CN110353714B - Ct设备异常检测方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
Ct设备异常检测方法、装置、设备及存储介质 Download PDFInfo
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Abstract
本发明实施例公开了一种CT设备异常检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括球管、角度传感器、准直器、和滤过中的至少一个；根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态。本发明实施例的技术方案通过同时对各待检测装置的监测参数信息进行获取，进而实现对各待检测装置的异常状态的确定，减少了异常检测时间，并通过异常状态的自动化确定，降低了异常检测门槛，进而增强了CT设备用户的使用体验。
Description
技术领域
本发明实施例涉及医学仪器技术领域，尤其涉及一种CT设备异常检测方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
CT(Computed Tomography，即电子计算机断层扫描)设备利用精确准直的X线束、γ射线、或超声波等，与灵敏度极高的探测器一同围绕人体的某一部位进行断层扫描，具有扫描时间快、图像清晰等特点，可用于多种疾病的检查，辅助进行疾病的诊断和治疗。
为了有效保证CT设备的成像精度，通常会定期对CT设备进行软硬件更新，并需要在软硬件更新后，对CT设备的工作状态进行判断，以排除CT设备工作异常的情况。
现有技术中对CT设备进行异常检测通常采用一套完整的自检和图像质量确认，检测过程耗时较长。另外，检测过程对专业性要求较高，需要研发人员或测试人员参与，使得异常检测门槛较高。
发明内容
本发明提供一种CT设备异常检测方法、装置、设备及存储介质，以实现减少异常检测时间，并降低异常检测门槛。
第一方面，本发明实施例提供了一种CT设备异常检测方法，包括：
获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括球管、角度传感器、准直器、和滤过中的至少一个；
根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态。
第二方面，本发明实施例还提供了一种CT设备异常检测装置，包括：
参数信息获取模块，用于获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括球管、角度传感器、准直器、和滤过中的至少一个；
异常状态确定模块，用于根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态。
第三方面，本发明实施例还提供了一种CT设备，包括：
一个或多个处理器；
存储器，用于存储一个或多个程序；
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如第一方面实施例所提供的一种CT设备异常检测方法。
第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如第一方面实施例所提供的一种CT设备异常检测方法。
本发明实施例通过获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括球管、角度传感器、准直器和滤过中的至少一个；根据检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态。上述技术方案通过同时对各待检测装置的监测参数信息进行获取，进而实现对各待检测装置的异常状态的确定，减少了异常检测时间，并通过异常状态的自动化确定，降低了异常检测门槛，进而增强了CT设备用户的使用体验。
附图说明
图1是本发明实施例一中的一种CT设备异常检测方法的流程图；
图2A是本发明实施例一中的正常球管电流随旋转角度的变化曲线；
图2B是本发明实施例一中的球管电流随旋转角度的变化曲线；
图2C是本发明实施例一中的一台CT设备对应的光强分布信息图；
图2D是本发明实施例一中的另一台CT设备对应的光强分布信息图；
图2E是本发明实施例一中的两台CT设备的光强差分布信息图；
图2F是本发明实施例一中的准直器工作异常时的光强差分布信息图；
图2G是本发明实施例一中的滤过工作异常时的光强差分布信息图；
图2H是本发明实施例一中的磁栅角度尺正常时积分时间随采样时间的变化曲线；
图2I是本发明实施例一中的磁栅角度尺异常时积分时间随采样时间的变化曲线；
图2J是本发明实施例一中的角度传感器的采样角度随旋转角度的变化曲线；
图3A是本发明实施例二中的一种CT设备异常检测方法的流程图；
图3B是本发明实施例二中的一种角度传感器的结构示意图；
图4是本发明实施例三中的一种CT设备异常检测装置的结构图；
图5是本发明实施例四中的一种CT设备的结构图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
实施例一
图1是本发明实施例一中的一种CT设备异常检测方法的流程图，本发明实施例适用于对CT设备的工作状态进行异常检测的情况。该方法由CT设备异常检测装置执行，该装置通过软件和/或硬件实现，并具体配置于CT设备中的数据处理设备中。
如图1所示的一种CT设备异常检测方法，包括：
S110、获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括球管、角度传感器、准直器、和滤过中的至少一个。
示例性地，若所述待检测装置包括球管，则所述检测参数信息包括球管电压、球管电流、球管功率、和灯丝电流中的至少一种；若所述待检测装置包括准直器和/或滤过，则所述检测参数信息包括各探测器通道对应的光强分布信息；若所述待检测装置包括角度传感器，则所述检测参数信息包括采样角度和/或积分时间。示例性地，角度传感器可以是磁栅角度尺或光栅角度尺等。
可选的，获取各待检测装置的检测参数信息，可以是控制CT设备对待检测体进行旋转扫描，并在完成一个周期的扫描后，获取执行当前扫描时各待检测装置的检测参数信息。其中，待检测体可以是空气或其他模体，例如针模或水模等。
或者可选的，获取各待检测装置的检测参数信息，还可以是从CT设备中的存储装置、与CT设备相关联的其他存储装置或云端中读取CT设备对待检测体进行旋转扫描时的关联数据，其中关联数据中包括在进行旋转扫描时各待检测装置的检测参数信息。其中，待检测体可以是空气或其他模体，例如针模或水模等。
S120、根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态。
示例性地，根据检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态，可以是根据检测参数信息与参考检测参数，确定各待检测装置的工作状态是否异常。其中，参考检测参数可以是空气或其他模体，例如针模或水模等。
其中，参考检测参数可以是相同型号的自检合格的CT设备，在相同的扫描协议下，对同一待检测体进行扫描后得到的各检测参数信息，经统计分析后得到。
示例性地，对同一待检测体进行扫描后得到的各检测参数信息，经统计分析后得到参考检测参数，可以是：针对每种类别的待检测参数信息，获取各待检测参数信息的参数值；将较大的几个参数值平均后得到最大参数值，将较小的几个参数值平均后得到最小参数值；将最小参数值和最大参数值作为参考检测参数。
可选的，较大的几个参数值可以是参数值超出参数值均值的设定百分比(例如30％)时对应的各参数值；较小的几个参数值可以是参数值小于参数值均值的设定百分比(例如30％)时对应的各参数值。
或者可选的，直接获取各参数值中的最大的参数值和最小的参数值作为参考检测参数。
示例性地，对同一待检测体进行扫描后得到的各检测参数信息，经统计分析后得到参考检测参数，还可以是：针对每种类别的待检测参数信息，获取各待检测参数信息的参数值，并计算所有参数值的平均值；将平均值扩展设定精度后，得到参考检测参数。其中，设定精度可以由技术人员根据需要或经验值进行设定。例如，若球管电流的平均值为100mA，设定精度为5％，则确定的参考检测参数为95mA～105mA。
为了更加清楚的描述异常状态确定的过程，将分别对不同待检测装置的异常检测方法进行示例性说明。
在本发明实施例的一个可选实施方式中，若所述待检测装置包括球管，则所述检测参数信息包括球管电压、球管电流、球管功率、和灯丝电流中的至少一种；
相应的，根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态，包括：
若所述球管电压不满足设定电压阈值、所述球管电流不满足设定电流阈值、所述球管功率不满足设定功率阈值、或所述灯丝电流不满足设定灯丝电流阈值，则确定所述球管工作异常。
其中，设定电压阈值为球管电压对应的参考检测参数；设定电流阈值为球管电流对应的参考检测参数；设定功率阈值为球管功率对应的参考检测参数；设定灯丝电流阈值为灯丝电流对应的参考检测参数。
以检测参数信息球管电流为例，多次测量设定扫描协议不同扫描时刻的电流值，得到图2A所示正常球管电流随旋转角度的变化曲线，其中横坐标为机架的旋转角度，也即采样时间，纵坐标为球管电流。将[97mA,102mA]作为设定电流阈值，用于表征正常工作状态下的球管电流范围。
获取不同采样时间下对应的球管的球管电流，将各球管电流与设定电流阈值进行比较，若球管电流不满足设定电流阈值，则确定球管工作异常。
参见图2B所示的球管电流随旋转角度的变化曲线可知，由于[0,90]采样时间范围内，存在部分球管电流小于97mA，部分电流大于102mA的情况，因此确定球管不稳定，也即球管工作异常。
当然，为了能够进一步指示检测人员后续对CT设备的后续处理工作，还可以向检测人员反馈需要进行灯丝校正或训管的指示内容。
在本发明实施例的另一可选实施方式中，若所述待检测装置包括准直器和/或滤过，则所述检测参数信息包括各探测器通道对应的光强分布信息；
相应的，根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态，包括：
确定所述光强分布信息与参考光强分布信息之间的光强差值；
若存在部分探测器通道对应的光强差值不满足设定光强差阈值，则确定所述准直器工作异常；
若各探测器通道对应的光强差值均不满足设定光强差阈值，则确定所述滤过工作异常。
具体的，CT设备的扫描光束开缝宽度通过准直器来控制，若准直器位置不准确，将会使被遮挡的射线区域或被探测器接收的射线区域发生变化，从而改变正确的光强分布。另外，由于滤过用于调制扫描光束的光强分布，当滤过位置不准确时，同样会改变正确的光强分布。不同的是，准直器位置不准确只会改变靠近探测器边缘的光强分布，而滤过位置不准确则会改变整体的光强分布。
采用相同型号的两台CT设备在相同扫描协议下，对同一待检测体进行扫描，分别得到两个光强分布信息图，见图2C和图2D；将得到的两个光强分布图中各光强数据对应做差，得到光强差分布信息图见图2E；将光强差分布信息图中的各像素点对应的光强值作为设定光强差阈值。
可以理解的是，为了提高设定光强差阈值的准确性，在得到光强分布图时，还可以通过多次扫描取均值的方式得到。
其中，参考光强分布信息可以采用同种型号的CT设备在相同扫描协议下，对同一待检测体进行扫描，得到多个光强分布信息图后，取均值得到。
获取当前CT设备在一定扫描协议下对待检测体进行扫描，得到的当前光强分布信息图；根据当前CT设备的型号、扫描协议和待检测体，确定参考光强分布信息图；确定当前光强分布信息图与参考光强分布信息图光强差值；若存在部分探测器通道对应的光强差值不满足设定光强差阈值，则确定准直器工作异常，见图2F对应的光前差分布信息图。若各探测器通道对应的光强差值均不满足在设定光强差阈值，则确定滤过工作异常，见图2G对应的光前差分布信息图。
当然，为了能够进一步指示检测人员后续对CT设备的后续处理工作，还可以在确定准直器异常时，向检测人员反馈需要进行准直器位置校正的指示内容；在确定滤过工作异常时，向检测人员反馈需要对滤过位置进行校正的指示内容。
在本发明实施例的再一可选实施方式中，若所述待检测装置包括角度传感器，则所述检测参数信息包括采样角度和/或积分时间。
相应的，根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态，包括：
若所述积分时间不满足设定积分时间阈值，则确定所述角度传感器工作异常。
以角度传感器为磁栅角度尺为例进行说明。CT设备通常是等角速度进行旋转，因此在采集到一个采样角度的图像，其实是球管在等角度范围内放出的设限制和，该采样角度等于机架旋转角速度与探测器的积分时间的乘积。CT设备在旋转扫描过程中，需要磁栅角度尺来记录当前采集数据的角度，再根据旋转角速度来计算每个采样角度时探测器的积分时间。正常磁栅角度尺的输出角度脉冲信号在一个周期内是线性单调增加，此时探测器的积分时间也是一个固定值。因此，可以多次测量设定扫描协议下的积分时间，统计分析后给出平均的阈值范围作为设定积分时间阈值。
示例性地，对各积分时间统计分析得到设定积分时间阈值，可以是获取各积分时间的时间值，将较大的几个时间值平均后得到最大积分时间值，将较小的几个时间值平均后得到最小积分时间值；将最大积分时间值和最小积分时间值作为设定积分时间阈值。
可选的，较大的几个时间值可以是时间值超出所有时间值的均值的设定百分比(例如30％)时对应的各参数值；较小的几个时间值可以是时间值小于所有时间值的均值的设定百分比(例如30％)时对应的各参数值。
或者可选的，直接获取各时间值中的最大的时间值和最小的时间值作为设定积分时间阈值。
示例性地，对各积分时间统计分析得到设定积分时间阈值，还可以是获取各积分时间的时间值，并计算所有时间值的平均值；将平均值扩展设定精度后，得到设定积分时间阈值。其中，设定精度可以由技术人员根据需要或经验值进行设定。
多次测量设定扫描协议不同扫描时刻磁栅角度尺的积分时间，得到图2H所示磁栅角度尺正常时积分时间随采样时间的变化曲线，其中横坐标为机架的旋转角度，也即采样时间，纵坐标为积分时间。将[50000μs,54000μs]作为设定积分时间阈值，用于表征正常工作状态下的积分时间范围。
获取不同采样时间下对应的磁栅角度尺的积分时间，将各积分时间与设定积分时间阈值进行比较，若积分时间不满足设定积分时间阈值，则确定磁栅角度尺工作异常。
参见图2I所示的积分时间随采样时间的变化曲线可知，由于采样时间为410时，存在积分时间小于50000μs的情况，因此确定磁栅角度尺记录的角度不准确，也即磁栅角度尺工作异常。
当然，为了能够进一步指示检测人员后续对CT设备的后续处理工作，还可以向检测人员反馈需要进行磁栅角度尺进行校正的指示内容。
在本发明实施例的又一可选实施方式中，若所述待检测装置包括角度传感器，则所述检测参数信息包括采样角度。
相应的，根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态，包括：
若最大采样角度对应的下一采样角度为非零值，则确定所述角度传感器工作异常。
参见图2J所示的采样角度随旋转角度的变化曲线可知，由于第1812次采样对应的采样角度的编码值最大为5758，而第1813次采样对应的采样角度的编码值为4，由于第1813次采样对应的采样角度的编码值非零，因此，确定角度传感器工作异常。
当然，为了能够进一步指示检测人员后续对CT设备的后续处理工作，还可以向检测人员反馈需要进行角度传感器进行校正的指示内容。
需要说明的时，当同一待检测装置具备不同的异常检测方法时，可以通过多种异常检测方法同时执行的方式，实现异常检测并对异常检测结果进行交叉验证，进而提高异常检测结果的准确度。
本发明实施例通过获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括球管、角度传感器、准直器和滤过中的至少一个；根据检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态。上述技术方案通过同时对各待检测装置的监测参数信息进行获取，进而实现对各待检测装置的异常状态的确定，减少了异常检测时间，并通过异常状态的自动化确定，降低了异常检测门槛，进而增强了CT设备用户的使用体验。
实施例二
图3A是本发明实施例二中的一种CT设备异常检测方法的流程图，本发明实施例在上述各实施例的技术方案的基础上进行了优化改进。
进一步地，检测参数信息包括采样角度，相应的，将操作“根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态”细化为“在确定CT设备在当前扫描周期中所述采样角度包括零点时，获取所述当前扫描周期中的相邻采样角度；若所述相邻采样角度对应的采样时间满足设定时间条件，且所述相邻采样角度对应的采样角度满足设定位置条件，则确定所述角度传感器工作异常”，以丰富对CT设备中的角度传感器的异常检测机制。
如图3A所示的一种CT设备异常检测方法，包括：
S310、获取角度传感器的检测参数信息；其中，待检测装置包括角度传感器。
S320、在确定CT设备在当前扫描周期中所述采样角度包括零点时，获取所述当前扫描周期中的相邻采样角度。
CT设备在扫描时需要机架在不同扫描协议下实现旋转和精确定位，这就依赖于数据采集板反馈的位置信息实时准确。而数据采集板反馈的位置信息依赖于角度传感器，角度传感器存在起始位置和结束位置，机架每旋转一圈(对应一个扫描周期)角度传感器的采样角度就从0到最大编码值。在机架进行下一圈的旋转时，角度传感器再从0开始进行编码值测量。因此，每个扫描周期均含有一个起始零点。
参见图3B所述的一种角度传感器的结构示意图，受限于角度传感器硬件制造问题，在角度传感器的起始位置和终止位置的连接处存在一个间隙，称为GAP区。研究和测试发现，当数据采集板在未到达GAP区的终点位置时，提前跳变到零点的位置，将会造成机架定位失败，一直扫描成像反转、出现运动伪影、或成像倾斜的情况。
S330、若所述相邻采样角度对应的采样时间满足设定时间条件，且所述相邻采样角度对应的采样角度满足设定位置条件，则确定所述角度传感器工作异常。
示例性地，所述相邻采样角度对应的采样时间满足设定时间条件，包括：
所述相邻采样角度的采样时间差值小于设定采样时间差阈值；
示例性地，所述相邻采样角度对应的采样角度满足设定位置条件，包括：
所述相邻采样角度中后一采样时间对应的采样角度小于设定位置差阈值、所述相邻采样角度中前一采样时间对应的采样角度大于设定位置值阈值、且所述相邻采样角度中前一采样时间对应的采样角度与所述设定位置差阈值的和值小于所述当前扫描周期的最大采样角度。
具体的，根据以下公式确定相邻采样角度对应的采样时间满足设定时间条件：
CurrentPositionTime–LastPositionTime<PositionTimeThreshold；
其中，CurrentPositionTime为相邻采样角度对应的相邻采样时间的后一采样时间；LastPositionTime为相邻采样角度对应的相邻采样时间的前一采样时间；PositionTimeThreshold为设定采样时间阈值。
其中，设定采样时间差阈值根据采样频率确定。例如，若采样频率为10ms/次，则设定采样时间差阈值可以是20ms。
具体的，根据以下公式确定相邻采样角度中后一采样时间对应的采样角度小于设定位置差阈值：
CurrentPosition<MaxPositionDiff+Alpha；
其中，CurrentPosition为相邻采样角度中后一采样时间对应的采样角度；MaxPositionDiff为设定位置差阈值；Alpha为修正因子，例如Alpha＝2。
具体的，可以采用以下公式确定设定位置差阈值：
MaxPositionDiff＝((MaxCount/T)/1000)*Tsample；
其中，MaxCount为当前扫描周期的最大采样角度；T为机架旋转时间；Tsample为采样频率。
具体的，根据以下公式确定相邻采样角度中前一采样时间对应的采样角度大于设定位置值阈值：
LastPosition>MaxPositionDiff-Beta；
其中，LastPositon为相邻采样角度中前一采样时间对应的采样角度；Beta为修正因子，例如Beta＝1。
具体的，根据以下公式确定所述相邻采样角度中前一采样时间对应的采样角度与所述设定位置差阈值的和值小于所述当前扫描周期的最大采样角度：
LastPositon+MaxPositionDiff<MaxCount。
在上述条件均满足时，表示当前扫描周期内存在假零点，也即角度传感器工作异常。
当然，为了能够进一步指示检测人员后续对CT设备的后续处理工作，还可以向检测人员反馈需要进行角度传感器进行校正的指示内容。为了减少不必要的资源损耗，还可以直接触发相应的控制策略，例如控制机架减速至停止运动，并不再响应任何运动指令，直至检测人员做出响应。
本发明实施例通过将对角度传感器的异常状态确定操作，细化为在确定CT设备在当前扫描周期中的采样角度包括零点时，获取当前扫描周期中的相邻采样角度；若相邻采样角度对应的采样时间满足设定时间条件，且相邻采样角度对应的采样角度满足设定位置条件，则确定角度传感器工作异常，以丰富对CT设备中的角度传感器的异常检测机制，进而避免由于机架定位失败导致的扫描成像反转、运动伪影以及成像倾斜等情况的发生。
实施例三
图4是本发明实施例三中的一种CT设备异常检测装置的结构图，本发明实施例适用于对CT设备的工作状态进行异常检测的情况。该装置通过软件和/或硬件实现，并具体配置于CT设备中的数据处理设备中。
如图4所示的一种CT设备异常检测装置，包括：参数信息获取模块410和异常状态确定模块420。
参数信息获取模块410，用于获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括球管、角度传感器、准直器、和滤过中的至少一个；
异常状态确定模块420，用于根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态。
本发明实施例通过参数信息获取模块获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括球管、角度传感器、准直器和滤过中的至少一个；通过异常状态确定模块根据检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态。上述技术方案通过同时对各待检测装置的监测参数信息进行获取，进而实现对各待检测装置的异常状态的确定，减少了异常检测时间，并通过异常状态的自动化确定，降低了异常检测门槛，进而增强了CT设备用户的使用体验。
进一步地，若所述待检测装置包括球管，则所述检测参数信息包括球管电压、球管电流、球管功率、和灯丝电流中的至少一种；
相应的，异常状态确定模块420，具体用于：
若所述球管电压不满足设定电压阈值、所述球管电流不满足设定电流阈值、所述球管功率不满足设定功率阈值、或所述灯丝电流不满足设定灯丝电流阈值，则确定所述球管工作异常。
进一步地，若所述待检测装置包括准直器和/或滤过，则所述检测参数信息包括各探测器通道对应的光强分布信息；
相应的，异常状态确定模块420，具体用于：
确定所述光强分布信息与参考光强分布信息之间的光强差值；
若存在部分探测器通道对应的光强差值不满足设定光强差阈值，则确定所述准直器工作异常；
若各探测器通道对应的光强差值均不满足设定光强差阈值，则确定所述滤过工作异常。
进一步地，若所述待检测装置包括角度传感器，则所述检测参数信息包括采样角度和/或积分时间。
相应的，异常状态确定模块420，具体用于：
若最大采样角度对应的下一采样角度为非零值，或所述积分时间不满足设定积分时间阈值，则确定所述角度传感器工作异常。
进一步地，所述检测参数信息包括采样角度；
相应的，异常状态确定模块420，具体用于：
在确定CT设备在当前扫描周期中所述采样角度包括零点时，获取所述当前扫描周期中的相邻采样角度；
若所述相邻采样角度对应的采样时间满足设定时间条件，且所述相邻采样角度对应的采样角度满足设定位置条件，则确定所述角度传感器工作异常。
进一步地，所述相邻采样角度对应的采样时间满足设定时间条件，包括：
所述相邻采样角度的采样时间差值小于设定采样时间差阈值；
所述相邻采样角度对应的采样角度满足设定位置条件，包括：
所述相邻采样角度中后一采样时间对应的采样角度小于设定位置差阈值、所述相邻采样角度中前一采样时间对应的采样角度大于设定位置值阈值、且所述相邻采样角度中前一采样时间对应的采样角度与所述设定位置差阈值的和值小于所述当前扫描周期的最大采样角度。
上述CT设备异常检测装置可执行本发明任意实施例所提供的CT设备异常检测方法，具备执行CT设备异常检测方法相应的功能模块和有益效果。
实施例四
图5是本发明实施例四中的一种CT设备的结构图。如图5所示的CT设备，包括：输入装置510、处理器520以及存储装置530。
其中，输入装置510，用于获取各待检测装置的检测参数信息；CT设备异常检测
一个或多个处理器520；
存储装置530，用于存储一个或多个程序。
图5中以一个处理器520为例，该CT设备中的输入装置510可以通过总线或其他方式与、处理器520以及存储装置530相连，且处理器520和存储装置530也通过总线或其他方式连接，图5中以通过总线连接为例。
在本实施例中，CT设备中的处理器520可以控制输入装置510获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括球管、角度传感器、准直器、和滤过中的至少一个；还可以根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态。
CT设备异常检测该CT设备中的存储装置530作为一种计算机可读存储介质，可用于存储一个或多个程序，所述程序可以是软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中CT设备异常检测方法对应的程序指令/模块(例如，附图4所示的参数信息获取模块410和异常状态确定模块420)。处理器520通过运行存储在存储装置530中的软件程序、指令以及模块，从而执行CT设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的CT设备异常检测方法。
存储装置530可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储数据等(如上述实施例中的检测参数信息等)。此外，存储装置530可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储装置530可进一步包括相对于处理器520远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至服务器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
实施例五
本发明实施例五还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被CT设备异常检测装置执行时实现本发明实施提供的CT设备异常检测方法，该方法包括：获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括球管、角度传感器、准直器、和滤过中的至少一个；根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态。
通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (9)
1.一种CT设备异常检测方法，其特征在于，包括：
获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括准直器和/或滤过；所述检测参数信息包括各探测器通道对应的光强分布信息；
根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态；
其中，根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态，包括：
确定所述光强分布信息与参考光强分布信息之间的光强差值；
若存在部分探测器通道对应的光强差值不满足设定光强差阈值，则确定所述准直器工作异常；
若各探测器通道对应的光强差值均不满足设定光强差阈值，则确定所述滤过工作异常。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待检测装置还包括球管，则所述检测参数信息包括球管电压、球管电流、球管功率、和灯丝电流中的至少一种；
相应的，根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态，还包括：
若所述球管电压不满足设定电压阈值、所述球管电流不满足设定电流阈值、所述球管功率不满足设定功率阈值、或所述灯丝电流不满足设定灯丝电流阈值，则确定所述球管工作异常。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待检测装置还包括角度传感器，所述检测参数信息还包括采样角度和/或积分时间。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态，还包括：
若最大采样角度对应的下一采样角度为非零值，或所述积分时间不满足设定积分时间阈值，则确定所述角度传感器工作异常。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述检测参数信息还包括采样角度；
相应的，根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态，还包括：
在确定CT设备在当前扫描周期中所述采样角度包括零点时，获取所述当前扫描周期中的相邻采样角度；
若所述相邻采样角度对应的采样时间满足设定时间条件，且所述相邻采样角度对应的采样角度满足设定位置条件，则确定所述角度传感器工作异常。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述相邻采样角度对应的采样时间满足设定时间条件，包括：
所述相邻采样角度的采样时间差值小于设定采样时间差阈值；
所述相邻采样角度对应的采样角度满足设定位置条件，包括：
所述相邻采样角度中后一采样时间对应的采样角度小于设定位置差阈值、所述相邻采样角度中前一采样时间对应的采样角度大于设定位置值阈值、且所述相邻采样角度中前一采样时间对应的采样角度与所述设定位置差阈值的和值小于所述当前扫描周期的最大采样角度。
7.一种CT设备异常检测装置，其特征在于，包括：
参数信息获取模块，用于获取各待检测装置的检测参数信息；其中，待检测装置包括准直器和/或滤过，所述检测参数信息包括各探测器通道对应的光强分布信息；
异常状态确定模块，用于根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态；
其中，根据所述检测参数信息，确定各待检测装置的异常状态，包括：
确定所述光强分布信息与参考光强分布信息之间的光强差值；
若存在部分探测器通道对应的光强差值不满足设定光强差阈值，则确定所述准直器工作异常；
若各探测器通道对应的光强差值均不满足设定光强差阈值，则确定所述滤过工作异常。
8.一种CT设备，其特征在于，包括：
一个或多个处理器；
存储器，用于存储一个或多个程序；
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一项所述的一种CT设备异常检测方法。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述的一种CT设备异常检测方法。
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