CN110441326A - 缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质 - Google Patents

缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开一种缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质，所述缺陷检测方法应用于投影系统的缺陷检测装置，缺陷检测装置包括采集单元，缺陷检测方法包括：控制投影装置投影第一投影图像中的第一投影区块于投影屏；移动采集单元，使采集单元的采集方向指向第一投影区块；控制采集单元采集第一检测图像，第一检测图像与第一投影区块相关联；确定第一投影区块的的第一缺陷信息。重复上述步骤，直至第一投影图像的全部第一投影区块完成缺陷检测。本发明提供一种缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中对投影系统的缺陷通过人工的方式进行检测，导致检测标准不统一，检测结果不准确的问题。

Description

缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质
技术领域
本发明涉及光学检测技术领域，尤其涉及一种缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质。
背景技术
现有技术中的投影产品中，光学模组的成像质量直接影响投影产品的使用效果，在光学模组各部分组件组装过程中，不可避免的会存在异物进入光学模组内部，因此在投影产品组装完成后需要进行缺陷检测，以保证光学模组在实际工作中视野不受脏点影响。
目前，光学模组中的缺陷主要通过抽检员工通过感知画面色彩的方法对投影装置的投影图像进行检测，这种检测方式主观性较强，不同的抽检员工会产生不同的检测标准，而在使用相机对投影设备进行检测时，由于投影设备的投影分辨率通常大于相机的分辨率，因此通过相机无法对投影设备的缺陷进行检测。
发明内容
本发明提供一种缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中对投影系统的缺陷通过人工的方式进行检测，导致检测标准不统一，检测结果不准确的问题。
本发明提出一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法应用于投影系统的缺陷检测装置，所述投影系统包括投影装置与投影屏，所述缺陷检测装置包括采集单元，所述缺陷检测方法包括：
步骤1，控制所述投影装置投影第一投影图像中的第一投影区块于所述投影屏，所述第一投影图像包括N个依次排列的所述第一投影区块；
步骤2，移动所述采集单元，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块；
步骤3，控制所述采集单元采集第一检测图像，所述第一检测图像与所述第一投影区块相关联；
步骤4，根据所述第一投影区块以及所述第一检测图像，确定所述第一投影区块的的第一缺陷信息；
步骤5，重复执行步骤1，直至所述第一投影图像的全部所述第一投影区块完成缺陷检测。
可选地，所述缺陷检测装置还包括调整装置，所述移动所述采集单元，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块，包括：
沿第一方向调整所述调整装置，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块；
沿第二方向调整所述调整装置，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块，所述第二方向与所述第一方向相互垂直。
可选地，所述根据所述第一投影区块以及所述第一检测图像，确定所述投影系统的第一缺陷信息，包括：
确定所述第一检测图像的第二缺陷信息；
确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的对应关系；
根据所述对应关系，确定所述投影系统的第一缺陷信息。
可选地，所述第一检测图像包括N个像素点，N为正整数，所述确定所述第一检测图像的第二缺陷信息，包括：
获取N个所述像素点的亮度值，确定N个所述像素点的亮度平均值；
根据所述像素点的亮度值与所述亮度平均值，确定所述第二缺陷信息。
可选地，所述根据所述像素点的亮度值与所述亮度平均值，确定所述第二缺陷信息，包括：
根据所述亮度平均值确定亮度阈值；
将所述像素点的亮度值与所述亮度阈值进行对比，确定所述第二缺陷信息。
可选地，所述将所述像素点的亮度值与所述亮度阈值进行对比，确定所述第二缺陷信息，包括：
当所述像素点的亮度值大于或等于所述亮度阈值时，所述像素点为合格像素点；
当所述像素点的亮度值小于所述亮度阈值时，所述像素点为缺陷像素点；
根据所述合格像素点与所述缺陷像素点，确定所述第二缺陷信息。
可选地，所述确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的对应关系，包括：
确定所述第一投影区块的第一横向像素数与第一纵向像素数；
确定所述第一检测图像的第二横向像素数与第二纵向像素数；
根据所述第一横向像素数以及所述第二横向像素数，确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的横向比例；
根据所述第一纵向像素数以及所述第二纵向像素数，确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的纵向比例；
根据所述横向比例与所述纵向比例，确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的对应关系。
为实现上述目的，本申请提出一种缺陷检测装置，所述缺陷检测装置用于检测投影系统的第一缺陷信息，所述投影系统包括投影装置与投影屏，所述缺陷检测装置包括采集单元与控制器；所述投影装置的投影方向指向所述投影屏，所述采集单元的采集方向指向所述投影屏，所述控制器与所述投影装置以及所述采集单元通信连接，用于执行如上述任一项实施方式所述的缺陷检测方法。
可选地，所述缺陷检测装置还包括调整装置，所述调整装置与所述采集单元连接，用于使所述采集单元的采集方向指向所述投影屏。
为实现上述目的，本申请提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现如上述任一项实施方式所述的缺陷检测方法的步骤。
本发明提出的技术方案中，所述缺陷检测方法应用于投影系统的缺陷检测装置，所述投影系统包括投影装置与投影屏，所述缺陷检测装置包括采集单元，所述缺陷检测方法包括：控制所述投影装置投影第一投影区块至所述投影屏，所述第一投影区块为所述第一投影图像中的一部分；移动所述采集单元，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块，控制所述采集单元采集第一检测图像，并根据所述采集图像确定所述第一投影区块的第一缺陷信息，然后在依次投影所述第一投影图像中的所述第一投影区块，并计算所述第一投影区块的所述第一缺陷信息。通过移动所述采集单元，对所述第一投影图像的所述第一投影区块分别进行缺陷检测，从而解决了所述投影设备的投影分辨率大于所述相机的分辨率，导致无法通过相机对投影舍被进行缺陷检测的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明缺陷检测方法一实施例的流程示意图；
图2为本发明缺陷检测方法又一实施例的流程示意图；
图3为本发明缺陷检测方法又一实施例的流程示意图；
图4为本发明缺陷检测方法又一实施例的流程示意图；
图5为本发明缺陷检测方法又一实施例的流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
另外，本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
本发明提供一种缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质。
请参照图1，所述缺陷检测方法应用于投影系统的缺陷检测装置，所述投影系统包括投影装置与投影屏，所述缺陷检测装置包括采集单元，所述缺陷检测方法包括：
S100，控制所述投影装置投影第一投影图像中的第一投影区块于所述投影屏，所述第一投影图像包括N个依次排列的所述第一投影区块；；
其中，所述投影装置的投影方向指向所述投影屏，所述第一投影图像包括N个所述第一投影区块，具体的，所述第一投影区块可以沿横向方向与纵向方向排列。优选的，所述第一投影图像为纯色图片，从而便于所述缺陷检测装置对缺陷进行检测。
S200，移动所述采集单元，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块；
其中，优选实施方式中，所述采集单元的采集方向垂直指向所述第一投影区块，从而保证所述采集单元对所述第一投影区块中各个像素点的采集角度相接近。
S300，控制所述采集单元采集第一检测图像，所述第一检测图像与所述第一投影区块相关联；
其中，所述第一检测图像为所述采集单元采集到与所述第一投影去开的图像，具体的，在所述投影装置将所述第一投影区块投影至所述投影屏时，由于所述投影装置的光学系统中存在缺陷，会导致投影至所述投影屏上的图像出现缺陷，所述采集单元对所述投影屏上的图像进行采集，采集后得到的图像为所述第一检测图像。
S400，根据所述第一投影区块以及所述第一检测图像，确定所述第一投影区块的的第一缺陷信息；
其中，所述第一缺陷信息用于表示所述第一投影区块内的缺陷信息，所述第一缺陷信息包括所述缺陷检测装置在所述第一投影区块内检测到缺陷位置与缺陷个数。
S500，重复执行步骤1，直至所述第一投影图像的全部所述第一投影区块完成缺陷检测。
其中，当所述第一投影图像包括多个所述第一投影区块时，控制所述采集单元移动至每个所述第一投影区块，逐个对所述第一投影区块进行检测。
本发明提出的技术方案中，所述缺陷检测方法应用于投影系统的缺陷检测装置，所述投影系统包括投影装置与投影屏，所述缺陷检测装置包括采集单元，所述缺陷检测方法包括：控制所述投影装置投影第一投影区块至所述投影屏，所述第一投影区块为所述第一投影图像中的一部分；移动所述采集单元，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块，控制所述采集单元采集第一检测图像，并根据所述采集图像确定所述第一投影区块的第一缺陷信息，然后在依次投影所述第一投影图像中的所述第一投影区块，并计算所述第一投影区块的所述第一缺陷信息。通过移动所述采集单元，对所述第一投影图像的所述第一投影区块分别进行缺陷检测，从而解决了所述投影设备的投影分辨率大于所述相机的分辨率，导致无法通过相机对投影舍被进行缺陷检测的问题。
具体实施方式中，当所述第一投影区块为多个时，所述缺陷检测装置分别对每个所述第一投影区块进行缺陷检测，并且在对全部所述第一投影区块完成缺陷检测时，将全部所述第一陷检测图像合成为一张图像，并且再次对整张缺陷图像进行缺陷检测，从而避免缺陷位于一所述第一检测图像与另一所述检测图像之间，导致缺陷检测不准确的问题。
请参照图2，在一些可选的实施方式中，所述缺陷检测装置还包括调整装置，上述步骤S200，包括：
S210，沿第一方向调整所述调整装置，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块；
S220，沿第二方向调整所述调整装置，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块，所述第二方向与所述第一方向相互垂直。
其中，所述调整装置与所述采集单元连接，所述调整装置可以为三自由度或六自由度的调整台，所述采集单元与所述调整台固定连接，所述调整台用于调整所述采集单元的位置与角度。具体实施方式中，采集单元为相机，由于现有技术中投影装置的投影图像像素数量通常大于相机的最大像素采集术，因此所述相机无法单次对所述投影图像进行完整的采集，优选实施方案中，所述投影装置沿不同位置多次投影所述第一投影区块，多个所述第一投影区块覆盖所述投影装置的全部投影区域，为了保证所述采集单元能够对多个所述第一投影区块进行准确的采集，通过调节所述调整装置，在每次采集单元采集所述第一检测图像前，调整所述调整装置，使所述采集单元的采集方向指向所述投影屏，从而方便所述采集单元能够完整的采集到所述第一检测图像。
具体实施方式中，当所述第一投影图像中包括多个所述第一投影区块时，并且所述第一投影区块沿横向与纵向分布时，所述第一方向为横向，所述第二方向为纵向，所述缺陷检测的顺序可以为从左至右再从上至下或者从上至下再从左至右。
可以理解的，于另一实施方式中，当所述采集单元为多个时，多个所述采集单元并排或并列设置，多个所述采集单元共同移动，同时对多个所述第一投影区块进行采集。
请参照图,3，在一些可选的实施方式中，所述步骤S300，包括：
S310，确定所述第一检测图像的第二缺陷信息；
其中，所述第二缺陷信息是指根据所述第一检测图像检测到的缺陷信息，所述第二缺陷信息包括缺陷在所述第一检测图像中的相对位置信息。具体的，所述投影装置为数字光处理(Digital Light Processing,DLP)投影装置，所述第一投影区块为纯白色图片时，所述DLP投影装置通过数字微镜子元件(Digital Micromirror Device，DMD)芯片进行投影，当所述DMD芯片上的转动到指定角度时，所述DMD投影装置投影出的图像与所述第一投影区块一致。当所述投影装置的DMD芯片部分位置出现偏移，所述出采集单元在所述第一检测图像中的对应位置亮度下降，从而通过所述像素点的亮度，判断所述第一检测图像的所述第二缺陷信息。
S320，确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的对应关系；
S330，根据所述对应关系，确定所述投影系统的第一缺陷信息。
其中，根据所述对应关系与所述第二缺陷信息，确定所述投影系统的第一缺陷信息，所述第一缺陷信息为所述投影系统的第一缺陷信息，所述第一缺陷信息包括缺陷在所述第一投影区块中的相对位置信息。
在具体实施方式中，所述第一投影区块被所述投影装置投射至所述投影屏，并被所述采集单元采集与所述第一投影区块相关联的第一检测图像，当确定所述第一检测图像上的所述第二缺陷信息时，根据所述第一投影区块与所述第一检测图像的对应关系，确定所述投影系统的所述第一缺陷信息。
请参照图4，在一些可选的实施方式中，所述第一检测图像包括N个像素点，N为正整数，所述步骤S310，包括：
S311，获取N个所述像素点的亮度值，确定N个所述像素点的亮度平均值；
其中，所述第一投影区块与相关联的所述第一检测图像均为纯色图片，优选的，所述第一投影区块与所述第一检测图像均为白色纯色图片，其中白色像素点的亮度值为255，具有缺陷的像素点的位置亮度值小于255。
S312，根据所述像素点的亮度值与所述亮度平均值，确定所述第二缺陷信息。
具体实施方式中，对所述第一检测图像中的像素点进行逐个扫描，确定所述像素点的亮度值，由于所述第一检测图像为白色纯色图片，当所述第一检测图像中无缺陷时，所述第一检测图像中像素点的亮度平均值为255，当所述第一检测图像中存在缺陷时，所述第一检测图像中像素点的亮度平均值略小于255，将每个所述像素点的亮度值分别于所述亮度平均值进行对比，从而判断所述像素点是否为缺陷。
于另一实施方式中，在确定所述第一检测图像的像素的亮度平均值时，可以选定预设的检测区域，并对检测区域内的像素点确定亮度平均值，并且计算得到的所述亮度平均值确定为所述第一检测图像的亮度平均值。
在一些可选的实施方式中，所述步骤S312，包括；
根据所述亮度平均值及亮度变化值，确定亮度阈值；
其中，亮度变化值通过用户预设的方式进行确定，用于确定所述亮度阈值。所述亮度阈值用于判断所述像素点的亮度值是否为缺陷像素。
将所述像素点的亮度值与所述亮度阈值进行对比，确定所述第二缺陷信息。
具体实施方式中，当所述第一检测图像为白色纯色图片，所述亮度变化值设置10时，所述亮度阈值为245，通过将每个像素点的亮度值与所述亮度阈值进行比较，确定当前所述像素点是否为缺陷像素，从而确定所述第一检测图像的所述第一检测信息。
在一些可选的实施方式中，所述将所述像素点的亮度值与所述亮度阈值进行对比，确定所述第二缺陷信息，包括：
当所述像素点的亮度值大于所述亮度阈值时，所述像素点为合格像素点；
当所述像素点的亮度值小于所述亮度阈值时，所述像素点为缺陷像素点；
根据所述合格像素点与所述缺陷像素点，确定所述第二缺陷信息。
具体的，所述第二缺陷信息包括所述合格像素点与所述缺陷像素点的数量及位置信息，当所述第一检测图像为白色纯色图片，所述亮度变化值设置10时，所述亮度阈值为245，当检测到所述像素点的亮度值为170时，确定所述像素点为缺陷像素，当检测到所述像素点的亮度值为252时，确定所述像素为合格像素。
请参照图5，在一些可选的实施方式中，所述步骤S320，包括：
S321，确定所述第一投影区块的第一横向像素数与第一纵向像素数；
S322，确定所述第一检测图像的第二横向像素数与第二纵向像素数；
S323，根据所述第一横向像素数以及所述第二横向像素数，确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的横向比例；
S324，根据所述第一纵向像素数以及所述第二纵向像素数，确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的纵向比例；
S325，根据所述横向比例与所述纵向比例，确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的对应关系。
具体实施方式中，所述第一投影区块的分辨率为500*500像素，所述第一检测图像的分辨率为1000*1000像素，所述第一投影区块与所述第一检测图像的横向比例为1:2，所述第一投影区块与所述第一检测图像的纵向比例为1:2。当所述第一检测图像的缺陷像素点的坐标值为(100，150)时，对应所述第一投影区块上的缺陷像素点的坐标值为(50，75)；当所述第一检测图像的缺陷像素点的坐标值为(100，133)时，对应所述第一投影区块上的缺陷像素点的坐标值为(50，67)；当所述第一检测图像的缺陷像素点的坐标值为(57，142)时，对应所述第一投影区块上的缺陷像素点的坐标值为(29，71)。
为实现上述目的，所述缺陷检测装置用于检测投影系统的第一缺陷信息，所述投影系统包括投影装置与投影屏，所述缺陷检测装置包括采集单元以及控制器；所述投影装置的投影方向指向所述投影屏，所述采集单元的采集方向指向所述投影屏，所述控制器与所述投影装置以及所述采集单元通信连接，用于执行如上述任一项实施方式所述的缺陷检测方法。
在一些可选的实施方式中，所述缺陷检测装置还包括调整装置，所述调整装置与所述采集单元连接，用于使所述采集单元的采集方向指向所述投影屏，优选的，所述调整装置为三自由度或六自由度调整台，所述调整装置能够调整所述采集单元的位置与角度。
为执行并实现上述缺陷检测方法，本发明还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现如上述任一种实施方式所述的的缺陷检测方法的步骤。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施方式可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述仅为本发明的优选实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法应用于投影系统的缺陷检测装置，所述投影系统包括投影装置与投影屏，所述缺陷检测装置包括采集单元，所述缺陷检测方法包括：
步骤1，控制所述投影装置投影第一投影图像中的第一投影区块于所述投影屏，所述第一投影图像包括N个依次排列的所述第一投影区块；
步骤2，移动所述采集单元，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块；
步骤3，控制所述采集单元采集第一检测图像，所述第一检测图像与所述第一投影区块相关联；
步骤4，根据所述第一投影区块以及所述第一检测图像，确定所述第一投影区块的的第一缺陷信息；
步骤5，重复执行步骤1，直至所述第一投影图像的全部所述第一投影区块完成缺陷检测。
2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括调整装置，所述移动所述采集单元，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块，包括：
沿第一方向调整所述调整装置，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块；
沿第二方向调整所述调整装置，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块，所述第二方向与所述第一方向相互垂直。
3.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一投影区块以及所述第一检测图像，确定所述投影系统的第一缺陷信息，包括：
确定所述第一检测图像的第二缺陷信息；
确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的对应关系；
根据所述对应关系，确定所述投影系统的第一缺陷信息。
4.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述第一检测图像包括N个像素点，N为正整数，所述确定所述第一检测图像的第二缺陷信息，包括：
获取N个所述像素点的亮度值，确定N个所述像素点的亮度平均值；
根据所述像素点的亮度值与所述亮度平均值，确定所述第二缺陷信息。
5.如权利要求4所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述像素点的亮度值与所述亮度平均值，确定所述第二缺陷信息，包括：
根据所述亮度平均值确定亮度阈值；
将所述像素点的亮度值与所述亮度阈值进行对比，确定所述第二缺陷信息。
6.如权利要求5所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述像素点的亮度值与所述亮度阈值进行对比，确定所述第二缺陷信息，包括：
当所述像素点的亮度值大于或等于所述亮度阈值时，所述像素点为合格像素点；
当所述像素点的亮度值小于所述亮度阈值时，所述像素点为缺陷像素点；
根据所述合格像素点与所述缺陷像素点，确定所述第二缺陷信息。
7.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的对应关系，包括：
确定所述第一投影区块的第一横向像素数与第一纵向像素数；
确定所述第一检测图像的第二横向像素数与第二纵向像素数；
根据所述第一横向像素数以及所述第二横向像素数，确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的横向比例；
根据所述第一纵向像素数以及所述第二纵向像素数，确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的纵向比例；
根据所述横向比例与所述纵向比例，确定所述第一投影区块与所述第一检测图像的对应关系。
8.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置用于检测投影系统的第一缺陷信息，所述投影系统包括投影装置与投影屏，所述缺陷检测装置包括采集单元与控制器；所述投影装置的投影方向指向所述投影屏，所述采集单元的采集方向指向所述投影屏，所述控制器与所述投影装置以及所述采集单元通信连接，用于执行如权利要求1-7任一项所述的缺陷检测方法。
9.如权利要求8所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括调整装置，所述调整装置与所述采集单元连接，用于使所述采集单元的采集方向指向所述投影屏。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括处理器、存储器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现如权利要求1-7任一项所述的缺陷检测方法的步骤。
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