CN110224749B - 一种光功率测试方法及装置 - Google Patents

一种光功率测试方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN110224749B
CN110224749B CN201910427748.2A CN201910427748A CN110224749B CN 110224749 B CN110224749 B CN 110224749B CN 201910427748 A CN201910427748 A CN 201910427748A CN 110224749 B CN110224749 B CN 110224749B
Authority
CN
China
Prior art keywords
mzi
optical power
value
phase control
sub
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201910427748.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110224749A (zh
Inventor
陈小雪
王谦
徐文波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Huawei Technologies Co Ltd
Original Assignee
Huawei Technologies Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Huawei Technologies Co Ltd filed Critical Huawei Technologies Co Ltd
Priority to CN201910427748.2A priority Critical patent/CN110224749B/zh
Publication of CN110224749A publication Critical patent/CN110224749A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110224749B publication Critical patent/CN110224749B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
    • H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
    • H04B10/0795—Performance monitoring; Measurement of transmission parameters
    • H04B10/07955—Monitoring or measuring power
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/50—Transmitters
    • H04B10/516—Details of coding or modulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)

Abstract

本申请实施例提供一种光功率测试方法及装置，其中，光功率测试方法包括：固定第二子MZI的相位控制变量的值；设置父MZI的相位控制变量的值为第一数值，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量第一光功率曲线；设置父MZI的相位控制变量的值为第二数值，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量第二光功率曲线；设置父MZI的相位控制变量的值为第三数值，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量第三光功率曲线；根据第一光功率曲线、第二光功率曲线和第三光功率曲线，获得第一子MZI的NULL点。采用本申请实施例能够高效率的找到双并联MZI光调制器的NULL点。

Description

一种光功率测试方法及装置
技术领域
本申请涉及光通信技术领域，尤其涉及一种光功率测试方法及装置。
背景技术
在光通信网络骨干长距离数据传输领域，光信号的调制通过马赫-曾德尔干涉仪(Mach-Zehnder-Interferometer，MZI)光调制器来调制实现，如图1所示，为MZI的结构示意图，该MZI通过相位控制调整相位控制变量的值，从而改变MZI两臂的相对相位，相位控制变量可以是电流或者电压等等。MZI两臂的相对相位发生变化，该MZI的光功率也会发生变化，如图2所示，是MZI的光功率曲线，该光功率曲线上的最小光功率Pmin(单位：dBm)所对应的点即是该MZI的空NULL点。
对于单个MZI可以采用上述光功率曲线得到该MZI的NULL点，然而对于图3所示的双并联MZI光调制器，由于两个子MZI各设置在父MZI的一个臂上，改变某一子MZI的相位，该双并联MZI光调制器的输出光功率同时受到另一个子MZI以及父MZI的影响，因此不能直接通过类似单个MZI的NULL点测试方法获取子MZI的NULL点。
发明内容
本申请实施例提供了一种光功率测试方法及装置，能够高效率的找到双并联MZI光调制器的NULL点。
第一方面，本申请实施例提供一种光功率测试方法，应用于双并联MZI光调制器,该双并联MZI光调制器包括父MZI、第一子MZI和第二子MZI，第一子MZI设置于父MZI的一个臂，第二子MZI设置于父MZI的另一个臂。
该光功率测试方法包括：固定第二子MZI的相位控制变量的值。
设置父MZI的相位控制变量的值为第一数值，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第一光功率曲线。其中，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值的取值方式可以是，以初始值开始，目标值为步长得到的多个不同数值。
设置父MZI的相位控制变量的值为第二数值，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第二光功率曲线。其中，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值的取值方式可以是，以初始值开始，目标值为步长得到的多个不同数值。
设置父MZI的相位控制变量的值为第三数值，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第三光功率曲线。其中，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值的取值方式可以是，以初始值开始，目标值为步长得到的多个不同数值。
根据第一光功率曲线、第二光功率曲线和第三光功率曲线，获得第一子MZI的第一空NULL点，所述第一功率曲线、所述第二功率曲线和所述第三功率曲线在所述第一NULL点相互偏差最小。
可选的，上述相位控制变量可以是电流、电压、热调、空间光路延时等。本申请通过相位控制变量来控制MZI两臂的相位差。
通过实施本发明实施例，通过测量三条功率曲线即可得到第一子MZI的NULL点，效率比较高。
在一种可能的实现中，根据第一光功率曲线、第二光功率曲线和第三光功率曲线，获得第一子MZI的第一NULL点的方式可以是，构建多个不同数值对应的多个数组，一个数值对应一个数组，该数组包括第一光功率曲线上该数值对应的光功率值、第二光功率曲线上该数值对应的光功率值和第三功率曲线上该数值对应的光功率值。
计算多个数组中每个数组的标准偏差，并获取该多个数组中每个数组的标准偏差构成的标准偏差曲线，即一个数组对应一个标准偏差，所有数组的多个标准偏差构成标准偏差曲线。
根据所述标准偏差曲线的至少两个谷值，确定所述第一子MZI的两个第一NULL点，所述两个第一NULL点为所述标准偏差曲线上相邻的两个谷值。
在一种可能的设计中，进一步计算两个第一NULL点的平均值，并将所述平均值作为所述第一子MZI的第一峰值Peak点。
在一种可能的设计中，进一步获取第二子MZI的第二NULL点和所述第二子MZI的第二Peak点。其中，获取第二子MZI的第二NULL点的获取方式可以采用获取第一子MZI的第一NULL点的获取方式去获取，获取第二子MZI的第二Peak点的获取方式可以采用获取第一子MZI的第一Peak点的获取方式去获取，在此不再赘述。
根据第一子MZI的第一NULL点、第一子MZI的第一Peak点、第二子MZI的第二NULL点和第二子MZI的第二Peak点，确定第一子MZI的最小光功率、第一子MZI的最大光功率、第二子MZI的最小光功率和第二子MZI的最大光功率。
在一种可能的设计中，根据第一子MZI的第一NULL点、第一子MZI的第一Peak点、第二子MZI的第二NULL点和第二子MZI的第二Peak点，确定第一子MZI的最小光功率、第一子MZI的最大光功率、第二子MZI的最小光功率和第二子MZI的最大光功率，包括：
设置第一子MZI的相位控制变量的值为第一Peak点对应的相位控制变量的值，第二子MZI的相位控制变量的值为第二Peak点对应的相位控制变量的值，在父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量双并联MZI光调制器的第四光功率曲线。
获取第四光功率曲线的谷值，作为第三NULL点，获取第四光功率曲线的峰值，作为第三Peak点。
根据第一NULL点、第二Peak点、第三NULL点和第三Peak点，获取第一子MZI的最小光功率和第二子MZI的最大光功率；
根据第一Peak点、第二NULL点和第三NULL点和第三Peak点，获取第一子MZI的最大光功率和第二子MZI的最小光功率。
在一种可能的设计中，根据第一NULL点、第二Peak点、第三NULL点和第三Peak点，获取第一子MZI的最小光功率和第二子MZI的最大光功率，包括：
设置第一子MZI的相位控制变量的值为第一NULL点对应的相位控制变量的值，第二子MZI的相位控制变量的值为第二Peak点对应的相位控制变量的值，父MZI的相位控制变量的值为第三NULL点对应的相位控制变量的值，测量双并联MZI光调制器的第一光功率。
设置第一子MZI的相位控制变量的值为第一NULL点对应的相位控制变量的值，第二子MZI的相位控制变量的值为第二Peak点对应的相位控制变量的值，父MZI的相位控制变量的值为第三Peak点对应的相位控制变量的值，测量双并联MZI光调制器的第二光功率。
根据第一光功率和第二光功率，计算第一子MZI的最小光功率和第二子MZI的最大光功率。
可选的，根据第一光功率和第二光功率之间差值的绝对值，计算第一子MZI的最小光功率，根据第一光功率和第二光功率之间的总和，计算第二子MZI的最大光功率。
在一种可能的设计中，根据第一Peak点、第二NULL点和第三NULL点和第三Peak点，获取第一子MZI的最大光功率和第二子MZI的最小光功率，包括：
设置第一子MZI的相位控制变量的值为第一Peak点对应的相位控制变量的值，第二子MZI的相位控制变量的值为第二NULL点对应的相位控制变量的值，父MZI的相位控制变量的值为第三Peak点对应的相位控制变量的值，测量双并联MZI光调制器的第三光功率；
设置第一子MZI的相位控制变量的值为第一Peak点对应的相位控制变量的值，第二子MZI的相位控制变量的值为第二NULL点对应的相位控制变量的值，父MZI的相位控制变量的值为第三NULL点对应的相位控制变量的值，测量双并联MZI光调制器的第四光功率；
根据第三光功率和第四光功率，计算第一子MZI的最大光功率和第二子MZI的最小光功率。
可选的，根据第三光功率和第四光功率之间差值的绝对值，计算第二子MZI的最小光功率，根据第三光功率和第四光功率之间的总和，计算第一子MZI的最大光功率。
在一种可能的设计中，根据第一子MZI的第一NULL点、第一子MZI的第一Peak点、第二子MZI的第二NULL点和第二子MZI的第二Peak点，确定第一子MZI的最小光功率、第一子MZI的最大光功率、第二子MZI的最小光功率和第二子MZI的最大光功率，包括：
固定第二子MZI的相位控制变量的值为第二Peak点对应的相位控制变量的值，设置第一子MZI的相位控制变量的值为第一NULL点对应的相位控制变量的值，在父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量双并联MZI光调制器的第五光功率曲线，设置第一子MZI的相位控制变量的值为第四数值，在父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量双并联MZI光调制器的第六光功率曲线，第四数值与第一NULL点对应的相位控制变量的值之间的差值小于目标值；
根据第五光功率曲线和第六光功率曲线的交点，确定第一子MZI的最小光功率和第二子MZI的最大光功率。固定第一子MZI的相位控制变量的值为第一Peak点对应的相位控制变量的值，设置第二子MZI的相位控制变量的值为第二NULL点对应的相位控制变量的值，在父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量双并联MZI光调制器的第七光功率曲线，设置第二子MZI的相位控制变量的值为第五数值，在父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量双并联MZI光调制器的第八光功率曲线，第五数值与第二NULL点对应的相位控制变量的值之间的差值小于目标值；
根据第七光功率曲线和第八光功率曲线的交点，确定第二子MZI的最小光功率和第一子MZI的最大光功率。在一种可能的设计中，该光功率测试方法还可以包括：
根据第一子MZI的最小光功率和第一子MZI的最大光功率，计算第一子MZI的消光比；
根据第二子MZI的最小光功率和第二子MZI的最大光功率，计算第二子MZI的消光比。
第二方面，本申请实施例提供了一种光功率测试装置，该光功率测试装置可以为光调制设备或者可以用于光调制设备的部件(电路或者芯片)，该光功率测试装置可包括多个功能模块或单元，用于相应的执行第一方面所提供的光功率测试方法。
第三方面，本申请实施例提供了一种光功率测试装置，该光功率测试装置可以为光调制设备或者可以用于光调制设备的部件(电路或者芯片)，该光功率测试装置可包括：存储器、处理器以及通信接口，其中：通信接口用于与其他通信设备通信。存储器用于存储第一方面所提供的光功率测试方法的实现代码，处理器用于执行存储器中存储的程序代码，即执行第一方面所提供的光功率测试方法。
第四方面，本申请实施例提供了一种通信芯片，该通信芯片可包括：处理器，以及耦合于所述处理器的一个或多个接口。其中，所述处理器可用于从存储器中调用第一方面所提供的光功率测试方法的实现程序，并执行该程序包含的指令。所述接口可用于输出所述处理器的数据处理结果。
第五方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，可读存储介质上存储有指令，当其在处理器上运行时，使得处理器执行上述第一方面描述的光功率测试方法。
第六方面，本申请实施例提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在处理器上运行时，使得处理器执行上述第一方面描述的光功率测试方法。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或背景技术中的技术方案，下面将对本申请实施例或背景技术中所需要使用的附图进行说明。
图1为本申请实施例提供的一种MZI的结构示意图；
图2为本申请实施例提供的一种光功率曲线示意图；
图3为本申请实施例提供的一种双并联MZI光调制器的结构示意图；
图4为本申请实施例提供的一种相位变化双并联MZI光调制器示意图；
图5为本申请实施例提供的一种仿真示意图；
图6为本申请实施例提供的另一种仿真示意图；
图7为本申请实施例提供的一种测试系统图；
图8为本申请实施例提供的一种光功率测试流程图；
图9为本申请实施例提供的一种光功率曲线示意图；
图10为本申请实施例提供的一种标准偏差曲线示意图；
图11为本申请实施例提供的另一种光功率曲线示意图；
图12为本申请实施例提供的一种光功率测试装置的示意图；
图13为本申请实施例提供的另一种光功率测试装置的示意图；
图14为本申请实施例提供的一种芯片结构示意图。
具体实施方式
本申请实施例中的相位控制变量用于控制MZI两臂的相位差的变量，由设置在MZI的相位控制电极来控制相位控制变量的数值大小。相位控制变量可以是电流、电压、热调、空间光路延时等。
请参照图3，为双并联MZI光调制器的基本结构，该双并联MZI光调制器包括父MZI、第一子MZI和第二子MZI。父MZI 3的一个臂上设置第一子MZI 1，父MZI 3的另一个臂上设置第二子MZI 2。其中，第一子MZI和第二子MZI是完全相同的MZI，只是称谓不同。在本申请实施例中，将第一子MZI也称作I路子MZI，将第二子MZI也称作Q路子MZI。
输入光从父MZI的输入端Pin进入，分两路分别进入到第一子MZI和第二子MZI，两路光经过第一子MZI和第二子MZI分光后，再经过父MZI两臂合光进行输出Pout。
通常MZI结构消光比(Extinction Ratio，ER)劣化的主要原因是光经过MZI两个臂合光时，两束光强在同一个偏振态方向上光强不同，进而导致在两束光相位完全相反的情况下不能抵消导致的。
对于单个MZI，假设用系数a1和a2表示两个臂因分光以及损耗在合光处的幅度系数(a1+a2＜1)，可以证明Pout与Pin有如下关系：
Pout＝Pin*(a12+a22+2*a1*a2*cos(Δφ))
其中为两臂的相位差。当
Figure BDA0002067045050000051
或整数倍周期时，Pout得到Pmax，当
Figure BDA0002067045050000052
度或半周期的奇数倍时，Pout得到Pmin。当a1不等于a2时，Pmin不等于0，因此引入了ER代价。
将Pout与Pin的的关系进一步推广到双并联MZI光调制器中，如图4所示，可以证明其关系如下：
Pout＝a2*(a12+a22+2*a1*a2*cos(Δφi))+b2*(b12+b22+2*b1*b2*cos(Δφq))+2*a*b[a1*b1*cos(Δφi-Δφq+Δφp)+a1*b2*cos(Δφi+Δφp)+a2*b1*cos(-Δφq+Δφp)+a2*b2*cos(Δφp)]
其中，如图4所示，a，b分别代表父MZI两个臂在合光处的幅度系数；a1，a2代表I路子MZI两个臂在合光处的幅度系数；b1，b2代表Q路子MZI两个臂在合光处的幅度系数。其中
Figure BDA0002067045050000053
和
Figure BDA0002067045050000054
分别代表I路子MZI、Q路子MZI和父MZI两臂的相位差。
基于上述理论，当Q路子MZI在
Figure BDA0002067045050000055
度附近，I路子MZI在
Figure BDA0002067045050000056
度附近扫描父MZI相位差，光功率曲线仿真结果如图5所示。通过图5可以得到如下结论：1，I路子MZI最接近Null点的光功率曲线的峰值和谷值分别出现在父MZI相位差
Figure BDA0002067045050000057
度或180度相位点；2，I路子MZI Null点附近，所有相位点扫描的光功率曲线在父MZI相位差
Figure BDA0002067045050000058
度或180度附近相交；3，I路子MZI在Null点的光功率曲线幅度是最小的。
如图6所示，为不同父MZI相位差下，扫描I路子MZI相位差的光功率曲线，如图所示，一条光功率曲线是在父MZI相位差
Figure BDA0002067045050000059
取一个相位值时，扫描I路子MZI相位差得到的光功率曲线。从图可见，不管父MZI相位差如何变化，扫描I路子MZI的相位差，得到的所有光功率曲线近似相交的点，代表I路子MZI的近似Null点。
通过图5和图6，可以得到两种可选的获取双并联MZI光调制器的NULL点的获取方式：
第一种可选的实施方式中，在三个或三个以上的父MZI相位差状态下，扫描I路子MZI相位差，得到多条曲线近似的交点为I路子MZI的近似Null点，进一步在I路子MZI的Null点附近，Q路子MZI的Peak点，分别设置父MZI相位差为0度和180度(即父MZI的Null点和Peak点)，得到两个单点光功率，该两个单点光功率的差值即代表I路子MZI的Pmin，两个单点光功率的平均值即代表Q路子MZI的Pmax。同理可得到I路子MZI的Pmax和Q路子MZI的Pmin。
在第二种可选的实施方式中，在三个或三个以上的MZI相位差状态下，扫描I路子MZI相位差，得到多条曲线近似的交点为I路的近似Null点，进一步在I路子MZI的Null点附近，Q路子MZI的Peak点，在父MZI为多个不同相位差时，扫描二条光功率曲线(一条曲线对应I路子MZI的Null点附近的一个相位差)，其两个交点的光功率幅度差即代表I路子MZI的Pmin，两个交点的光功率幅度平均值即代表Q路子MZI的Pmax。同理可得到I路子MZI的Pmax和Q路子MZI的Pmin。
本申请实施例中的父MZI的相位差，是由父MZI的相位控制电极控制相位控制变量的数值大小来实现父MZI两臂的相位差控制，一个相位控制变量的值对应父MZI两臂的一个相位差。
本申请实施例中的子MZI(包括第一子MZI或第二子MZI)的相位差，是由子MZI的相位控制电极控制相位控制变量的数值大小来实现子MZI两臂的相位差控制，一个相位控制变量的值对应子MZI两臂的一个相位差。
请参照图7，为本申请实施例提供的一种光功率测试系统图，如图所示，该系统包括偏振光源、源表、待测器件、功率监控以及控制单元。待测器件包括双并联MZI光调制器，偏振光源从待测器件光输入端输入，光经过待测器件后从待测器件光输出端输出，进入功率监控装置，功率监控装置用于监控输出光的光功率。源表与待测器件的相位控制电极进行连接，用于下发电流或者电压实现控制相位差。为实现自动化测试，控制单元连接源表与光功率监控。
基于图7的光功率测试系统，请参照图8，为本申请实施例提供的一种光功率测试方法流程图，该光功率测试方法应用于双并联MZI光调制器，该双并联MZI光调制器包括父MZI、第一子MZI和第二子MZI，所述第一子MZI设置于所述父MZI的一个臂，所述第二子MZI设置于所述父MZI的另一个臂，如图所示，本申请实施例包括但不限于以下步骤：
S101，固定所述第二子MZI的相位控制变量的值；
S102，设置所述父MZI的相位控制变量的值为第一数值，所述第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量所述双并联MZI光调制器的第一光功率曲线；
S103，设置所述父MZI的相位控制变量的值为第二数值，所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述多个不同数值，测量所述双并联MZI光调制器的第二光功率曲线；
S104，设置所述父MZI的相位控制变量的值为第三数值，所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述多个不同数值，测量所述双并联MZI光调制器的第三光功率曲线；
在一个实施例中，相位控制变量可以是电流或者电压，由源表下发，固定第二子MZI的相位控制变量的值为一个值，该值可以由用户进行定义。
固定第二子MZI的相位控制变量的值，设置父MZI相位控制变量的值为第一数值，该第一数值可以由用户进行设定，比如可以是5mA，设置第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第一功率曲线。该多个不同数值可以是以一个初始值开始，目标值为步长所构成的多个数值，当设置第一子MZI为一个数值时，测量双并联MZI光调制器的输出光功率，可以得到一个光功率值，将设置第一子MZI为多个不同数值时所测量得到的多个光功率值拟合所形成的曲线作为第一光功率曲线。比如，第一子MZI为I路子MZI，控制I路子MZI的相位控制变量的值从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，将120点分别测量得到的光功率值拟合形成的曲线作为图9中的光功率曲线4，其数据记录为[I路子MZI相位控制电流、输出光功率]，即[Ii1，Pi1-1]，[Ii2，Pi1-2]…[Ii120，Pi1-120]。
固定第二子MZI的相位控制变量的值，设置父MZI相位控制变量的值为第二数值，该第二数值可以与第一数值之间相差固定值，比如相差1mA。例如设置父MZI相位控制变量的值为6mA，设置第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第二功率曲线。该多个不同数值可以是以一个初始值开始，目标值为步长所构成的多个数值，当设置第一子MZI为一个数值时，测量双并联MZI光调制器的输出光功率，可以得到一个光功率值，将设置第一子MZI为多个不同数值时所测量得到的多个光功率值拟合所形成的曲线作为第二光功率曲线。比如，第一子MZI为I路子MZI，控制I路子MZI的相位控制变量的值从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，将120点分别测量得到的光功率值拟合形成的曲线作为图9中的光功率曲线5，其数据记录为[I路子MZI相位控制电流、输出光功率]，即[Ii1，Pi2-1]，[Ii2，Pi2-2]…[Ii120，Pi2-120]。
固定第二子MZI的相位控制变量的值，设置父MZI相位控制变量的值为第三数值，该第三数值可以与第二数值之间相差固定值，比如相差1mA。例如设置父MZI相位控制变量的值为7mA，设置第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第三功率曲线。该多个不同数值可以是以一个初始值开始，目标值为步长所构成的多个数值，当设置第一子MZI为一个数值时，测量双并联MZI光调制器的输出光功率，可以得到一个光功率值，将设置第一子MZI为多个不同数值时所测量得到的多个光功率值拟合所形成的曲线作为第三光功率曲线。比如，第一子MZI为I路子MZI，控制I路子MZI相位控制变量的值从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，将120点分别测量得到的光功率值拟合形成的曲线作为图9中的光功率曲线6，其数据记录为[I路子MZI相位控制电流、输出光功率]，即[Ii1，Pi3-1]，[Ii2，Pi3-2]…[Ii120，Pi3-120]。
S105，根据所述第一光功率曲线、第二光功率曲线和所述第三光功率曲线，获得所述第一子MZI的第一空NULL点，所述第一功率曲线、所述第二功率曲线和所述第三功率曲线在所述第一NULL点相互偏差最小。
在一个实施例中，对上述获得的光功率曲线进行处理，其中，第一光功率曲线、第二光功率曲线和第三光功率曲线上功率值两两最接近的光功率值所对应的相位控制变量的值为第一子MZI的空NULL点，作为第一NULL点。可选的，一种可选的NULL点计算方式可以是，构建上述多个不同数值对应的多个数组，一个数值对应一个数组，该数组包括第一光功率曲线上该数值对应的光功率值、第二光功率曲线上该数值对应的光功率值以及第三光功率曲线上该数值对应的光功率值。即构成的多个数组分别为[Pi1-1，Pi2-1，Pi3-1]，[Pi1-2，Pi2-2，Pi3-2]…[Pi1-120，Pi2-120，Pi3-120]，比如，[Pi1-1，Pi2-1，Pi3-1]为相位控制变量Ii1所对应的数组。进一步计算上述多个数组中每个数组的标准偏差，并根据该每个数组的标准偏差构建标准偏差曲线，该标准偏差曲线的横坐标可以是相位控制变量的各个数值，纵坐标为标准偏差的大小。如图10所示，即是根据图9的光功率曲线计算得到的标准偏差曲线，进一步根据标准偏差曲线的至少两个谷值，确定第一子MZI的两个第一NULL点。如图10所示，获取标准偏差曲线的所有谷点，并将低于某个阈值所对应的相位控制变量的值确定为第一子MZI的两个第一NULL点。如图所示，两个谷点所对应的谷点电流Iix1 8和Iix29为I路子MZI的近似第一Null点。
进一步计算该两个第一NULL点的平均值，并将所述平均值作为所述第一子MZI的第一峰值Peak点。比如计算两个Null点(Iix1 8和Iix2 9)的平均值作为I路子MZI近似Peak点Iipeak。
可选的，本申请实施例还可以包括以下步骤S106和S107；
S106，获取所述第二子MZI的第二NULL点和所述第二子MZI的第二Peak点；
在一个实施例中，需要说明的是，获取第二子MZI的第二NULL点的获取方式可以和获取第一子MZI的第一NULL点的获取方式相同，获取第二子MZI的第二Peak点的获取方式可以和获取第一子MZI的第一Peak点的获取方式相同。下面阐述一种可选的第二NULL点和第二Peak点的获取方式。
固定第一子MZI的相位控制变量的值，设置父MZI相位控制变量的值为第一数值，该第一数值可以由用户进行设定，比如可以是5mA，设置第二子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第九光功率曲线。该多个不同数值可以是以一个初始值开始，目标值为步长所构成的多个数值，当设置第二子MZI为一个数值时，测量双并联MZI光调制器的输出光功率，可以得到一个光功率值，将设置第二子MZI为多个不同数值时所测量得到的多个光功率值拟合所形成的曲线作为第九光功率曲线。比如，第二子MZI为Q路子MZI，控制Q路子MZI的相位控制变量的值从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，将120点分别测量得到的光功率值拟合形成的曲线作为第九光功率曲线，其数据记录为[Q路子MZI相位控制电流、输出光功率]，即[Iq1，Pq1-1]，[Iq2，Pq1-2]…[Iq120，Pq1-120]。
固定第一子MZI的相位控制变量的值，设置父MZI相位控制变量的值为第二数值，该第二数值可以与第一数值之间相差固定值，比如相差1mA。例如设置父MZI相位控制变量的值为6mA，设置第二子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第十功率曲线。该多个不同数值可以是以一个初始值开始，目标值为步长所构成的多个数值，当设置第二子MZI为一个数值时，测量双并联MZI光调制器的输出光功率，可以得到一个光功率值，将设置第二子MZI为多个不同数值时所测量得到的多个光功率值拟合所形成的曲线作为第十光功率曲线。比如，第二子MZI为Q路子MZI，控制Q路子MZI的相位控制变量的值从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，将120点分别测量得到的光功率值拟合形成的曲线作为第十光功率曲线，其数据记录为[Q路子MZI相位控制电流、输出光功率]，即[Iq1，Pq2-1]，[Iq2，Pq2-2]…[Iq120，Pq2-120]。
固定第一子MZI的相位控制变量的值，设置父MZI相位控制变量的值为第三数值，该第三数值可以与第二数值之间相差固定值，比如相差1mA。例如设置父MZI相位控制变量的值为7mA，设置第二子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第十一功率曲线。该多个不同数值可以是以一个初始值开始，目标值为步长所构成的多个数值，当设置第二子MZI为一个数值时，测量双并联MZI光调制器的输出光功率，可以得到一个光功率值，将设置第二子MZI为多个不同数值时所测量得到的多个光功率值拟合所形成的曲线作为第十一光功率曲线。比如，第二子MZI为Q路子MZI，控制Q路子MZI相位控制变量的值从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，将120点分别测量得到的光功率值拟合形成的曲线作为第十一光功率曲线，其数据记录为[Q路子MZI相位控制电流、输出光功率]，即[Iq1，Pq3-1]，[Iq2，Pq3-2]…[Iq120，Pq3-120]。
对上述获得的第九光功率曲线、第十光功率曲线和第十一光功率曲线进行处理，该第九光功率曲线、第十光功率曲线和第十一光功率曲线上功率值两两最接近的功率值所对应的相位控制变量的值为第二子MZI的NULL点，作为第二NULL点。可选的，一种可选的NULL点计算方式可以是，构建上述多个不同数值对应的多个数组，一个数值对应一个数组，该数组包括第九光功率曲线上该数值对应的光功率值、第十光功率曲线上该数值对应的光功率值以及第十一光功率曲线上该数值对应的光功率值。即构成的多个数组分别为[Pq1-1，Pq2-1，Pq3-1]，[Pq1-2，Pq2-2，Pq3-2]…[Pq1-120，Pq2-120，Pq3-120]，然后计算每个数组的标准偏差，并根据该每个数组的标准偏差构建标准偏差曲线，该标准偏差曲线的横坐标可以是相位控制变量的各个数值，纵坐标为标准偏差的大小。进一步根据标准偏差曲线的至少两个谷值，确定第二子MZI的两个第二NULL点。可选的，获取标准偏差曲线的所有谷点，并将低于某个阈值所对应的相位控制变量的值确定为第二子MZI的两个第二NULL点。比如低于某个阈值所对应的谷点电流分别为Iqx1，Iqx2，其中，Iqx1，Iqx2为Q路子MZI的两个近似第二Null点。
进一步计算该两个第二NULL点的平均值，并将该平均值作为第二子MZI的第二峰值Peak点。比如计算两个NULL点(Iqx1，Iqx2)的平均值作为Q路子MZI近似Peak点Iqpeak。
S107，根据所述第一子MZI的第一NULL点、所述第一子MZI的第一Peak点、所述第二子MZI的第二NULL点和所述第二子MZI的第二Peak点，确定所述第一子MZI的最小光功率、所述第一子MZI的最大光功率、所述第二子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率。
在一种可选的实施方式中，设置第一子MZI的相位控制变量的值为第一Peak点对应的相位控制变量的值，第二子MZI的相位控制变量的值为第二Peak点对应的相位控制变量的值，在父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量双并联MZI光调制器的第四光功率曲线；其中，第一Peak点为第一子MZI的峰值点，第二Peak点为第二子MZI的峰值点。
进一步获取所述第四光功率曲线的谷值，作为第三NULL点；获取所述第四光功率曲线的峰值，作为第三Peak点。即设置I路子MZI的相位控制变量的值为Iipeak，设置Q路子MZI相位控制变量的值为Iqpeak，设置父MZI的相位控制变量的值从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，该120点拟合得到的光功率曲线为第四光功率曲线，将第四光功率曲线上的峰值对应父MZI的相位控制电流记录为Ippeak，将第四光功率曲线上的谷值对应父MZI的相位控制电流记录为Ipnull。
可选的，根据第一NULL点、第二Peak点、第三NULL点和第三Peak点，获取第一子MZI的最小光功率和第二子MZI的最大光功率。具体可选的，设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一NULL点对应的相位控制变量的值，所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二Peak点对应的相位控制变量的值，所述父MZI的相位控制变量的值为所述第三NULL点对应的相位控制变量的值，测量所述双并联MZI光调制器的第一光功率。
设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一NULL点对应的相位控制变量的值，所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二Peak点对应的相位控制变量的值，所述父MZI的相位控制变量的值为所述第三Peak点对应的相位控制变量的值，测量所述双并联MZI光调制器的第二光功率。
根据所述第一光功率和所述第二光功率，计算所述第一子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率。其中，第一光功率和第二光功率之差的绝对值除以2代表第一子MZI输出的最小光功率，第一光功率和第二光功率的平均值代表第二子MZI输出的最大光功率。
例如，设置I路子MZI相位控制1电流为Iix1，设置Q路子MZI相位控制2电流为Iqpeak，设置父MZI相位控制3电流为Ippeak，测量双并联MZI光调制器的光功率P1(mW)；然后设置父MZI相位控制3电流为Ipnull，测量双并联MZI光调制器的光功率P2(mW)。则|P1-P2|/2代表I路子MZI输出的最小光功率Pimin(dBm)，(P1+P2)/2代表Q路子MZI输出的最大光功率Pqmax(dBm)。
可选的，根据所述第一Peak点、所述第二NULL点和所述第三NULL点和所述第三Peak点，获取所述第一子MZI的最大光功率和所述第二子MZI的最小光功率。具体可选的，设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一Peak点对应的相位控制变量的值，所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二NULL点对应的相位控制变量的值，所述父MZI的相位控制变量的值为所述第三Peak点对应的相位控制变量的值，测量所述双并联MZI光调制器的第三光功率。
设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一Peak点对应的相位控制变量的值，所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二NULL点对应的相位控制变量的值，所述父MZI的相位控制变量的值为所述第三NULL点对应的相位控制变量的值，测量所述双并联MZI光调制器的第四光功率。
根据所述第三光功率和所述第四光功率，计算所述第一子MZI的最大光功率和所述第二子MZI的最小光功率。其中，第三光功率和第四光功率之差的绝对值除以2代表第二子MZI输出的最小光功率，第一光功率和第二光功率的平均值代表第一子MZI输出的最大光功率。
例如，设置I路子MZI相位控制变量的值为Iipeak，设置Q路子MZI相位控制变量的值为Iqx1，设置父MZI相位控制变量的值为Ippeak，测量双并联MZI光调制器的光功率P3(mW)；然后设置父MZI相位控制变量的值为Ipnull，测量双并联MZI光调制器的光功率P4(mW)。则|P3-P4|/2代表Q路子MZI输出最小光功率Pqmin(dBm)，(P3+P4)/2代表I路子MZI输出最大光功率Pimax(dBm)。
根据所述第一子MZI的最小光功率和所述第一子MZI的最大光功率，计算所述第一子MZI的消光比；根据所述第二子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率，计算所述第二子MZI的消光比。比如，计算出I路子MZI消光比为：Pimax–Pimin。Q路子MZI消光比为：Pqmax–Pqmin。
在另一种可选的实施方式中，固定第二子MZI的相位控制变量的值为第二Peak点对应的相位控制变量的值，设置第一子MZI的相位控制变量的值为第一NULL点对应的相位控制变量的值，在父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量双并联MZI光调制器的第五光功率曲线，设置第一子MZI的相位控制变量的值为第四数值，在父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量双并联MZI光调制器的第六光功率曲线，第四数值与第一NULL点对应的相位控制变量的值之间的差值小于目标值。
根据第五光功率曲线和第六光功率曲线的交点，确定第一子MZI的最小光功率和第二子MZI的最大光功率。
固定第一子MZI的相位控制变量的值为第一Peak点对应的相位控制变量的值，设置第二子MZI的相位控制变量的值为第二NULL点对应的相位控制变量的值，在父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量双并联MZI光调制器的第七光功率曲线，设置第二子MZI的相位控制变量的值为第五数值，在父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量双并联MZI光调制器的第八光功率曲线，第五数值与第二NULL点对应的相位控制变量的值之间的差值小于目标值；
根据第七光功率曲线和第八光功率曲线的交点，确定第二子MZI的最小光功率和第一子MZI的最大光功率。
例如，设置I路子MZI相位控制电流为Iix1，设置Q路子MZI相位控制电流为Iqpeak，父MZI相位控制电流从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，得到如图11中的光功率曲线10。然后，保持Q路子MZI相位控制2电流不变，设置I路子MZI相位控制1电流为Iix1+0.05mA，父MZI相位控制3从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，得到如图11中的光功率曲线11。两条曲线的交点记录为P1(mW)和P2(mW)。其中，|P1-P2|/2代表I路子MZI输出最小光功率Pimin(dBm)，(P1+P2)/2代表Q路子MZI输出最大光功率Pqmax(dBm)。
又例如，设置I路子MZI相位控制电流为Iipeak，设置Q路子MZI相位控制电流为Iqx1，父MZI相位控制电流从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，得到一条光功率曲线，然后，保持I路子MZI相位控制电流不变，设置Q路子MZI相位控制电流为Iqx1+0.05mA，父MZI相位控制电流从1mA开始，以0.1mA为步长进行扫描120个点，得到另一条光功率曲线。两条光功率曲线的交点记录为P3(mW)和P4(mW)。其中，|P3-P4|/2代表Q路子MZI输出最小光功率Pqmin(dBm)，(P3+P4)/2代表I路子MZI输出最大光功率Pimax(dBm)。
需要说明的是，上述步骤中找两条光功率曲线的交点的方法可以是：针对同一个父MZI相位控制电流，将两条功率曲线上该父MZI相位控制电流对应的两个光功率值相减，得到差值的绝对值，所有差值绝对值构成曲线的谷点即为两条光功率曲线的交点。
根据所述第一子MZI的最小光功率和所述第一子MZI的最大光功率，计算所述第一子MZI的消光比；根据所述第二子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率，计算所述第二子MZI的消光比。比如，计算出I路子MZI消光比为：Pimax–Pimin。Q路子MZI消光比为：Pqmax–Pqmin。
本申请实施例中，通过光功率测试装置测试光功率的测试过程中，光功率测试装置执行的操作可以由光功率测试装置中的测试单元1701和处理单元1702来执行，其中，测试单元1701用于执行该过程中测试光功率的操作，处理单元1702用于执行该过程中对测试单元1701所测试的光功率进行处理的操作。可选的，测试单元1701受处理单元1702控制，即处理单元1702可以控制测试单元1701执行测试的操作。另外，光功率测试装置中的测试单元1701和处理单元1702可以分别为按照功能划分的逻辑模块，或者分别为相应的硬件模块。当测试单元1701和处理单元1702均为逻辑模块时，该光功率测试装置的结构可以如图12所示。
其中，测试单元1701，用于固定第二子MZI的相位控制变量的值；
设置父MZI的相位控制变量的值为第一数值，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第一光功率曲线；
设置父MZI的相位控制变量的值为第二数值，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第二光功率曲线；
设置父MZI的相位控制变量的值为第三数值，第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量双并联MZI光调制器的第三光功率曲线；
处理单元1702，用于根据所述第一光功率曲线、第二光功率曲线和所述第三光功率曲线，获得所述第一子MZI的第一空NULL点，所述第一功率曲线、所述第二功率曲线和所述第三功率曲线在所述第一NULL点相互偏差最小。
当测试单元和处理单元均为硬件模块时，处理单元可以具体为处理器，测试单元可以具体为用于测试的通信接口，此时光功率测试装置的结构可以如图13所示。
请继续参考图13，图13是本申请实施例提出的一种光功率测试装置的结构示意图。如图所示，该光功率测试装置可以包括：至少一个处理器801，至少一个通信接口802，至少一个存储器803和至少一个通信总线804。
其中，处理器801可以是中央处理器单元，通用处理器，数字信号处理器，专用集成电路，现场可编程门阵列或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。所述处理器也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器组合，数字信号处理器和微处理器的组合等等。通信总线804可以是外设部件互连标准PCI总线或扩展工业标准结构EISA总线等。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图8中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。通信总线804用于实现这些组件之间的连接通信。其中，本申请实施例中设备的通信接口802用于与其他节点设备进行测试或数据的通信。存储器803可以包括易失性存储器，例如非挥发性动态随机存取内存(Nonvolatile Random Access Memory，NVRAM)、相变化随机存取内存(PhaseChange RAM，PRAM)、磁阻式随机存取内存(Magetoresistive RAM，MRAM)等，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、电子可擦除可编程只读存储器(ElectricallyErasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)、闪存器件，例如反或闪存(NORflash memory)或是反及闪存(NAND flash memory)、半导体器件，例如固态硬盘(SolidState Disk，SSD)等。存储器803可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器801的存储装置。存储器803中存储一组程序代码，且处理器801执行存储器803中所执行的程序用于实现图8实施例的光功率测试操作。
参见图14，图14示出了本申请提供的一种通信芯片的结构示意图。如图14所示，通信芯片170可包括：处理器1701，以及耦合于处理器1701的一个或多个接口1702。其中：
处理器171可用于读取和执行计算机可读指令。具体实现中，处理器1701可主要包括控制器、运算器和寄存器。其中，控制器主要负责指令译码，并为指令对应的操作发出控制信号。运算器主要负责执行定点或浮点算数运算操作、移位操作以及逻辑操作等，也可以执行地址运算和转换。寄存器主要负责保存指令执行过程中临时存放的寄存器操作数和中间操作结果等。具体实现中，处理器1701的硬件架构可以是专用集成电路(applicationspecific integrated circuits，ASIC)架构、MIPS架构、ARM架构或者NP架构等等。处理器1701可以是单核的，也可以是多核的。
接口1702可用于输入待处理的数据至处理器1701，并且可以向外输出处理器1501的处理结果。例如，接口1702可以是通用输入输出(general purpose input output，GPIO)接口，可以和多个外围设备(如显示器(LCD)、摄像头(camara)、射频(radio frequency，RF)模块等等)连接。接口172通过总线1703与处理器1701相连。
本申请中，处理器1701可用于从存储器中调用本申请的一个或多个实施例提供的光功率测试方法在光功率测试装置的实现程序，并执行该程序包含的指令。接口1702可用于输出处理器1701的执行结果。本申请中，接口1702可具体用于输出处理器1701的处理结果。关于本申请的一个或多个实施例提供光功率测试方法可参考前述图8所示各个实施例，这里不再赘述。
需要说明的，处理器1701、接口1702各自对应的功能既可以通过硬件设计实现，也可以通过软件设计来实现，还可以通过软硬件结合的方式来实现，这里不作限制。
在本申请的另一实施例中，还提供一种可读存储介质，可读存储介质中存储有计算机执行指令，当一个设备(可以是单片机，芯片等)或处理器调用可读存储介质中存储的计算机执行指令，实现图8所提供的光功率测试方法中光功率测试装置所执行的步骤。前述的可读存储介质可包括：U盘、移动硬盘、只读存储器、随机存取存储器、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
在本申请的另一实施例中，还提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括计算机执行指令，该计算机执行指令存储在计算机可读存储介质中；设备的至少一个处理器可从计算机可读存储介质读取该计算机执行指令，实现图8所提供的光功率测试方法中光功率测试装置所执行的步骤。
本申请的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选的还包括没有列出的步骤或单元，或可选的还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。该可用介质可以是磁性介质，(如软盘、硬盘、磁带)、光介质(如DVD)、或者半导体介质(如固态硬盘(solid statedisk，SSD))等。
最后应说明的是：以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何在本申请揭露的技术范围内的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (11)

1.一种光功率测试方法，应用于双并联马赫-增德尔MZI光调制器，所述双并联MZI光调制器包括父MZI、第一子MZI和第二子MZI，所述第一子MZI设置于所述父MZI的一个臂，所述第二子MZI设置于所述父MZI的另一个臂，其特征在于，所述方法包括：
固定所述第二子MZI的相位控制变量的值；
设置所述父MZI的相位控制变量的值为第一数值，所述第一子MZI的相位控制变量的值为多个不同数值，测量所述双并联MZI光调制器的第一光功率曲线；
设置所述父MZI的相位控制变量的值为第二数值，所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述多个不同数值，测量所述双并联MZI光调制器的第二光功率曲线；
设置所述父MZI的相位控制变量的值为第三数值，所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述多个不同数值，测量所述双并联MZI光调制器的第三光功率曲线；
根据所述第一光功率曲线、第二光功率曲线和所述第三光功率曲线，获得所述第一子MZI的第一空NULL点，所述第一光功率曲线、所述第二光功率曲线和所述第三光功率曲线在所述第一NULL点相互偏差最小。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一光功率曲线、第二光功率曲线和所述第三光功率曲线，获得所述第一子MZI的第一空NULL点，包括：
构建所述多个不同数值对应的多个数组，一个数值对应一个数组，所述数组包括所述第一光功率曲线上所述数值对应的光功率值、所述第二光功率曲线上所述数值对应的光功率值和所述第三功率曲线上所述数值对应的光功率值；
计算所述多个数组中每个数组的标准偏差，并获取所述多个数组中每个数组的标准偏差构成的标准偏差曲线；
根据所述标准偏差曲线的至少两个谷值，确定所述第一子MZI的两个第一NULL点，所述两个第一NULL点为所述标准偏差曲线上相邻的两个谷值。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
计算所述两个第一NULL点的平均值，并将所述平均值作为所述第一子MZI的第一峰值Peak点。
4.如权利要求1-3任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取所述第二子MZI的第二NULL点和所述第二子MZI的第二Peak点；
根据所述第一子MZI的第一NULL点、所述第一子MZI的第一Peak点、所述第二子MZI的第二NULL点和所述第二子MZI的第二Peak点，确定所述第一子MZI的最小光功率、所述第一子MZI的最大光功率、所述第二子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一子MZI的第一NULL点、所述第一子MZI的第一Peak点、所述第二子MZI的第二NULL点和所述第二子MZI的第二Peak点，确定所述第一子MZI的最小光功率、所述第一子MZI的最大光功率、所述第二子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率，包括：
设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一Peak点对应的相位控制变量的值，所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二Peak点对应的相位控制变量的值，在所述父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量所述双并联MZI光调制器的第四光功率曲线；
获取所述第四光功率曲线的谷值，作为第三NULL点；
获取所述第四光功率曲线的峰值，作为第三Peak点；
根据所述第一NULL点、所述第二Peak点、所述第三NULL点和所述第三Peak点，获取所述第一子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率；
根据所述第一Peak点、所述第二NULL点和所述第三NULL点和所述第三Peak点，获取所述第一子MZI的最大光功率和所述第二子MZI的最小光功率。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一NULL点、所述第二Peak点、所述第三NULL点和所述第三Peak点，获取所述第一子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率，包括：
设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一NULL点对应的相位控制变量的值，所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二Peak点对应的相位控制变量的值，所述父MZI的相位控制变量的值为所述第三NULL点对应的相位控制变量的值，测量所述双并联MZI光调制器的第一光功率；
设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一NULL点对应的相位控制变量的值，所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二Peak点对应的相位控制变量的值，所述父MZI的相位控制变量的值为所述第三Peak点对应的相位控制变量的值，测量所述双并联MZI光调制器的第二光功率；
根据所述第一光功率和所述第二光功率，计算所述第一子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率。
7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一Peak点、所述第二NULL点和所述第三NULL点和所述第三Peak点，获取所述第一子MZI的最大光功率和所述第二子MZI的最小光功率，包括：
设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一Peak点对应的相位控制变量的值，所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二NULL点对应的相位控制变量的值，所述父MZI的相位控制变量的值为所述第三Peak点对应的相位控制变量的值，测量所述双并联MZI光调制器的第三光功率；
设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一Peak点对应的相位控制变量的值，所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二NULL点对应的相位控制变量的值，所述父MZI的相位控制变量的值为所述第三NULL点对应的相位控制变量的值，测量所述双并联MZI光调制器的第四光功率；
根据所述第三光功率和所述第四光功率，计算所述第一子MZI的最大光功率和所述第二子MZI的最小光功率。
8.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一子MZI的第一NULL点、所述第一子MZI的第一Peak点、所述第二子MZI的第二NULL点和所述第二子MZI的第二Peak点，确定所述第一子MZI的最小光功率、所述第一子MZI的最大光功率、所述第二子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率，包括：
固定所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二Peak点对应的相位控制变量的值，设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一NULL点对应的相位控制变量的值，在所述父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量所述双并联MZI光调制器的第五光功率曲线，设置所述第一子MZI的相位控制变量的值为第四数值，在所述父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量所述双并联MZI光调制器的第六光功率曲线，所述第四数值与所述第一NULL点对应的相位控制变量的值之间的差值小于目标值；
根据所述第五光功率曲线和所述第六光功率曲线的交点，确定所述第一子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率；
固定所述第一子MZI的相位控制变量的值为所述第一Peak点对应的相位控制变量的值，设置所述第二子MZI的相位控制变量的值为所述第二NULL点对应的相位控制变量的值，在所述父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量所述双并联MZI光调制器的第七光功率曲线，设置所述第二子MZI的相位控制变量的值为第五数值，在所述父MZI的相位控制变量的值为多个不同数值时，测量所述双并联MZI光调制器的第八光功率曲线，所述第五数值与所述第二NULL点对应的相位控制变量的值之间的差值小于目标值；
根据所述第七光功率曲线和所述第八光功率曲线的交点，确定所述第二子MZI的最小光功率和所述第一子MZI的最大光功率。
9.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
根据所述第一子MZI的最小光功率和所述第一子MZI的最大光功率，计算所述第一子MZI的消光比；
根据所述第二子MZI的最小光功率和所述第二子MZI的最大光功率，计算所述第二子MZI的消光比。
10.一种光功率测试装置，其特征在于，所述光功率测试装置包括用于执行权利要求1-9任一项所述的光功率测试方法的模块或单元。
11.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有指令，当所述指令在处理器上运行时，使得所述处理器执行权利要求1至9任一项所述的光功率测试方法。
CN201910427748.2A 2019-05-21 2019-05-21 一种光功率测试方法及装置 Active CN110224749B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910427748.2A CN110224749B (zh) 2019-05-21 2019-05-21 一种光功率测试方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910427748.2A CN110224749B (zh) 2019-05-21 2019-05-21 一种光功率测试方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110224749A CN110224749A (zh) 2019-09-10
CN110224749B true CN110224749B (zh) 2020-09-08

Family

ID=67821729

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910427748.2A Active CN110224749B (zh) 2019-05-21 2019-05-21 一种光功率测试方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110224749B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110958050B (zh) * 2019-11-19 2021-02-26 武汉光迅科技股份有限公司 一种iq调制器的子消光比测试的方法和系统

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101621329A (zh) * 2008-07-03 2010-01-06 华为技术有限公司 双平行调制器偏置点的测量方法及系统
CN102624460A (zh) * 2012-01-16 2012-08-01 北京大学 一种光纤线性传输调制器及其三阶交调抑制方法
US9059805B2 (en) * 2013-04-11 2015-06-16 Ciena Corporation Optimum modulator bias systems and methods in coherent optical transmitters
CN108964758A (zh) * 2018-06-28 2018-12-07 烽火通信科技股份有限公司 双平行马赫-曾德尔调制器啁啾参数的测量方法及系统

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101339346B (zh) * 2008-08-14 2010-06-02 上海交通大学 全光产生四倍频高速毫米波信号的装置和方法
CN103078680A (zh) * 2012-11-28 2013-05-01 北京邮电大学 一种基于双平行mz调制器的四倍频毫米波的产生方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101621329A (zh) * 2008-07-03 2010-01-06 华为技术有限公司 双平行调制器偏置点的测量方法及系统
CN102624460A (zh) * 2012-01-16 2012-08-01 北京大学 一种光纤线性传输调制器及其三阶交调抑制方法
US9059805B2 (en) * 2013-04-11 2015-06-16 Ciena Corporation Optimum modulator bias systems and methods in coherent optical transmitters
CN108964758A (zh) * 2018-06-28 2018-12-07 烽火通信科技股份有限公司 双平行马赫-曾德尔调制器啁啾参数的测量方法及系统

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Wideband Doppler frequency shift measurement and direction discrimination based on a DPMZM;Wei Chen等;《 IEEE Photonics Journal》;20170302;第9卷(第2期);全文 *
单/双平行MZ电光调制器工作点控制及其应用研究;樊理文;《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》;20170315(第3（2017）期);全文 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN110224749A (zh) 2019-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111856258B (zh) 用于芯片的测试的方法、设备、存储介质和相应的芯片
CN106648945B (zh) 一种接口数据测试方法、装置及电子设备
CN110224749B (zh) 一种光功率测试方法及装置
CN110324185B (zh) 超参数调优方法、装置、服务器、客户端及介质
CN109309735B (zh) 连接处理方法、服务器、系统及存储介质
CN110825425B (zh) 配置数据管理方法及装置、电子设备、存储介质
CN107111167B (zh) 具有偏置控制的电光调制器
CN110597717A (zh) 代码测试方法、装置以及存储介质
CA3059719A1 (en) Payment processing method, device, medium and electronic device
US10719427B1 (en) Contributed test management in deployment pipelines
CN117829309A (zh) 针对ai加速芯片的自动混合精度训练方法及装置
CN115962796A (zh) 一种光纤传感器以及测量方法、装置及存储介质
CN113702801A (zh) 一种芯片的信号量测方法、装置及相关组件
CN110506257B (zh) 在云服务代理系统中创建和分配集成连接器的方法
CN109766088A (zh) 程序生成方法、装置、数据处理方法及服务器
CN113472611A (zh) 获取WiFi信号强度的方法、装置及可读存储介质
CN110417461B (zh) 多故障点的光缆定位方法、装置及终端设备
CN114185318A (zh) 基于人工智能的生产线信息处理方法及系统
CN113515447A (zh) 系统自动化测试方法及装置
CN113037506A (zh) 接口切换控制方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN111338861A (zh) 基于rss的网卡性能测试方法、装置、设备及存储介质
Singh et al. Modeling of polarization-conversion and rotation-based ultrafast All-optical ternary logic switch using microring resonator
CN111488584A (zh) 生产环境的测试方法、装置、计算设备以及介质
CN117118523B (zh) 一种信息传输系统、方法、装置、存储介质及电子设备
US11855689B1 (en) Routing method and related device

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant