CN110174247A - 光器件测试装置 - Google Patents
光器件测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110174247A CN110174247A CN201910461319.7A CN201910461319A CN110174247A CN 110174247 A CN110174247 A CN 110174247A CN 201910461319 A CN201910461319 A CN 201910461319A CN 110174247 A CN110174247 A CN 110174247A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- heat
- optical device
- conductive assembly
- slot
- locating piece
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 199
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 81
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 8
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 59
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 36
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 17
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 6
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 6
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005474 detonation Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 230000000116 mitigating effect Effects 0.000 description 2
- 239000005060 rubber Substances 0.000 description 2
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 description 2
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000004568 cement Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005619 thermoelectricity Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/04—Optical benches therefor
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
本发明公开一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，其特征在于，所述光器件测试装置包括：导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间，以及温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。本发明提出的光器件测试装置能够提升光器件跟踪误差测试的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及光器件测试技术领域，特别涉及一种光器件测试装置。
背景技术
光器件内设有发光组件，发光组件发射的激光耦合至光纤适配器的纤芯中，再将光纤适配器通过光纤连接一光功率测量仪器，即可测量光纤接收到的激光的光功率。将发光组件与光纤适配器的纤芯耦合完毕之后，需要将发光组件与光纤适配器分别通过激光焊接在光器件的方形管壳体上，方形管壳体上激光焊接的焊点在温度变化时会发生结构形变，会导致激光耦合时的光路也会发生变化，光纤内接收到激光的光功率也会随之变化。此外，光器件方形管壳体内的其它零部件也会在高、低温环境下发生热胀冷缩影响工作性能，这也将最终导致光纤接收到的激光的光功率发生变化。因此，在不同的高、低温条件下，光纤收到的激光的光功率与其在常温条件下接收到的激光的光功率值之间会存在一个差值，即TE(Tracking Error，跟踪误差)值，TE值可作为衡量光器件的输出光功率在规定工作温度范围内的稳定性的指标。
目前测试光器件TE值的方案中，难以保证光器件的实际工作温度与预期工作温度相一致，比如，目前采用的一种光器件TE值测试方案为：将光器件放置在一密闭容器中，通过改变密闭容置内空气的温度来模拟光器件的工作温度，从而获得高、低温度条件下光器件的输出光功率。在该方案中，首先，无法保证密闭容器内各处的温度都是均匀而一致的，光器件的实际工作温度存在不稳定的情况。其次，热量从空气传递到光器件有延迟和损耗，光器件的实际工作温度难以准确控制。其中，密闭容器内的温度是期望光器件工作的温度，而光器件实际工作温度并非密闭容器内空气的温度，这就导致光器件TE测试的温度条件不准确，光器件的TE测试存在较大误差，进而会导致不良的光器件能通过测试，而优良的光器件反而不能通过测试。
上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种光器件测试装置，旨在提升光器件跟踪误差测试的准确性。
为实现上述目的，本发明提供了一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，所述光器件测试装置包括：
导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；
定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间；以及
温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。
可选地，所述温控组件包括：
热电制冷器，设于所述导热组件，所述热电制冷器用于调节所述导热组件的温度；和
热敏电阻，设于所述导热组件，并与所述热电制冷器间隔设置，所述热敏电阻用于获取所述导热组件的当前温度。
可选地，所述导热组件包括：
测试盒，形成有容纳腔；
导热基板，设于所述容纳腔内，并邻近所述容纳腔的开口处设置；以及
盖板，盖合于所述容纳腔的开口处，并有与所述导热基板围合形成所述限位槽；
所述定位件可活动地穿设于所述盖板，并抵接于所述光器件背向所述导热基板的一侧，以使所述光器件定位于所述定位件和所述导热基板之间；
所述温控组件设于所述导热基板背向所述盖板的一侧，并容纳于所述容纳腔内。
可选地，所述导热组件还包括转动连接于所述盖板背向所述测试盒一侧的翻转板；
所述定位件包括定位柱、设于所述定位柱一端的止挡件以及套设于所述定位柱的弹性件；
所述定位柱可活动地穿设于所述翻转板，并与所述光器件背向所述导热基板的一侧抵接；
所述止挡件设于所述定位柱靠近所述光器件的一端；
所述弹性件位于所述止挡件和所述翻转板之间，所述弹性件的两端分别抵接于所述止挡件和所述翻转板，并处于压缩状态。
可选地，所述导热组件包括：
安装罩，形成有安装腔，所述安装罩外壁形成有至少一个安装槽，所述安装槽的底壁开设有连通所述安装腔的安装口；和
导热座，设于所述安装腔内，所述导热座间隔设置有至少两个凸部，相邻两个所述凸部与所述导热座围合形成一通槽，所述凸部穿过所述安装口并伸入所述安装槽内，所述通槽的底壁与所述安装槽的底壁相齐平，以使所述通槽与所述安装槽连通，形成所述限位槽；
所述温控组件设于所述导热座背向所述凸部的一侧，并容纳于所述安装腔内。
可选地，所述定位件为定位块，所述定位块包括支撑部和设于所述支撑部一端的定位部；
所述支撑部远离所述定位部的一端与所述凸部转动连接；
所述支撑部相对于所述凸部转动时，带动所述定位部伸入所述通槽内，并抵接于所述光器件的外壁，以将所述光器件夹持定位于所述定位部和所述通槽的侧壁或底壁之间。
可选地，所述凸部开设有连通于所述通槽侧壁的竖槽，所述支撑部的一端转动连接于所述竖槽的底壁，所述支撑部和所述定位部至少部分容纳于所述竖槽内。
可选地，所述光器件测试装置还包括连接于所述导热组件的进风接头，所述进风接头外接有进风器，所述进风器通过进风接头向所述导热组件鼓风。
可选地，所述光器件测试装置还包括：
支架；和
散热箱，设于所述支架，所述散热箱形成有散热腔，所述散热箱的侧壁开设有与所述散热腔连通的散热口，所述散热箱于所述散热口处设有多个间隔设置的散热隔板，多个所述散热隔板之间形成有与所述散热腔连通的散热通道；
所述导热组件设于所述散热箱。
可选地，所述光器件测试装置还包括风扇；
所述散热箱背向所述导热组件的一侧还开设有进风口，所述进风口与所述散热通道相连通；
所述风扇设于所述进风口处，所述风扇用于向所述散热通道内鼓风，或者将所述散热通道内的空气向外排出。
本发明技术方案通过采用将光器件设置在导热组件形成的限位槽内，再在导热组件上设置定位件，使定位件至少部分伸入限位槽内，并抵接于光器件的外壁，定位件与限位槽的内壁配合夹持并定位光器件，使光器件的外壁与限位槽的内壁相贴合的面积尽可能的大。以此，在后续的光器件跟踪误差测试过程中，导热组件的温度可以等效成光器件的工作温度，通过温控组件对导热组件的温度进行调节，就能实现光器件工作温度的准确控制，进而保证光器件在不同温度环境下跟踪误差测试的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明光器件测试装置的一种结构示意图；
图2为图1中光器件测试装置的爆炸结构图；
图3为图2中盖板和定位件的配合结构示意图；
图4为图2的侧视结构图；
图5为本发明光器件测试装置的另一种结构示意图；
图6为图5中光器件测试装置的爆炸结构图；
图7为图6中导热座与定位块的配合结构图；
图8为图7中A部分的放大结构图；
图9为测支架、散热箱以及风扇的结构示意图。
附图标号说明：
| 标号 | 名称 | 标号 | 名称 |
| 1 | 导热组件 | 2 | 定位件 |
| 11 | 限位槽 | 21 | 定位柱 |
| 12 | 导热基板 | 22 | 弹性件 |
| 13 | 测试盒 | 23 | 止挡件 |
| 131 | 容纳腔 | 24 | 定位部 |
| 1311 | 第一限位台阶 | 25 | 支撑部 |
| 1312 | 第二限位台阶 | 31 | 支架 |
| 14 | 盖板 | 32 | 散热箱 |
| 15 | 翻转板 | 321 | 散热隔板 |
| 16 | 安装罩 | 322 | 散热通道 |
| 161 | 安装槽 | 323 | 进风口 |
| 162 | 安装口 | 324 | 散热口 |
| 17 | 导热座 | 4 | 风扇 |
| 171 | 凸部 | 5 | 光器件 |
| 1711 | 通槽 | 6 | 进风接头 |
| 172 | 竖槽 | 7 | 热电制冷器 |
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
本发明提出一种光器件测试装置，用于光器件5的跟踪误差测试。
在本发明实施例中，如图1所示，该光器件测试装置包括：导热组件1，形成至少一个限位槽11，光器件5至少部分容纳于限位槽11内；定位件2，可活动地设于导热组件1，定位件2至少部分伸入限位槽11内，并与光器件5的外壁抵接，以使光器件5定位于定位件2与限位槽11的内壁之间；以及温控组件(图未示)，设于导热组件1，温控组件用于调节导热组件1的温度，以改变光器件5的工作温度。
在本实施例中，导热组件1的材质为易导热材质，比如金属合金等，导热组件1的整体形状可以为正方体、长方体等。导热组件1上设置有限位槽11，限位槽11用于容纳至少部分的光器件5，限位槽11的形状和大小规格不限，使光器件5至少部分能够穿过限位槽11槽口后容纳于限位槽11内即可。
定位件2的材质可以有多种，比如金属、金属合金等。定位件2可以是可活动地穿设于导热组件1的，也可以是转动连接于导热组件1的，定位件2在导热组件1上的设置方式有多种，此处不做限定。定位件2可邻近限位槽11设置，以便于与限位槽11相配合夹持并定位光器件5，也利于减小整个测试装置的尺寸。光器件5至少部分容纳于限位槽11后，定位件2至少部分伸入限位槽11内，并抵接于光器件5的外侧壁或外侧顶壁，从而配合限位槽11的内底壁或内侧壁夹持并定位光器件5。比如，定位件2抵接于光器件5的外顶壁时，可以是光器件5的外底壁与限位槽11的内底壁抵接，从而通过定位件2和限位槽11的内底壁分别抵接于光器件5相对的外顶壁和外底壁，实现光器件5的夹持和定位；再比如，定位件2抵接于光器件5的外侧壁时，可以是光器件5与光器件5的该外侧壁相对的另一外侧壁与限位槽11的内侧壁抵接，从而通过定位件2和限位槽11的内侧壁分别抵接于光器件5相对两个外侧壁，实现光器件5的夹持和定位。
温控组件可以为任意能够调节导热组件1温度，使导热组件1升温或降温的任意组件，比如温度控制器等，此处不做限定。
本实施例实现光器件5跟踪误差测试过程和原理为：首先将光器件5放置在限位槽11内，定位件2移动并抵接于光器件5的外壁，使光器件5被夹持定位于定位件2和限位槽11内壁之间。定位件2本身可以不需要设置定位结构来使其定位在特定位置，比如，可以将定位件2可活动地穿设在导热组件1上，利用定位件2自身的重力，使定位件2下落并伸入限位槽11内，定位件2抵接于光器件5的外顶壁，并与限位槽11的内底壁配合夹持并定位光器件5，这种定位方式能够使定位件2不至于给光器件5施加过大的外作用力，保证不会对光器件5造成损坏，也能够保证光器件5不会在受到挤压时变形，而影响光路的准直，进而影响光器件5的跟踪误差测试结果。光器件5在限位槽11内定位之后，光器件5的外壁至少部分与限位槽11内壁紧密贴合，通过温控组件调节导热组件1的温度，使导热组件1升温或降温至需要光器件5工作的目标温度上，导热组件1的温度达到目标温度时，导热组件1的温度会迅速传递至光器件5，从而使光器件5迅速获得与导热组件1相一致的温度，从而实现对光器件5工作温度的准确控制，进而保证了光器件5跟踪误差测试的准确性。
本实施例方案通过采用将光器件5设置在导热组件1形成的限位槽11内，再在导热组件1上设置定位件2，使定位件2至少部分伸入限位槽11内，并抵接于光器件5的外壁，定位件2与限位槽11的内壁配合夹持并定位光器件5，使光器件5的外壁与限位槽11的内壁相贴合的面积尽可能的大。以此，在后续的光器件5跟踪误差测试过程中，导热组件1的温度可以等效成光器件5的工作温度，通过对导热组件1的温度进行控制，就能实现光器件5工作温度的准确性控制，进而保证光器件5跟踪误差测试的准确性。
可选地，温控组件包括：热电制冷器，设于导热组件1，热电制冷器用于调节导热组件的温度；和热敏电阻，设于导热组件1，并与热电制冷器间隔设置，热敏电阻用于获取导热组件的当前温度。
在本实施例中，温控组件包括设于导热组件1的热敏电阻、设于导热组件1的热电制冷器7，以及与热敏电阻电连接的温度控制器，导热组件1的温度变化时，热敏电阻的阻值变化，温度控制器获取热敏电阻的阻值，并根据该阻值对应计算出导热组件1的当前温度。热电制冷器7具有热接触面和冷接触面，热接触面和冷接触面中的任一面与导热组件1抵接，通过温度控制器改变加载在热电制冷器7上的电流流向，即可使热电制冷器7的热接触面和冷接触面相对换。对导热组件1进行升温时，通过温度控制器使热电制冷器7与导热组件1的接触面成为热接触面，使导热组件1和光器件5升温；反之，对导热组件1进行降温时，通过温度控制器使热电制冷器7与导热组件1的接触面成为冷接触面，使导热组件1和光器件5降温。以此，方便且准确地实现了导热组件1的温度控制，进而实现了光器件5工作温度的准确控制。
可选地，如图2所示，导热组件1包括：测试盒13，形成有容纳腔131；导热基板12，设于容纳腔131内，并邻近容纳腔131的开口处设置；以及盖板14，盖合于容纳腔131的开口处，并有与导热基板12围合形成限位槽11；定位件2可活动地穿设于盖板14，并抵接于光器件5背向导热基板12的一侧，以使光器件5定位于定位件2和导热基板12之间；温控组件设于导热基板12背向盖板14的一侧，并容纳于容纳腔131内。
在本实施例中，测试盒13为顶端具有开口或顶端和底端均具有开口的盒体。测试盒13和盖板14的形状不限，可以为正方体、长方体等。测试盒13和盖板14的材质可以有多种，比如金属合金、塑料等。
导热基板12具有易导热的特性，导热基板12的材质可以为金属合金等，导热基板12的形状不限，可以为长方体、正方体等。导热基板12面向盖板14的一侧或盖板14面向盖板14的一侧形成有槽体，以使盖板14盖合于测试盒13时，盖板14与导热基板12围合形成限位槽11。定位件2穿设于盖板14上，并对应于光器件5设置，以使定位件2能够在其自身重力作用下，落入限位槽11内，并抵接于光器件5的外顶壁，从使光器件5的外底壁与限位槽11的内底壁相贴合，实现光器件5在限位槽11内的定位。
温控组件贴合于导热基板12背向盖板14的一侧，以缩短温控组件与导热基板12之间的热传递时间，使温控组件发热或冷却时，能够以热传递的方式迅速改变导热基板12的温度，从而实现光器件5工作温度的快速调节。
可选地，参阅图3，并结合图2和图4所示，导热组件1还包括转动连接于盖板14背向测试盒13一侧的翻转板15；定位件2包括定位柱21、设于定位柱21一端的止挡件23以及套设于定位柱21的弹性件22；定位柱21可活动地穿设于翻转板15，并与光器件5背向导热基板12的一侧抵接；止挡件23设于定位柱21靠近光器件5的一端；弹性件22位于止挡件23和翻转板15之间，弹性件22的两端分别抵接于止挡件23和翻转板15，并处于压缩状态。
在本实施例中，翻转板15的材质可以有多种，比如金属合金、塑料等，翻转板15的形状不限，比如方形、“凸”字形、楔形等。翻转板15远离盖板14的一端可靠近或远离光器件5移动，以在需要对光器件5进行定位时，使翻转板15和定位柱21靠近光器件5移动，使定位柱21抵接于光器件5的外顶壁，将光器件5定在限位槽11内；在需要从限位槽11内将光器件5取出时，可同理转动翻转板15，并使定位柱21远离光器件5移动，以释放光器件5。
定位柱21的材质可以有多种，比如金属、金属合金等，在一些实施例中，定位柱21还可以是具有中空结构的塑料外壳，该塑料外壳的中空腔内可以填充金属、金属合金等，以增加定位住的21的支撑强度和重量，更可靠地定位光器件7。定位柱21呈柱状，其截面形状不限，可以为圆形、三角形、椭圆形等。定位柱21的底端设有止挡件23，止挡件23可以是与定位柱21一体成型设置的，也可以是单独成型后，通过粘接、螺纹粘接等方式固定在定位柱21上的，止挡件23的材质不限，可以是塑胶、硅胶、橡胶、金属、金属合金等。
弹性件22可以为弹簧、弹性套筒等，弹性件22为弹性套筒时，弹性件22为中空结构，弹性件22的材质可以为海绵，软硅胶、软橡胶等。因为定位柱21可活动地穿设于翻转板15，在定位柱21开始与光器件5抵接到定位柱21不再相对翻转板15移动的过程中，定位柱21远离光器件5的一端与光器件5之间的距离逐渐增加，弹性件22受到翻转板15和光器件5的作用力而逐渐被压缩，当弹性件22趋于稳定，不再发生进一步的弹性形变时，定位柱21不再相对于翻转板15移动，光器件5被夹持定位于定位柱21和限位槽11的内底壁之间。
本实施例中通过在翻转板15上穿设可相对翻转板15活动的定位柱21，在定位柱21靠近光器件5的一端设置止挡件23，并在定位柱21上套设弹性件22，使弹性件22的两端分别抵接于翻转板15和止挡件23，以此，使定位柱21与光器件5之间的接触为非硬性接触，定位柱21可通过弹性件22与对光器件5施加比较缓和的作用力，从而保护光器件5，避免光器件5受到定位柱21的损伤，也便于从限位槽11内将光器件5取出或装入限位槽11内，此外，也能够适用于不同大小规格的光器件5的定位，提升了本光器件测试装置的适用性。
可选地，如图2所示，容纳腔131的相对两侧壁分别形成有第一限位台阶1311和第二限位台阶1312；第一限位台阶1311和第二限位台阶1312邻近容纳腔131的开口处设置，导热基板12设于容纳腔131内，且导热基板12的相对两端分别与第一限位台阶1311和第二限位台阶1312限位抵接。
在本实施例中，第一限位台阶1311和第二限位台阶1312分别限位导热基板12的相对两端，以使导热基板12能够通过第一限位台阶1311和第二限位台阶1312可靠地限位于容纳腔131内，保证后续光器件5跟踪误差测试时，光器件5不会因导热基板12在容纳腔131内定位不稳定，而出现位置上的偏移，导热基板12背向第一限位台阶1311或第二限位台阶1312的一侧与盖板14围合形成限位槽11。
可选地，参阅图5，并结合图6所示，其特征在于，导热组件1包括：安装罩16，形成有安装腔，安装罩16外壁形成有至少一个安装槽161，安装槽161的底壁开设有连通安装腔的安装口162；和导热座17，设于安装腔内，导热座17间隔设置有至少两个凸部171，相邻两个凸部171与导热座17围合形成一通槽1711，凸部171穿过安装口162并伸入安装槽161内，通槽1711的底壁与安装槽161的底壁相齐平，以使通槽1711与安装槽161连通，形成限位槽11；温控组件设于导热座17背向凸部171的一侧，并容纳于安装腔内。
在本实施例中，安装罩16的形状不限，可以呈阶梯形状、长方体形状等，安装罩16的材质可以为金属合金、塑料等。安装罩16上形成有安装槽161，安装槽161整体的形状可以为长条形。安装槽161的底壁开设有安装口162，安装口的开口还可以延伸至安装槽161的侧壁，以成为呈“U”字形设置的开口。
导热座17的形状不限，比如长方体、楔形体等，导热座17的材质为易导热材质，比如金属、金属合金等。导热座17上形成有凸部171，凸部171可与导热座17一体成型设置，相邻两个凸部171之间形成有通槽1711，通槽1711为两侧开口的槽体，以使在通槽1711底壁与安装槽161底壁相齐平的情况下，通槽1711的相对的两个侧槽口均正对于安装槽161的侧槽口，以与安装槽161相连通形成限位槽11。光器件5可通过通槽1711的侧槽口伸入限位槽11内。
温控组件贴合于导热座17背向凸部171的一侧，以缩短温控组件与导热导热座17之间的热传递时间，使温控组件发热或冷却时，能够以热传递的方式迅速改变导热座17的温度，从而实现光器件5工作温度的快速调节。
可选地，参阅图7，并结合图8所示，定位件2为定位块，定位块包括支撑部25和设于支撑部25一端的定位部24；支撑部25远离定位部24的一端与凸部171转动连接；支撑部25相对于凸部171转动时，带动定位部24伸入通槽1711内，并抵接于光器件5的外壁，以将光器件5夹持定位于定位部24和通槽1711的侧壁或底壁之间。
在本实施例中，定位块的材质可以有多种，比如金属、金属合金等，定位块的形状不限，比如可以呈长条形、呈倒“L”字形等。定位块邻近于通槽1711设置，定位件2的支撑部25转动时，带动定位部24靠近或远离光器件5移动，以配合通槽1711的内壁或底壁夹持或释放光器件5。
支撑部25的形状可以为长条形，楔形等，定位部24的形状可以为楔形，块状等，此处不做限定。支撑部25与定位部24可以是一体成型设置的，也可以时分别独立加工成型后组合连接的。
本实施例方案通过转动连接于凸部171的支撑部25和设于支撑部25的定位部24，使支撑部25相对于凸部171转动时，支撑部25能够带动定位部24伸入通槽1711内，并抵接于光器件5的外壁，将光器件5夹持定位于定位部24和通槽1711的侧壁或底壁之间。本方案中不对定位块设计定位结构，而使定位块自然地搭接于光器件5外壁，定位块与光器件5之间的抵接并非硬性抵接，从而使定位块能够对光器件5施加比较缓和的作用力，而非强制挤压的作用力，以保护光器件5，避免光器件5受到定位柱21的损伤，也便于从通槽1711槽内将光器件5取出或装入通槽1711内，此外，也能够适用于不同大小规格的光器件5的定位，提升了本光器件5测试夹具的适用性。
可选地，如图8，并结合图7所示，凸部171开设有连通于通槽1711侧壁的竖槽172，支撑部25的一端转动连接于竖槽172的底壁，支撑部25和定位部24至少部分容纳于竖槽172内。
在本实施例中，竖槽172的形状不限，竖槽172用于容纳定位块的支撑部25和定位部24，竖槽172连通于通槽1711的侧壁，以使支撑部25相对于竖槽172的底壁转动时，带动定位部24伸入通槽1711内，并抵接于光器件5的外顶壁或外侧壁，以使光器件5被定位夹持于定位部24和通槽1711的内壁或底壁之间。
竖槽172的设置，使得定位块能够与通槽1711的侧壁或底壁形成更为可靠的配合，有利于提升光器件5定位的可靠性。
可选地，如图1或图5所示，光器件测试装置还包括连接于导热组件1的进风接头6，进风接头6外接有进风器(图未示)，进风器通过进风接头6向导热组件1鼓风。
在本实施例中，导热组件1包括上述实施例中的测试盒13，设于测试盒13的容纳腔131内的导热基板12以及盖合于测试盒13的盖板14，或者包括上述实施例中的安装罩16，设于安装罩16的安装腔内的导热座17。进风接头6连通于测试盒13的容纳腔131或安装罩16的安装腔，通过进风接头6，进风器可向测试盒13的容纳腔131或安装罩16的安装腔内吹入干燥的空气，一方面，能够使导热基板12或导热座17上各处的温度均衡，另一方面，也能够防止在测试环境下容纳腔131或安装腔内空气中的水分凝结成冰而影响测试过程，当通过导热组件1对多个光器件5进行测试时，多个光器件5间隔设置于导热基板12或导热座17上，各光器件5都能获得比较一致的温度，从而能够提升多个光器件5同时进行跟踪误差测试时的准确性。
可选地，如图1或图5所示，光器件测试装置还包括：支架31；和散热箱32，设于支架31，散热箱32形成有散热腔，散热箱32的侧壁开设有与散热腔连通的散热口324，散热箱32于散热口324处设有多个间隔设置的散热隔板321，多个散热隔板321之间形成有与散热腔连通的散热通道322；导热组件1设于散热箱32。
在本实施例中，支架31、散热箱32以及散热隔板321的材质可以有多种，比如金属、金属合金等。导热组件1设置于散热箱32的外顶壁，散热口324开设于散热箱32的侧壁，可在散热箱32的侧壁开设多个散热口324，或者在散热箱32的其它侧壁上开设散热口324，来提升散热箱32的散热效果。
温控组件一方面用于给导热组件1进行升温或降温，以使导热组件1的温度达到到目标温度，从而使光器件5工作在对应的目标温度下；另一方面温控组件还实时监控导热组件1的温度，以获取导热组件1的当前温度，从而能够了解导热组件1是否接近或达到目标温度，便于进一步对导热组件1进行升温或降温，使导热组件1的温度等于目标温度，以对光器件5进行各温度条件下的跟踪误差测试。
可选地，如图9所示，光器件5测试装置还包括风扇4；散热箱32背向导热组件1的一侧还开设有风口323，风口323与散热通道322相连通；风扇4设于风口323处，风扇4用于向散热通道322内鼓风，或者将散热通道322内的空气向外排出。
在本实施例中，因为光器件5测试时，需要高温、低温、常温的工作环境，通过温控组件来控制温度时会产生大量的热，所以在散热箱32的风口323处还设置有风扇4，通过风扇4向散热通道322内鼓风，或者将散热通道322内的空气向外排出，以使散热通道322内形成气流，使得光器件5的测试环境温度更加均衡。另外，风扇4还可以在测试环境温度从高温向低温改变时，将导热组件1内的热量从散热口324或者风扇4的扇口处排出。保证光器件5工作的稳定性，也有利于提升光器件5跟踪误差测试的准确性。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，其特征在于，所述光器件测试装置包括：
导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；
定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间；以及
温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。
2.如权利要求1所述的光器件测试装置，其特征在于，所述温控组件包括：
热电制冷器，设于所述导热组件，所述热电制冷器用于调节所述导热组件的温度；和
热敏电阻，设于所述导热组件，并与所述热电制冷器间隔设置，所述热敏电阻用于获取所述导热组件的当前温度。
3.如权利要求1所述的光器件测试装置，其特征在于，所述导热组件包括：
测试盒，形成有容纳腔；
导热基板，设于所述容纳腔内，并邻近所述容纳腔的开口处设置；以及
盖板，盖合于所述容纳腔的开口处，并有与所述导热基板围合形成所述限位槽；
所述定位件可活动地穿设于所述盖板，并抵接于所述光器件背向所述导热基板的一侧，以使所述光器件定位于所述定位件和所述导热基板之间；
所述温控组件设于所述导热基板背向所述盖板的一侧，并容纳于所述容纳腔内。
4.如权利要求3所述的光器件测试装置，其特征在于，所述导热组件还包括转动连接于所述盖板背向所述测试盒一侧的翻转板；
所述定位件包括定位柱、设于所述定位柱一端的止挡件以及套设于所述定位柱的弹性件；
所述定位柱可活动地穿设于所述翻转板，并与所述光器件背向所述导热基板的一侧抵接；
所述止挡件设于所述定位柱靠近所述光器件的一端；
所述弹性件位于所述止挡件和所述翻转板之间，所述弹性件的两端分别抵接于所述止挡件和所述翻转板，并处于压缩状态。
5.如权利要求1所述的光器件测试装置，其特征在于，所述导热组件包括：
安装罩，形成有安装腔，所述安装罩外壁形成有至少一个安装槽，所述安装槽的底壁开设有连通所述安装腔的安装口；和
导热座，设于所述安装腔内，所述导热座间隔设置有至少两个凸部，相邻两个所述凸部与所述导热座围合形成一通槽，所述凸部穿过所述安装口并伸入所述安装槽内，所述通槽的底壁与所述安装槽的底壁相齐平，以使所述通槽与所述安装槽连通，形成所述限位槽；
所述温控组件设于所述导热座背向所述凸部的一侧，并容纳于所述安装腔内。
6.如权利要求5所述的光器件测试装置，其特征在于，所述定位件为定位块，所述定位块包括支撑部和设于所述支撑部一端的定位部；
所述支撑部远离所述定位部的一端与所述凸部转动连接；
所述支撑部相对于所述凸部转动时，带动所述定位部伸入所述通槽内，并抵接于所述光器件的外壁，以将所述光器件夹持定位于所述定位部和所述通槽的侧壁或底壁之间。
7.如权利要求6所述的光器件测试装置，其特征在于，所述凸部开设有连通于所述通槽侧壁的竖槽，所述支撑部的一端转动连接于所述竖槽的底壁，所述支撑部和所述定位部至少部分容纳于所述竖槽内。
8.如权利要求1至7中任一项所述的光器件测试装置，其特征在于，所述光器件测试装置还包括连接于所述导热组件的进风接头，所述进风接头外接有进风器，所述进风器通过进风接头向所述导热组件鼓风。
9.如权利要求1至7中任一项所述的光器件测试装置，其特征在于，所述光器件测试装置还包括：
支架；和
散热箱，设于所述支架，所述散热箱形成有散热腔，所述散热箱的侧壁开设有与所述散热腔连通的散热口，所述散热箱于所述散热口处设有多个间隔设置的散热隔板，多个所述散热隔板之间形成有与所述散热腔连通的散热通道；
所述导热组件设于所述散热箱。
10.如权利要求9所述的光器件测试装置，其特征在于，所述光器件测试装置还包括风扇；
所述散热箱背向所述导热组件的一侧还开设有风口，所述风口与所述散热通道相连通；
所述风扇设于所述风口处，所述风扇用于向所述散热通道内鼓风，或者将所述散热通道内的空气向外排出。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910461319.7A CN110174247B (zh) | 2019-05-29 | 光器件测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910461319.7A CN110174247B (zh) | 2019-05-29 | 光器件测试装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110174247A true CN110174247A (zh) | 2019-08-27 |
| CN110174247B CN110174247B (zh) | 2024-07-09 |
Family
ID=
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115326358A (zh) * | 2022-10-12 | 2022-11-11 | 武汉普赛斯电子技术有限公司 | 光器件高低温跟踪误差测试装置、方法及计算机存储介质 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0495846A (ja) * | 1990-08-13 | 1992-03-27 | Aoi Sansho Kk | 光デバイスの特性テスター用チャック及びそのチャックを用いたテスト方法 |
| CN201199193Y (zh) * | 2008-05-27 | 2009-02-25 | 郑晓明 | 一种led热性能测试器的定位夹具 |
| CN205325513U (zh) * | 2015-12-25 | 2016-06-22 | 武汉联特科技有限公司 | 光器件夹具及光器件加热设备 |
| CN108709654A (zh) * | 2018-07-26 | 2018-10-26 | 深圳市亚派光电器件有限公司 | 温度测试装置 |
| CN109116879A (zh) * | 2018-10-19 | 2019-01-01 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | 一种温控器 |
| CN209927422U (zh) * | 2019-05-29 | 2020-01-10 | 深圳市亚派光电器件有限公司 | 光器件测试装置 |
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0495846A (ja) * | 1990-08-13 | 1992-03-27 | Aoi Sansho Kk | 光デバイスの特性テスター用チャック及びそのチャックを用いたテスト方法 |
| CN201199193Y (zh) * | 2008-05-27 | 2009-02-25 | 郑晓明 | 一种led热性能测试器的定位夹具 |
| CN205325513U (zh) * | 2015-12-25 | 2016-06-22 | 武汉联特科技有限公司 | 光器件夹具及光器件加热设备 |
| CN108709654A (zh) * | 2018-07-26 | 2018-10-26 | 深圳市亚派光电器件有限公司 | 温度测试装置 |
| CN109116879A (zh) * | 2018-10-19 | 2019-01-01 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | 一种温控器 |
| CN209927422U (zh) * | 2019-05-29 | 2020-01-10 | 深圳市亚派光电器件有限公司 | 光器件测试装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115326358A (zh) * | 2022-10-12 | 2022-11-11 | 武汉普赛斯电子技术有限公司 | 光器件高低温跟踪误差测试装置、方法及计算机存储介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101813951B (zh) | 一种可控温焦面探测器机构 | |
| CN208738898U (zh) | 无线充电器 | |
| CN204422102U (zh) | 光纤温度实时监测与动态标定装置 | |
| CN110119012A (zh) | 防热失焦投影装置 | |
| CN201616864U (zh) | 成像元件的温控密封结构 | |
| CN101004397B (zh) | 智能化快速测量冷镜露点仪 | |
| CN112578257B (zh) | 控温测试装置及测试设备 | |
| CN202506405U (zh) | 微型光纤光谱仪恒温箱 | |
| CN201000442Y (zh) | 智能化快速测量冷镜露点仪 | |
| CN110174247A (zh) | 光器件测试装置 | |
| CN108327269A (zh) | 一种半导体控温生物3d打印喷头 | |
| WO2006006795A1 (en) | Apparatus for maintaining constant temperature in water quality measuring instruments | |
| CN207299271U (zh) | 电控盒和具有其的空调室外机 | |
| CN107477712A (zh) | 电控盒和具有其的空调室外机 | |
| CN208180264U (zh) | 一种半导体控温生物3d打印喷头 | |
| CN109668359B (zh) | 制冷设备和控制方法 | |
| CN109710000A (zh) | 一种钢轨温度调控系统及方法 | |
| CN111624501A (zh) | 一种动力电池恒温充放电测试用的恒温箱 | |
| EP0027626A3 (fr) | Dispositif, panneau et procédé destinés au chauffage, à la réfrigération, à la climatisation ou au contrôle de l'humidité d'un habitat industriel ou commercial | |
| CN104132958A (zh) | 相变构件蓄、放热性能研究实验台及其应用 | |
| CN209055689U (zh) | 一种可调光纤衰减器 | |
| CN110174247B (zh) | 光器件测试装置 | |
| CN111103911B (zh) | 一种用于移动设备的散热装置及其控制方法 | |
| CN209373449U (zh) | 一种钢轨温度调控装置及系统 | |
| CN201772681U (zh) | 蒸发器及具有该蒸发器的冰箱 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant |