CN110290454A - 基于光学法的传声器高温校准系统 - Google Patents

Abstract

本发明适用于传声器校准技术领域，涉及一种基于光学法的传声器高温校准系统，所述系统包括光学装置、高温平面波声场发生装置、散射光接收与光电转换装置、示波器以及计算机；高温平面波声场发生装置内设待校准传声器；高温平面波声场发生装置用于形成高温环境以及平面波声场，光学装置引入可调整夹角的两束干涉光束、并会聚于光学测量点，接收光学测量点处的散射光进行光电转换处理产生电脉冲、通过对该电脉冲自相关解调并计算求得声质点振动速度；根据声质点振动速度和其他条件计算得到声压灵敏度。本发明系统实现了高温条件下基于光学法的传声器声压灵敏度校准；并且可灵活调整声压测量的动态范围，满足传声器声压响应线性度的校准需求。

Description

基于光学法的传声器高温校准系统

技术领域

本发明属于传声器校准技术领域，尤其涉及一种基于光学法的传声器高温校准系统。

背景技术

传声器是进行噪声测量等常规声学测试的基本传感器，其在高温环境的典型应用包括汽车和航空发动机测试、泵分析、暖通测试等等。目前，成熟的商用传声器产品的工作温度可达300℃，因而需要对传声器在高温工作环境下的声压灵敏度进行校准以保证噪声测量的可靠性。

现有技术中针对传声器校准的方法有几种，包括静电激励法、耦合腔/自由场比较法、以及光学法传声器校准；然而，对于现有校准方式都存在了缺陷，譬如静电激励法只能得到传声器的相对频率响应，需结合参考频率点处的校准结果，才能得到所有频率点处的声压灵敏度。此外，LS级声校准器无法在高温环境下工作，采用静电激励器在高温下校准相对频响有实现难度。

耦合腔/自由场比较法校准中，将参考传声器和被校准传声器放置于同一声场中，参考传声器的声压灵敏度是在常温环境下校准得到的，在高温环境采用比较法校准时，参考传声器需进行高温隔离，显然，耦合腔比较法是不适用的；自由场比较法可尝试用于高温校准，但需要考虑如何将声场通过高温装置耦合到被校准传声器及高温装置对声场的影响，目前还没有相关研究结论。

目前为止，以声管为测量对象的光学法空气声声压复现和传声器校准均在常温环境中开展，无法直接应用于高温工作环境；此外，已有光学系统中，两干涉光束夹角的可调范围非常有限，无法满足大动态范围传声器线性度的校准需求，另外，前向散射接收在每次更换声管时需微调光路，影响实际应用的可靠性和稳定性。

基于上述问题，本发明需提出新的校准方法以满足高温条件下传声器声压灵敏度测量的需求；并解决声压测量的动态范围受限的问题，以满足传声器声压响应线性度的校准需求。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了基于光学法的传声器高温校准系统，以解决现有技术在高温条件下无法满足传声器校准的需求。

本发明提供了基于光学法的传声器高温校准系统，所述系统包括光学装置、高温平面波声场发生装置、散射光接收与光电转换装置、示波器以及计算机；

所述光学装置置于所述高温平面波声场发生装置的外侧、用于将输入的激光光束进行光学处理产生具有可灵活调整夹角的两束干涉光束；

所述高温平面波声场发生装置内预先注入示踪粒子、设有待校准传声器并具有一光学透明入口和一光学透明出口，用于形成高温环境以及平面波声场；

所述散射光接收与光电转换装置用于接收从所述高温平面波声场发生装置的光学测量点产生的散射光并对散射光进行光电转换处理输出电脉冲；

其中，所述光学装置产生的两束干涉光束通过所述高温平面波声场发生装置的光学透明入口入射、并在所述高温平面波声场发生装置内会聚于光学测量点；在所述高温平面波声场发生装置内跟随声波振动的示踪粒子经过所述光学测量点产生散射光；所述散射光通过所述高温平面波声场发生装置的光学透明出口输出并由所述散射光接收与光电转换装置接收及光电转换处理输出电脉冲；输出的所述电脉冲由所述示波器接收并加载入所述计算机；所述计算机通过对散射光的电脉冲进行自相关调解，计算得出声质点振动速度；根据所述声质点振动速度、已知的声传播介质密度和声速计算出所述光学测量点的声压；并根据所述声压与所述待校准传声器输出电压计算出所述待校准传声器的声压灵敏度。

本发明系统通过高温平面波声场发生装置用于形成高温环境以及平面波声场，通过光学装置引入可调整夹角的两束干涉光束、并会聚于光学测量点，接收光学测量点处的散射光进行光电转换处理产生电脉冲、通过对该电脉冲自相关解调并计算求得声质点振动速度；根据声质点振动速度和其他条件计算得到声压灵敏度。实现了高温条件下基于光学法的传声器声压灵敏度校准；并且可灵活调整声压测量的动态范围，满足传声器声压响应线性度的校准需求。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，所述光学装置包括依次设置的激光器、光阑1、λ/2波片、偏振分束器、凸透镜1、针孔1、凸透镜2、反射镜1、分束器；以及分别用于反射所述分束器均分输出的两束干涉光束的反射镜2、反射镜3；所述针孔1放置于凸透镜1和凸透镜2之间且处于凸透镜1的焦点处；凸透镜1的焦距小于凸透镜2的焦距，且两凸透镜之间的距离大于其焦距之和；

其中，所述λ/2波片和偏振分束器用于控制入射到所述光学测量点的激光功率，其输出光束经过凸透镜1、针孔1、凸透镜2、反射镜1和分束器后均分为两束干涉光束，两束干涉光束分别由反射镜2和反射镜3反射后入射到所述高温平面波声场发生装置内。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，所述散射光接收与光电转换装置包括依次设置的光阑2、凸透镜3、针孔2以及光子计数器；所述针孔2放置于凸透镜3和所述光子计数器之间且处于凸透镜3的焦点处；

其中，在所述高温平面波声场发生装置内跟随声波振动的示踪粒子经过所述光学测量点产生的散射光由凸透镜3接收，经光阑2和针孔2空间滤波后入射到所述光子计数器内进行光电转换从而输出电脉冲。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，所述高温平面波声场发生装置包括行波管本体以及在所述行波管内依次设置的声源、第一绝热区、高温校准区、第二绝热区、吸声区；所述高温校准区用于在所述光学测量点处产生最高温度不低于400℃的均匀恒温场；

其中，所述高温校准区的管壁由透明的石英材料制成、管壁外侧被加热管包围；所述加热管中心设置光学测量用的一光学透明入口、一光学透明出口；所述高温校准区的管壁顶端预留若干接口，并在所述接口处设置有待校准传声器、温度传感器、温度控制器；由所述加热管、温度传感器和温度控制器构成的闭环温控环路，所述温度控制器接收所述温度传感器的温度测量数据并实时反馈调整所述加热管的驱动信号，以保证在所述光学测量点处产生最高温度不低于400℃的恒温场。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，所述声源为电声换能器、用于产生预期声压级的测量声场；所述第一绝热区、第二绝热区的管壁采用一定长度的不锈钢钢管制成、用于实现所述高温校准区两侧的隔热；所述行波管本体的横截面尺寸需满足在校准声波频率范围内仅允许管内辐射声场的基波传输；所述吸声区内设有吸声尖劈、所述吸声尖劈的材料和长度的选择应使其吸声系数满足行波管本体内产生平面波声场。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，所述计算机通过对散射光的电脉冲进行自相关调解，计算得出声质点振动速度，具体计算步骤如下：

对所接收的所述电脉冲进行自相关调解得到自相关曲线；

通过以下公式计算得出声质点振动速度u：

其中，d为所述行波管本体内所述光学测量点处两束干涉光产生的干涉条纹的间距，其计算公式为：其中，λ为所述高温校准区声传播介质中的激光波长，θ为所述两束干涉光的夹角的一半；

f_m为声波频率；

τ_min为所述自相关曲线包络出现第一个拐点对应的时间。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，根据所述声质点振动速度、已知的声传播介质密度和声速计算出所述光学测量点的声压，计算公式如下：

p＝ρ·c·u；

其中，ρ为声管内声传播介质的密度；

c为声速；

p为所述光学测量点处的声压；

u为声质点振动速度的有效值。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，根据所述声压与所述待校准传声器输出电压计算出所述待校准传声器的声压灵敏度，计算公式如下：

其中，p为所述光学测量点处的声压；

V为所述待校准传声器的输出电压；

s为所述待校准传声器的声压灵敏度。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明提供的基于光学法的传声器高温校准系统实施例的组成结构图；

图2是本发明提供的基于光学法的传声器高温校准系统完整实施例的光学示意图；

图3是本发明提供的基于光学法的传声器高温校准系统实施例中光学装置的示意图；

图4是本发明提供的基于光学法的传声器高温校准系统实施例中散射光接收与光电转换装置的示意图；

图5是本发明提供的基于光学法的传声器高温校准系统实施例中高温平面波声场发生装置的位置示意图。

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。

目前包括静电激励法和耦合腔/自由场比较法在内的标准传声器校准方法均不适用于高温环境；并且以声管为测量对象的光学法空气声声压复现和传声器校准均在常温环境中开展，无法直接应用于高温工作环境；此外，已有光学系统中，两干涉光束夹角的可调范围非常有限，无法满足大动态范围传声器线性度的校准需求。因此，本发明需提出新的校准方法以满足高温条件下传声器声压灵敏度测量的需求；并解决声压测量的动态范围受限的问题，以满足传声器声压响应线性度的校准需求。

为了具体说明上述基于光学法的传声器高温校准系统，下面通过具体实施例来进行说明。

如图1所示，图1是本发明提供的基于光学法的传声器高温校准系统实施例的组成结构图。所述系统包括光学装置11、高温平面波声场发生装置12、散射光接收与光电转换装置14、示波器15以及计算机16。

所述光学装置11置于所述高温平面波声场发生装置12的外侧、用于将输入的激光光束进行光学处理产生具有可灵活调整夹角的两束干涉光束。

所述高温平面波声场发生装置12内预先注入示踪粒子、设有待校准传声器13并具有一光学透明入口和一光学透明出口，用于形成高温环境以及平面波声场。

所述散射光接收与光电转换装置14用于接收从所述高温平面波声场发生装置12的光学测量点产生的散射光并对散射光进行光电转换处理输出电脉冲。

其中，如图2所示，所述光学装置11产生的两束干涉光束通过所述高温平面波声场发生装置12的光学透明入口入射、并在所述高温平面波声场发生装置12内会聚于光学测量点。在所述高温平面波声场发生装置12内跟随声波振动的示踪粒子经过所述光学测量点产生散射光。所述散射光通过所述高温平面波声场发生装置12的光学透明出口输出并由所述散射光接收与光电转换装置14接收及光电转换处理输出电脉冲。输出的所述电脉冲由所述示波器15接收并加载入所述计算机16。所述计算机16通过对散射光的电脉冲进行自相关调解，计算得出声质点振动速度。根据所述声质点振动速度、已知的声传播介质密度和声速计算出所述光学测量点的声压。并根据所述声压与所述待校准传声器13输出电压计算出所述待校准传声器13的声压灵敏度。进一步地，如图2所示，可以在偏振分束器、以及高温平面波声场发生装置12外设置光挡，将输出的光束进行挡光，以避免影响周围环境。

本发明具体实施时，在高温平面波声场发生装置12内注入合适的示踪粒子以跟随声质点振动，示踪粒子的散射光引入正比于声质点振动速度的多普勒频移。

具体实施时，如图3所示，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，所述光学装置11包括依次设置的激光器、光阑1、λ/2波片、偏振分束器、凸透镜1、针孔1、凸透镜2、反射镜1、分束器。以及分别用于反射所述分束器均分输出的两束干涉光束的反射镜2、反射镜3。所述针孔1放置于凸透镜1和凸透镜2之间且处于凸透镜1的焦点处。

其中，所述λ/2波片和偏振分束器用于控制入射到所述光学测量点的激光功率，其输出光束经过凸透镜1、针孔1、凸透镜2、反射镜1和分束器后均分为两束干涉光束，两束干涉光束分别由反射镜2和反射镜3反射后入射到所述高温平面波声场发生装置12内。

在本发明实施例中，凸透镜1和凸透镜2的作用是将激光器输出的激光束腰调整到高温平面波声场发生装置12内的光学测量点处，以减小光学测量点处干涉条纹畸变对声质点振动速度测量结果的影响。并且要求凸透镜1的焦距小于凸透镜2的焦距，且两凸透镜之间的距离稍大于其焦距之和，具体需根据高斯光束的传输理论结合光学测量体尺寸及其与凸透镜组的距离计算得到，使得激光器输出高斯光束的束腰调整到声管内的测量点处，减小光学测量点处干涉条纹畸变对声质点振动速度测量结果的影响。进一步地，针孔1的作用是空间滤波，针孔1放置于凸透镜1和凸透镜2之间且处于凸透镜1的焦点处，减少杂散光的影响。

进一步地，如图4所示，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，所述散射光接收与光电转换装置14包括依次设置的光阑2、凸透镜3、针孔2以及光子计数器。所述针孔2放置于凸透镜3和所述光子计数器之间且处于凸透镜3的焦点处。

其中，在所述高温平面波声场发生装置12内跟随声波振动的示踪粒子经过所述光学测量点产生的散射光由凸透镜3接收，经光阑2和针孔2空间滤波后入射到所述光子计数器内进行光电转换从而输出电脉冲。

在本发明具体实施时，光阑2和针孔2的作用是空间滤波，光阑2放置于凸透镜3的前端，针孔2放置于凸透镜3和光子计数器之间且处于凸透镜3的焦点处，以减少杂散光的影响。通过上述针孔1、光阑2和针孔2的针孔组合实现空间滤波，可有效提高光子计数器接收散射光的信噪比，采用后向散射接收的方式提高了该光学装置11的稳定性和可靠性。

进一步地，由于可以调整反射镜2和反射镜3的角度，因此可以控制入射到高温平面波声场发生装置12内光学测量点处两整干涉光束的夹角，即可灵活调整光学测量点处光波干涉条纹的间距，实现大动态范围声压量值的直接复现，只需调整光学测量点处光波干涉条纹的间距、就可实现传声器高温工作环境下不同声压响应线性度的校准。

具体实施时，所述光子计数器也可使用光电倍增管替代，其输出信号通过示波器15采集并进行自相关计算得出声质点振速；也可采用商用的光子相关器替代，在此不作限定。

进一步地，如图5所示，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，所述高温平面波声场发生装置12包括行波管本体以及在所述行波管内依次设置的声源、第一绝热区、高温校准区、第二绝热区、吸声区。所述高温校准区用于在所述光学测量点处产生最高温度不低于400℃的均匀恒温场。

其中，所述高温校准区的管壁由透明的石英材料制成、管壁外侧被加热管包围。所述加热管中心设置光学测量用的一光学透明入口、一光学透明出口(即图中光学测量窗口)。所述高温校准区的管壁顶端预留若干接口，并在所述接口处设置有待校准传声器13、温度传感器、温度控制器。由所述加热管、温度传感器和温度控制器构成的闭环温控环路，所述温度控制器接收所述温度传感器的温度测量数据并实时反馈调整所述加热管的驱动信号，以保证在所述光学测量点处产生最高温度不低于400℃的恒温场。

本发明具体实施时，可以在高温校准区的所述接口处设置气压计，以实时观察管内气压数值，用于计算管内声传播介质的密度。通过该高温平面波声场发生装置12可实现高温工作环境下传声器声压灵敏度的校准，工作温度至少可达400℃。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，所述声源为电声换能器、用于产生预期声压级的测量声场。所述第一绝热区、第二绝热区的管壁采用一定长度的不锈钢钢管制成、用于实现所述高温校准区两侧的隔热。所述行波管本体的横截面尺寸需满足在校准声波频率范围内仅允许管内辐射声场的基波传输。所述吸声区内设有吸声尖劈、所述吸声尖劈的材料和长度的选择应使其吸声系数满足行波管本体内产生近似平面波声场，以减小声波反射产生的驻波振荡，避免高温校准区内声压波动过大影响平面波声压与质点振速线性关系的适用性。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，所述计算机16通过对散射光的电脉冲进行自相关调解，计算得出声质点振动速度，具体计算步骤如下：

对所接收的所述电脉冲进行自相关调解得到自相关曲线。

通过以下公式计算得出声质点振动速度u：

其中，d为所述行波管本体内所述光学测量点处两束干涉光产生的干涉条纹的间距，其计算公式为：其中，λ为所述高温校准区声传播介质中的激光波长，θ为所述两束干涉光的夹角的一半。

f_m为声波频率。

τ_min为所述自相关曲线包络出现第一个拐点对应的时间。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，根据所述声质点振动速度、已知的声传播介质密度和声速计算出所述光学测量点处的声压，计算公式如下：

p＝ρ·c·u。

其中，ρ为声管内声传播介质的密度。

c为声速。

p为所述光学测量点处的声压。

u为声质点振动速度的有效值。

进一步地，所述基于光学法的传声器高温校准系统中，根据所述声压与所述待校准传声器13输出电压计算出所述待校准传声器13的声压灵敏度，计算公式如下：

其中，p为所述光学测量点处的声压。

V为所述待校准传声器的输出电压。

s为所述待校准传声器的声压灵敏度。

本发明系统通过高温平面波声场发生装置用于形成高温环境以及平面波声场，通过光学装置引入可调整夹角的两束干涉光束、并会聚于光学测量点，接收光学测量点处的散射光进行光电转换处理产生电脉冲、通过对该电脉冲自相关解调并计算求得声质点振动速度。根据声质点振动速度和其他条件计算得到声压灵敏度。实现了高温条件下基于光学法的传声器声压灵敏度校准。并且该光学装置产生的两束干涉光束的夹角可以灵活调整使得该系统中的声压测量范围也可以动态调整，满足传声器声压响应线性度的校准需求。

以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种基于光学法的传声器高温校准系统，其特征在于，所述系统包括光学装置、高温平面波声场发生装置、散射光接收与光电转换装置、示波器以及计算机；

所述光学装置置于所述高温平面波声场发生装置的外侧、用于将输入的激光光束进行光学处理产生具有可灵活调整夹角的两束干涉光束；

所述高温平面波声场发生装置内预先注入示踪粒子、设有待校准传声器并具有一光学透明入口和一光学透明出口，用于形成高温环境以及平面波声场；

所述散射光接收与光电转换装置用于接收从所述高温平面波声场发生装置的光学测量点产生的散射光并对散射光进行光电转换处理输出电脉冲；

其中，所述光学装置产生的两束干涉光束通过所述高温平面波声场发生装置的光学透明入口入射、并在所述高温平面波声场发生装置内会聚于光学测量点；在所述高温平面波声场发生装置内跟随声波振动的示踪粒子经过所述光学测量点产生散射光；所述散射光通过所述高温平面波声场发生装置的光学透明出口输出并由所述散射光接收与光电转换装置接收及光电转换处理输出电脉冲；输出的所述电脉冲由所述示波器接收并加载入所述计算机；所述计算机通过对散射光的电脉冲进行自相关调解，计算得出声质点振动速度；根据所述声质点振动速度、已知的声传播介质密度和声速计算出所述光学测量点的声压；并根据所述声压与所述待校准传声器输出电压计算出所述待校准传声器的声压灵敏度。

2.如权利要求1所述基于光学法的传声器高温校准系统，其特征在于，所述光学装置包括依次设置的激光器、光阑1、λ/2波片、偏振分束器、凸透镜1、针孔1、凸透镜2、反射镜1、分束器；以及分别用于反射所述分束器均分输出的两束干涉光束的反射镜2、反射镜3；所述针孔1放置于凸透镜1和凸透镜2之间且处于凸透镜1的焦点处；凸透镜1的焦距小于凸透镜2的焦距，且两凸透镜之间的距离大于其焦距之和；

其中，所述λ/2波片和偏振分束器用于控制入射到所述光学测量点的激光功率，其输出光束经过凸透镜1、针孔1、凸透镜2、反射镜1和分束器后均分为两束干涉光束，两束干涉光束分别由反射镜2和反射镜3反射后入射到所述高温平面波声场发生装置内。

3.如权利要求1所述基于光学法的传声器高温校准系统，其特征在于，所述散射光接收与光电转换装置包括依次设置的光阑2、凸透镜3、针孔2以及光子计数器；所述针孔2放置于凸透镜3和所述光子计数器之间且处于凸透镜3的焦点处；

其中，在所述高温平面波声场发生装置内跟随声波振动的示踪粒子经过所述光学测量点产生的散射光由凸透镜3接收，经光阑2和针孔2空间滤波后入射到所述光子计数器内进行光电转换从而输出电脉冲。

4.如权利要求1所述基于光学法的传声器高温校准系统，其特征在于，所述高温平面波声场发生装置包括行波管本体以及在所述行波管内依次设置的声源、第一绝热区、高温校准区、第二绝热区、吸声区；所述高温校准区用于在所述光学测量点处产生最高温度不低于400℃的均匀恒温场；

其中，所述高温校准区的管壁由透明的石英材料制成、管壁外侧被加热管包围；所述加热管中心设置光学测量用的一光学透明入口、一光学透明出口；所述高温校准区的管壁顶端预留若干接口，并在所述接口处设置有待校准传声器、温度传感器、温度控制器；由所述加热管、温度传感器和温度控制器构成的闭环温控环路，所述温度控制器接收所述温度传感器的温度测量数据并实时反馈调整所述加热管的驱动信号，以保证在所述光学测量点处产生最高温度不低于400℃的温度。

5.如权利要求4所述基于光学法的传声器高温校准系统，其特征在于，所述声源为电声换能器、用于产生预期声压级的测量声场；所述第一绝热区、第二绝热区的管壁采用一定长度的不锈钢钢管制成、用于实现所述高温校准区两侧的隔热；所述行波管本体的横截面尺寸需满足在校准声波频率范围内仅允许管内辐射声场的基波传输；所述吸声区内设有吸声尖劈、所述吸声尖劈的材料和长度的选择应使其吸声系数满足行波管本体内产生平面波声场。

6.如权利要求1所述基于光学法的传声器高温校准系统，其特征在于，所述计算机通过对散射光的电脉冲进行自相关调解，计算得出声质点振动速度，具体计算步骤如下：

对所接收的所述电脉冲进行自相关调解得到自相关曲线；

通过以下公式计算得出声质点振动速度u：

其中，d为所述行波管本体内所述光学测量点处两束干涉光产生的干涉条纹的间距，其计算公式为：其中，λ为所述高温校准区声传播介质中的激光波长，θ为所述两束干涉光的夹角的一半；

f_m为声波频率；

τ_min为所述自相关曲线包络出现第一个拐点对应的时间。

7.如权利要求6所述基于光学法的传声器高温校准系统，其特征在于，根据所述声质点振动速度、已知的声传播介质密度和声速计算出所述光学测量点的声压，计算公式如下：

p＝ρ·c·u；

其中，ρ为声管内声传播介质的密度；

c为声速；

p为所述光学测量点处的声压；

u为声质点振动速度的有效值。

8.如权利要求7所述基于光学法的传声器高温校准系统，其特征在于，根据所述声压与所述待校准传声器输出电压计算出所述待校准传声器的声压灵敏度，计算公式如下：

其中，p为所述光学测量点处的声压；

V为所述待校准传声器的输出电压；

s为所述待校准传声器的声压灵敏度。