CN110213570B - 摄像头模组的调试方法、摄像头模组及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种摄像头模组的调试方法、摄像头模组及存储介质,摄像头模组的调试方法应用于摄像头模组,其中,摄像头模组包括测试烧录模块,摄像头模组的调试方法包括:在判定已安装至终端之后,通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数;通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;按照更新后的性能信息进行调试。
Description
技术领域
本申请实施例涉及摄像头模组技术领域,尤其涉及一种摄像头模组的调试方法、摄像头模组及存储介质。
背景技术
随着摄像头的快速发展,用户对摄像头的成像效果的要求越来越高。为了提高摄像头的成像效果,在出厂前,一般会对摄像头模组进行检测和一次性存储数据(One timeprogram,OTP)烧录。具体地,摄像头模组可以通过对性能信息的烧录,快速提升自动对焦的速度和准确性。
然而,当安装至终端之后,由于受到周围其他模块的影响,摄像头模组出厂时OTP烧录的性能信息也可能受到影响而改变,从而影响摄像头模组的对焦精度和速度,降低摄像头模组的性能。
发明内容
本申请实施例提供了一种摄像头模组的调试方法、摄像头模组及存储介质,可以在摄像头模组安装至终端后,提高摄像头模组的对焦精度和速度,进而提升摄像头模组的性能。
本申请实施例的技术方案是这样实现的:
本申请实施例提供了一种摄像头模组的调试方法,所述方法应用于摄像头模组,其中,所述摄像头模组包括测试烧录模块,所述方法包括:
在判定已安装至终端之后,通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得所述霍尔元件对应的当前校准参数;
通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;
按照所述更新后的性能信息进行调试。
在上述方案中,所述通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得所述霍尔元件对应的当前校准参数之前,所述方法还包括:
获取实时连接参数;其中,所述实时连接参数用于表征所述摄像头模组与所述终端之间的连接状态;
根据所述实时连接参数,判断是否已安装至所述终端中。
在上述方案中,所述根据所述实时连接参数,判断是否安装至所述终端之后,且所述通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测之前,所述方法还包括:
在判定已安装至所述终端之后,向所述测试烧录模块传输开启指令;其中,所述开启指令用于使能所述测试烧录模块的测试功能和烧录功能。
在上述方案中,所述通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息,包括:
提取所述预存性能信息中与所述霍尔元件对应的初始校准参数;
所述测试烧录模块将所述初始校准参数替换为所述当前校准参数,获得所述更新后的性能信息。
在上述方案中,所述通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息,包括:
所述测试烧录模块将所述当前校准参数添加至所述预存性能信息中,获得所述更新后的性能信息。
在上述方案中,所述按照所述更新后的性能信息进行调试,包括:
所述霍尔元件按照所述更新后的性能信息进行磁场检测,获得实时磁场参数;
按照所述实时磁场参数进行调试。
本申请实施例提供了一种摄像头模组,所述摄像头模组包括测试烧录模块,所述摄像头模组包括:检测单元,烧录单元以及调试单元,
所述检测单元,用于在判定已安装至终端之后,通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得所述霍尔元件对应的当前校准参数;
所述烧录单元,用于通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;
所述调试单元,用于按照所述更新后的性能信息进行调试。
在上述方案中,所述摄像头模组还包括:获取单元和判断单元,
所述获取单元,用于通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得所述霍尔元件对应的当前校准参数之前,获取实时连接参数;其中,所述实时连接参数用于表征所述摄像头模组与所述终端之间的连接状态;
所述判断单元,用于根据所述实时连接参数,判断是否已安装至所述终端中。
在上述方案中,所述摄像头模组还包括:传输单元,
所述传输单元,用于根据所述实时连接参数,判断是否安装至所述终端之后,且所述通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测之前,在判定已安装至所述终端之后,向所述测试烧录模块传输开启指令;其中,所述开启指令用于使能所述测试烧录模块的测试功能和烧录功能。
在上述方案中,所述烧录单元,具体用于提取所述预存性能信息中与所述霍尔元件对应的初始校准参数;以及所述测试烧录模块将所述初始校准参数替换为所述当前校准参数,获得所述更新后的性能信息。
在上述方案中,所述烧录单元,还具体用于所述测试烧录模块将所述当前校准参数添加至所述预存性能信息中,获得所述更新后的性能信息。
在上述方案中,所述调试单元,具体用于所述霍尔元件按照所述更新后的性能信息进行磁场检测,获得实时磁场参数;以及按照所述实时磁场参数进行调试。
本申请实施例提供了一种摄像头模组,所述摄像头模组包括测试烧录模块、霍尔元件、处理器、存储有所述处理器可执行指令的存储器,当所述指令被所述处理器执行时,实现如上所述的摄像头模组的调试方法。
本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有程序,应用于摄像头模组中,所述程序被处理器执行时,实现如上所述的摄像头模组的调试方法。
本申请实施例提供了一种摄像头模组的调试方法、摄像头模组及存储介质,摄像头模组的调试方法应用于摄像头模组,其中,摄像头模组包括测试烧录模块,在判定已安装至终端之后,摄像头模组通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数;通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;按照更新后的性能信息进行调试。也就是说,在本申请的实施例中,摄像头模组可以在安装至终端之后,通过设置的测试烧录模块重新对霍尔元件进行检测,并在获得对应的当前校准参数之后,通过烧录当前校准参数更新预存性能信息,最后便可以基于更新后的性能信息进行调试,以克服由于摄像头模组安装至终端所造成的霍尔元件性能下降的缺陷,从而可以在摄像头模组安装至终端后,提高摄像头模组的对焦精度和速度,进而提升摄像头模组的性能。
附图说明
图1为本申请实施例提出的摄像头模组的调试方法的实现流程示意图一;
图2为摄像头模组的示意图;
图3为本申请实施例提出的摄像头模组的调试方法的实现流程示意图二;
图4为本申请实施例提出的摄像头模组的组成结构示意图一;
图5为本申请实施例提出的摄像头模组的组成结构示意图二。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关申请,而非对该申请的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与有关申请相关的部分。
随着终端技术的快速发展,用户对终端中摄像头模组的成像效果的要求也越来越高。但是,每个摄像头模组由于存在个体的差异,其成像效果不尽相同,仅靠一套固定的成像参数很难使所有摄像头都达到一致的成像效果。为了克服不同摄像头模组单体之间性能的差异性,保证摄像头模组的一致性,摄像头模组在组装完成之后,在出厂前一般会对摄像头模组进行校准烧录,即对每一个摄像头模组的性能进行检测和OTP烧录,从而可以在后续的调试过程中提供摄像头模组的特性信息,且终端在使用摄像头模组时,只需读取预先烧录在摄像头模组内的校准参数并应用到拍摄的图像中,就可以使摄像头之间实现成像效果的一致。
摄像头模组中的音圈马达马达(Voice coil motor,VCM)能够为摄像头模组提供自动对焦(Auto-focus,AF)或光学稳像防抖技术(Optical Image Stabilization,OIS)功能。霍尔元件在闭环AF控制系统中,能够感应摄像头模组中镜头的实时位置并反馈给驱动集成电路(Integrated Circuit,IC)进行调节,从而能够降低VCM的功耗、提升对焦速度和精度。相应地,在OIS系统中,霍尔元件同样能够感应镜头实时位置,反馈给驱动IC对OIS马达进行控制。
霍尔元件通过感应周围磁场变化识别对象实时位置的变化情况,在摄像头模组组装完成后,OTP烧录需要记录霍尔元件的校准数据,后续霍尔元件在感应周边磁场变化输出时,就会以该烧录数据作为初始状态进行实时位置信息反馈。
由于摄像头模组周边会有如受话器、近场通信(Near Field Communication,NFC)磁屏蔽层等铁磁性结构,当铁磁性结构距离摄像头模组太近时,会影响摄像头模组中霍尔元件初始状态下的磁场环境,在这种新环境下进行AF和OIS调试,会降低霍尔元件的性能,造成对焦精度降低、VCM功耗大等问题。
本申请提出的一种摄像头模组的调试方法,针对摄像头模组霍尔元件的性能在会受到周边铁磁性材料的影响,可以在摄像头模组安装入终端整机后,在整机的环境下重新进行霍尔元件校准数据的烧录。该数据可以覆盖模组烧录时霍尔元件的烧录信息,作为后续AF或OIS调试所需的初始状态。也可以单独烧录进新的存储位置,后续AF或OIS调试时调用整机端霍尔元件校准数据。
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
本申请一实施例提供了一种摄像头模组的调试方法,该调试方法应用于摄像头模组中,其中,摄像头模组可以包括测试烧录模块,图1为本申请实施例提出的摄像头模组的调试方法的实现流程示意图一,如图1所示,在本申请的实施例中,摄像头模组进行调试的方法可以包括以下步骤:
步骤101、在判定已安装至终端之后,通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数。
在本申请的实施例中,摄像头模组可以先判断是否已经安装至终端中,如果判定安装至终端中,那么摄像头模组便可以通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,从而可以获得霍尔元件对应的当前校准参数。
需要说明的是,在本申请的实施例中,终端可以为任何具备通信和存储功能的设备,例如:平板电脑、手机、电子阅读器、遥控器、个人计算机(Personal Computer,PC)、笔记本电脑、车载设备、网络电视、可穿戴设备等设备。
进一步地,在本申请的实施例中,图2为摄像头模组的示意图,如图2所示,摄像头模组可以设置有检测烧录模块,具体地,检测烧录模块即具有检测和烧录功能的模块。
需要说明的是,在本申请的实施例中,基于上述图2,摄像头模组还可以包括镜头,基座,传感器以及印制电路板(Printed Circuit Board,PCB)等几个主要部分。其中,镜头可以为定焦摄像头、两档变焦摄像头、自动变焦摄像头或者自动数码变焦摄像头中的任意一种;传感器可以包括互补金属氧化物半导体(Complementary Metal OxideSemiconductor,CMOS)或者电荷耦合器件(Charge-coupled Device,CCD)。
需要说明的是,在本申请的实施例中,基于上述图2,摄像头模组还可以包括霍尔元件,其中,霍尔元件可以通过磁场的检测,对镜头的实时位置进行确定和反馈。
进一步地,在本申请的实施例中,对于自动变焦或者自动数码变焦式的摄像头来说,要实现自动对焦的方法,便需要利用音圈马达、步进马达以及压电马达。
需要说明的是,在本申请的实施中,霍尔元件是应用霍尔效应的半导体,是一种基于霍尔效应的磁传感器。具体地,霍尔元件可用多种半导体材料制作,如Ge、Si、InSb、GaAs、InAs、InAsP以及多层半导体异质结构量子阱材料等等。正是由于霍尔元件是一种基于霍尔效应的磁传感器,因此可以检测磁场及其变化,可在各种与磁场有关的场合中使用。例如,霍尔元件在闭环AF控制系统中,能够感应摄像头模组中镜头的实时位置并反馈给驱动IC进行调节,从而能够降低VCM的功耗、提升对焦速度和精度。相应地,在OIS系统中,霍尔元件同样能够感应镜头实时位置,反馈给驱动IC对OIS马达进行控制。
进一步地,在本申请的实施中,摄像头模组中越来越被广泛应用的OTP技术,为微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)的一种存储器类型,即一次性编程。通常情况下,OTP多是采用融丝结构,编程过程是不可逆的破坏活动。相对于传统的带电可擦可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable read only memory,EEPROM)而言,OTP具有价格低廉的优势。
需要说明的是,在本申请的实施中,摄像头模组所应用的OTP技术主要包括以下几方面:(1)存储镜头暗影参数,由于各方面因素的影响,摄像头模组在暗影方面都存在一定的差异性,如果用同一套参数去校准镜头暗影,效果往往不尽人意。如果摄像头模组在出厂的时候,分别对每一个模组进行镜头暗影的校准,并且将这些校准参数烧入到OTP中,那么客户端在显示图像时只要从OTP中读取这些参数并且应用到图像上,便可以得到一致性非常好的成像效果;(2)存储自动白平衡(Automatic white balance,AWB)参数,同镜头暗影一样,白平衡设置的好坏同样是评价摄像头模组成像效果好坏的重要因素。在摄像头模组出厂的时候,分别计算每一个模组R/G和B/G的比值,并且将这些比值烧入到OTP中,那么终端在显示图像时只要从OTP中读取这些比值并且计算最终的gain值,将他们设置到图像中,就可以避免偏色现象的出现;(3)存储自动对焦位置,将每一个摄像头模组的自动对焦位置存储到OTP中,可以快速提升模组摄像头模组对焦的速度和准确性;(4)在OTP中存储有模块标识,可以有效地管理产品的版本控制,当发生问题时可以及时地得到有效信息以分析问题产生的背景和原因。
进一步地,在本申请的实施例中,摄像头模组在进行是否安装至终端中的判断时,额可以先对摄像头模组的实时连接参数进行检测,然后根据实时连接参数确定是否已经完成安装。
需要说明的是,在本申请的实施中,由于在安装至终端以后,摄像头模组受到周围其他模块的影响,预先存储的预存性能信息可能会发生改变,所以摄像头模组可以在安装至终端之后重新对预存性能信息进行更新,因此,本申请实施例提出的摄像头模组的调试方法,需要在摄像头模组已经安装至终端中的条件下进行。
进一步地,在本申请的实施中,摄像头模组所配置的测试烧录模块具有测试功能和烧录功能,因此,摄像头模组在确定已经安装至终端之后,便可以通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测。
需要说明的是,在本申请的实施中,由于霍尔元件是一种基于霍尔效应的磁传感器,当摄像头模组周边存在有如受话器、近场通信磁屏蔽层等铁磁性结构时,摄像头模组中霍尔元件初始状态下的磁场环境便会被影响,因此,如果摄像头模组安装至终端中,便需要通过对霍尔元件进行性能检测来获得霍尔元件对应的当前校准参数。
进一步地,在本申请的实施例中,当前校准参数可以表征在摄像头模组已经安装至终端的条件下,霍尔元件所处的磁场环境和状态。
步骤102、通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息。
在本申请的实施例中,摄像头模组在通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数之后,可以通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,从而可以更新摄像头模组对应的预存性能信息,便可以获得更新后的性能信息。
需要说明的是,在本申请的实施例中,摄像头模组在组装完成之后且出厂之前,可以先进行性能参数的校准和烧录,并将烧录的数据进行存储,即获得预存性能信息。
进一步地,在本申请的实施例中,摄像头模组对应的预存性能信息可以包括镜头暗影参数、白平衡参数、自动对焦位置以及模块标识等摄像头模组的具体信息。具体地,预存性能信息还可以包括霍尔元件对应的初始状态,即霍尔元件对应的初始校准参数。
需要说明的是,在本申请的实施例中,初始校准参数可以表征霍尔元件出厂时的初始状态,而当前校准参数可以表征在摄像头模组已经安装至终端的条件下,霍尔元件所处的磁场环境和状态,因此,摄像头模组可以根据当前校准参数对初始校准参数进行更新,从而可以更新摄像头模组对应的预存性能信息,以获得更新后的性能信息。
步骤103、按照更新后的性能信息进行调试。
在本申请的实施例中,摄像头模组在通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息之后,便可以按照更新后的性能信息进行调试。
需要说明的是,在本申请的实施中,摄像头模组在安装至终端之后,摄像头模组周边会有如受话器、近场通信磁屏蔽层等铁磁性结构,如果铁磁性结构距离摄像头模组比较近,那么便会影响摄像头模组中霍尔元件初始状态下的磁场环境,如果在这种新环境下仍然按照出厂时的预存性能信息进行调试,便会降低霍尔元件的性能,造成对焦精度和速度降低、VCM功耗大等问题,也就是说,摄像头模组在出厂时烧录的预存性能信息不再适用于在该情况下的调试,因此,摄像头模组在安装至终端之后,需要使用更新后的性能信息进行调试。
进一步地,在本申请的实施例中,摄像头模组的调试可以包括AF调试和OIS调试。具体地,摄像头模组在进行AF调试和OIS调试时,可以调用更新后的性能信息中的当前校准参数,从而可以使霍尔元件适用于终端的整机环境,保证摄像头模组的对焦精度和速度。
本申请实施例提出的一种摄像头模组的调试方法,摄像头模组的调试方法应用于摄像头模组,其中,摄像头模组包括测试烧录模块,在判定已安装至终端之后,摄像头模组通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数;通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;按照更新后的性能信息进行调试。也就是说,在本申请的实施例中,摄像头模组可以在安装至终端之后,通过设置的测试烧录模块重新对霍尔元件进行检测,并在获得对应的当前校准参数之后,通过烧录当前校准参数更新预存性能信息,最后便可以基于更新后的性能信息进行调试,以克服由于摄像头模组安装至终端所造成的霍尔元件性能下降的缺陷,从而可以在摄像头模组安装至终端后,提高摄像头模组的对焦精度和速度,进而提升摄像头模组的性能。
基于上述实施例,在本申请的又一实施例中,图3为本申请实施例提出的摄像头模组的调试方法的实现流程示意图二,如图3所示,摄像头模组通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数之前,摄像头模组进行调试的方法还可以包括以下步骤:
步骤104、获取实时连接参数;其中,实时连接参数用于表征摄像头模组与终端之间的连接状态。
在本申请的实施中,摄像头模组可以实时检测自身的连接状态,获取实时连接参数。
需要说明的是,在本申请的实施例中,实时连接参数可以用于表征摄像头模组与终端之间的连接状态。具体地,摄像头模组可以对自身与终端之间的连接状态进行实时检测,当检测到按照预设安装条件完成了连接,那么摄像头模组可以将当前来内参数设置为1,否则为。
步骤105、根据实时连接参数,判断是否已安装至终端中。
在本申请的实施中,摄像头模组在获取实时连接参数之后,便可以根据实时连接参数,判断是否已经安装至终端中。
需要说明的是,在本申请的实施例中,摄像头模组在通过实时的连接状态检测获取实时连接参数之后,便可以进一步通过实时连接参数确定是否已经完成了安装,即判断摄像头模组是否安装至终端中。
在本申请的实施例中,进一步地,摄像头模组在根据实时连接参数,判断是否安装至终端之后,且在通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测之前,摄像头模组进行调试的方法还可以包括以下步骤:
步骤106、在判定已安装至终端之后,向测试烧录模块传输开启指令;其中,开启指令用于使能测试烧录模块的测试功能和烧录功能。
在本申请的实施中,摄像头模组在根据检测获得的实时连接参数判断是否安装至终端之后,如果判定已经安装至终端中,那么摄像头模组可以向测试烧录模块传输开启指令。
需要说明的是,在本申请的实施例中,开启指令可以用于使能测试烧录模块的测试功能和烧录功能,也就是说,摄像头模组在确定已经安装至终端之后,才开启测试烧录模块,以使能测试功能和烧录功能,从而可以降低功耗。
本申请实施例提出的一种摄像头模组的调试方法,摄像头模组的调试方法应用于摄像头模组,其中,摄像头模组包括测试烧录模块,在判定已安装至终端之后,摄像头模组通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数;通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;按照更新后的性能信息进行调试。也就是说,在本申请的实施例中,摄像头模组可以在安装至终端之后,通过设置的测试烧录模块重新对霍尔元件进行检测,并在获得对应的当前校准参数之后,通过烧录当前校准参数更新预存性能信息,最后便可以基于更新后的性能信息进行调试,以克服由于摄像头模组安装至终端所造成的霍尔元件性能下降的缺陷,从而可以在摄像头模组安装至终端后,提高摄像头模组的对焦精度和速度,进而提升摄像头模组的性能。
基于上述实施例,在本申请的再一实施例中,摄像头模组通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息的方法可以包括以下步骤:
步骤102a、提取预存性能信息中与霍尔元件对应的初始校准参数。
在本申请的实施中,摄像头模组在通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数之后,可以先提取预存性能信息中与霍尔元件对应的初始校准参数。
需要说明的是,在本申请的实施例中,摄像头模组在组装完成之后可以通过测试和烧录存储有预存性能信息。其中预存性能信息中包括有霍尔元件对应的初始校准参数。
进一步地,在本申请的实施中,霍尔元件对应的初始校准参数可以表征霍尔元件出厂时的初始状态,即可以表征摄像头模组在安装至终端中之前霍尔元件的状态。
步骤102b、测试烧录模块将初始校准参数替换为当前校准参数,获得更新后的性能信息。
在本申请的实施例中,摄像头模组在提取预存性能信息中与霍尔元件对应的初始校准参数之后,可以通过测试烧录模块将初始校准参数替换为当前校准参数,从而便可以获得更新后的性能信息。
需要说明的是,在本申请的实施例中,摄像头模组在进行预存性能信息的更新时,可以对预存性能信息所包括的霍尔元件的初始校准参数进行替换,具体地,可以利用当前校准参数替换掉初始校准参数,即摄像头模组在更新预存性能信息时,可以用当前校准参数覆盖初始校准参数,从而获得更新后的性能信息。
在本申请的实施例中,进一步地,摄像头模组通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息的方法可以包括以下步骤:
步骤102c、测试烧录模块将当前校准参数添加至预存性能信息中,获得更新后的性能信息。
在本申请的实施中,摄像头模组在通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数之后,可以测试烧录模块将当前校准参数添加至预存性能信息中,从而便可以获得更新后的性能信息。
需要说明的是,在本申请的实施例中,摄像头模组在进行预存性能信息的更新时,可以直接将当前校准信息存储至预存性能信息中,具体地,可以利用当前校准参数对预存性能信息进行增加,即摄像头模组在更新预存性能信息时,可以用将前校准参数存储至预存性能信息对应的存储地址,从而获得更新后的性能信息。
在本申请的实施例中,进一步地,摄像头模组按照更新后的性能信息进行调试的方法可以包括以下步骤:
步骤103a、霍尔元件按照更新后的性能信息进行磁场检测,获得实时磁场参数。
在本申请的实施中,摄像头模组在通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息之后,可以先通过霍尔元件按照更新后的性能信息进行磁场检测,以获得实时磁场参数。
需要说明的是,在本申请的实施例中,摄像头模组安装至终端之后,可以通过再次对霍尔元件进行测试和烧录,获得对应的当前校准参数,因此,在已经安装至终端中的新的环境下,摄像头模组可以通过霍尔元件按照更新后的性能信息进行磁场检测,获得实时磁场参数。
步骤103b、按照实时磁场参数进行调试。
在本申请的实施中,摄像头模组在通过霍尔元件按照更新后的性能信息进行磁场检测,获得实时磁场参数之后,便可以按照实时磁场参数进行调试。
进一步地,在本申请的实施例中,摄像头模组安装至终端之后,可以基于霍尔元件按照更新后的性能信息检测获得的实时磁场参数进行AF调试或OIS调试,从而可以解决摄像头模组安装至终端后导致的霍尔元件性能下降的问题,进而克服摄像头模组对焦精度和速度降低、VCM功耗大等缺陷。
本申请实施例提出的一种摄像头模组的调试方法,摄像头模组的调试方法应用于摄像头模组,其中,摄像头模组包括测试烧录模块,在判定已安装至终端之后,摄像头模组通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数;通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;按照更新后的性能信息进行调试。也就是说,在本申请的实施例中,摄像头模组可以在安装至终端之后,通过设置的测试烧录模块重新对霍尔元件进行检测,并在获得对应的当前校准参数之后,通过烧录当前校准参数更新预存性能信息,最后便可以基于更新后的性能信息进行调试,以克服由于摄像头模组安装至终端所造成的霍尔元件性能下降的缺陷,从而可以在摄像头模组安装至终端后,提高摄像头模组的对焦精度和速度,进而提升摄像头模组的性能。
基于上述实施例,在本申请的另一实施例中,图4为本申请实施例提出的摄像头模组的组成结构示意图一,如图4所示,本申请实施例提出的摄像头模组1可以包括检测单元11,烧录单元12、调试单元13、获取单元14、判断单元15以及传输单元16。
所述检测单元11,用于在判定已安装至终端之后,通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得所述霍尔元件对应的当前校准参数。
所述烧录单元12,用于通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息。
所述调试单元13,用于按照所述更新后的性能信息进行调试。
进一步地,在本申请的实施例中,所述获取单元14,用于通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得所述霍尔元件对应的当前校准参数之前,获取实时连接参数;其中,所述实时连接参数用于表征所述摄像头模组与所述终端之间的连接状态。
所述判断单元15,用于根据所述实时连接参数,判断是否已安装至所述终端中。
进一步地,在本申请的实施例中,所述传输单元16,用于根据所述实时连接参数,判断是否安装至所述终端之后,且所述通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测之前,在判定已安装至所述终端之后,向所述测试烧录模块传输开启指令;其中,所述开启指令用于使能所述测试烧录模块的测试功能和烧录功能。
进一步地,在本申请的实施例中,所述烧录单元12,具体用于提取所述预存性能信息中与所述霍尔元件对应的初始校准参数;以及所述测试烧录模块将所述初始校准参数替换为所述当前校准参数,获得所述更新后的性能信息。
进一步地,在本申请的实施例中,所述烧录单元12,还具体用于所述测试烧录模块将所述当前校准参数添加至所述预存性能信息中,获得所述更新后的性能信息。
进一步地,在本申请的实施例中,所述调试单元13,具体用于所述霍尔元件按照所述更新后的性能信息进行磁场检测,获得实时磁场参数;以及按照所述实时磁场参数进行调试。
图5为本申请实施例提出的摄像头模组的组成结构示意图二,如图5所示,本申请实施例提出的摄像头模组1还可以包括测试烧录模块17、霍尔元件18、处理器19、存储有处理器19可执行指令的存储器110,进一步地,摄像头模组1还可以包括通信接口111,和用于连接处理器19、存储器110以及通信接口111的总线112。
在本申请的实施例中,上述处理器19可以为特定用途集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuit,ASIC)、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、数字信号处理装置(Digital Signal Processing Device,DSPD)、可编程逻辑装置(ProgRAMmable Logic Device,PLD)、现场可编程门阵列(Field ProgRAMmable GateArray,FPGA)、中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、控制器、微控制器、微处理器中的至少一种。可以理解地,对于不同的设备,用于实现上述处理器功能的电子器件还可以为其它,本申请实施例不作具体限定。摄像头模组1还可以包括存储器110,该存储器110可以与处理器19连接,其中,存储器110用于存储可执行程序代码,该程序代码包括计算机操作指令,存储器110可能包含高速RAM存储器,也可能还包括非易失性存储器,例如,至少两个磁盘存储器。
在本申请的实施例中,总线112用于连接通信接口111、处理器19以及存储器110以及这些器件之间的相互通信。
在本申请的实施例中,存储器110,用于存储指令和数据。
进一步地,在本申请的实施例中,上述处理器19,用于在判定已安装至终端之后,通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得所述霍尔元件对应的当前校准参数;通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;按照所述更新后的性能信息进行调试。
在实际应用中,上述存储器110可以是易失性存储器(volatile memory),例如随机存取存储器(Random-Access Memory,RAM);或者非易失性存储器(non-volatilememory),例如只读存储器(Read-Only Memory,ROM),快闪存储器(flash memory),硬盘(Hard Disk Drive,HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive,SSD);或者上述种类的存储器的组合,并向处理器19提供指令和数据。
另外,在本实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。
集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并非作为独立的产品进行销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中,基于这样的理解,本实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或processor(处理器)执行本实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read OnlyMemory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本申请实施例提出的一种摄像头模组,该摄像头模组包括测试烧录模块,在判定已安装至终端之后,摄像头模组通过测试烧录模块对摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得霍尔元件对应的当前校准参数;通过测试烧录模块对当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;按照更新后的性能信息进行调试。也就是说,在本申请的实施例中,摄像头模组可以在安装至终端之后,通过设置的测试烧录模块重新对霍尔元件进行检测,并在获得对应的当前校准参数之后,通过烧录当前校准参数更新预存性能信息,最后便可以基于更新后的性能信息进行调试,以克服由于摄像头模组安装至终端所造成的霍尔元件性能下降的缺陷,从而可以在摄像头模组安装至终端后,提高摄像头模组的对焦精度和速度,进而提升摄像头模组的性能。
本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,其上存储有程序,该程序被处理器执行时实现如上所述的摄像头模组的调试方法。
具体来讲,本实施例中的一种摄像头模组的调试方法对应的程序指令可以被存储在光盘,硬盘,U盘等存储介质上,当存储介质中的与一种摄像头模组的调试方法对应的程序指令被一电子设备读取或被执行时,包括如下步骤:
在判定已安装至终端之后,通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得所述霍尔元件对应的当前校准参数;
通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;
按照所述更新后的性能信息进行调试。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本申请可采用硬件实施例、软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的实现流程示意图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程示意图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及实现流程示意图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在实现流程示意图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在实现流程示意图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在实现流程示意图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述,仅为本申请的较佳实施例而已,并非用于限定本申请的保护范围。
Claims (14)
1.一种摄像头模组的调试方法,其特征在于,所述方法应用于摄像头模组,其中,所述摄像头模组包括测试烧录模块,所述方法包括:
判断所述摄像头模组是否已安装至终端,在判断所述摄像头模组已安装至所述终端之后,通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得所述霍尔元件对应的当前校准参数;
通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;
按照所述更新后的性能信息对所述摄像头模组进行调试;其中,
所述更新后的性能信息包括:所述摄像头模组的所述霍尔元件对应的所述当前校准参数、所述摄像头模组的镜头暗影参数、白平衡参数以及自动对焦位置参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述判断所述摄像头模组是否已安装至终端的步骤包括:
获取实时连接参数;其中,所述实时连接参数用于表征所述摄像头模组与所述终端之间的连接状态;
根据所述实时连接参数,判断所述摄像头模组是否已安装至所述终端。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在判断所述摄像头模组已安装至所述终端之后,且在所述通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测之前,所述方法还包括:
向所述测试烧录模块传输开启指令;其中,所述开启指令用于使能所述测试烧录模块的测试功能和烧录功能。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息,包括:
提取所述预存性能信息中与所述霍尔元件对应的初始校准参数;
所述测试烧录模块将所述初始校准参数替换为所述当前校准参数,获得所述更新后的性能信息。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息,包括:
所述测试烧录模块将所述当前校准参数添加至所述预存性能信息中,获得所述更新后的性能信息。
6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,所述按照所述更新后的性能信息对所述摄像头模组进行调试,包括:
所述霍尔元件按照所述当前校准参数进行磁场检测,获得实时磁场参数;
按照所述实时磁场参数对所述摄像头模组进行调试。
7.一种摄像头模组,其特征在于,所述摄像头模组包括测试烧录模块,所述摄像头模组还包括检测单元,烧录单元以及调试单元,
所述检测单元,用于在判断所述摄像头模组已安装至终端之后,通过所述测试烧录模块对所述摄像头模组中的霍尔元件进行性能检测,获得所述霍尔元件对应的当前校准参数;
所述烧录单元,用于通过所述测试烧录模块对所述当前校准参数进行烧录处理,以更新预存性能信息,获得更新后的性能信息;
所述调试单元,用于按照所述更新后的性能信息对所述摄像头模组进行调试;其中,
所述更新后的性能信息包括:所述摄像头模组的所述霍尔元件对应的所述当前校准参数、所述摄像头模组的镜头暗影参数、白平衡参数以及自动对焦位置参数。
8.根据权利要求7所述的摄像头模组,其特征在于,所述摄像头模组还包括:获取单元和判断单元,
所述获取单元,用于获取实时连接参数;其中,所述实时连接参数用于表征所述摄像头模组与所述终端之间的连接状态;
所述判断单元,用于根据所述实时连接参数,判断所述摄像头模组是否已安装至所述终端。
9.根据权利要求8所述的摄像头模组,其特征在于,所述摄像头模组还包括:传输单元,
所述传输单元,用于在判断所述摄像头模组已安装至所述终端之后,向所述测试烧录模块传输开启指令;其中,所述开启指令用于使能所述测试烧录模块的测试功能和烧录功能。
10.根据权利要求7所述的摄像头模组,其特征在于,
所述烧录单元,具体用于提取所述预存性能信息中与所述霍尔元件对应的初始校准参数;以及通过所述测试烧录模块将所述初始校准参数替换为所述当前校准参数,获得所述更新后的性能信息。
11.根据权利要求7所述的摄像头模组,其特征在于,
所述烧录单元,具体用于通过所述测试烧录模块将所述当前校准参数添加至所述预存性能信息中,获得所述更新后的性能信息。
12.根据权利要求10或11所述的摄像头模组,其特征在于,
所述调试单元,具体用于所述霍尔元件按照所述当前校准参数进行磁场检测,获得实时磁场参数;以及按照所述实时磁场参数对所述摄像头模组进行调试。
13.一种摄像头模组,其特征在于,所述摄像头模组包括测试烧录模块、霍尔元件、处理器、存储有所述处理器可执行指令的存储器,当所述指令被所述处理器执行时,实现如权利要求1-6任一项所述的方法。
14.一种计算机可读存储介质,其上存储有程序,所述计算机可读存储介质应用于摄像头模组中,其特征在于,所述程序被处理器执行时,实现如权利要求1-6任一项所述的方法。
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