将每个所述测试站点进行拼接，形成完整的测试流程。
为达上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现如本发明第一方面实施例所述的终端设备的测试方法。
为达上述目的，本发明第四方面实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本发明第一方面实施例所述的终端设备的测试方法。
本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为本发明实施例所提出的一种终端设备的测试方法的流程示意图；
图2为本发明实施例所提出的另一种终端设备的测试方法的流程示意图；
图3为本发明实施例所提出的一种终端设备的测试装置的结构示意图；
图4为本发明实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
下面参考附图描述本发明实施例的终端设备的测试方法及装置。
图1为本发明实施例所提出的一种终端设备的测试方法的流程示意图。如图1所示，该终端设备的测试方法，具体可包括：
S101，搭建制造执行系统，并在制造执行系统中建立多个测试站点。
具体的，首先搭建制造执行系统(Manufacturing Execution System，简称MES)，并且利用制造执行系统的性质在制造执行系统中建立多个测试站点。
S102，为每个测试站点设置对应的测试设备和测试项。
具体的，为每个测试站点设置对应的进行测试需要的设备(即测试设备)和需要进行测试的项目(即测试项)，以将测试设备、测试项合理的分配至各站点，并对测试项对应的测试标准进行设置。
S103，控制终端设备按照预设的站点顺序在每个测试站点进行测试。
具体的，控制待测试的终端设备按照预设的站点顺序经过每个测试站点，测试站点对应的测试设备对待测试的终端设备进行对应测试项的测试。
S104，若测试通过，则控制终端设备进入下一个测试站点进行测试。
具体的，若待测试的终端设备满足该测试站点对应的各测试项的测试标准，则测试通过，控制终端设备进入下一个测试站点进行测试。
本发明实施例提出的终端设备的测试方法，通过搭建制造执行系统，在制造执行系统中建立多个测试站点，之后为每个测试站点设置对应的测试设备和对应的测试项，控制终端设备按照预设的站点顺序在每个测试站点进行测试，若测试通过，则控制终端设备进入下一个测试站点进行测试。本发明实施例提出的终端设备的测试方法，可以避免测试性能不达标的整机流出，或者漏测试工艺生产，以保证产品质量以及测试流程的完整性。
进一步的，在本发明实施例的另一种可能的实现方式中，该终端设备的测试方法还可包括：若测试未通过，则控制终端设备停止进入下一个测试站点进行测试，并将终端设备作为坏机输出。
具体的，若待测试的终端设备未满足该测试站点对应的各测试项的测试标准，则测试未通过，控制该终端设备不再进入下一个测试站点进行测试，而是直接作为坏机进行输出。
进一步的，在本发明实施例的另一种可能的实现方式中，在控制终端设备按照预设的站点顺序在每个测试站点进行测试之前，该终端设备的测试方法还可包括：按照站点顺序将每个测试站点进行拼接，形成完整的测试流程。
具体的，按照预设的站点顺序，对每个测试站点进行合理安排，并将各测试站点按顺序拼接，形成一整套完整的测试流程。
进一步的，在本发明实施例的另一种可能的实现方式中，每个测试站点对应的测试项可不同。
具体的，可以对每个测试站点需要测试的项目进行不同的设置，使得各测试站点对应的测试项不同。
进一步的，在本发明实施例的另一种可能的实现方式中，每个测试站点对应的测试项的数量可为多个。
具体的，可以在每个测试站点设置一个或多个测试项。
为清楚说明本发明实施例的终端设备的测试方法的具体过程，下面参照附图2对本发明实施例的终端设备的测试方法进行详细描述。如图2所示，该终端设备的测试方法，具体可包括：
S201，搭建MES系统。
S202，建立测试站点A、B。
S203，为测试站点A、B配置对应的测试设备和测试项。
S204，进入测试站点A，对终端设备进行测试。
若测试通过，则执行步骤S205。若测试未通过，则执行步骤S206。
S205，进入测试站点B，对终端设备进行测试。
若测试通过，则执行步骤S207。若测试未通过，则执行步骤S206。
S206，坏机打出。
S207，完成测试。
图3为本发明实施例所提出的一种终端设备的测试装置的结构示意图。如图3所示，该终端设备的测试装置具体可包括：搭建模块31、设置模块32和控制模块33。
搭建模块31，用于搭建制造执行系统，并在制造执行系统中建立多个测试站点。
设置模块32，用于为每个测试站点设置对应的测试设备和测试项。
控制模块33，用于控制终端设备按照预设的站点顺序在每个测试站点进行测试；若测试通过，则控制终端设备进入下一个测试站点进行测试。
进一步的，在本发明实施例的另一种可能的实现方式中，控制模块33还可用于：若测试未通过，则控制终端设备停止进入下一个测试站点进行测试，并将终端设备作为坏机输出。
进一步的，在本发明实施例的另一种可能的实现方式中，控制模块33还可用于：在控制终端设备按照预设的站点顺序在每个测试站点进行测试之前，按照站点顺序将每个测试站点进行拼接，形成完整的测试流程。
需要说明的是，前述对终端设备的测试方法实施例的解释说明也适用于该实施例的终端设备的测试装置，此处不再赘述。
本发明实施例提出的终端设备的测试装置，通过搭建制造执行系统，在制造执行系统中建立多个测试站点，之后为每个测试站点设置对应的测试设备和对应的测试项，控制终端设备按照预设的站点顺序在每个测试站点进行测试，若测试通过，则控制终端设备进入下一个测试站点进行测试。本发明实施例提出的终端设备的测试装置，可以避免测试性能不达标的整机流出，或者漏测试工艺生产，以保证产品质量以及测试流程的完整性。
本发明实施例还提出了一种电子设备，如图4所示，该电子设备40包括：存储器41，和处理器42，及存储在存储器41上并可在处理器42上运行的计算机程序，处理器42执行程序时，实现如上述实施例所示的终端设备的测试方法。
本发明实施例还提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述实施例所示的终端设备的测试方法。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (10)
1.一种终端设备的测试方法，其特征在于，包括：
搭建制造执行系统，并在所述制造执行系统中建立多个测试站点；
为每个测试站点设置对应的测试设备和测试项；
控制终端设备按照预设的站点顺序在每个所述测试站点进行测试；
若测试通过，则控制所述终端设备进入下一个所述测试站点进行测试。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括：
若测试未通过，则控制所述终端设备停止进入下一个所述测试站点进行测试，并将所述终端设备作为坏机输出。
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述控制终端设备按照预设的站点顺序在每个所述测试站点进行测试之前，还包括：
按照所述站点顺序将每个所述测试站点进行拼接，形成完整的测试流程。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，每个所述测试站点对应的测试项不同。
5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，每个所述测试站点对应的测试项的数量为多个。
6.一种终端设备的测试装置，其特征在于，包括：
搭建模块，用于搭建制造执行系统，并在所述制造执行系统中建立多个测试站点；
设置模块，用于为每个测试站点设置对应的测试设备和测试项；
控制模块，用于控制终端设备按照预设的站点顺序在每个所述测试站点进行测试；若测试通过，则控制所述终端设备进入下一个所述测试站点进行测试。
7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述控制模块还用于：
若测试未通过，则控制所述终端设备停止进入下一个所述测试站点进行测试，并将所述终端设备作为坏机输出。
8.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述控制模块还用于：
在所述控制终端设备按照预设的站点顺序在每个所述测试站点进行测试之前，按照所述站点顺序将每个所述测试站点进行拼接，形成完整的测试流程。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现如权利要求1-5中任一项所述的终端设备的测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一项所述的终端设备的测试方法。
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