CN110493431B - 检测系统及检测方法 - Google Patents

Abstract

检测系统包含检测装置、电子装置以及监控装置。检测装置包含反射镜。电子装置容置于检测装置内，包含处理器、屏幕以及感测器。处理器用以进行一或多个检测程序。屏幕电性耦接于处理器，并面对反射镜设置，使得反射镜于处理器进行一或多个检测程序时反射屏幕输出的光线。感测器电性耦接于处理器，并面对反射镜设置，用以检测反射镜所反射的光线以产生检测亮度值。监控装置通讯连接于电子装置，用以接收检测亮度值，并判断检测亮度值是否符合相应的预定亮度值。

Description

检测系统及检测方法

技术领域

本发明是有关于一种检测系统及检测方法，特别是一种关于电子装置的检测系统及检测方法。

背景技术

在生产产品的过程中，往往需要进行产品检测。传统上，产品检测需要等到全部检测结束，再由作业人员进行检查并上传结果。而检测结果只区分为通过和未通过，无法即时发现问题。

因此，如何缩短检测及分析问题的时间且提高检测结果的精准度是本领域的重要课题。

发明内容

本公开内容的一实施例是关于一种检测系统，包含检测装置、电子装置以及监控装置。检测装置包含反射镜。电子装置容置于检测装置内，包含处理器、屏幕以及感测器。处理器用以进行一或多个检测程序。屏幕电性耦接于处理器，并面对反射镜设置，使得反射镜于处理器进行一或多个检测程序时反射屏幕输出的光线。感测器电性耦接于处理器，并面对反射镜设置，用以检测反射镜所反射的光线以产生检测亮度值。监控装置通讯连接于电子装置，用以接收检测亮度值，并判断检测亮度值是否符合相应的预定亮度值。

本公开内容的一实施例是关于另一种检测系统，包含检测装置以及监控装置。检测装置包含反射镜。反射镜用以于检测装置内置的电子装置进行一或多个检测程序时，反射电子装置的屏幕所输出的光线至电子装置的感测器，使得感测器检测反射镜所反射的光线以产生检测亮度值。监控装置通讯连接于电子装置，用以接收检测亮度值，并判断检测亮度值是否符合相应的预定亮度值。

本公开内容的另一实施例是关于一种检测方法，由容置于检测装置内的电子装置进行一或多个检测程序；由检测装置的反射镜反射电子装置的屏幕所输出的光线至电子装置的感测器；由电子装置的感测器检测反射镜所反射的光线以产生检测亮度值；由监控装置自电子装置接收检测亮度值，并判断检测亮度值是否符合相应的预定亮度值。

综上所述，本公开内容的检测系统及检测方法通过即时性的监控数据传输，可在最短时间内判定待测物是否出现异常。此外，检测装置仅包含反射镜，不仅成本低，且利用物理特性反射光线的检测装置可避免检测装置所包含的电子元件失灵而造成误判的情形。

附图说明

图1为根据本公开内容的部分实施例所绘示的检测系统的示意图；

图2为根据本公开内容的部分实施例所绘示的检测方法的流程图；

图3为根据本公开内容的其他部分实施例所绘示的检测系统的示意图；

图4为根据本公开内容的其他部分实施例所绘示的检测方法的细部流程图；

图5为根据本公开内容的其他部分实施例所绘示的检测系统的示意图；

图6为根据本公开内容的其他部分实施例所绘示的检测系统的示意图；

图7为根据本公开内容的部分实施例所绘示的监控数据的分布图；以及

图8为根据本公开内容的其他部分实施例所绘示的监控数据的分布图。

具体实施方式

图1以下将以图式及详细叙述清楚说明本公开内容的精神，任何所属技术领域中具有通常知识者在了解本公开内容的实施例后，当可由本公开内容所教示的技术，加以改变及修饰，其并不脱离本公开内容的精神与范围。

关于本文中所使用的“包含”、“包括”、“具有”、“含有”等等，均为开放性的用语，即意指包含但不限于。

关于本文中所使用的“和/或”，是包括所述事物的任一或全部组合。

关于本文中所使用的用词(terms)，除有特别注明外，通常具有每个用词使用在此领域中、在此公开的内容中与特殊内容中的平常意义。某些用以描述本公开的用词将于下或在此说明书的别处讨论，以提供本领域技术人员在有关本公开的描述上额外的引导。

请参考图1。图1为根据本公开内容的部分实施例所绘示的检测系统100的示意图。如图1所示，检测系统100包含检测装置120和监控装置140。检测装置120包含检测箱124及反射镜122。在部分实施例中，检测系统100更包含电子装置160。电子装置160为任何须检测的待测物，例如：手机、平板等。电子装置160包含处理器(未标示于图式)、屏幕162、感测器164和通讯元件(未标示于图式)。

电子装置160容置于检测装置120之内。反射镜122设置于检测箱124内侧且面对电子装置160的屏幕162和感测器164。电子装置160的处理器电性耦接屏幕162、感测器164和通讯元件。另外，电子装置160透过通讯元件以通讯连接监控装置140。

具体而言，在部分实施例中，检测箱124可为足够容置电子装置160的任何容器。反射镜122可由能够反射光线的任何镜片实现，例如：平面镜、凹面镜。举例来说，电子装置160的长宽高分别约为144、71、8毫米，检测箱124可为一个长方体纸盒，其长宽高分别约为150、80、30毫米。长方体纸盒顶面的内侧设置长宽分别约为150和80毫米的平面镜，其镜面朝下。当电子装置160进行检测时，电子装置160以屏幕162朝上面对平面镜的方式容置于检测装置120的检测箱124内。

值得注意的是，上述检测箱124、反射镜122、电子装置160的尺寸或材质仅为方便说明的示例，并非用以限制本案。本领域技术人员可根据实际需求调整。

操作上，电子装置160的处理器用以进行一或多个检测程序。当处理器进行一或多个检测程序时，电子装置160的屏幕162用以显示检测程序执行的画面，即，输出相应检测程序的光线。电子装置160的感测器164用以检测反射镜122所反射的光线以产生检测亮度值。换言之，于检测装置120内置的电子装置160进行一或多个检测程序时，检测装置120的反射镜122用以反射电子装置160的屏幕162所输出的光线至电子装置160的感测器164，使得感测器164检测反射镜122所反射的光线以产生检测亮度值。接着，监控装置140用以接收检测亮度值，并判断检测亮度值是否符合相应的预定亮度值。

为便于说明起见，检测系统100当中各个元件的具体操作将于以下段落中搭配图式进行说明。请一并参考图2和图3。图2为根据本公开内容的部分实施例所绘示的检测方法200的流程图。图3为根据本公开内容的其他部分实施例所绘示的检测系统100的示意图。检测方法200包含操作S210、S220、S230、S240和S250。

首先，在操作S210中，由容置于检测装置120内的电子装置160进行一或多个检测程序。具体而言，检测程序包含用以检测电子装置160的中央处理器(central processingunit，CPU)、图像处理器(graphics processing unit，GPU)、存储器或其任意组合的程序。举例来说，检测程序可检测中央处理器与存储器的数学运算效能，像是各种整数运算、浮点运算、圆周率计算、三角函数、自然对数等，或者大型档案压缩及解压缩、大型影音档案格式转换。在部分实施例中，检测程序亦可检测图像处理器的图像运算效能，例如输出立体模拟图、图像滤镜处理。在其他部分实施例中，检测程序可为连线至网际网路并播放影音媒体、下载应用程序安装档案等。换言之，检测程序包含检测电子装置160不同元件效能的程序，通过接近满载的系统使用率以检测电子装置160是否能正常运作。值得注意的是，上述仅为例示，本公开内容并不以此为限。

接着，在操作S220中，由检测装置120的反射镜122反射电子装置160的屏幕162所输出的光线至电子装置160的感测器164。具体而言，如图3所示，当电子装置160的处理器进行一或多个检测程序时，电子装置160透过屏幕162显示相应的检测画面。检测画面的光线L1a输出至检测装置120的反射镜122。检测装置120的反射镜122将光线L1a反射成光线L1b至电子装置160的感测器164。举例来说，检测画面可为显示圆周率各位数的文字档。又例如，检测画面可为播放网路影音平台的串流媒体。

接着，在操作S230中，由电子装置160的感测器164检测反射镜122所反射的光线以产生检测亮度值。在部分实施例中，感测器164可由任何能够检测光线亮度的感测元件实现，例如主动像素感测器(active pixel sensor)。具体而言，当电子装置160进行一或多个检测程序时，感测器164在预定的频率下检测光线L1b的亮度作为检测亮度值。

接着，在操作S240中，由电子装置160的通讯元件传送检测亮度值S1至监控装置140。具体而言，如图3所示，电子装置160的处理器控制通讯元件将检测亮度值S1传输至监控装置140。举例来说，在部分实施例中，电子装置160的处理器可透过蓝牙将检测亮度值S1无线传输至监控装置140。

最后，在操作S250中，由监控装置140自电子装置160接收检测亮度值S1，并判断检测亮度值S1是否符合相应的预定亮度值。具体而言，请参考图4。图4为根据本公开内容的其他部分实施例所绘示的检测方法200中操作S250的细部流程图。如图4所示，操作S250包含操作S251、S252、S253、S254以及S255。

在操作S251中，当监控装置140未接收到检测亮度值时，监控装置140判断电子装置160发生异常，并进行操作S255。在操作S255中，监控装置140发出相应的通知信号A1。

具体而言，如图5所示，当电子装置160发生异常(例如，宕机)时，电子装置160的处理器未控制通讯元件传输检测亮度值，使得监控装置140未能接收到检测亮度值。据此，监控装置140通过未接收到检测亮度值以判断电子装置160发生异常，并发送通知信号A1。在部分实施例中，监控装置140可包含警示喇叭和/或警示灯。通知信号A1可包含给予检测人员的电子邮件或信息，发出警示音或闪光等等。

继续参考图4，当监控装置140有接收到检测亮度值，进行操作S252。在操作S252中，当监控装置140接收到的检测亮度值未符合相应的预定亮度值时，进行操作S255，由监控装置140发出相应的通知信号A2。

具体而言，如图6所示，当电子装置160未如预期进行检测程序，且未显示正常检测画面(例如：显示黑屏)时，电子装置160的屏幕162所发出的光线L2a将与正常情况下的光线L1a不同，而检测装置120的反射镜122反射出的光线L2b也将与正常情况下的反射光线L1b不同。因此，电子装置160的处理器透过通讯元件传送的检测亮度值S2将不符合相应的预定亮度值，进而使得监控装置140发出相应的通知信号A2。

在部分实施例中，通知信号A2包含给予检测人员的电子邮件或信息，发出警示音或警示灯等等。在其他部分实施例中，通知信号A2不同于通知信号A1，例如，通知信号A1可为一声警示音，通知信号A2可为两声警示音。又例如，通知信号A1和A2的电子邮件信息可分别包含不同内容，像是无信号和数值异常。

继续参考图4，当监控装置140接收到的检测亮度值符合相应的预定亮度值，进行操作S253。在操作S253中，由电子装置160输出感测器164产生检测亮度值的时间标记至监控装置140。由监控装置140判断时间标记和检测亮度值是否符合相应的预定时间标记和预定亮度值。当监控装置140判断时间标记和检测亮度值未符合相应的预定时间标记和预定亮度值时，进行操作S255，由监控装置140发出相应的通知。当监控装置140判断时间标记和检测亮度值符合相应的预定时间标记和预定亮度值时，进行操作S254以继续进行检测。

具体而言，当电子装置160的感测器164检测反射镜122所反射的光线以产生检测亮度值时，电子装置160的处理器透过感测器164记录产生检测亮度值的时间作为时间标记。并且，电子装置160的处理器透过通讯元件将检测亮度值和相应的时间标记传送至监控装置140。

值得注意的是，虽然上述方法示出和描述为一系列的操作或事件，但是应当理解，所示出的这些操作或事件的顺序不应解释为限制意义。例如，操作S252、S253可以以不同顺序发生和/或与除了本文所示和/或所描述的步骤或事件以外的其他步骤或事件同时发生。又例如，在操作S255中发出通知的同时，也可继续进行检测。另外，若实施本文所描述的一个或多个实施例或实施例时，并非所有于此示出的步骤皆为必需。此外，本文中的一个或多个步骤亦可能在一个或多个分离的步骤和/或阶段中执行。

请参考图7。图7为根据本公开内容的部分实施例所绘示的监控数据的分布图。如图7所示，监控装置140根据不同检测程序对于检测亮度值和相应的时间标记建立分布图，并根据机器学习(machine learning)取得每个检测程序的决策边界(decisionboundary)。具体而言，先利用不同待测电子装置160进行同一个检测程序并取得检测亮度值，再由监控装置140接收检测亮度值和相应的时间标记以建立监测数据(如图中P0所示)的分布图，并利用平均、中位数或算数平均值等等的公式根据所接收的检测亮度值计算出决策边界。

据此，监控装置140取得每一检测程序的决策边界后，即可即时性比对每个电子装置160回传的监控数据是否符合当下进行的检测程序预设应有的亮度值及时间标记。

举例来说，在正式进行检测之前，预先选取一或多个待测的电子装置或其他电子装置样品作为范本。将范本放入检测装置120中进行检测以取得检测亮度值及时间标记。由监控装置140将取得的检测亮度值及时间标记根据不同检测程序建立监控数据分布图，并利用监控式学习(supervised learning)建立每个检测程序的训练资料组(training set)以取得每个检测程序的决策边界。监控装置140根据决策边界建立预定亮度值和预定时间标记。接着，进行正式检测时，监控装置140利用已知设定的检测程序顺序、预定亮度值和预定时间标记与监测数据进行比对，便可即时性判断受检测的电子装置160是否出现异常。

请参阅图8，图8为根据本公开内容的其他部分实施例所绘示的监控数据的分布图。如图8所示，监测数据P1落在决策边界内，故被判断符合时间标记和预定亮度值，而位于决策边界外的监测数据P2是被判断未符合时间标记和预定亮度值。在部分实施例中，决策边界的宽度约为检测程序进行的时间长度，而决策边界的高度约为检测程序进行的画面亮度平均值正负亮度标准差。

换言之，举例来说，当检测程序已开始但亮度值仍趋近于零者，如图8中的监测数据D1，可推测电子装置160的屏幕162仍为黑屏状态，将被判断为未符合时间标记和预定亮度值。又例如，当在检测程序进行中出现亮度值极高，如图8中的监测数据D2者，可推测电子装置160的屏幕162出现白屏状态，亦将被判断为未符合时间标记和预定亮度值。另外，当亮度值正常但时间超过检测程序正常运作的范围者，如图8中的监测数据D3，可推测电子装置160运作速度过慢，将被判断为未符合时间标记和预定亮度值。如此一来，根据接收到的检测亮度值和时间标记，监控装置140可依据决策边界判断监测数据是否出现异常，且根据监测数据的分布可即时性得知电子装置异常的状况。

综上所述，相对于传统产品检测只区分为通过和未通过且无法即时发现问题，本案的检测系统100及检测方法200通过即时性的监控数据传输，可在待测物出现异常时的最短时间内发出通知。并由监控装置140可分辨检测程序是否在合理的时间内完成，且在没有完成时可分辨出是在哪个检测程序出现异常，得以缩短分析问题的时间。此外，检测装置120仅包含反射镜122，不仅成本低，且利用物理特性反射光线的检测装置可避免检测装置所包含的电子元件失灵而造成误判的情形。

虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的改动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

[符号说明]

100：检测系统

120：检测装置

122：反射镜

124：检测箱

140：监控装置

160：电子装置

162：屏幕

164：感测器

200：检测方法

S210～S250、S251～S255：步骤

L1a、L1b、L2a、L2b：光线

S1、S2：检测亮度值

A1、A2：通知信号

P0、P1、P2、D1、D2、D3：监测数据

Claims (12)

1.一种检测系统，包含：

一检测装置，包含一反射镜；

一电子装置，容置于该检测装置内，该电子装置包含：

一处理器，用以进行一或多个检测程序；

一屏幕，电性耦接于该处理器，该屏幕面对该反射镜设置，使得该反射镜于该处理器进行该一或多个检测程序时反射该屏幕输出的光线；以及

一感测器，电性耦接于该处理器，该感测器面对该反射镜设置，用以检测该反射镜所反射的光线以产生一检测亮度值，该电子装置更用以输出该感测器产生该检测亮度值的一时间标记；以及

一监控装置，通讯连接于该电子装置，用以接收该检测亮度值和该时间标记，并判断该检测亮度值和该时间标记是否符合相应的一预定亮度值和一预定时间标记。

2.如权利要求1所述的检测系统，其中当该监控装置判断该检测亮度值未符合相应的该预定亮度值时，该监控装置用以发出相应的一第一通知信号。

3.如权利要求1所述的检测系统，其中当该监控装置未接收到该检测亮度值时，该监控装置判断该电子装置发生异常并发出相应的一第二通知信号。

4.如权利要求1所述的检测系统，其中该一或多个检测程序包含用以检测该电子装置的一中央处理器、一像处理器、一存储器或其任意组合的程序。

5.一种检测系统，包含：

一检测装置，包含一反射镜，该反射镜用以于该检测装置内置的一电子装置进行一或多个检测程序时，反射该电子装置的一屏幕所输出的光线至该电子装置的一感测器，使得该感测器检测该反射镜所反射的光线以产生一检测亮度值，该电子装置更用以输出该感测器产生该检测亮度值的一时间标记；以及

一监控装置，通讯连接于该电子装置，用以接收该检测亮度值和该时间标记，并判断该检测亮度值和该时间标记是否符合相应的一预定亮度值和一预定时间标记。

6.如权利要求5所述的检测系统，其中当该监控装置判断该检测亮度值未符合相应的该预定亮度值时，该监控装置用以发出相应的一第一通知信号。

7.如权利要求5所述的检测系统，其中当该监控装置未接收到该检测亮度值时，该监控装置判断该电子装置发生异常并发出相应的一第二通知信号。

8.如权利要求5所述的检测系统，其中该一或多个检测程序包含用以检测该电子装置的一中央处理器、一像处理器、一存储器或其任意组合的程序。

9.一种检测方法，包含：

由容置于一检测装置内的一电子装置进行一或多个检测程序；

由该检测装置的一反射镜反射该电子装置的一屏幕所输出的光线至该电子装置的一感测器；

由该电子装置的一感测器检测该反射镜所反射的光线以产生一检测亮度值；

由该电子装置输出该感测器产生该检测亮度值的一时间标记至监控装置；以及

由一监控装置自该电子装置接收该检测亮度值和该时间标记，并判断该检测亮度值和该时间标记是否符合相应的一预定亮度值和一预定时间标记。

10.如权利要求9所述的检测方法，更包含：

当该监控装置判断该检测亮度值未符合相应的该预定亮度值时，由该监控装置发出相应的一第一通知信号。

11.如权利要求9所述的检测方法，更包含：

当该监控装置未接收到该检测亮度值时，由该监控装置判断该电子装置发生异常并发出相应的一第二通知信号。

12.如权利要求9所述的检测方法，其中由该电子装置进行的该一或多个检测程序包含用以检测该电子装置的一中央处理器、一像处理器、一存储器或其任意组合的程序。

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