CN110208287A - Oled屏偏光型同轴结构光检测法与oled屏偏光检测装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 82
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 17
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 10
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims abstract description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 5
- 238000003306 harvesting Methods 0.000 claims description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 2
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 238000011895 specific detection Methods 0.000 claims description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 2
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009738 saturating Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8812—Diffuse illumination, e.g. "sky"
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
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Abstract
本发明公开了一种OLED屏偏光型同轴结构光检测方法与OLED屏偏光检测装置。其检测法是利用同轴向的自然光与偏振光同时照射OLED屏,偏振光在结构光栅板的作用下透过OLED屏玻璃基板投射到OLED屏内部的有机材料涂层,有机材料涂层有缺陷部位的光栅影像会产生几何变形,几何变形会通过自然光反射到人眼或检测成像装置中。通过人眼或检测成像装置处理分析这些几何变形而实现OLED屏缺陷检测的目的。所述的OLED屏偏光检测装置,包括有外壳体和外壳体内设置有发光板、偏光装置、45度分光镜、结构光栅和设置在外壳体上盖板上的观察透镜。所述的结构光栅板为金属板,所述结构光栅板上均匀制有条状槽,所述条状槽为贯穿结构光栅板上下表面通透设置。
Description
技术领域
OLED屏偏光型同轴结构光检测法与OLED屏偏光检测装置,涉及光学检测领域,特别涉及一种用于OLED屏检测的光学检测方法与检测设备。
背景技术
OLED屏即有机发光显示器,被称之为第三代显示技术,被誉为“梦幻显示器”。OLED不仅更轻薄、能耗低、亮度高、发光率好、可以显示纯黑色,并且还可以做到弯曲,是当今的曲屏电视和手机显示屏的首选材料。
影响OLED显示屏质量的的主要因素为点、线缺陷,随着显示屏分辨率的的不断提高,对其进行人工检测的的难度也越来越大。现有检测方法是人眼,有局限性,对于微小的凸点,凹陷,水波纹等轻微缺陷的检测,非常困难,人眼直接观察法检测,长时工作灯光对人眼视力有影响。
现有常规照明光源无法拍出对比度高的效果,检测稳定性低,无法做到大面积、大视野的快速检测。针对制造工艺过程中微小颗粒的污染,造成这些缺陷隐藏在 OLED 像素的内部,尺寸小,通常为几十微米,灰度与背景类似,对比度低且发光亮度不均匀,这些缺陷人工检测很难发现。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供了一种OLED屏偏光型同轴结构光检测方法,与使用上述方法完成检测所需的OLED屏偏光检测装置。
所述检测法是利用同轴向的自然光与偏振光同时照射OLED屏,偏振光在结构光栅板的作用下透过OLED屏玻璃基板投射到 OLED屏内部的有机材料涂层,有机材料涂层有缺陷部位的光栅影像会产生几何变形,几何变形会通过自然光反射到人眼或检测成像装置中,通过人眼或检测成像装置处理分析这些几何变形而实现OLED屏缺陷检测的目的。
如上所述的结构光栅板为金属板,所述结构光栅板上均匀制有条状槽,所述条状槽为贯穿结构光栅板上下表面通透设置。
本发明所述的OLED屏偏光检测装置,包括有外壳体和外壳体内设置有发光板、偏光装置、45度分光镜、结构光栅和设置在外壳体上盖板上的观察透镜。
具体的,所述发光板由固定板和发光珠构成,优选的,所述固定板为玻璃纤维板。
具体的,偏光装置包括有光漫反射板、第一棱形集光模、第二棱形集光模和偏光板。优选的,所述光漫反射板为亚克力光漫射板,所述偏光板为亚克力偏光板。
具体的,所述45度分光镜由平板透明玻璃片、分光膜和增透膜构成。所述分光膜覆着在平板透明玻璃片朝向偏光装置的一侧,所述增透膜覆着在平板透明玻璃片朝向观察透镜的一侧。优选的,所述分光膜为50:50分光膜。
具体的,所述结构光栅板为金属板,所述结构光栅板上均匀制有条状槽,所述条状槽为贯穿结构光栅板上下表面通透设置。
为增强观察透镜的透光度,提高人眼或检测成像装置的识别效果,所述观察透镜上覆着有增透膜。
为避免发光板通电后产生的热量对检测装置内部结构造成损伤,影响OLED屏检测效果,所述检测装置还包括有散热结构。
本发明提供的OLED屏偏光型同轴结构光检测法与OLED屏偏光检测装置其有益的效果是,在检测片幅较大的OLED屏时,可将检测装置设置在移动平台上对OLED屏进行移动分区域检测,检测时不受OLED屏幅度大小的影响,可检测OLED屏范围广。利用偏振光进行检测,效率更高、检测效果更稳定误判率低,对检测人员肉眼无伤害。
附图说明
图1为本发明OLED屏偏光型同轴结构光检测法光检测流程示意图
图2为本发明OLED屏偏光型同轴结构光检测法—检测手机OLED屏正常偏振光结构光栅影像示意图
图3为本发明OLED屏偏光型同轴结构光检测法—检测手机OLED屏偏振光结构光栅影像变形示意图
图4为本发明OLED屏偏光检测装置三维轴侧示意图
图5为本发明OLED屏偏光检测装置三维分解示意图
图6为本发明OLED屏偏光检测装置其发光板、结构光栅三维示意图
图7为本发明OLED屏偏光检测装置其纵剖面二维结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明OLED屏偏光型同轴结构光检测法与OLED屏偏光检测装置进行详细说明。
本发明所述的OLED屏偏光型同轴结构光检测法,所述照射到OLED屏内部偏振光的产生方法和具体检测方法如图1所示;
1)图1所示将普通光源射出的点光源通过光漫反射板将点光源变为面光源,消除眩光或光斑使光线均匀化。
2)图1所示面光源向各角度方向扩散射出光经过两个相互垂直的棱形集光膜聚集到相互一致轴向角度上,并转化为方向性与轴向亮度较强的光线。
3)图1所示棱形集光膜射出的轴向强光经由偏光板过滤为单向震动的偏振光。
4)图1所示单向震动的偏振光经由45度分光镜分光后分射出两道偏振光线,一束垂直照射到结构光栅,另一束与原偏振光平行。
所述垂直照射到结构光栅板的偏振光线光轴与垂直于观察透镜的自然光线光轴形成光线同轴。
5)参考图2所示垂直照射到结构光栅板的偏振光经过结构光栅转化为具有明暗条纹特征的单向偏振条纹光,
所述单向偏振条纹光与垂直于观察透镜的自然光形成单向偏振条纹同轴结构光。
6)参考图3当此偏振条纹同轴结构光穿透OLED屏玻璃基板投射到OLED屏有机材料涂层时,有机材料涂层有缺陷部位偏振条纹光栅影像产生几何变形,变形的条纹光栅影像通过自然光反射的成像,最终人眼或检测成像装置通过观察透镜查看条纹光栅影像的变形大小实现检测目的。
在检测中可移动或变换OLED屏位置,通过进一步观察结构光栅与OLED屏相对位置的不断变化后光栅影像的变化,从而增强检测效果与提高检测准确性。
本发明所述的OLED屏偏光检测装置,其具体结构如图4图5所示所述检测装置包括有外壳体1,所述外壳体1由上盖板1a、前端板1b、左侧端板1c和右侧端板1d构成。所述外壳体1内设置有发光板4、偏光装置5、45度分光镜6、结构光栅8和设置在外壳体1上盖板1a上的观察透镜7。
具体的,所述发光板4由固定板4a和固定板4a内侧阵列设置的发光珠4b构成,
优选的,所述固定板4a为玻璃纤维板。
具体的,偏光装置5包括有光漫反射板5a、第一棱形集光模5b、第二棱形集光模5c和偏光板5d。
优选的,所述光漫反射板5a为亚克力光漫射板,所述偏光板5d为亚克力偏光板。
具体的,所述45度分光镜6由平板透明玻璃片6a、分光膜6b和增透膜6c构成。
所述分光膜6b覆着在平板透明玻璃片6a朝向偏光装置5的一侧,所述增透膜6c覆着在平板透明玻璃片6a朝向观察透镜7的一侧。优选的,所述分光膜6b为50:50分光膜。
具体的,所述结构光栅板8为金属板,所述结构光栅板8上均匀制有条状槽8a,所述条状槽8a为贯穿结构光栅板8上下表面通透设置。
为避免发光板4通电后产生的热量对检测装置内部结构造成损伤,影响OLED屏检测效果,所述检测装置还包括有散热结构。
具体的,所述散热结构包括有设置在发光板4外侧的散热装置2和设置在外壳体1左侧端板1c和右侧端板1d上的排风扇3a和引风扇3b,所述散热装置2包括有电源接头2a、散热风扇2b和散热片2c。
优选的,为消除观察透镜7表面的反射光消、杂散光,增强检测时的透光效果,
所述观察透镜7上覆着有增透膜。
以上是本发明OLED屏偏光型同轴结构光检测法与OLED屏偏光检测装置实施例所提供的方案的详细介绍,对于本领域的一般技术人员,依据本发明实施例的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述本说明书内容不应理解为对本发明的限制,凡依本发明设计思想所做的任何改变都在本发明的保护范围之内。
Claims (11)
1.OLED屏偏光型同轴结构光检测法,其特征在于,所述检测法是利用同轴向的自然光与偏振光同时照射OLED屏,偏振光在结构光栅板的作用下透过OLED屏玻璃基板投射到OLED屏内部的有机材料涂层,有机材料涂层有缺陷部位的光栅影像会产生几何变形,几何变形会通过自然光反射到人眼或检测成像装置中,通过人眼或检测成像装置处理分析这些几何变形而实现OLED屏缺陷检测的目的。
2.根据权利要求1所述的OLED屏偏光型同轴结构光检测法,其特征在于,所述照射到OLED屏内部偏振光的产生方法和具体检测方法如下;
1)将普通光源射出的点光源通过光漫反射板将点光源变为面光源;
2)面光源向各角度方向扩散射出光经过两个相互垂直的棱形集光膜聚集到相互一致轴向角度上,并转化为方向性与轴向亮度较强的光线;
3)棱形集光膜射出的轴向强光经由偏光板过滤为单向震动的偏振光;
4)单向震动的偏振光经由45度分光镜分光后分射出两道偏振光线,一束垂直照射到结构光栅;
所述垂直照射到结构光栅板的偏振光线光轴与垂直于观察透镜的自然光线光轴形成光线同轴;
5)垂直照射到结构光栅板的偏振光经过结构光栅转化为具有明暗条纹特征的单向偏振条纹光;
所述单向偏振条纹光与垂直于观察透镜的自然光形成单向偏振条纹同轴结构光;
6)当此偏振条纹同轴结构光穿透OLED屏玻璃基板投射到OLED屏有机材料涂层时,有机材料涂层有缺陷部位偏振条纹光栅影像产生几何变形,变形的条纹光栅影像通过自然光反射的成像,最终人眼或检测成像装置通过观察透镜查看条纹光栅影像的变形大小实现检测目的。
3.OLED屏检测装置,其特征在于,所述检测装置包括有外壳体(1)和设置在外壳体(1)内的发光板(4)、偏光装置(5)、45度分光镜(6)、结构光栅板(8)和设置在外壳体(1)上盖板(1a)上的观察透镜(7)。
4.根据权利要求3所述的一种OLED屏检测装置,其特征在于,所述观察透镜(7)上覆着有增透膜。
5.根据权利要求3所述的一种OLED屏检测装置,其特征在于,所述发光板(4)由固定板(4a)和固定板(4a)内侧阵列设置的发光珠(4b)构成;
所述固定板(4a)为玻璃纤维板。
6.根据权利要求3所述的一种OLED屏检测装置,其特征在于,所述偏光装置(5)包括有光漫反射板(5a)、第一棱形集光模(5b)、第二棱形集光模(5c)和偏光板(5d)。
7.根据权利要求6所述的一种OLED屏检测装置,其特征在于,所述光漫反射板(5a)为亚克力光漫射板,所述偏光板(5d)为亚克力偏光板。
8.根据权利要求3所述的一种OLED屏检测装置,其特征在于,所述45度分光镜(6)由平板透明玻璃片(6a)、分光膜(6b)和增透膜(6c)构成;
所述分光膜(6b)覆着在平板透明玻璃片(6a)朝向偏光装置(5)的一侧,所述增透膜(6c)覆着在平板透明玻璃片(6a)朝向观察透镜(7)的一侧。
9.根据权利要求8所述的一种OLED屏检测装置,其特征在于,所述分光膜(6b)为50:50分光膜。
10.根据权利要求3所述的一种OLED屏检测装置,其特征在于,所述结构光栅板(8)为金属板,所述结构光栅板(8)上均匀制有条状槽(8a),所述条状槽(8a)为贯穿结构光栅板(8)上下表面通透设置。
11.根据权利要求3所述的一种OLED屏检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括有散热结构;
所述散热结构包括有设置在发光板(4)外侧的散热装置(2)和设置在外壳体(1)左侧端板(1c)和右侧端板(1d)上的排风风(3a)和引风扇(3b);
所述散热装置(2)包括有电源接头(2a)、散热风扇(2b)和散热片(2c)。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910593531.9A CN110208287A (zh) | 2019-07-03 | 2019-07-03 | Oled屏偏光型同轴结构光检测法与oled屏偏光检测装置 |
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CN (1) | CN110208287A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113899754A (zh) * | 2021-11-17 | 2022-01-07 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 屏幕褶皱程度的检测方法和视觉检测设备 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6800859B1 (en) * | 1998-12-28 | 2004-10-05 | Hitachi, Ltd. | Method and equipment for detecting pattern defect |
CN102687073A (zh) * | 2009-10-13 | 2012-09-19 | Asml荷兰有限公司 | 检验方法和设备 |
CN203643361U (zh) * | 2014-01-15 | 2014-06-11 | 唐山英莱科技有限公司 | 一种基于正交偏振的高反光金属表面视觉检测系统 |
CN205404386U (zh) * | 2016-03-04 | 2016-07-27 | 昆山慕藤光精密光学仪器有限公司 | Ito导电玻璃/薄膜的光学检测系统 |
TWM545903U (zh) * | 2017-03-27 | 2017-07-21 | Best Vision Tech Co Ltd | 配向膜印刷版的顯微檢測系統及其裝置 |
CN107076548A (zh) * | 2014-11-13 | 2017-08-18 | 株式会社高永科技 | 利用衍射光栅的三维形状测量装置 |
US20170269005A1 (en) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Template defect inspection method |
US20180120220A1 (en) * | 2015-05-24 | 2018-05-03 | Shanghai Micro Electronics Equipment (Group) Co., Ltd. | Measurement device and measurement method for thin film provided with transparent substrate |
CN109187550A (zh) * | 2018-08-15 | 2019-01-11 | 苏州富鑫林光电科技有限公司 | 一种基于光栅成像的缺陷检测成像方法 |
CN210572027U (zh) * | 2019-07-03 | 2020-05-19 | 东莞创视自动化科技有限公司 | Oled屏偏光检测装置 |
-
2019
- 2019-07-03 CN CN201910593531.9A patent/CN110208287A/zh active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6800859B1 (en) * | 1998-12-28 | 2004-10-05 | Hitachi, Ltd. | Method and equipment for detecting pattern defect |
CN102687073A (zh) * | 2009-10-13 | 2012-09-19 | Asml荷兰有限公司 | 检验方法和设备 |
CN203643361U (zh) * | 2014-01-15 | 2014-06-11 | 唐山英莱科技有限公司 | 一种基于正交偏振的高反光金属表面视觉检测系统 |
CN107076548A (zh) * | 2014-11-13 | 2017-08-18 | 株式会社高永科技 | 利用衍射光栅的三维形状测量装置 |
US20180120220A1 (en) * | 2015-05-24 | 2018-05-03 | Shanghai Micro Electronics Equipment (Group) Co., Ltd. | Measurement device and measurement method for thin film provided with transparent substrate |
CN205404386U (zh) * | 2016-03-04 | 2016-07-27 | 昆山慕藤光精密光学仪器有限公司 | Ito导电玻璃/薄膜的光学检测系统 |
US20170269005A1 (en) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Template defect inspection method |
TWM545903U (zh) * | 2017-03-27 | 2017-07-21 | Best Vision Tech Co Ltd | 配向膜印刷版的顯微檢測系統及其裝置 |
CN109187550A (zh) * | 2018-08-15 | 2019-01-11 | 苏州富鑫林光电科技有限公司 | 一种基于光栅成像的缺陷检测成像方法 |
CN210572027U (zh) * | 2019-07-03 | 2020-05-19 | 东莞创视自动化科技有限公司 | Oled屏偏光检测装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113899754A (zh) * | 2021-11-17 | 2022-01-07 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 屏幕褶皱程度的检测方法和视觉检测设备 |
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Legal Events
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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