CN110451045B - 贴标位置控制方法、控制系统、存储介质、及贴标机 - Google Patents
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Abstract
本发明提供贴标位置控制方法、控制系统、存储介质、及贴标机。本发明的技术方案，通过获取待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标信息；根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标；将所述几何中心点坐标作为最终的贴标位置，从而避免现有技术中根据文件里的错误坐标信息贴标而导致将标签贴于裁片外部的问题，大大提高了贴标签的效率及准确程度。
Description
技术领域
本发明涉及贴标签技术领域，特别是涉及贴标位置控制方法、控制系统、存储介质、及贴标机。
背景技术
在服装加工过程中，通常会将布料裁切成各种规格的裁片，再将不同规格的裁片缝制成衣物等。为便于区分不同规格、不同型号的裁片，就需要在各个裁片上贴相应的标签。为保证贴在裁片上的标签能起到良好的标识效果，标签所贴的最佳位置一般选择裁片的中心。
目前，贴标机设备的贴标位置都是通过读取文件中提供的坐标信息将标签贴到指定位置。然而，文件中的坐标信息有时提供的并不正确，导致贴标机会将标签贴在裁片所在区域之外。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供贴标位置控制方法、控制系统、存储介质、及贴标机，用于解决现有技术中根据文件里的错误坐标信息会将标签贴于裁片外部的技术问题。
为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种贴标位置控制方法，包括：获取待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标信息；根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标；将所述几何中心点坐标作为最终的贴标位置。
于本发明一实施例中，根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标，包括：识别出所述裁片沿X轴方向的最大横坐标与最小横坐标，以及所述裁片沿Y轴方向的最大纵坐标与最小纵坐标；查找所述外轮廓轨迹中横坐标最接近(最大横坐标+最小横坐标)/2值的多个轨迹点，并计算这几个轨迹点的纵坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的纵坐标；并且，查找所述外轮廓轨迹中纵坐标最接近(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的多个轨迹点，并计算这几个轨迹点的横坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的横坐标；基于计算得到的横坐标与纵坐标确定所述几何中心点坐标。
于本发明一实施例中，所述最接近(最大横坐标+最小横坐标)/2值的多个轨迹点包括横坐标大于或小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点；所述最接近(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的多个轨迹点包括纵坐标大于或小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点。
于本发明一实施例中，横坐标大于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点数量与横坐标小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点数量相同或不同；纵坐标大于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点数量与纵坐标小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点数量相同或不同。
为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种贴标位置控制系统，包括：输入模块，用于获取待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标信息；控制模块，用于根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标；以及用于将所述几何中心点坐标作为最终的贴标位置。
于本发明一实施例中，所述控制模块根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标的实现方式包括：识别出所述裁片沿X轴方向的最大横坐标与最小横坐标，以及所述裁片沿Y轴方向的最大纵坐标与最小纵坐标；查找所述外轮廓轨迹中横坐标最接近(最大横坐标+最小横坐标)/2值的多个轨迹点，并计算这几个轨迹点的纵坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的纵坐标；并且，查找所述外轮廓轨迹中纵坐标最接近(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的多个轨迹点，并计算这几个轨迹点的横坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的横坐标；基于计算得到的横坐标与纵坐标确定所述几何中心点坐标。
于本发明一实施例中，所述最接近(最大横坐标+最小横坐标)/2值的多个轨迹点包括横坐标大于或小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点；所述最接近(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的多个轨迹点包括纵坐标大于或小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点。
于本发明一实施例中，横坐标大于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点数量与横坐标小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点数量相同或不同；纵坐标大于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点数量与纵坐标小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点数量相同或不同。
为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储介质，其中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载执行时，实现如上任一所述的贴标位置控制方法。
为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种贴标机，包括：处理器、及存储器；其中，所述存储器用于存储计算机程序；所述处理器用于加载执行所述计算机程序，以使所述贴标机执行如上任一所述的贴标位置控制方法。
如上所述，本发明的贴标位置控制方法、控制系统、存储介质、及贴标机，不对设备配件做任何结构上的改进，通过获取待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标信息；根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标；将所述几何中心点坐标作为最终的贴标位置，从而避免现有技术中根据文件里的错误坐标信息贴标而导致将标签贴于裁片外部的问题，大大提高了贴标签的效率及准确程度。
附图说明
图1显示为本发明一实施例中的贴标坐标系及裁片的示意图。
图2显示为本发明一实施例中的贴标位置控制方法的流程示意图。
图3显示为本发明一实施例中的贴标位置控制系统的模块示意图。
元件标号说明
S21～S23步骤
300贴标位置控制系统
301输入模块
302控制模块
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
本发明提供贴标位置控制方案，通过分析裁片的外轮廓轨迹的坐标信息，对贴标位置进行了重新计算，克服了根据所读取文件里的误差坐标来贴标签会出现标签贴于裁片外部的缺陷。
参阅图1，图1显示为贴标机工作台的一般贴标坐标系。于本实施例中，贴标坐标系的原点为贴标机机头的初始位置，待贴标裁片位于XOY平面内，贴标机机头在接收到目标坐标后平移至XOY平面内的相应位置，以对待贴标裁片进行贴标。与现有技术不同，于本发明中，目标坐标的获取并非从预设文件中读取，而是通过执行贴标位置控制方法来确定。
参阅图2，本实施例的贴标位置控制方法包括如下步骤：
S21：获取待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标信息。
以图1所示的多边形裁片为例，当该多边形裁片被置于贴标坐标系XOY时便会产生在该坐标系下的坐标信息。本领域技术人员应当知晓，待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标可以结合图像采集装置及图像处理算法换算获得，由于坐标信息的获取方式并不是本实施例的主要发明点，故于此不做详细阐述。
S22：根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标。
于一实施例中，为了能获得裁片的几何中心点，或者说，为了能获得裁片内部最接近几何中心点的某个点，采取以下技术方案：首先，从所述外轮廓轨迹的坐标序列中识别出所述裁片沿X轴方向的最大横坐标与最小横坐标，如图1中的max_X与min_X所示；同时，识别出所述裁片沿Y轴方向的最大纵坐标与最小纵坐标，如图1中的max_Y与min_Y所示；然后，查找所述外轮廓轨迹中横坐标最接近(max_X+min_X)/2值的多个轨迹点，如图1中的x1～x6所示，并计算这几个轨迹点的纵坐标的平均值，将其作为所述几何中心点的纵坐标Y；同时，查找所述外轮廓轨迹中纵坐标最接近(max_Y+min_Y)/2值的多个轨迹点，如图1中的y1～y6所示，并计算这几个轨迹点的横坐标的平均值，将其作为所述几何中心点的横坐标X；最后，将(X，Y)确定为所述几何中心点坐标。
需要说明的是，图1中的x1～x6、y1～y6仅作为示意点，用于辅助说明上述计算过程中经查找获得的多个轨迹点的大概位置，并不能精确地表示多个轨迹点的查找结果。
除此之外，在一些实施例中，所述最接近(max_X+min_X)/2值的多个轨迹点包括横坐标大于或小于(max_X+min_X)/2值的轨迹点，而横坐标大于(max_X+min_X)/2值的轨迹点数量与横坐标小于(max_X+min_X)/2值的轨迹点数量可以相同，也可以不同。在图1所示的实施例中，横坐标大于(max_X+min_X)/2值的轨迹点为x1、x2、x3、x5，而横坐标小于(max_X+min_X)/2值的轨迹点为x4、x6。类似地，所述最接近(max_Y+min_Y)/2值的多个轨迹点包括纵坐标大于或小于(max_Y+min_Y)/2值的轨迹点；而纵坐标大于(max_Y+min_Y)/2值的轨迹点数量与纵坐标小于(max_Y+min_Y)/2值的轨迹点数量可以相同，也可以不同。在图1所示的实施例中，纵坐标大于(max_Y+min_Y)/2值的轨迹点为y1、y2、y3、y4、y5，而纵坐标小于(max_Y+min_Y)/2值的轨迹点为y6。
需要说明的是，以上所谓最接近是指横坐标之间的差值或纵坐标之间的差值小于某预设阈值，且该预设阈值可根据实际需求进行设置。
S23：将所述几何中心点坐标作为最终的贴标位置。
贴标机根据贴标位置(X，Y)对所述待贴标裁片进行贴标。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过计算机程序相关的硬件来完成。前述的计算机程序可以存储于一计算机可读存储介质中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
如图3所示，本实施例提供一种贴标位置控制系统300，其包括：输入模块301、控制模块302。输入模块301用于执行前述方法实施例中的步骤S21，控制模块302用于执行前述方法实施例中的步骤S22～S23。
本领域技术人员应当理解，控制系统300的各个模块的划分仅仅是一种逻辑功能的划分，实际实现时可以全部或部分集成到一个或多个物理实体上。且，这些模块可以全部以软件通过处理元件调用的形式实现，也可以全部以硬件的形式实现，还可以部分模块通过处理元件调用软件的形式实现，部分模块通过硬件的形式实现。例如，控制模块302可以为单独设立的处理元件，也可以集成在某一个芯片中实现，此外，也可以以程序代码的形式存储于存储器中，由某一个处理元件调用并执行控制模块302的功能。其它模块的实现与之类似。这里所述的处理元件可以是一种集成电路，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤或以上各个模块可以通过处理器元件中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。
例如，以上这些模块可以是被配置成实施以上方法的一个或多个集成电路，例如：一个或多个特定集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，简称ASIC)，或，一个或多个微处理器(digitalsingnalprocessor，简称DSP)，又或，一个或者多个现场可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray，简称FPGA)等。再如，当以上某个模块通过处理元件调度程序代码的形式实现时，该处理元件可以是通用处理器，例如中央处理器(CentralProcessingUnit，简称CPU)或其它可以调用程序代码的处理器。再如，这些模块可以集成在一起，以片上系统(system-on-a-chip，简称SOC)的形式实现。
本发明还提供一种贴标机，包括处理器和存储器，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述贴标机执行前述贴标位置控制方法的全部或部分步骤。
上述提到的存储器可以包含随机存取存储器(RandomAccessMemory，简称RAM)，也可包括非易失性存储器(non-volatilememory)，例如至少一个磁盘存储器。上述的处理器可以是通用处理器，包括中央处理器(CentralProcessingUnit，简称CPU)、网络处理器(NetworkProcessor，简称NP)等；还可以是数字信号处理器(DigitalSignalProcessing，简称DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，简称ASIC)、现场可编程门阵列(Field－ProgrammableGateArray，简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。
综上所述，本发明的贴标位置控制方法、控制系统、存储介质、及贴标机，解决了贴标位置不在裁片区域范围内致使标签贴到裁片区域以外位置的问题，在不增加设备成本的基础上提升了贴标设备的智能化水平，有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。
Claims (6)
1.一种贴标位置控制方法，其特征在于，包括：
获取待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标信息；
根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标，包括：识别出所述裁片沿X轴方向的最大横坐标与最小横坐标，以及所述裁片沿Y轴方向的最大纵坐标与最小纵坐标；查找所述外轮廓轨迹中横坐标最接近(最大横坐标+最小横坐标)/2值的多个轨迹点，包括：横坐标大于或小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点，并计算这几个轨迹点的纵坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的纵坐标；并且，查找所述外轮廓轨迹中纵坐标最接近(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的多个轨迹点，包括：纵坐标大于或小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点，并计算这几个轨迹点的横坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的横坐标；基于计算得到的横坐标与纵坐标确定所述几何中心点坐标；
将所述几何中心点坐标作为最终的贴标位置。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，横坐标大于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点数量与横坐标小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点数量相同或不同；纵坐标大于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点数量与纵坐标小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点数量相同或不同。
3.一种贴标位置控制系统，其特征在于，包括：
输入模块，用于获取待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标信息；
控制模块，用于根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标，包括：识别出所述裁片沿X轴方向的最大横坐标与最小横坐标，以及所述裁片沿Y轴方向的最大纵坐标与最小纵坐标；查找所述外轮廓轨迹中横坐标最接近(最大横坐标+最小横坐标)/2值的多个轨迹点，包括：横坐标大于或小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点，并计算这几个轨迹点的纵坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的纵坐标；并且，查找所述外轮廓轨迹中纵坐标最接近(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的多个轨迹点，包括纵坐标大于或小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点，并计算这几个轨迹点的横坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的横坐标；基于计算得到的横坐标与纵坐标确定所述几何中心点坐标；以及用于将所述几何中心点坐标作为最终的贴标位置。
4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，横坐标大于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点数量与横坐标小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点数量相同或不同；纵坐标大于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点数量与纵坐标小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点数量相同或不同。
5.一种存储介质，其中存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器加载执行时，实现如权利要求1或2所述的贴标位置控制方法。
6.一种贴标机，其特征在于，包括：处理器、及存储器；其中，
所述存储器用于存储计算机程序；
所述处理器用于加载执行所述计算机程序，以使所述贴标机执行如权利要求1或2所述的贴标位置控制方法。
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