CN110155959B - 二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法 - Google Patents

二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110155959B
CN110155959B CN201910470754.6A CN201910470754A CN110155959B CN 110155959 B CN110155959 B CN 110155959B CN 201910470754 A CN201910470754 A CN 201910470754A CN 110155959 B CN110155959 B CN 110155959B
Authority
CN
China
Prior art keywords
transition metal
metal alloy
limited
dimensional transition
silicon oxide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201910470754.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110155959A (zh
Inventor
郑璐
黄维
王学文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Northwestern Polytechnical University
Original Assignee
Northwestern Polytechnical University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Northwestern Polytechnical University filed Critical Northwestern Polytechnical University
Priority to CN201910470754.6A priority Critical patent/CN110155959B/zh
Publication of CN110155959A publication Critical patent/CN110155959A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110155959B publication Critical patent/CN110155959B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B19/00Selenium; Tellurium; Compounds thereof
    • C01B19/002Compounds containing, besides selenium or tellurium, more than one other element, with -O- and -OH not being considered as anions
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G41/00Compounds of tungsten
    • C01G41/006Compounds containing, besides tungsten, two or more other elements, with the exception of oxygen or hydrogen
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2002/00Crystal-structural characteristics
    • C01P2002/80Crystal-structural characteristics defined by measured data other than those specified in group C01P2002/70
    • C01P2002/82Crystal-structural characteristics defined by measured data other than those specified in group C01P2002/70 by IR- or Raman-data
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2004/00Particle morphology
    • C01P2004/01Particle morphology depicted by an image
    • C01P2004/02Particle morphology depicted by an image obtained by optical microscopy
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2004/00Particle morphology
    • C01P2004/01Particle morphology depicted by an image
    • C01P2004/04Particle morphology depicted by an image obtained by TEM, STEM, STM or AFM
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2004/00Particle morphology
    • C01P2004/20Particle morphology extending in two dimensions, e.g. plate-like
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Luminescent Compositions (AREA)

Abstract

本发明公开了一种二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法,用于解决现有二维过渡金属合金硫族化合物制备方法过程复杂、可控性差的技术问题。技术方案是将前驱物源材料氧化钼和氧化钨充分研磨混合,取所得混合物少量放于硅片上,置于一端封口的石英管中,做成限域气相化学沉积装置,在管式炉中氩气及氢气保护下得到单层大尺寸过渡金属合金硫族化合物。本发明一步合成所得产物,方法简单,生长过程可控。所得产物采用光学显微镜,场发射扫描电镜、透射电子显微镜、原子力显微镜和拉曼光谱表征,结果表明产物为二维过渡金属合金硫族化合物,其尺寸可达到毫米级别,可组装成为具有优异性能光电器件的半导体材料和超导材料。

Description

二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法
技术领域
本发明涉及一种二维过渡金属合金硫族化合物制备方法,特别涉及一种二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法。
背景技术
以硫化钼为代表的二维过渡金属硫族化合物由于其特殊的能带结构、半导体或超导性质及优秀的机械性能等,在电子学领域(晶体管、柔性电子器件、传感器)、能源技术(太阳能电池、氢存储电池)、超导材料等诸多领域具有广大的应用前景,引起了广大研究者们的兴趣,成为了近年来低维功能材料领域的研究热点。为了面向更广泛的电子器件及光电器件的应用,二维材料能带结构可调控非常重要,所以实现二维材料能带结构的精准调控,是亟需解决的关键科学问题之一。然而能够实现能带连续调控的单组分材料很有限,合金体系由于不同的组合表现出更加多样化的性质,而三元或多元的过渡金属合金硫族化合物,因为其能带结构的可调控性,在应用方面具有巨大的潜力。
文献1“Monolayers of WxMo1-xS2alloy heterostructure with in-planecomposition Variations,Applied Physics Letters 106,063113(2015)”公开了一种WxMo1-xS2的制备方法,该方法用传统气相化学沉积法以氧化钼和氧化钨为源材料,经过70分钟升温至850℃,保温10分钟合成了三角形WxMo1-xS2合金材料,边长为10μm。此方法合成时间长、反应温度高,并且所得到的合金材料尺寸小,不利于进一步制备器件。
文献2“Tunable Band Gap Photoluminescence from Atomically ThinTransition-Metal Dichalcogenide Alloys,ACS Nano 7,4610(2013)”公开了一种通过机械剥离制备单层Mo1-xWxS2的方法,并研究钼钨比例对带隙结构的调控。机械剥离可以得到高结晶的单层,实验步骤多,生长单晶耗时长,样品尺寸小(仅为几个毫米),并且产量低。
传统化学气相沉积法制备的过渡金属合金硫族化合物种类少、尺寸较小、样品结晶性低和结构缺陷多等因素制约了研究的进展,因此大尺寸(毫米级)高结晶性过渡金属合金硫族化合物的可控制备,对带隙连续调控的合金材料的基础研究及其广泛的应用有着非常重要的意义。且单原子层二维材料的生长与实验参数,前驱物比例都有很大的关系,Mo和W熔点及反应温度差较大,化学气相沉积的方法存在生长与分解共存,因此,调控制备单层大尺寸高结晶性的三元二维合金材料具有一定的挑战性。
发明内容
为了克服现有二维过渡金属合金硫族化合物制备方法过程复杂、可控性差的不足,本发明提供一种二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法。该方法将前驱物源材料氧化钼和氧化钨充分研磨混合,取所得混合物少量放于硅片上,置于一端封口的石英管中,做成限域气相化学沉积装置,在管式炉中氩气及氢气保护下得到单层大尺寸过渡金属合金硫族化合物。本发明一步合成所得产物,方法简单,反应条件温和,生产成本低,提高了生长过程中的可调控性,且材料中钼钨原子分布均匀,样品结晶度高。该材料有望作为一种能带结构可控的半导体及超导材料。所得产物采用光学显微镜,场发射扫描电镜、透射电子显微镜、原子力显微镜和拉曼光谱表征,结果表明产物为二维过渡金属合金硫族化合物,其尺寸可达到毫米级别,可组装成为具有优异性能光电器件的半导体材料和超导材料。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案:一种二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法,其特点是包括以下步骤:
步骤一、选取一只直径12厘米的一端封口的石英管为限域内管,限域内管的封口端放入过量硫族元素,将氧化钼和氧化钨按摩尔比为1∶1充分研磨均匀,取研磨后的混合粉点在氧化硅基板上,然后将另一片氧化硅基版倒扣在点过混合粉的氧化硅基板上,一起置于限域内管的开口端;
步骤二、将装好料的限域内管置于管式炉大石英管中,限域内管的封口端位于管式炉加热区边缘,限域内管的开口端位于管式炉加热中心,在氩气和氢气气氛中,以升温速率10-20℃/min升温至750-850℃煅烧5-15分钟;
步骤三、自然冷却至90-100℃以后关闭氩气和氢气气氛,打开管式炉,在两片氧化硅基板同时得到二维过渡金属合金硫族化合物MoaW1-aX2(0<a<1,X=S,Se,Te)。
本发明的有益效果是:该方法将前驱物源材料氧化钼和氧化钨充分研磨混合,取所得混合物少量放于硅片上,置于一端封口的石英管中,做成限域气相化学沉积装置,在管式炉中氩气及氢气保护下得到单层大尺寸过渡金属合金硫族化合物。本发明一步合成所得产物,方法简单,反应条件温和,生产成本低,提高了生长过程中的可调控性,且材料中钼钨原子分布均匀,样品结晶度高。该材料有望作为一种能带结构可控的半导体及超导材料。所得产物采用光学显微镜,场发射扫描电镜、透射电子显微镜、原子力显微镜和拉曼光谱表征,结果表明产物为二维过渡金属合金硫族化合物,其尺寸可达到毫米级别,可组装成为具有优异性能光电器件的半导体材料和超导材料。
下面结合附图和具体实施方式对本发明作详细说明。
附图说明
图1是本发明方法中限域气相化学沉积装置示意图。
图2是本发明方法实施例1制备的Mo0.5W0.5S2光学显微镜图片。
图3是本发明方法实施例1制备的Mo0.5W0.5S2拉曼光谱。
图4是本发明方法实施例1制备的Mo0.5W0.5S2原子力显微镜图片。
图5是本发明方法实施例2制备的Mo0.5W0.5Se2光学显微镜图片。
图6是本发明方法实施例2制备的Mo0.5W0.5Se2拉曼光谱。
图7是本发明方法实施例3制备的Mo0.5W0.5Te2光学显微镜图片。
图8是本发明方法实施例3制备的Mo0.5W0.5Te2拉曼光谱。
具体实施方式
以下实施例参照图1-8。
实施例1:
运用限域化学气相沉积装置制备Mo0.5W0.5S2
(1)限域内管为直径12厘米的石英管,石英管封口端放入过量硫粉,将氧化钼和氧化钨按摩尔比为1∶1充分研磨均匀,取少量点在氧化硅基板上,再倒扣一片氧化硅基版,一起置于内部石英管开口端。
(2)将此石英管置于管式炉大石英管中,封口端位于管式炉加热区边缘,开口端位于管式炉加热中心,在氩气/氢气气氛中快速升温(升温速率为10℃/min)至750℃煅烧15分钟。
(3)自然冷却至100℃以后关闭氩气和氢气气氛,打开管式炉,在两片氧化硅基板同时得到单层大尺寸过渡金属Mo0.5W0.5S2
图2为本实施例制备的Mo0.5W0.5S2光学显微镜图片,从图中可以看出样品整体尺寸超过1mm,为单层薄膜材料。
图3为本实施例制备的Mo0.5W0.5S2的拉曼图谱,实线箭头标记出MoS2的特征震动峰
Figure BDA0002080764000000031
和A1g(404cm-1),虚线箭头则标记出WS2的特征震动峰
Figure BDA0002080764000000032
Figure BDA0002080764000000033
和A1g(418cm-1),说明所得材料包含有MoS2和WS2样品确定为均匀Mo0.5W0.5S2,不同区域的拉曼光谱表现出相同的谱线,说明Mo原子和W原子的分布均匀。
图4为本实施例制备的Mo0.5W0.5S2的原子力显微镜结果,所得材料厚度0.65nm,证明所得材料为单层材料。
实施例2:
运用限域化学气相沉积法制备Mo0.5W0.5Se2
(1)限域内管为直径12厘米的石英管,石英管封口端放入过量硒粉,将氧化钼和氧化钨按摩尔比为1∶1充分研磨均匀,取少量点在氧化硅基板上,再倒扣一片氧化硅基版,一起置于内部石英管开口端。
(2)将此石英管置于管式炉大石英管中,封口端位于管式炉加热区边缘,开口端位于管式炉加热中心,在氩气/氢气气氛中快速升温(升温速率为15℃/min)至800℃煅烧10分钟。
(3)自然冷却至95℃以后关闭氩气和氢气气氛,打开管式炉,在两片氧化硅基板同时得到单层大尺寸MoaW1-aSe2
图5为本实施例制备的Mo0.5W0.5Se2光学显微镜图片,从图中可以看出样品整体尺寸超过1mm。
图6为本实施例制备的Mo0.5W0.5Se2拉曼测试,实线箭头标记出MoSe2的特征震动峰A1g(237cm-1)和
Figure BDA0002080764000000041
虚线箭头标记出WSe2的特征震动峰
Figure BDA0002080764000000042
Figure BDA0002080764000000043
和A1g(252cm-1),说明所得材料包含有MoSe2和WSe2样品确定为均匀Mo0.5W0.5Se2,不同区域的拉曼光谱表现出相同的谱线,说明Mo原子和W原子的分布均匀。
实施例3:
运用限域化学气相沉积法制备Mo0.5W0.5Te2
(1)限域内管为直径12厘米的石英管,石英管封口端放入过量碲颗粒,将氧化钼和氧化钨按摩尔比为1∶1充分研磨均匀,取少量点在氧化硅基板上,再倒扣一片氧化硅基版,一起置于内部石英管开口端。
(2)将此石英管置于管式炉大石英管中,封口端位于管式炉加热区边缘,开口端位于管式炉加热中心,在氩气/氢气气氛中快速升温(升温速率为20℃/min)至850℃煅烧5分钟。
(3)自然冷却至100℃以后关闭氩气和氢气气氛,打开管式炉,在两片氧化硅基板同时得到单层大尺寸MoaW1-aTe2
图7为本实施例制备的Mo0.5W0.5Te2光学显微镜图片,从图中可以看出样品整体尺寸超过1mm。
图8为本实施例制备的Mo0.5W0.5Te2拉曼图谱,实线箭头标记出MoaTe2的特征震动峰Ag(125.8cm-1)、A1g(189.3cm-1)和Ag(266.1cm-1),虚线箭头标记出WTe2的特征震动峰A1(78.7cm-1)、
Figure BDA0002080764000000051
Figure BDA0002080764000000052
说明所得材料包含有MoTe2和WTe2样品确定为均匀Mo0.5W0.5Te2,不同区域的拉曼光谱表现出相同的谱线,说明Mo原子和W原子的分布均匀。
与背景技术相比,本发明运用限域气相化学沉积装置,一步制备得到大尺寸过渡金属合金硫族化合物材料MoaW1-aX2(0<a<1,X=S,Se,Te)材料,反应条件温和,实验步骤简单,重复性高,样品尺寸到达毫米级别,Mo和W均匀分布,为过渡金属硫族化合物光电器件研究提供了良好的基础。

Claims (1)

1.一种二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤一、选取一只直径12厘米的一端封口的石英管为限域内管,限域内管的封口端放入过量硫族元素,将氧化钼和氧化钨按摩尔比为1∶1充分研磨均匀,取研磨后的混合粉点在氧化硅基板上,然后将另一片氧化硅基版倒扣在点过混合粉的氧化硅基板上,一起置于限域内管的开口端;
步骤二、将装好料的限域内管置于管式炉大石英管中,限域内管的封口端位于管式炉加热区边缘,限域内管的开口端位于管式炉加热中心,在氩气和氢气气氛中,以升温速率10-20℃/min升温至750-850℃煅烧5-15分钟;
步骤三、自然冷却至90-100℃以后关闭氩气和氢气气氛,打开管式炉,在两片氧化硅基板同时得到二维过渡金属合金硫族化合物MoaW1-aX2,其中0<a<1,X=S,Se,Te,合成样品整体尺寸超过1mm,为单层薄膜材料。
CN201910470754.6A 2019-05-31 2019-05-31 二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法 Active CN110155959B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910470754.6A CN110155959B (zh) 2019-05-31 2019-05-31 二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910470754.6A CN110155959B (zh) 2019-05-31 2019-05-31 二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110155959A CN110155959A (zh) 2019-08-23
CN110155959B true CN110155959B (zh) 2022-08-23

Family

ID=67630900

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910470754.6A Active CN110155959B (zh) 2019-05-31 2019-05-31 二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110155959B (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111005005B (zh) * 2019-12-16 2022-02-15 中南大学 含有Mo、W和Se的合金和相关复杂异质结及其制备方法
CN111013600B (zh) * 2019-12-25 2023-03-24 国家纳米科学中心 一种浅表层金属单原子催化剂及其制备方法和用途
CN110980659A (zh) * 2019-12-27 2020-04-10 湖北工业大学 一种采用新原料生长二碲化钨及制备方法
CN111501097A (zh) * 2020-05-29 2020-08-07 中国电子科技集团公司第四十六研究所 一种大晶畴尺寸ws2单晶的生长方法
CN113122819B (zh) * 2021-04-09 2023-02-03 安徽大学 一种钽掺杂大面积二维二硫化铌材料的制备方法
CN113832432B (zh) * 2021-09-13 2022-09-23 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种二维化合物半导体薄膜的制备方法
US11662324B1 (en) 2022-03-18 2023-05-30 Applied Materials Israel Ltd. Three-dimensional surface metrology of wafers

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1564519A (en) * 1975-12-17 1980-04-10 Exxon Research Engineering Co Method of preparation of chalcogenides
CN108546994A (zh) * 2018-04-20 2018-09-18 清华-伯克利深圳学院筹备办公室 一种二维三硒化二铟原子晶体及其制备方法和用途
CN109809372A (zh) * 2019-03-26 2019-05-28 湘潭大学 一种基于空间限域策略制备单层二硒化钨纳米带的方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1564519A (en) * 1975-12-17 1980-04-10 Exxon Research Engineering Co Method of preparation of chalcogenides
CN108546994A (zh) * 2018-04-20 2018-09-18 清华-伯克利深圳学院筹备办公室 一种二维三硒化二铟原子晶体及其制备方法和用途
CN109809372A (zh) * 2019-03-26 2019-05-28 湘潭大学 一种基于空间限域策略制备单层二硒化钨纳米带的方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Chunxiao Cong et al..Synthesis and Optical Properties of Large-Area Single-Crystalline 2D Semiconductor WS2 Monolayer from Chemical Vapor Deposition.《Advanced Optical Materials》.2013,第2卷 *
Sandhya Susarla et al..Phase Segregation Behavior of Two-Dimensional Transition Metal Dichalcogenide Binary Alloys Induced by Dissimilar Substitution.《Chemistry of Materials》.2017,第29卷 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN110155959A (zh) 2019-08-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110155959B (zh) 二维过渡金属合金硫族化合物的限域化学气相沉积制备方法
Castellanos-Gomez et al. Van der Waals heterostructures
US7829059B2 (en) Rapid synthesis of ternary, binary and multinary chalcogenide nanoparticles
CN105705596A (zh) 用于薄膜光伏装置的无机盐-纳米粒子墨水及相关方法
US9196767B2 (en) Preparation of copper selenide nanoparticles
CN109437124B (zh) 一种合成单层过渡金属硫族化合物的方法
Ramasamy et al. Bandgap tunable colloidal Cu-based ternary and quaternary chalcogenide nanosheets via partial cation exchange
Wu et al. The environmental stability of large-size and single-crystalline antimony flakes grown by chemical vapor deposition on SiO 2 substrates
Chalapathi et al. Two-stage processed CuSbS2 thin films for photovoltaics: effect of Cu/Sb ratio
Wang et al. Binary–Ternary Bi2S3–AgBiS2 Rod-to-Rod Transformation via Anisotropic Partial Cation Exchange Reaction
CN113088922B (zh) 一种晶圆级绝对单层过渡金属硫族化合物的制备方法和应用
Olgar et al. Phase transformation in Cu2SnS3 (CTS) thin films through pre-treatment in sulfur atmosphere
Fix et al. Preparation of β-CuGaO2 thin films by ion-exchange of β-NaGaO2 film fabricated by a solgel method
Li et al. Halide vapor phase epitaxy of monolayer molybdenum diselenide single crystals
Wu et al. Selective epitaxial growth of zinc blende-derivative on wurtzite-derivative: the case of polytypic Cu 2 CdSn (S 1− x Se x) 4 nanocrystals
Song et al. Synthesis of large-area uniform Si 2 Te 3 thin films for p-type electronic devices
CN109023296B (zh) 一种在氟金云母衬底上化学气相沉积生长钼钨硒合金的方法
Yanuar et al. preparation and characterization of thin film SnSe used by close spaced vapor transport technique
Yadav et al. Effect of different precursors on morphology of CVD synthesized MoSe2
Rahman et al. Synthesis of Cu3SbS4, Cu3SbSe4 and CuSbTe2 thin films via chalcogenation of sputtered Cu-Sb metal precursors
CN115874151A (zh) 一种大面积硫化钯或/和二硫化钯纳米薄膜的制备方法
CN112760613B (zh) 一种碳掺杂的二硫化钼纳米材料的制备方法
CN114959635A (zh) 一种硫化锡/二硫化钼混合维度范德华异质结的制备方法
CN114182230A (zh) 一种制备二维碲烯薄膜的化学气相沉积方法
WO2021032947A1 (en) Method and composition

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant