CN110866373A - 一种版图单元快速匹配的方法及装置 - Google Patents

一种版图单元快速匹配的方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN110866373A
CN110866373A CN201911133594.2A CN201911133594A CN110866373A CN 110866373 A CN110866373 A CN 110866373A CN 201911133594 A CN201911133594 A CN 201911133594A CN 110866373 A CN110866373 A CN 110866373A
Authority
CN
China
Prior art keywords
unit
layout
units
module
matching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201911133594.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110866373B (zh
Inventor
王帅龙
戴斌华
李桢荣
刘伟平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing CEC Huada Electronic Design Co Ltd
Original Assignee
Beijing CEC Huada Electronic Design Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing CEC Huada Electronic Design Co Ltd filed Critical Beijing CEC Huada Electronic Design Co Ltd
Priority to CN201911133594.2A priority Critical patent/CN110866373B/zh
Publication of CN110866373A publication Critical patent/CN110866373A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110866373B publication Critical patent/CN110866373B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

一种版图单元快速匹配的方法及装置，包括以下步骤：1）分别读取不同版图数据，对所有单元的单元特征并进行数值标记；2）对每个单元的所有特征的标记数值进行计算，获得每个单元对应的存储地址；3）根据每个单元对应的存储地址存储对应的单元；4）检查单元是否匹配；5）分别存储已匹配单元和未匹配单元，并对未匹配单元进行数值标记。本发明的一种版图单元快速匹配的方法及装置，能够缩短版图的单元之间的匹配时间，提高版图设计与检查的效率，利于设计人员使用版图比较工具时快速发现两个版图之间的差异性。

Description

一种版图单元快速匹配的方法及装置
技术领域
本发明涉及半导体集成电路设计自动化技术领域，特别是涉及一种版图单元快速匹配的方法及装置。
背景技术
目前对于实现两个版图之间的单元的匹配技术，速度比较慢，影响版图检查的效率，不利于设计人员快速发现两个版图之间的差异性，影响版图设计的效率。
发明内容
为了解决现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种版图单元快速匹配的方法，能够缩短版图的单元之间的匹配时间，提高版图设计与检查的效率，利于设计人员使用版图比较工具时快速发现两个版图之间的差异性。
为实现上述目的，本发明提供的一种版图单元快速匹配的方法，包括以下步骤：
1）分别读取不同版图数据，对所有单元的单元特征并进行数值标记；
2）对每个单元的所有特征的标记数值进行计算，获得每个单元对应的存储地址；
3）根据每个单元对应的存储地址存储对应的单元；
4）检查单元是否匹配；
5）分别存储已匹配单元和未匹配单元，并对未匹配单元进行数值标记。
进一步地，所述单元特征包括：所述单元的子单元个数、所述子单元是否已经匹配、所述单元是否是空单元、所述单元包含的层数以及调用所述单元的单元是否已经匹配。
进一步地，保持所有单元计算存储地址的方法相同。
进一步地，每个单元对应的存储地址存放两个不同版图的所述单元数据。
更进一步地，所述步骤4）还包括，检查存储于同一存储地址的两个单元的单元特征数值是否相同。
为实现上述目的，本发明还提供一种版图单元快速匹配的装置，包括，版图单元特征标记模块、版图单元存储地址计算模块、版图单元存储模块、单元匹配检查模块、版图已匹配单元存储模块和版图未匹配单元存储模块，其中，
所述版图单元特征标记模块，用于依次读取不同版图数据，遍历所有单元，识别并标记所述单元特征；
所述版图单元存储地址计算模块，用于根据标记的所述单元特征数值计算对应的存储地址；
所述版图单元存储模块，用于根据所述存储地址存储不同版图中的所述单元数据；
所述单元匹配检查模块，用于检查所述存储模块内同一存储地址的所述单元是否匹配；
所述版图已匹配单元存储模块，用于存储已匹配单元；
所述版图未匹配单元存储模块，用于存储未匹配单元并进行数值标记。
为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行如上文所述的版图单元快速匹配的方法步骤。
本发明的版图单元快速匹配的方法及装置，具有以下有益效果：
1）缩短版图的单元之间的匹配时间，提高版图设计与检查的效率，利于设计人员使用版图比较工具时快速发现两个版图之间的差异性，提高了两个版图差异性比较的速度。
2）快速完成版图1的单元和版图2的单元一一匹配，寻找两个版图之间的不同时，实现待比较的两个版图之间单元的快速自动匹配，实现版图1的单元和版图2的单元一一匹配。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本发明的实施例一起，用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为根据本发明的版图单元快速匹配的方法流程图；
图2为根据本发明的版图单元快速匹配装置的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
图1为根据本发明的版图单元快速匹配的方法流程图，下面将参考图1，对本发明的版图单元快速匹配的方法进行详细描述。
首先，在步骤101，依次读入两个版图所有单元的单元特征进行数值标记，该步骤中，对两个版图的单元进行匹配时，首先使用版图单元特征标记模块对两个版图的所有单元的单元特征进行数值标记。
优选地，所需要标记的单元特征包括所标记单元的子单元个数、所标记单元的子单元是否已经匹配、所标记单元是否是空单元，所标记单元包含的层数以及调用所标记单元的单元是否已经匹配，具体标记数值可自行指定，保持所有单元标记标准相同即可。
在步骤102，根据标记的单元特征数值计算出每个单元对应的存储地址。该步骤中，由版图单元存储地址计算模块对每个单元的所有特征的标记数值进行计算得出每个单元对应的存储地址，计算方法可自行指定，保持所有单元的计算方法相同即可。
在步骤103，根据存储地址存储对应的单元。该步骤中，版图单元存储模块依据计算出的每个单元对应的存储地址存储对应的单元，每个存储地址可以存储两个单元的数据，两个单元分属于版图1和版图2。
在步骤104，检查同一地址中存储的单元是否匹配，若是，进行下一步骤；若否则转到步骤106。该步骤中，依次检查每个存储地址内存储的数据，判断存储的分别属于版图1和版图2的单元是否匹配。
优选地，存储于同一地址的两个单元的特征值相同，可判断为两个单元匹配。
在步骤105，将匹配的单元存储到已匹配单元存储模块。该步骤中，将已经匹配的单元存储到版图已匹配单元存储模块。
在步骤106，将未匹配的单元存储到未匹配单元存储模块并进行数值标记。该步骤中，还对版图未匹配单元存储模块存储的未匹配单元进行新一轮的匹配，直到两个版图中所有单元全部匹配完成。
下面结合一具体实施例对本发明的版图单元快速匹配的方法及装置做进一步的说明。
图2为根据本发明的版图单元快速匹配的装置结构示意图，如图2所示，本发明的版图单元快速匹配的装置，包括，版图单元特征标记模块201、版图单元存储地址计算模块202、版图单元存储模块203、单元匹配检查模块204、版图已匹配单元存储模块205，以及版图未匹配单元存储模块206，其中，
版图单元特征标记模块201，依次读入版图1和版图2的数据，依次遍历这两个版图中的所有单元，识别并标记版图中每个单元的特征。特征包括版图中单元的子单元个数、版图中单元的子单元是否已经匹配、版图中单元是否是空单元、版图中单元包含的层数以及调用该单元的单元是否已经匹配。对每个特征的标记数值和标准可自行指定，保持所有单元的对应特征的标记标准相同即可。
版图单元存储地址计算模块202，其对每个单元的所有特征的标记数值进行计算得出每个单元对应的存储地址，计算方法可自行指定，保持所有单元的计算方法相同即可。
版图单元存储模块203，其依据计算出的每个单元对应的存储地址存储该单元，每个存储地址可以存储两个单元的数据，两个单元分属于版图1和版图2。
检查版图单元存储模块204，依次检查每个存储地址内存储的数据，判断其内存储的分别属于版图1和版图2的单元是否匹配，两个单元的特征值相同，可判断为两个单元匹配。
版图已匹配单元存储模块205，其对已经匹配的单元进行存储。
版图未匹配单元存储模块206，其对未匹配单元进行存储和数值标记。
若版图未匹配单元存储模块中存储有未匹配单元，则对版图未匹配单元存储模块206存储的未匹配单元进行数值标记，进行新一轮的匹配，直到两个版图中所有单元全部匹配完成为止。
为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行如上文所述的版图单元快速匹配的方法步骤。
本领域普通技术人员可以理解：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种版图单元快速匹配的方法，其特征在于，包括以下步骤：
1）分别读取不同版图数据，对所有单元的单元特征并进行数值标记；
2）对每个单元的所有特征的标记数值进行计算，获得每个单元对应的存储地址；
3）根据每个单元对应的存储地址存储对应的单元；
4）检查单元是否匹配；
5）分别存储已匹配单元和未匹配单元，并对未匹配单元进行数值标记。
2.根据权利要求1所述的版图单元快速匹配的方法，其特征在于，所述单元特征包括：所述单元的子单元个数、所述子单元是否已经匹配、所述单元是否是空单元、所述单元包含的层数以及调用所述单元的单元是否已经匹配。
3.根据权利要求1所述的版图单元快速匹配的方法，其特征在于，保持所有单元计算存储地址的方法相同。
4.根据权利要求1所述的版图单元快速匹配的方法，其特征在于，每个单元对应的存储地址存放两个不同版图的所述单元数据。
5.根据权利要求1所述的版图单元快速匹配的方法，其特征在于，所述步骤4）还包括，检查存储于同一存储地址的两个单元的单元特征数值是否相同。
6.一种版图单元快速匹配的装置，其特征在于，包括，版图单元特征标记模块、版图单元存储地址计算模块、版图单元存储模块、单元匹配检查模块、版图已匹配单元存储模块和版图未匹配单元存储模块，其中，
所述版图单元特征标记模块，用于依次读取不同版图数据，遍历所有单元，识别并标记所述单元特征；
所述版图单元存储地址计算模块，用于根据标记的所述单元特征数值计算对应的存储地址；
所述版图单元存储模块，用于根据所述存储地址存储不同版图中的所述单元数据；
所述单元匹配检查模块，用于检查所述存储模块内同一存储地址的所述单元是否匹配；
所述版图已匹配单元存储模块，用于存储已匹配单元；
所述版图未匹配单元存储模块，用于存储未匹配单元并进行数值标记。
7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于，所述计算机指令运行时执行权利要求1-5所述的版图单元快速匹配的方法步骤。
CN201911133594.2A 2019-11-19 2019-11-19 一种版图单元快速匹配的方法及装置 Active CN110866373B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911133594.2A CN110866373B (zh) 2019-11-19 2019-11-19 一种版图单元快速匹配的方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911133594.2A CN110866373B (zh) 2019-11-19 2019-11-19 一种版图单元快速匹配的方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110866373A true CN110866373A (zh) 2020-03-06
CN110866373B CN110866373B (zh) 2022-05-24

Family

ID=69655391

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911133594.2A Active CN110866373B (zh) 2019-11-19 2019-11-19 一种版图单元快速匹配的方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110866373B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112560392A (zh) * 2020-12-16 2021-03-26 全芯智造技术有限公司 用于处理电路版图的方法、设备和存储介质
CN112668667A (zh) * 2021-01-22 2021-04-16 上海华虹宏力半导体制造有限公司 版图文件的扫描方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101499102A (zh) * 2008-02-02 2009-08-05 北京芯慧同用微电子技术有限责任公司 一种版图设计方法和装置
CN103425829A (zh) * 2013-08-06 2013-12-04 中国科学院微电子研究所 一种快速读取版图的方法
US20160147926A1 (en) * 2013-05-02 2016-05-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method and system of forming layout design
CN106773541A (zh) * 2016-12-20 2017-05-31 中国科学院微电子研究所 一种基于版图几何特征匹配的光刻解决方案预测方法
CN107481232A (zh) * 2017-08-17 2017-12-15 上海华力微电子有限公司 图形匹配方法
CN107967401A (zh) * 2017-12-21 2018-04-27 上海华力微电子有限公司 一种版图重复单元匹配性检查方法及系统
CN109558611A (zh) * 2017-09-27 2019-04-02 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 图形匹配方法及其匹配系统
CN109684707A (zh) * 2018-12-19 2019-04-26 上海华力微电子有限公司 一种标准单元库版图设计规则验证方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101499102A (zh) * 2008-02-02 2009-08-05 北京芯慧同用微电子技术有限责任公司 一种版图设计方法和装置
US20160147926A1 (en) * 2013-05-02 2016-05-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method and system of forming layout design
CN103425829A (zh) * 2013-08-06 2013-12-04 中国科学院微电子研究所 一种快速读取版图的方法
CN106773541A (zh) * 2016-12-20 2017-05-31 中国科学院微电子研究所 一种基于版图几何特征匹配的光刻解决方案预测方法
CN107481232A (zh) * 2017-08-17 2017-12-15 上海华力微电子有限公司 图形匹配方法
CN109558611A (zh) * 2017-09-27 2019-04-02 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 图形匹配方法及其匹配系统
CN107967401A (zh) * 2017-12-21 2018-04-27 上海华力微电子有限公司 一种版图重复单元匹配性检查方法及系统
CN109684707A (zh) * 2018-12-19 2019-04-26 上海华力微电子有限公司 一种标准单元库版图设计规则验证方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
SHERIF AHMED MOHAMED等: "Analog Layout Placement Based on Unit Elements and Routing Channel Estimation", 《IEEE XPLORE》 *
谢光益等: "Aether原理图驱动版图工具Device Matching功能的原理与实现", 《中国集成电路》 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112560392A (zh) * 2020-12-16 2021-03-26 全芯智造技术有限公司 用于处理电路版图的方法、设备和存储介质
CN112560392B (zh) * 2020-12-16 2021-08-10 全芯智造技术有限公司 用于处理电路版图的方法、设备和存储介质
CN112668667A (zh) * 2021-01-22 2021-04-16 上海华虹宏力半导体制造有限公司 版图文件的扫描方法
CN112668667B (zh) * 2021-01-22 2024-05-14 上海华虹宏力半导体制造有限公司 版图文件的扫描方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN110866373B (zh) 2022-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110866373B (zh) 一种版图单元快速匹配的方法及装置
CN106776359B (zh) 一种NAND Flash坏块管理方法及系统
US8848443B2 (en) Semiconductor memory device and repair method thereof
US8432758B2 (en) Device and method for storing error information of memory
CN102236600B (zh) 获得代码覆盖率的方法及装置
US6889305B2 (en) Device identification using a memory profile
CN115937170A (zh) 电路板检测方法、装置、计算机设备及存储介质
CN109409002B (zh) 一种版图实例化的完整性检测方法
US6549863B1 (en) Apparatus and method for generating map data
CN116844989B (zh) 芯片失效原因的识别方法及系统
CN106293622A (zh) 一种断电自恢复的空中升级方法及装置
CN116540059B (zh) 半导体芯片测试方法、装置、设备及存储介质
CN105225698A (zh) 一种列修复方法和装置
CN110473585B (zh) 一种擦失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质
CN111045948A (zh) 模块间接口信号的检查方法、设备和存储介质
CN107481764B (zh) 一种3D Nand Flash扫描检测方法和系统
TW201316340A (zh) 快閃記憶體測試方法
CN110085545B (zh) 一种辅助对准方法及系统
CN103729260B (zh) 数据管理/检查方法及相关内容寻址存储器系统
CN113342675A (zh) 被测试模块的映射方法、装置以及测试方法及系统
CN108573735B (zh) 一种nand-flash的块修复方法及装置
CN116259351B (zh) 一种存储器的测试方法
US20230003834A1 (en) Method and system for importing parameter calibration and terminal device
CN115412928B (zh) 一种基于空间技术的插花基站识别方法和装置
CN118212477B (zh) 用于缺陷过滤的方法、电子设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information

Address after: 100102 floor 2, block a, No.2, lizezhong 2nd Road, Chaoyang District, Beijing

Applicant after: Beijing Huada Jiutian Technology Co.,Ltd.

Address before: 100102 floor 2, block a, No.2, lizezhong 2nd Road, Chaoyang District, Beijing

Applicant before: HUADA EMPYREAN SOFTWARE Co.,Ltd.

CB02 Change of applicant information
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant