CN110174391B - 位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备 - Google Patents

位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备 Download PDF

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Abstract

本公开涉及一种位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备，应用于物质检测设备，该方法包括：若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，获取待测物质的位移信息，根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息，确定检测位置对应的第二坐标组，检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点，根据第二坐标组，更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组，根据更新后的转动参数组对待测物质进行检测。本公开能够在物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变时，及时地更新检测位置对应的转动参数组，使物质检测设备能够准确地对检测位置进行检测，提高了物质检测的准确性和适应性。

Description

位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备
技术领域
本公开涉及物质检测领域，具体地，涉及一种位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备。
背景技术
拉曼检测设备利用拉曼散射来检测物质的成分，在多个领域中都有广泛的应用，例如石油勘探，药物检测，安全检查等领域。拉曼检测需要通过激光聚焦来使物质散射出拉曼光谱，由于激光的照射点的单点能量密度很高，在对易燃易爆物品检测时，可能会点燃易燃易爆物品，危险性高。现有技术中，主要是通过采用MEMS(英文：Micro-Electro-Mechanical System，中文：微机电系统)技术，使激光的照射点可以按照预设的多个点或者按照预设的轨迹持续运动，防止单点能量累计而点燃易燃易爆物品，从而确保对易燃易爆物品检测的安全性。但是在对待测物质上指定的检测位置进行检测的过程中，如果待测物质出现位移或震动，会导致实际的检测点偏离指定的检测位置，导致检测结果不准确，甚至无法输出检测结果，需要重新检测。
发明内容
本公开的目的是提供一种位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备，用以解决现有技术中当待测物质出现位移或震动时，拉曼检测不准确的问题。
为了实现上述目的，根据本公开实施例的第一方面，提供一种位置偏移的修正方法，应用于物质检测设备，所述方法包括：
若所述物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，获取所述待测物质的位移信息；
根据检测位置对应的第一坐标组和所述位移信息，确定所述检测位置对应的第二坐标组，所述检测位置为在所述待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点；
根据所述第二坐标组，更新所述物质检测设备中与所述检测位置对应的转动参数组；
根据更新后的所述转动参数组对所述待测物质进行检测。
可选地，所述位移信息包括：横向变化量，纵向变化量和角度变化量，所述根据检测位置对应的第一坐标组和所述位移信息，确定所述检测位置对应的第二坐标组包括：
根据第一坐标、所述横向变化量、所述纵向变化量和所述角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标，所述第一坐标为所述第一坐标组中的任一坐标，所述第二坐标为所述第二坐标组中与第一坐标对应的坐标；
重复执行所述根据第一坐标、所述横向变化量、所述纵向变化量和所述角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标的步骤，直至所述第二坐标组中的每一坐标被确定。
可选地，所述根据所述第二坐标组，更新所述物质检测设备中与所述检测位置对应的转动参数组包括：
根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数，所述目标坐标为所述第二坐标组中的任一坐标，所述目标转动参数为所述转动参数组中与所述目标坐标对应的转动参数；
重复执行所述根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数的步骤，直至所述转动参数组中全部的转动参数或部分的转动参数被更新。
可选地，所述转动参数组中的转动参数按照预设的检测顺序排列，所述根据更新后的所述转动参数组对所述待测物质进行检测包括：
将更新后的所述转动参数组中的当前转动参数，和在所述当前转动参数之后的至少一个转动参数作为待检测转动参数组，所述当前转动参数为当前时刻的检测位置对应的转动参数；
依次按照所述待检测转动参数组中的每个转动参数对所述待测物质进行检测。
可选地，所述方法还包括：
若更新后的所述转动参数组中存在至少一个转动参数大于预设的角度阈值，发出提示信息，所述提示信息用于提示所述待测物质超出所述物质检测设备的检测范围。
根据本公开实施例的第二方面，提供一种位置偏移的修正装置，应用于物质检测设备，所述装置包括：
获取模块，用于若所述物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，获取所述待测物质的位移信息；
确定模块，用于根据检测位置对应的第一坐标组和所述位移信息，确定所述检测位置对应的第二坐标组，所述检测位置为在所述待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点；
更新模块，用于根据所述第二坐标组，更新所述物质检测设备中与所述检测位置对应的转动参数组；
检测模块，用于根据更新后的所述转动参数组对所述待测物质进行检测。
可选地，所述位移信息包括：横向变化量，纵向变化量和角度变化量，所述确定模块用于：
根据第一坐标、所述横向变化量、所述纵向变化量和所述角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标，所述第一坐标为所述第一坐标组中的任一坐标，所述第二坐标为所述第二坐标组中与第一坐标对应的坐标；
重复执行所述根据第一坐标、所述横向变化量、所述纵向变化量和所述角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标的步骤，直至所述第二坐标组中的每一坐标被确定。
可选地，所述更新模块用于：
根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数，所述目标坐标为所述第二坐标组中的任一坐标，所述目标转动参数为所述转动参数组中与所述目标坐标对应的转动参数；
重复执行所述根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数的步骤，直至所述转动参数组中全部的转动参数或部分的转动参数被更新。
可选地，所述转动参数组中的转动参数按照预设的检测顺序排列，所述检测模块用于：
将更新后的所述转动参数组中的当前转动参数，和在所述当前转动参数之后的至少一个转动参数作为待检测转动参数组，所述当前转动参数为当前时刻的检测位置对应的转动参数；
依次按照所述待检测转动参数组中的每个转动参数对所述待测物质进行检测。
可选地，所述装置还包括：
提示模块，用于若更新后的所述转动参数组中存在至少一个转动参数大于预设的角度阈值，发出提示信息，所述提示信息用于提示所述待测物质超出所述物质检测设备的检测范围。
根据本公开实施例的第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一方面提供的位置偏移的修正方法的步骤。
根据本公开实施例的第四方面，提供一种电子设备，包括：
存储器，其上存储有计算机程序；
处理器，用于执行所述存储器中的所述计算机程序，以实现第一方面提供的位置偏移的修正方法的步骤。
通过上述技术方案，本公开中若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，首先获取待测物质的位移信息，并根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息，确定检测位置对应的第二坐标组，检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点，之后根据第二坐标组，更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组，最后根据更新后的转动参数组对待测物质进行检测。本公开能够在物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变时，及时地更新检测位置对应的转动参数组，使物质检测设备能够准确地对检测位置进行检测，提高了物质检测的准确性和适应性。
本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
图1是根据一示例性实施例示出的一种位置偏移的修正方法的流程图；
图2是图1所示实施例示出的一种步骤102的流程图；
图3是根据一示例性实施例示出的一种待测物质的位置发生偏移的示意图；
图4是图1所示实施例示出的一种步骤103的流程图；
图5是图1所示实施例示出的一种步骤104的流程图；
图6是根据一示例性实施例示出的另一种位置偏移的修正方法的流程图；
图7是根据一示例性实施例示出的一种位置偏移的修正装置的框图；
图8是根据一示例性实施例示出的另一种位置偏移的修正装置的框图；
图9是根据一示例性实施例提供的一种电子设备的框图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
在介绍本公开提供的位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备之前，首先对本公开各个实施例所涉及应用场景进行介绍。该应用场景为利用物质检测设备对待测物质进行检测，物质检测设备例如可以是采用MEMS技术的拉曼检测设备，该物质检测设备上设置有用于采集待测物质和物质检测设备之间的相对位置的摄像头或传感器，传感器例如可以是探头接触式传感器。物质检测设备在对待测物质进行检测时，通常会预先设置待测物质上的检测位置，检测位置可以根据待测物质的形态、体积等特征来设定，也可以根据用户的具体需求来设定，还可以直接选择预先存储在物质检测设备中的默认位置。
图1是根据一示例性实施例示出的一种位置偏移的修正方法的流程图。如图1所示，应用于物质检测设备，该方法包括以下步骤：
步骤101，若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，获取待测物质的位移信息。
示例的，将待测物质正确放置后，开启物质检测设备，对待测物质进行检测。在物质检测设备对待测物质进行检测的过程中，若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，说明待测物质的位置发生了偏移(或者物质检测设备的位置发生了偏移)，将会导致物质检测设备的实际检测点偏离之前设置的检测位置，为了确保物质检测的准确性，需要获取待测物质的位移信息，获取待测物质的位移信息的方式例如可以是通过摄像头按照预设的频率采集待测物质的图像，对比相邻图像上的特征点，若特征点发生了改变，表示相对位置发生了改变。进一步的，可以根据相邻图像上的特征点的距离，和/或中心转动来确定待测物质的位移信息，还可以是通过探头接触式传感器直接获取待测物质的相对位移，和/或中心转动，来确定待测物质的位移信息，位移信息例如可以包括：待测物质在物质检测设备的激光发射器发射的激光的焦平面上的横向变化量，纵向变化量和角度变化量。
步骤102，根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息，确定检测位置对应的第二坐标组，检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点。
具体的，根据待测物质上的检测位置的不同，物质检测设备对待测物质进行检测分为多点模式检测和面扫轨迹模式检测，在多点模式检测中，检测位置为在待测物质上预设的预设数量个检测点，在面扫轨迹模式检测中，检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹。例如，预设数量为16，用户可以将16个检测点对应的16个坐标输入物质检测设备，物质检测设备将16个坐标存入第一坐标组，或者，用户也可以将检测轨迹输入物质检测设备，物质检测设备根据检测轨迹生成对应的多个坐标，并将多个坐标存入第一坐标组，使物质检测设备能够根据第一坐标组对待测物质进行检测。
物质检测设备在获取到待测物质的位移信息后，可以根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息，确定物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变后检测位置对应的第二坐标组，可以理解为在同一坐标系(在物质检测设备开始检测之前确定的坐标系，或者激光发射器发射的激光的焦平面上的坐标系)中，待测物质发生了移动后，检测位置在该坐标系中的坐标。根据第一坐标组和位移信息确定第二坐标组的方式可以是：预先利用几何原理确定第一坐标组和第二坐标组的转换关系，根据第一坐标组，位移信息，以及第一坐标组和第二坐标组的转换关系确定第二坐标组。
步骤103，根据第二坐标组，更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组。
进一步的，根据光的反射原理可知，每一个物质检测设备的转动参数(α，β)都对应物质检测设备的激光发射器的激光扫描平面上唯一的一个点(x，y)，也就是说，得到(x，y)，就可以反向确定(α，β)。因此，可以预先确定(x，y)和(α，β)的转换关系，并根据第二坐标组，以及(x，y)和(α，β)的转换关系，确定第二坐标组中每一个坐标对应的转动参数，之后用第二坐标组中每一个坐标对应的转动参数来更新转动参数组。其中，转动参数表示激光发射器在两个方向上的旋转角度。
步骤104，根据更新后的转动参数组对待测物质进行检测。
以对待测物质进行多点模式检测为例(面扫轨迹模式检测同理，只是在两检测点之间进行连续扫描)，根据更新后的转动参数组中的转动参数控制MEMS将物质检测设备的激光发射器转动到当前检测点对应的位置，并控制激光发射器发射激光，收集当前检测点的拉曼光谱，并在当前检测点的信噪比达标后(面扫轨迹模式检测中，不需要逐点判定信噪比是否达标，而是将检测轨迹上所有点的拉曼光谱累加后判定信噪比是否达标)，控制MEMS将物质检测设备的激光发射器转动到下一个检测点对应的位置，并控制激光发射器发射激光，收集下一个检测点的拉曼光谱，在所有检测点的拉曼光谱收集完之后，物质检测设备根据所有检测点的拉曼光谱确定物质检测的结果。
需要说明的是，由于涉及的计算量较小，执行步骤101至步骤104所需要的时间比较短暂，即使物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，物质检测设备的实际检测点依然可以实时的跟随原检测位置。并且，如果步骤101至步骤104耗时较长，或者待测物质一直在移动，那么物质检测设备的实际检测点可能无法实时的跟随原检测位置，那么物质检测设备还可以先暂停对当前检测位置的检测，等待测物质稳定后再根据更新后的转动参数组继续对待测物质进行检测。
综上所述，本公开中若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，首先获取待测物质的位移信息，并根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息，确定检测位置对应的第二坐标组，检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点，之后根据第二坐标组，更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组，最后根据更新后的转动参数组对待测物质进行检测。本公开能够在物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变时，及时地更新检测位置对应的转动参数组，使物质检测设备能够准确地对检测位置进行检测，提高了物质检测的准确性和适应性。
图2是图1所示实施例示出的一种步骤102的流程图。如图2所示，位移信息包括：横向变化量，纵向变化量和角度变化量，步骤102包括以下步骤：
步骤1021，根据第一坐标、横向变化量、纵向变化量和角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标，第一坐标为第一坐标组中的任一坐标，第二坐标为第二坐标组中与第一坐标对应的坐标。
步骤1022，重复执行步骤1021，直至第二坐标组中的每一坐标被确定。
以对待测物质进行4x4的多点模式检测为例，如图3所示，以激光焦平面的横向为X轴，激光焦平面的纵向为Y轴建立坐标系，中心十字点为MEMS无偏转时激光照射的位置，即激光可照射范围的中心位置，中心十字点的坐标为(0，0)，物质检测设备按照从左到右从上到下的顺序依次控制激光发射器向检测点发射激光，以获取所有检测点的拉曼光谱。在某一时刻，待测物质在激光焦平面上发生了位移和中心转动，物质检测设备可以通过摄像头或传感器来获取待测物质的位移信息，位移信息例如可以用(x’，y’，γ)来表示，x’，y’，γ分别表示待测物质在物质检测设备的激光发射器发射的激光的焦平面上的的横向变化量，纵向变化量和角度变化量。获取到待测物质的位移信息后，将第一坐标组中的任一坐标作为第一坐标，并根据第一坐标、横向变化量、纵向变化量和角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标，第二坐标为第二坐标组中与第一坐标对应的坐标，第一转换关系是根据几何原理确定的第一坐标和第二坐标的转换关系，第一转换关系可以用(x2，y2)＝f1(x1，y1，x’，y’，γ)来表示，其中，(x1，y1)为第一坐标，(x2，y2)为第二坐标，例如，当第一坐标(x1，y1)＝(1，1)，中心转动γ为顺时针转动45°，横向移动x’＝1，纵向移动y’＝1时，
Figure BDA0002077597200000091
Figure BDA0002077597200000101
之后重复执行将第一坐标组中的任一坐标作为第一坐标，并根据第一坐标、横向变化量、纵向变化量和角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标的步骤，直至第二坐标组中的每一坐标被确定。
需要说明的是，如果待测物质和物质检测设备之间的相对位置发生多次改变，可以通过待测物质的最终位置和待测物质的最初位置来确定总的位移信息，从而根据待测物质总的位移信息来确定第二坐标组，也可以通过叠加每次待测物质和物质检测设备之间的相对位置发生改变时的位移信息，确定待测物质总的位移信息，从而根据待测物质总的位移信息来确定第二坐标组。
图4是图1所示实施例示出的一种步骤103的流程图。如图4所示，步骤103包括以下步骤：
步骤1031，根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数，目标坐标为第二坐标组中的任一坐标，目标转动参数为转动参数组中与目标坐标对应的转动参数。
步骤1032，重复执行步骤1031，直至转动参数组中全部的转动参数或部分的转动参数被更新。
进一步的，物质检测设备中预先设置有第二转换关系，第二转换关系用于表示激光扫描平面上的每一个点(x，y)与转动参数(α，β)的转换关系，第二转换关系可以用(α，β)＝f2(x，y)来表示。在确定检测位置对应的第二坐标组后，将第二坐标组中的任一坐标作为目标坐标，并根据目标坐标和第二转换关系确定目标转动参数，目标转动参数为转动参数组中与目标坐标对应的转动参数，例如，目标坐标为(x2，y2)，则目标转动参数(αnew，βnew)＝f2(x2，y2)。在实际情况中，待测物质一般不会发生太大幅度的偏移，如果待测物质偏移的幅度过大，则可能会超出物质检测设备的激光发射器的照射范围，也就无法使物质检测设备的实际检测点自动跟随检测位置。因此，在确定目标转动参数后，需要判断目标转动参数是否存在异常(例如判断目标转动参数是否超出预设的阈值，当目标转动参数小于或等于预设的阈值时，确定目标转动参数不存在异常，当目标转动参数大于预设的阈值时，确定目标转动参数存在异常)，当目标转动参数不存在异常时，将目标转动参数更新到转动参数组中。之后重复执行上述步骤，直至转动参数组中全部的转动参数或部分的转动参数被更新。
图5是图1所示实施例示出的一种步骤104的流程图。如图5所示，转动参数组中的转动参数按照预设的检测顺序排列，步骤104包括以下步骤：
步骤1041，将更新后的转动参数组中的当前转动参数，和在当前转动参数之后的至少一个转动参数作为待检测转动参数组，当前转动参数为当前时刻的检测位置对应的转动参数。
步骤1042，依次按照待检测转动参数组中的每个转动参数对待测物质进行检测。
具体的，物质检测设备无论是采用多点模式对待测物质进行检测，还是采用面扫轨迹模式对待测物质进行检测，都需要按照预设的检测顺序进行检测，即转动参数组中的转动参数也是按照预设的检测顺序来排列的。若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，只需要更新物质检测设备当前正在检测的检测位置，和物质检测设备之后需要检测的检测位置对应的转动参数，就可以完成对待测物质的检测。因此，可以将更新后的转动参数组中的当前转动参数，和在当前转动参数之后的至少一个转动参数作为待检测转动参数组，之后物质检测设备依次按照待检测转动参数组中的每个转动参数对待测物质进行检测。
图6是根据一示例性实施例示出的另一种位置偏移的修正方法的流程图。如图6所示，该方法还包括：
步骤105，若更新后的转动参数组中存在至少一个转动参数大于预设的角度阈值，发出提示信息，提示信息用于提示待测物质超出物质检测设备的检测范围。
另一种场景中，物质检测设备的激光发射器的照射范围是有限的，即激光发射器的旋转角度有限，因此可以预先设置有角度阈值，物质检测设备的转动参数小于或等于该角度阈值。在根据第二坐标组，更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组后，判断更新后的转动参数组中每一个转动参数与角度阈值的大小关系，若更新后的转动参数组中存在至少一个转动参数大于预设的角度阈值，可以发出提示信息，提示用户待测物质超出物质检测设备的检测范围。发出提示信息的方式例如可以在显示屏上显示提示信息，也可以是通过控制指示灯按照预设的方式进行闪烁(例如控制指示灯按照预设的频率和颜色进行闪烁)，还可以是通过控制扬声器发出语音提示。
综上所述，本公开中若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，首先获取待测物质的位移信息，并根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息，确定检测位置对应的第二坐标组，检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点，之后根据第二坐标组，更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组，最后根据更新后的转动参数组对待测物质进行检测。本公开能够在物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变时，及时地更新检测位置对应的转动参数组，使物质检测设备能够准确地对检测位置进行检测，提高了物质检测的准确性和适应性。
图7是根据一示例性实施例示出的一种位置偏移的修正装置的框图。如图7所示，应用于物质检测设备，该装置200包括：
获取模块201，用于若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，获取待测物质的位移信息。
确定模块202，用于根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息，确定检测位置对应的第二坐标组，检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点。
更新模块203，用于根据第二坐标组，更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组。
检测模块204，用于根据更新后的转动参数组对待测物质进行检测。
可选地，位移信息包括：横向变化量，纵向变化量和角度变化量，确定模块202用于：
根据第一坐标、横向变化量、纵向变化量和角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标，第一坐标为第一坐标组中的任一坐标，第二坐标为第二坐标组中与第一坐标对应的坐标。
重复执行根据第一坐标、横向变化量、纵向变化量和角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标的步骤，直至第二坐标组中的每一坐标被确定。
可选地，更新模块203用于：
根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数，目标坐标为第二坐标组中的任一坐标，目标转动参数为转动参数组中与目标坐标对应的转动参数。
重复执行根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数的步骤，直至转动参数组中全部的转动参数或部分的转动参数被更新。
可选地，转动参数组中的转动参数按照预设的检测顺序排列，检测模块204用于：
将更新后的转动参数组中的当前转动参数，和在当前转动参数之后的至少一个转动参数作为待检测转动参数组，当前转动参数为当前时刻的检测位置对应的转动参数。
依次按照待检测转动参数组中的每个转动参数对待测物质进行检测。
图8是根据一示例性实施例示出的另一种位置偏移的修正装置的框图。如图8所示，该装置200还包括：
提示模块205，用于若更新后的转动参数组中存在至少一个转动参数大于预设的角度阈值，发出提示信息，提示信息用于提示待测物质超出物质检测设备的检测范围。
关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
综上所述，本公开中若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，首先获取待测物质的位移信息，并根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息，确定检测位置对应的第二坐标组，检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点，之后根据第二坐标组，更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组，最后根据更新后的转动参数组对待测物质进行检测。本公开能够在物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变时，及时地更新检测位置对应的转动参数组，使物质检测设备能够准确地对检测位置进行检测，提高了物质检测的准确性和适应性。
图9是根据一示例性实施例提供的一种电子设备的框图。如图9所示，该电子设备300可以包括：处理器301，存储器302。该电子设备300还可以包括多媒体组件303，输入/输出(I/O)接口304，以及通信组件305中的一者或多者。
其中，处理器301用于控制该电子设备300的整体操作，以完成上述的位置偏移的修正方法中的全部或部分步骤。存储器302用于存储各种类型的数据以支持在该电子设备300的操作，这些数据例如可以包括用于在该电子设备300上操作的任何应用程序或方法的指令，以及应用程序相关的数据，例如联系人数据、收发的消息、图片、音频、视频等等。该存储器302可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，例如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，简称SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，简称EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，简称EPROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，简称PROM)，只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。多媒体组件303可以包括屏幕和音频组件。其中屏幕例如可以是触摸屏，音频组件用于输出和/或输入音频信号。例如，音频组件可以包括一个麦克风，麦克风用于接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器302或通过通信组件305发送。音频组件还包括至少一个扬声器，用于输出音频信号。I/O接口304为处理器301和其他接口模块之间提供接口，上述其他接口模块可以是键盘，鼠标，按钮等。这些按钮可以是虚拟按钮或者实体按钮。通信组件305用于该电子设备300与其他设备之间进行有线或无线通信。无线通信，例如Wi-Fi，蓝牙，近场通信(Near FieldCommunication，简称NFC)，2G、3G或4G，或它们中的一种或几种的组合，因此相应的该通信组件305可以包括：Wi-Fi模块，蓝牙模块，NFC模块。
在一示例性实施例中，电子设备300可以被一个或多个应用专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，简称ASIC)、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，简称DSP)、数字信号处理设备(Digital Signal Processing Device，简称DSPD)、可编程逻辑器件(Programmable Logic Device，简称PLD)、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，简称FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述的位置偏移的修正方法。
在另一示例性实施例中，还提供了一种包括程序指令的计算机可读存储介质，该程序指令被处理器执行时实现上述的位置偏移的修正方法的步骤。例如，该计算机可读存储介质可以为上述包括程序指令的存储器302，上述程序指令可由电子设备300的处理器301执行以完成上述的位置偏移的修正方法。
综上所述，本公开中若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，首先获取待测物质的位移信息，并根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息，确定检测位置对应的第二坐标组，检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点，之后根据第二坐标组，更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组，最后根据更新后的转动参数组对待测物质进行检测。本公开能够在物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变时，及时地更新检测位置对应的转动参数组，使物质检测设备能够准确地对检测位置进行检测，提高了物质检测的准确性和适应性。
以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式，但是，本公开并不限于上述实施方式中的具体细节，在本公开的技术构思范围内，可以对本公开的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本公开的保护范围。
另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。
此外，本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本公开的思想，其同样应当视为本公开所公开的内容。

Claims (10)

1.一种位置偏移的修正方法，其特征在于，应用于物质检测设备，所述方法包括：
若所述物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，获取所述待测物质的位移信息；所述位移信息包括：横向变化量，纵向变化量和角度变化量；
根据检测位置对应的第一坐标组和所述位移信息，确定所述检测位置对应的第二坐标组，所述检测位置为在所述待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点；
根据所述第二坐标组，更新所述物质检测设备中与所述检测位置对应的转动参数组；
根据更新后的所述转动参数组对所述待测物质进行检测；
所述根据检测位置对应的第一坐标组和所述位移信息，确定所述检测位置对应的第二坐标组包括：
根据第一坐标、所述横向变化量、所述纵向变化量和所述角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标，所述第一坐标为所述第一坐标组中的任一坐标，所述第二坐标为所述第二坐标组中与第一坐标对应的坐标；
重复执行所述根据第一坐标、所述横向变化量、所述纵向变化量和所述角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标的步骤，直至所述第二坐标组中的每一坐标被确定。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二坐标组，更新所述物质检测设备中与所述检测位置对应的转动参数组包括：
根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数，所述目标坐标为所述第二坐标组中的任一坐标，所述目标转动参数为所述转动参数组中与所述目标坐标对应的转动参数；
重复执行所述根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数的步骤，直至所述转动参数组中全部的转动参数或部分的转动参数被更新。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述转动参数组中的转动参数按照预设的检测顺序排列，所述根据更新后的所述转动参数组对所述待测物质进行检测包括：
将更新后的所述转动参数组中的当前转动参数，和在所述当前转动参数之后的至少一个转动参数作为待检测转动参数组，所述当前转动参数为当前时刻的检测位置对应的转动参数；
依次按照所述待检测转动参数组中的每个转动参数对所述待测物质进行检测。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
若更新后的所述转动参数组中存在至少一个转动参数大于预设的角度阈值，发出提示信息，所述提示信息用于提示所述待测物质超出所述物质检测设备的检测范围。
5.一种位置偏移的修正装置，其特征在于，应用于物质检测设备，所述装置包括：
获取模块，用于若所述物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变，获取所述待测物质的位移信息；所述位移信息包括：横向变化量，纵向变化量和角度变化量；
确定模块，用于根据检测位置对应的第一坐标组和所述位移信息，确定所述检测位置对应的第二坐标组，所述检测位置为在所述待测物质上预设的检测轨迹，或预设数量个检测点；
更新模块，用于根据所述第二坐标组，更新所述物质检测设备中与所述检测位置对应的转动参数组；
检测模块，用于根据更新后的所述转动参数组对所述待测物质进行检测；
所述确定模块用于：
根据第一坐标、所述横向变化量、所述纵向变化量和所述角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标，所述第一坐标为所述第一坐标组中的任一坐标，所述第二坐标为所述第二坐标组中与第一坐标对应的坐标；
重复执行所述根据第一坐标、所述横向变化量、所述纵向变化量和所述角度变化量，按照预设的第一转换关系确定第二坐标的步骤，直至所述第二坐标组中的每一坐标被确定。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述更新模块用于：
根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数，所述目标坐标为所述第二坐标组中的任一坐标，所述目标转动参数为所述转动参数组中与所述目标坐标对应的转动参数；
重复执行所述根据目标坐标和预设的第二转换关系更新目标转动参数的步骤，直至所述转动参数组中全部的转动参数或部分的转动参数被更新。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述转动参数组中的转动参数按照预设的检测顺序排列，所述检测模块用于：
将更新后的所述转动参数组中的当前转动参数，和在所述当前转动参数之后的至少一个转动参数作为待检测转动参数组，所述当前转动参数为当前时刻的检测位置对应的转动参数；
依次按照所述待检测转动参数组中的每个转动参数对所述待测物质进行检测。
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
提示模块，用于若更新后的所述转动参数组中存在至少一个转动参数大于预设的角度阈值，发出提示信息，所述提示信息用于提示所述待测物质超出所述物质检测设备的检测范围。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-4中任一项所述方法的步骤。
10.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器，其上存储有计算机程序；
处理器，用于执行所述存储器中的所述计算机程序，以实现权利要求1-4中任一项所述方法的步骤。
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