CN106198562B - 一种玻璃基板检测方法、装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种玻璃基板检测方法,其包括:接收玻璃基板反射的由光谱发生装置产生的光线;比较所述反射光线数量与第一预设阈值,根据比较结果,则产生警报以提示所述玻璃基板是否存在缺陷,通过判断反射光线总数,便可知悉玻璃基板的完整状态。当反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示玻璃基板存在缺陷。本发明还提供一种玻璃基板检测装置及系统。通过发明可以在检测玻璃基板的过程中,提高其检测结果的可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及显示器制造技术领域,尤其涉及一种玻璃基板检测方法、装置及系统。
背景技术
显示面板生产过程中,由于存在的工艺或者外部环境因素的影响,玻璃基板经常出现破片的情况,玻璃基板破损后不能被及时发现,玻璃破片会残留在成型设备中,从而造成成品率降低。
发明人在实施过程中,发现现有技术至少存在以下问题:测试玻璃基板时,从判断光强强度来推倒出玻璃基板的完整状态。由于光强强度受光线发生设备和外界环境因素的约束,其光强强度也会受到一定的约束,从稳定可靠角度上看,此种方法的测试缺可靠性。
发明内容
本发明的目的包括提供一种玻璃基板检测方法、装置及系统,从而解决了现有玻璃基板检测方法不可靠的技术问题。
本发明实施例提供一种玻璃基板检测方法,所述方法包括:
接收由光谱发生装置产生并经玻璃基板表面反射的光线;
判断反射光线的光强,根据比较结果判断反射光线是否为有效光线在反射光线为有效光线时,比较所述反射光线数量与第一预设阈值,根据比较结果,则产生警报以提示所述玻璃基板是否存在缺陷;如果小于所述第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷;如果等于第一预设阈值,则产生第二警报以提示所述玻璃基板是完整的;
在玻璃基板开始传递并进入检测时开始计时,当检测到某段玻璃基板有破损时停止计时;
检测玻璃基板的传递速度,根据传递速度和计时时间确定玻璃基板的破损位置。
可选地,判断反射光线的光强,根据比较结果判断反射光线是否为有效光线的步骤包括:
比较反射光线的光强与第二预设阈值,如果所述光强大于第二预设阈值,则所述光强为有效信号;如果所述光强小于第二预设阈值,则所述光强为无效信号。
可选地,所述装置包括:
光谱发生装置,用于产生光线;玻璃基板对所述光线进行反射;
光强感应装置,用于接收所述玻璃基板表面反射的光线,判断反射光线的光强是否为有效信号,比较所述反射光线数量与第一预设阈值,根据比较结果,则产生警报以提示所述玻璃基板是否存在缺陷,如果小于所述第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷;如果等于第一预设阈值,则产生第二警报以提示所述玻璃基板是完整的;所述光强感应装置还用于在玻璃基板开始传递并进入检测时开始计时,当检测到某段玻璃基板有破损时停止计时;所述光强感应装置进一步用于检测玻璃基板的传递速度,根据传递速度和计时时间确定玻璃基板的破损位置。
可选地,所述光强感应装置包括:
光传感器,用于接收所述玻璃基板表面反射的光线,输出光处理信号;
微处理器,与所述光传感器连接,并且判断反射光线的光强,如果所述光强大于第二预设阈值,则所述光强为有效信号;如果所述光强小于第二预设阈值,则所述光强为无效信号;根据所述有效信号,统计接收到的反射光线总数。
可选地,所述光谱发生装置为线光源。
可选地,所述线光源产生的光线倾斜照射在所述玻璃基板的表面上。
可选地,所述系统包括:
光谱发生装置,用于产生光线;
玻璃基板,用于对所述光线进行反射;
光强感应装置,用于接收所述玻璃基板表面反射的光线,判断反射光线的光强,若所述光强大于第二预设阈值,并且判断到反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷,所述光强感应装置还用于在玻璃基板开始传递并进入检测时开始计时,当检测到某段玻璃基板有破损时停止计时;所述光强感应装置进一步用于检测玻璃基板的传递速度,根据传递速度和计时时间确定玻璃基板的破损位置。
可选地,所述光强感应装置用于:
判断反射光线的光强;
如果所述光强大于第二预设阈值,则所述光强为有效信号;如果所述光强小于第二预设阈值,则所述光强为无效信号。
在本发明实施例中,通过接收玻璃基板反射的由光谱发生装置产生的光线,判断到反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷,从而解决了现有玻璃基板检测方法不可靠的技术问题。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种玻璃基板检测方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的玻璃基板检测方法中玻璃基板处于完整状态下的检测示意图;
图2a是本发明实施例提供的玻璃基板检测方法中玻璃基板处于破损状态下的一种可能检测示意图;
图3是本发明实施例玻璃基板检测方法中提供的判断到反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷的流程示意图;
图4是本发明实施例提供的一种玻璃基板检测装置的结构示意图;
图4a是本发明实施例提供的玻璃基板检测装置中光强感应装置的结构示意图;
图5是本发明实施例提供的一种玻璃基板检测系统的结构示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对依据本发明提出的一种玻璃基板检测方法、装置及系统的具体实施方式、方法、步骤、结构、特征及功效,详细说明如后。
有关本发明的前述及其他技术内容、特点及功效,在以下配合参考图式的较佳实施例详细说明中将可清楚的呈现。通过具体实施方式的说明,当可对本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解,然而所附图式仅是提供参考与说明之用,并非用来对本发明加以限制。
本实施例的玻璃基板可以是液晶显示器专用的玻璃基板,其中可以由直接吹气成型方法制成,或者吹玻璃法制成,或者模型成型法制成,更或者装饰法制成)。也可以是平面面板显示器专用的玻璃基板,其中可以由流动床法制成,或者溶融向下曳引法制成,或者化学气相反应法制成或者在曳引法制成。本实施例的玻璃基板可以是任意形状的,也可以在其表面刻蚀任意图案。本领域的技术人员应当认为,本实施例的玻璃基板的形状或者结构或者表现形式都不会对下述的玻璃基板的具体实施方式构成限定。
请一并参考图1和图2,图1是本发明实施例提供的一种玻璃基板检测方法的流程图,图2是本发明实施例提供的玻璃基板处于完整状态下的检测示意图。如图1所示,该方法包括:
S11、接收玻璃基板反射的由光谱发生装置产生的光线;
如图2所示,光线处理模块21接收玻璃基板22反射的由光谱发生装置23产生的光线。其中,光谱发生装置23产生的光线23A照射于玻璃基板22的表面,玻璃基板22反射该光线23A。玻璃基板处于完整状态时,一方面,光线23A在玻璃基板22的第一表面22A进行反射,反射光线23A1反射回光线处理模块21。另一方面,光线23A透过玻璃基板22的第一表面22A,而在玻璃基板22的内部发生折射,折射出的光线23A2又反射回光线处理模块21。光线处理模块21根据反射回的两条光线23A1和23A2而分析出玻璃基板的完整状态。请参考图2a,图2a是本发明实施例提供的玻璃基板处于破损状态下的一种可能检测示意图。如图2a所示,当玻璃基板处于破损状态时,光线处理模块21只能接收到光线23A1,而光线23A2由于破损口的进一步反射,使光线23A2不能反射回光线处理模块21。
在工作状态时,玻璃基板22按照正常的传递方向221进行传递。光线处理模块21和光谱发生装置23设置于玻璃基板22的同一侧。由于光谱发生装置23发射出的光线为紫外线是不能透射过玻璃基板22,因此光谱发生装置23发射出的光线不会经过玻璃基板而泄露出外界,从而影响检测结果。
在一些实施例,光线处理模块21包括光线信号转换单元和光线信号分析单元,光线信号转换单元接收反射光线,并且将光线信号转换单元转换成电信号,传输给光线信号分析单元,光线信号分析单元分析和处理该电信号。
在一些实施例中,光线处理模块21还可以包括计时单元和距离传感器,在玻璃基板开始传递并且进入检测时,计时单元开始计时,当光线信号分析单元分析到某段玻璃基板有破损,则计时单元停止计时。距离传感器检测玻璃基板的传递速度,光线信号分析单元根据传递速度和计时单元计时的时间,从而确定玻璃基板的破损位置。
S12、比较所述反射光线数量与第一预设阈值,根据比较结果,则产生警报以提示所述玻璃基板是否存在缺陷的,如果反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷。
第一预设阈值是根据作业目的和检测要求来设定,此处的第一预设阈值为2。当光线处理模块21判断到反射光线总数为1或者0时,即玻璃基板22有破损时,反射光线23A可能返回到光线处理模块21的是一条光线,或者是没有光线返回到光线处理模块21。光线处理模块21根据反射光线总数为1或者0,产生第一警报,以提示操作员该玻璃基板22存在缺陷。
在一些实施例中,光线处理模块21还包括第一警报装置,光线信号分析单元根据分析的玻璃基板22存在缺陷的结果,产生触发信号,触发警报装置。此处的第一警报装置可以是蜂鸣器或者LED灯。
在一些实施例中,当光线处理模块21判断到反射光线总数等于第一预设阈值时,此处的第一预设阈值为2,即光线处理模块21判断到反射光线总数为2,则产生第二警报以提示所述玻璃基板是完整的。
在一些实施例中,光线处理模块21还包括第二警报装置,光线信号分析单元根据分析的玻璃基板22存在缺陷的结果,产生触发信号,触发警报装置。此处的第二警报装置可以是蜂鸣器或者LED灯。其中,第二警报装置产生的警报和第一警报装置产生的警报是区别化的。
在本发明实施例中,通过判断反射光线总数,便可知悉玻璃基板的完整状态。当反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示玻璃基板存在缺陷,因此,本实施例提供的方法在检测玻璃基板的过程中,其检测结果具有高可靠性。
请参考图3,图3是本发明另一实施例提供的比较所述反射光线数量与第一预设阈值,根据比较结果,则产生警报以提示所述玻璃基板是否存在缺陷的方法,如果反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷的流程示意图。如图3所示,该流程包括:
S31、判断反射光线的光强;
不同的光谱发生装置23所产生的光强是不同的,并且光谱发生装置23产生的光强和外界环境产生的光强也是不同的。为了防止外界环境的光线影响到判断结果,需要进一步判断反射光线的光强。如果所述光强大于第二预设阈值,则所述光强为有效信号;如果所述光强小于第二预设阈值,则所述光强为无效信号。此处的第二预设阈值可以是一个数值点,可以是一个数值区间。设计者根据光谱发生装置产生的光线的不同,来预设对应的第二预设阈值。通过该步骤,其能够增强测试玻璃基板破损的可靠性。
S32、根据所述有效信号,统计接收到的反射光线总数;
此处的有效信号是指光线处理模块21接收到的反射光线为光谱发生装置23产生并且经过玻璃基板22反射回的。
在一些实施例中,光线处理模块21将每一个有效信号进行累加一,从而统计出反射光线的总数。
S33、判断所述反射光线总数是否小于第一预设阈值,如果小于所述第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷。
第一预设阈值是根据作业目的和检测要求来设定,此处的第一预设阈值为2。当光线处理模块21判断到反射光线总数为1或者0时,即玻璃基板22有破损时,反射光线23A可能返回到光线处理模块21的是一条光线,或者是没有光线返回到光线处理模块21。光线处理模块21根据反射光线总数为1或者0,产生第一警报,以提示操作员该玻璃基板22存在缺陷。
作为本发明又一方面,本发明实施例提供一种玻璃基板检测装置。请参考图4,图4是本发明实施例提供的一种玻璃基板检测装置的结构示意图。如图4所示,该装置包括:
光谱发生装置41,用于产生光线41A;其中,玻璃基板42对所述光线41A进行反射;
光强感应装置43,用于接收所述玻璃基板42反射的光线,并且判断到反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷。
如图4所示,光强感应装置43接收玻璃基板42反射的由光谱发生装置41产生的光线。其中,光谱发生装置41产生的光线41A照射于玻璃基板42的表面,玻璃基板42反射该光线41A。玻璃基板42处于完整状态时,一方面,光线41A在玻璃基板42的第一表面42A进行反射,反射光线41A1反射回光强感应装置43。另一方面,光线41A透过玻璃基板42的第一表面42A,而在玻璃基板42的内部发生折射,折射出的光线41A2又反射回光强感应装置43。光强感应装置43根据反射回的两条光线41A1和41A2而分析出玻璃基板42的完整状态。当玻璃基板42处于破损状态时,光强感应装置43只能接收到光线41A1,而光线41A2由于破损口的进一步反射,使光线41A2不能反射回光强感应装置43。
在工作状态时,玻璃基板42按照正常的传递方向421进行传递。光强感应装置43和光谱发生装置41设置于玻璃基板42的同一侧。由于光谱发生装置41发射出的光线为紫外线是不能透射过玻璃基板42,因此光谱发生装置41发射出的光线不会经过玻璃基板42而泄露出外界,从而影响检测结果。
在本实施例,光强感应装置43包括光线信号转换单元和光线信号分析单元,光线信号转换单元接收反射光线,并且将光线信号转换单元转换成电信号,传输给光线信号分析单元,光线信号分析单元分析和处理该电信号。
在一些实施例中,光强感应装置43还可以包括计时单元和距离传感器,在玻璃基板开始传递并且进入检测时,计时单元开始计时,当光线信号分析单元分析到某段玻璃基板有破损,则计时单元停止计时。距离传感器检测玻璃基板的传递速度,光线信号分析单元根据传递速度和计时单元计时的时间,从而确定玻璃基板的破损位置。
在一些实施例中,第一预设阈值是根据作业目的和检测要求来设定,此处的第一预设阈值为2。当光强感应装置43判断到反射光线总数为1或者0时,即玻璃基板42有破损时,反射光线41A可能返回到光强感应装置43的是一条光线,或者是没有光线返回到光强感应装置43。光光强感应装置43根据反射光线总数为1或者0,产生第一警报,以提示操作员该玻璃基板42存在缺陷。
在一些实施例中,光强感应装置43还包括第一警报装置,光线信号分析单元根据分析的玻璃基板42存在缺陷的结果,产生触发信号,触发警报装置。此处的第一警报装置可以是蜂鸣器或者LED灯。
在一些实施例中,当光强感应装置43判断到反射光线总数等于第一预设阈值时,此处的第一预设阈值为2,即光强感应装置43判断到反射光线总数为2,则产生第二警报以提示所述玻璃基板是完整的。
在一些实施例中,光强感应装置43还包括第二警报装置,光线信号分析单元根据分析的玻璃基板42存在缺陷的结果,产生触发信号,触发警报装置。此处的第二警报装置可以是蜂鸣器或者LED灯。其中,第二警报装置产生的警报和第一警报装置产生的警报是区别化的。
请参考图4a,图4a是本发明实施例提供的光强感应装置的结构示意图。如图4a所示,在一些实施例中,光强感应装置43包括:
光传感器431,用于接收所述玻璃基板反射的光线,输出光处理信号;
微处理器432,用于和所述光传感器431连接,并且判断反射光线的光强,如果所述光强大于第二预设阈值,则所述光强为有效信号;如果所述光强小于第二预设阈值,则所述光强为无效信号;根据所述有效信号,统计接收到的反射光线总数;判断所述反射光线总数是否小于第一预设阈值,如果小于所述第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷。
进一步地,所述微处理器432还具体用于:判断到反射光线总数等于第一预设阈值,则产生第二警报以提示所述玻璃基板是完整的。
在一些实施例中,,微处理器还432可以是通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或其它可编程逻辑器件、分立门或晶体管逻辑、分立的硬件组件或者这些部件的任何组合。还有,此处的微处理器可以是任何传统处理器、控制器、微控制器或状态机。处理器也可以被实现为计算设备的组合,例如,DSP和微处理器的组合、多个微处理器、一个或多个微处理器结合DSP核、或任何其它这种配置。
优选地,本实施例的光谱发生装置41为线光源,其能够对玻璃基板42进行覆盖性扫描,确保不会漏掉任何位置的破洞。进一步地,该线光源产生的光线倾斜照射在所述玻璃基板42的表面上,通过将线光源的光线发射方向由垂直照射改为斜射,从而保证检测到玻璃基板22的轻微裂痕。
在本发明实施例中,通过判断反射光线总数,便可知悉玻璃基板的完整状态。当反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示玻璃基板存在缺陷,因此,本实施例提供的装置在检测玻璃基板的过程中,其检测结果具有高可靠性。
作为本发明又另一方面,本发明实施例提供一种玻璃基板检测系统。请参考图5,图5是本发明实施例提供的一种玻璃基板检测系统的结构示意图。如图5所示,该系统包括:
光谱发生装置51,用于产生光线;
玻璃基板52,用于对所述光线进行反射;
光强感应装置53,用于接收所述玻璃基板反射的光线,并且判断到反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷。进一步地,该光强感应装置53具体用于:
判断反射光线的光强;
如果所述光强大于第二预设阈值,则所述光强为有效信号;如果所述光强小于第二预设阈值,则所述光强为无效信号;
根据所述有效信号,统计接收到的反射光线总数;
判断所述反射光线总数是否小于第一预设阈值,如果小于所述第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷。
在本发明实施例中,通过判断反射光线总数,便可知悉玻璃基板的完整状态。当反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示玻璃基板存在缺陷,因此,本实施例提供的系统在检测玻璃基板的过程中,其检测结果具有高可靠性。
在上述各个实施例中,所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
以上所述,仅是发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本发明技术方案内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。
Claims (8)
1.一种玻璃基板检测方法,其特征在于,所述方法包括:
接收由光谱发生装置产生并经玻璃基板表面反射的光线;
判断反射光线的光强,根据比较结果判断反射光线是否为有效光线,在反射光线为有效光线时,比较所述反射光线数量与第一预设阈值,根据比较结果,则产生警报以提示所述玻璃基板是否存在缺陷;如果小于所述第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷;如果等于第一预设阈值,则产生第二警报以提示所述玻璃基板是完整的;
在玻璃基板开始传递并进入检测时开始计时,当检测到某段玻璃基板有破损时停止计时;
检测玻璃基板的传递速度,根据传递速度和计时时间确定玻璃基板的破损位置。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板检测方法,其特征在于,判断反射光线的光强,根据比较结果判断反射光线是否为有效光线的步骤包括:
比较反射光线的光强与第二预设阈值,如果所述光强大于第二预设阈值,则所述光强为有效信号;如果所述光强小于第二预设阈值,则所述光强为无效信号。
3.一种玻璃基板检测装置,其特征在于,所述装置包括:
光谱发生装置,用于产生光线;玻璃基板对所述光线进行反射;
光强感应装置,用于接收所述玻璃基板表面反射的光线,判断反射光线的光强是否为有效信号,比较所述反射光线数量与第一预设阈值,根据比较结果,则产生警报以提示所述玻璃基板是否存在缺陷,如果小于所述第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷;如果等于第一预设阈值,则产生第二警报以提示所述玻璃基板是完整的;所述光强感应装置还用于在玻璃基板开始传递并进入检测时开始计时,当检测到某段玻璃基板有破损时停止计时;所述光强感应装置进一步用于检测玻璃基板的传递速度,根据传递速度和计时时间确定玻璃基板的破损位置。
4.根据权利要求3所述的玻璃基板检测装置,其特征在于,所述光强感应装置包括:
光传感器,用于接收所述玻璃基板反射的光线,输出光处理信号;
微处理器,与所述光传感器连接,并且判断反射光线的光强,如果所述光强大于第二预设阈值,则所述光强为有效信号;如果所述光强小于第二预设阈值,则所述光强为无效信号;根据所述有效信号,统计接收到的反射光线总数。
5.根据权利要求3所述的玻璃基板检测装置,其特征在于,所述光谱发生装置为线光源。
6.根据权利要求5所述的玻璃基板检测装置,其特征在于,所述线光源产生的光线倾斜照射在所述玻璃基板的表面上。
7.一种玻璃基板检测系统,其特征在于,所述系统包括:
光谱发生装置,用于产生光线;
玻璃基板,用于对所述光线进行反射;
光强感应装置,用于接收所述玻璃基板表面反射的光线,判断反射光线的光强,若反射光线的光强大于第二预设阈值,并且判断到反射光线总数低于第一预设阈值,则产生第一警报以提示所述玻璃基板存在缺陷,所述光强感应装置还用于在玻璃基板开始传递并进入检测时开始计时,当检测到某段玻璃基板有破损时停止计时;所述光强感应装置进一步用于检测玻璃基板的传递速度,根据传递速度和计时时间确定玻璃基板的破损位置。
8.根据权利要求7所述的玻璃基板检测系统,其特征在于,所述光强感应装置用于:
判断反射光线的光强;
如果所述光强大于第二预设阈值,则所述光强为有效信号;如果所述光强小于第二预设阈值,则所述光强为无效信号。
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107321557B (zh) * | 2017-08-17 | 2020-06-02 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种涂布检测装置、涂布设备及涂布检测方法 |
TWI660165B (zh) * | 2018-05-14 | 2019-05-21 | 和碩聯合科技股份有限公司 | 檢測系統及檢測方法 |
CN110455750B (zh) * | 2019-08-21 | 2023-03-03 | 京东方科技集团股份有限公司 | 镜面除雾方法、镜面除雾装置以及智能镜子 |
CN112233992A (zh) * | 2020-09-10 | 2021-01-15 | 上海华力集成电路制造有限公司 | 晶圆破片检测装置及其使用方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101900689A (zh) * | 2009-05-27 | 2010-12-01 | 北京京东方光电科技有限公司 | 玻璃基板破损检出设备和方法 |
CN104568973A (zh) * | 2015-02-09 | 2015-04-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种基板检测装置及方法 |
Family Cites Families (4)
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CN102193505B (zh) * | 2010-03-05 | 2012-12-19 | 理想能源设备(上海)有限公司 | 玻璃基片自动化定量管理系统及其方法 |
CN102636498B (zh) * | 2012-03-22 | 2014-04-16 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 玻璃基板的检测装置及检测方法 |
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-
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101900689A (zh) * | 2009-05-27 | 2010-12-01 | 北京京东方光电科技有限公司 | 玻璃基板破损检出设备和方法 |
CN104568973A (zh) * | 2015-02-09 | 2015-04-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种基板检测装置及方法 |
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