CN110153589B - 一种铟基钎料及其制备方法 - Google Patents
一种铟基钎料及其制备方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110153589B CN110153589B CN201910519447.2A CN201910519447A CN110153589B CN 110153589 B CN110153589 B CN 110153589B CN 201910519447 A CN201910519447 A CN 201910519447A CN 110153589 B CN110153589 B CN 110153589B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- solder
- indium
- bonding
- filler metal
- brazing filler
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 72
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 41
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 25
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 23
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims abstract description 19
- 238000005219 brazing Methods 0.000 claims abstract description 17
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 229910020836 Sn-Ag Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 229910020988 Sn—Ag Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 239000011246 composite particle Substances 0.000 claims abstract description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 15
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 11
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 6
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 6
- RSWGJHLUYNHPMX-UHFFFAOYSA-N Abietic-Saeure Natural products C12CCC(C(C)C)=CC2=CCC2C1(C)CCCC2(C)C(O)=O RSWGJHLUYNHPMX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- KHPCPRHQVVSZAH-HUOMCSJISA-N Rosin Natural products O(C/C=C/c1ccccc1)[C@H]1[C@H](O)[C@@H](O)[C@@H](O)[C@@H](CO)O1 KHPCPRHQVVSZAH-HUOMCSJISA-N 0.000 claims description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims description 3
- KHPCPRHQVVSZAH-UHFFFAOYSA-N trans-cinnamyl beta-D-glucopyranoside Natural products OC1C(O)C(O)C(CO)OC1OCC=CC1=CC=CC=C1 KHPCPRHQVVSZAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 2
- 238000003756 stirring Methods 0.000 claims description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 abstract description 8
- 230000008018 melting Effects 0.000 abstract description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 4
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 22
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 10
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 10
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000007123 defense Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000006263 metalation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012536 packaging technology Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000000979 retarding effect Effects 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/02—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by mechanical features, e.g. shape
- B23K35/0222—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by mechanical features, e.g. shape for use in soldering, brazing
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/22—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
- B23K35/24—Selection of soldering or welding materials proper
- B23K35/26—Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/22—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
- B23K35/24—Selection of soldering or welding materials proper
- B23K35/30—Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 1550 degrees C
- B23K35/3006—Ag as the principal constituent
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
本发明属于钎焊材料技术领域,更具体的涉及一种铟基钎料及其制备方法。本发明铟基钎料由In、Sn和Ag三组分颗粒构成的通式为In‑Sn‑xAg复合颗粒钎料,其中x代表在铟基钎料中Ag的重量百分比,所述x为20‑70。可调节Ag在In‑Sn‑Ag无铅钎料的含量调节焊点剪切强度,改善了钎料的可靠性;尤其是当Ag含量为50wt%时,抗剪强度达到了22.2MPa。In‑Sn‑Ag无铅钎料可在较低温度下键合,焊点由Cu3(In,Sn)和Ag3In相构成,这两种相熔点均高于600℃,因此能够满足低温键合、高温服役的要求。
Description
技术领域
本发明属于钎焊材料技术领域,更具体的涉及一种铟基钎料及其制备方法。
背景技术
钎焊技术作为一项精密的连接技术,在国防建设和国民经济中发挥着越来越重要的作用,涉及航空、航天、核能、汽车和电子等多个领域,工业界对高温电子器件的需求量在不断增加。与此同时,第三代半导体(宽禁带半导体,如SiC和GaN)具有禁带宽度大、功率消耗低、热导率高等特点,元器件能够承受更高的工作温度,高温应用趋势要求其内部连接在高达300℃的恶劣环境下能持续运行。因此,开发“低温键合,高温服役”的钎料成为亟待解决的问题。
铟基(In)低温钎料具有较低熔点、良好抗疲劳性能、高延展性能及导电性能。因此,这些特殊的特性使In基钎料适用于需要较低工艺温度的温度敏感器件的粘合,如中央处理器芯片之间的连接以及铜散热片、发光二极管和热感应传感器。
低温过渡液相(transient liquid phase,TLP)连接技术因具有低温连接、高温使用的特点,被业界认为是极具应用潜力的高温封装方法,其本质为固-液扩散或反应。因为采用混合颗粒可以极大地提高固液接触面积,进一步加快等温凝固的过程,焊缝厚度不再受扩散速率的限制。而且混合颗粒成分容易控制,便于制备成膏状,提高了通用性和适应性。
现有钎料的熔点都较高,而铟的熔点为156℃,以铟为基体制备的钎料熔点将大大低于传统的锡基钎料;现有的铟基钎料都面临着剪切强度差的问题,已有的铟基钎料如纯In,In3Ag,发现钎料焊点的剪切强度较低,在6~14MPa之间;且焊点中有较多的低熔点化合物(如 In,AgIn2,Ag2In),服役温度低于300℃。通过加入锡和银颗粒,并调整锡和银的含量能有效提高焊点的可靠性。传统钎料制备方法过于繁琐,需要的设备较多。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术中的缺陷,提供一种铟基钎料及其制备方法,提供一种制备简易,低熔点且接头强度更高的铟基钎料。本发明通过试验优选键合时间、压力、温度和Ag含量分别为10min、 3Mpa、260℃和50wt%。
根据本发明的第一个方面,本发明提供了一种铟基钎料,所述铟基钎料由In、Sn和Ag三组分颗粒构成的通式为In-Sn-xAg复合颗粒钎料,其中x代表在铟基钎料中Ag的重量百分比,所述x为20-70;例如可以为20wt%、30wt%、40wt%、50wt%、60wt%、70wt%。
优选的,所述x为50;
优选的,所述In、Sn和Ag三组分颗粒中Ag粒径为1~50μm;进一步优选为Ag粒径为1~8μm;其中In与Sn的重量比为1:1。研究中发现,Ag颗粒的粒径会影响焊点的键合时间及剪切性能,如Ag 颗粒大于8μm时,形成全IMC焊点的键合时间将超过60min。且大颗粒之间堆垛产生的原始空隙会大大降低焊点的剪切强度。
根据本发明的另一个方面,本发明提供了一种铟基钎料的制备方法,包括如下步骤:
1)将In、Sn和Ag颗粒使用球磨机充分混合均匀,然后加入松香助焊剂,充分搅拌均匀得In-Sn-Ag钎料膏;
2)将In-Sn-Ag钎料膏均匀涂抹在尺寸为12mm×12mm的下Cu 基板上,将尺寸为10mm×10mm的纯铜板端面抛光作为上基板,并与上基板装配成三明治结构试样;
3)将三明治结构试样放置在晶圆键合机中键合;
4)将键合得到的试样进行打磨抛光后,采用HF和H202混合的水溶液腐蚀5min即得铟基钎料;所述HF和H202混合的水溶液中按照体积份数计算,HF:H202:H20=1:1:4,其中HF是指浓度为40%的HF水溶液,H202是指浓度为30%的H202水溶液;
优选的,步骤3)所述键合条件为:键合温度为260℃,键合压力为3MPa,键合时间10min,真空度为1~5Pa;
本发明结合微纳米浆料和TLP互连两种技术的优势,将界面金属化合物(Intermetallic Compound,简写为IMC)形成所需元素(In、 Sn、Ag)以微小颗粒的形式均匀混合制备复合焊料,利用In的低熔点特性,促使高熔点IMC焊点在低温下快速形成。从而为新一代电子产品提供高性能、高可靠性的封装技术和材料。
与现有技术相比,本发明具有如下优点:
1)本发明惊奇的发现Ag对In-Sn-Ag无铅钎料的强化作用,可以采用调节Ag在In-Sn-Ag无铅钎料的含量调节焊点剪切强度,改善了钎料的可靠性;尤其是当Ag含量为50wt%时,抗剪强度达到了22.2MPa;
2)本发明发现In-Sn-Ag无铅钎料可在较低温度下键合,在较低的键合温度下(如140℃)键合十分钟,焊点的剪切强度可达到17.3 MPa;
3)焊点由Cu3(In,Sn)和Ag3In相构成,这两种相熔点均高于 600℃,因此能够满足高温服役的要求;
4)本发明发现Ag粒径对键合时间也有巨大的影响,当粒径小于8μm时,可在5min时生成全IMC焊点,大大提高了键合效率。
5)本发明只需要球磨机一台In-Sn-Ag无铅钎料就可完成制备工作,工艺简单,无需复杂操作与大型设备的辅助,具有较高的经济效益。
附图说明
图1为In-Sn-20Ag焊料焊点组织的SEM形貌图;
图2为In-Sn-20Ag焊料对应接头的断口形貌SEM图像;
图3为In-Sn-50Ag焊料焊点组织的SEM形貌图;
图4为In-Sn-50Ag焊料对应接头的断口形貌SEM图像;
图5为In-Sn-70Ag焊料焊点组织的SEM形貌图;
图6为In-Sn-70Ag焊料对应接头的断口形貌SEM图像;
图7为In-Sn-xAg焊料中接头抗剪强度随Ag元素含量的变化图;
图8不同键合时间下焊点形貌;
图9不同键合压力下焊点形貌;
图10不同键合温度下焊点形貌。
具体实施方式
制备In-Sn-xAg(x=20,30,40,50,60,70)复合颗粒钎料,In(5μm) 和Sn(45μm)按质量分数1:1配比,Ag颗粒粒径为1μm。混合均匀后,松香助焊剂与钎料按1:9的质量比加入,并充分搅拌得到 In-Sn-xAg钎料膏。
将In-Sn-xAg钎料膏均匀涂抹在尺寸为12mm×12mm的下Cu 基板上,将尺寸为10mm×10mm的纯铜板端面抛光作为上基板,并与上基板装配成三明治结构。将试样放置在TWB-100晶圆键合机中,键合温度为140~300℃,键合压力0.1~5MPa,键合时间10~1800s,真空度为1~5Pa。将键合得到的试样进行打磨抛光后,采用 HF/H202/H2O(体积比为1:1:4)腐蚀5min,使用Zeiss Supra 55型扫描电镜对焊点组织进行表征,并用EDS对其成分进行分析。采用 UTMS 5305电子万能试验机进行剪切强度测试,剪切速率为 0.2mm/min,采用SEM观察剪切断口形貌。
实施例1
制备不同Ag元素含量的In-Sn-xAg(x=20,30,40,50,60,70)焊料,键合工艺参数为:键合时间10min;压力:3MPa;温度:260℃。
对In-Sn-xAg(x=20,30,40,50,60,70)焊料焊点组织的形貌和焊料对应接头的断口形貌采用扫描电镜(SEM)进行表征。
图1为In-Sn-20Ag焊料焊点组织的SEM形貌图。焊点结构为Cu3(In,Sn)+富In相+Ag3In+Ag3(In,Sn);
图2为In-Sn-20Ag焊料对应接头的断口形貌SEM图像,断裂机制为韧脆混合断裂;
图3为In-Sn-50Ag焊料焊点组织的SEM形貌图。焊点结构为 Cu3(In,Sn)+Ag颗粒+Ag3In;
图4为In-Sn-50Ag焊料对应接头的断口形貌SEM图像,断裂机制为脆性断裂;
图5为In-Sn-70Ag焊料焊点组织的SEM形貌图。焊点结构为 Cu3(In,Sn)+大量Ag颗粒+少量Ag3In;
图6为In-Sn-70Ag焊料对应接头的断口形貌SEM图像,断裂机制为脆性断裂。
图7为In-Sn-xAg焊料中接头抗剪强度随Ag元素含量的变化图,接头剪切强度随银含量变化呈先升高后降低的趋势,50wt%Ag时达到最优,抗剪强度为22.2MPa。焊点剪切断口由韧脆混合断裂逐渐过渡到脆性断裂,Ag含量为30~50wt%时接头主要断裂在原位反应区,其它Ag含量则断裂在原位反应区与扩散反应区的界面处。
Cu/In-Sn-20Ag/Cu焊点断口处检测到Cu3(In,Sn)、Ag3(In, Sn)、富In相和少量富Sn相,且IMC层与焊料基体接触界面上有明显撕裂带,划痕末端有钎料堆积。这是由于剪切过程中嵌入钎料中的粗大IMC周围产生较大的应力集中所致,同时低强度的富In相导致焊点的力学性能欠佳。而Cu/In-Sn-50Ag/Cu焊点中存在大量的Ag3In 韧性相,且In与Ag颗粒主要形成置换固溶体,In原子的存在及原子尺寸的差异,将使周围溶剂原子Ag排列的规则性在一定范围内受到干扰,引起弹性应变-点阵畸变,形成Cottrell气团,Cottrell气团有钉扎位错或阻滞位错滑移的能力,从而提高焊点的剪切强度。当Ag 含量为70wt.%时,焊点界面IMC层较薄,与原位反应区结合力较弱,导致焊点剪切强度急剧下降。
实施例2
钎料:In-Sn-50Ag;键合时间0.5min,5min,10min,20min;压力:3MPa;温度:260℃。制备方法如实施例1。
0.5min时Ag颗粒周围有明显的半层黑色反应,且焊点中存在未反应的In。5min时Ag颗粒周围有明显的一层黑色反应。10min时 Ag颗粒面积显著减小,此时Ag颗粒被新生成的灰色化合物包裹。 20min时已经观察不到单独的白色Ag颗粒,原位IMC处呈现黄色,此时焊点中的孔洞增加。
剪切试验:随着键合时间的增加,剪切力先增加后减小,10min 时剪切力最大为22MPa。
不同键合时间下焊点形貌图如图8所示,图8中A、B、C、D 分别对应键合时间0.5min,5min,10min,20min。
实施例3
钎料:In-Sn-50Ag;键合时间10min;压力:0.1MPa,1MPa, 2MPa,3MPa,5MPa;温度:260℃。制备方法如实施例1。
随着键合压力的增加,黑色富In相减少。3MPa时富In相最少, 5MPa时焊点中出现裂纹。随着键合压力的增加,剪切力先增加后减小,3MPa时剪切力最大为22MPa。不同键合压力下焊点形貌如图9 所示,图9中a,b,c,d,e分别对应0.1MPa,1MPa,2MPa,3MPa, 5MPa。
实施例4
钎料:In-Sn-50Ag;键合时间10min;压力:3MPa;温度:140℃, 180℃,220℃,260℃,300℃。制备方法如实施例1。
键合温度越高,黑色富In相越少,反应越迅速。键合温度为300℃时,焊点中出现大量孔洞。因此温度为260℃时键合效果最好。随着键合温度的增加,剪切力先增加后减小,10min时剪切力最大为 21.7MPa。不同键合温度下焊点形貌如图10所示,图10中I、II、III、IV、V分别对应温度:140℃,180℃,220℃,260℃,300℃。
上述实施例为本发明较佳的实施方式,但本发明的实施方式并不受上述实施例的限制,其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化,均应为等效的置换方式,都包含在本发明的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种铟基钎料,其特征在于:所述铟基钎料由In、Sn和Ag三组分颗粒构成的通式为In-Sn-xAg复合颗粒钎料,其中x代表在铟基钎料中Ag的重量百分比,所述x为50;
所述的铟基钎料的制备方法,包括如下步骤:
1)将In、Sn和Ag颗粒使用球磨机充分混合均匀,然后加入松香助焊剂,充分搅拌均匀得In-Sn-Ag钎料膏;
2)将In-Sn-Ag钎料膏均匀涂抹在尺寸为12mm×12mm的下Cu基板上,将尺寸为10mm×10mm的纯铜板端面抛光作为上基板,并与上基板装配成三明治结构试样;
3)将三明治结构试样放置在晶圆键合机中键合;
4)将键合得到的试样进行打磨抛光后,采用HF和H202混合的水溶液腐蚀5min即得铟基钎料;所述HF和H202混合的水溶液中按照体积份数计算,HF:H202:H20=1:1:4,其中HF是指浓度为40%的HF水溶液,H202是指浓度为30%的H202水溶液;
步骤3)所述键合工序的键合温度为260℃,键合压力为3MPa,键合时间10min。
2.根据权利要求1所述的铟基钎料,其特征在于:所述In、Sn和Ag三组分颗粒中Ag粒径为1~50μm;其中In与Sn的重量比为1:1。
3.根据权利要求2所述的铟基钎料,其特征在于:Ag粒径为1~8μm。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910519447.2A CN110153589B (zh) | 2019-06-17 | 2019-06-17 | 一种铟基钎料及其制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910519447.2A CN110153589B (zh) | 2019-06-17 | 2019-06-17 | 一种铟基钎料及其制备方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110153589A CN110153589A (zh) | 2019-08-23 |
CN110153589B true CN110153589B (zh) | 2021-05-11 |
Family
ID=67625701
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910519447.2A Active CN110153589B (zh) | 2019-06-17 | 2019-06-17 | 一种铟基钎料及其制备方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110153589B (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111872596A (zh) * | 2020-07-29 | 2020-11-03 | 昆山市宏嘉焊锡制造有限公司 | 一种铟、铅、银、锑低温钎焊料 |
CN112157369A (zh) * | 2020-07-29 | 2021-01-01 | 昆山市宏嘉焊锡制造有限公司 | 一种锡、铟、银低温钎焊料 |
CN113070602A (zh) * | 2021-04-12 | 2021-07-06 | 常熟理工学院 | 一种高力学性能的In-Ag复合钎料及其制备方法 |
CN113814603B (zh) * | 2021-10-27 | 2023-05-16 | 广东工业大学 | 一种复合钎料、焊点制备方法和应用 |
Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2763822A (en) * | 1955-05-10 | 1956-09-18 | Westinghouse Electric Corp | Silicon semiconductor devices |
CN1925946A (zh) * | 2004-03-09 | 2007-03-07 | 千住金属工业株式会社 | 焊膏 |
CN101138812A (zh) * | 2006-09-08 | 2008-03-12 | 北京有色金属研究总院 | 一种原位合金化型无铅焊料及其制备方法 |
CN101579790A (zh) * | 2009-06-03 | 2009-11-18 | 南京航空航天大学 | 含Nd、Li、As、In的Sn-Ag-Cu无铅钎料 |
CN102306631A (zh) * | 2011-07-20 | 2012-01-04 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种基于电镀工艺改善Sn-Ag焊料性能的方法 |
CN102357747A (zh) * | 2011-09-06 | 2012-02-22 | 云南锡业锡材有限公司 | 超细焊锡粉的无铅焊锡膏及其制备方法 |
CN102922071A (zh) * | 2012-10-25 | 2013-02-13 | 哈尔滨工业大学 | 一种采用纳米金属间化合物颗粒制备低温互连高温服役接头的方法 |
CN104625466A (zh) * | 2015-01-21 | 2015-05-20 | 哈尔滨工业大学深圳研究生院 | 一种可以在低温下快速形成高温焊点的锡基焊料/铜颗粒复合焊料 |
CN104668807A (zh) * | 2015-01-21 | 2015-06-03 | 南京大学 | 一种低熔点钎料球形粉末的制造方法 |
CN105592636A (zh) * | 2014-11-12 | 2016-05-18 | 富士通株式会社 | 电装置及其制造方法 |
CN107433400A (zh) * | 2017-07-28 | 2017-12-05 | 广州汉源新材料股份有限公司 | 一种内含助焊剂的预成型焊料及其制备方法 |
CN108290250A (zh) * | 2016-06-16 | 2018-07-17 | 富士电机株式会社 | 软钎焊接合部 |
CN108544123A (zh) * | 2018-03-05 | 2018-09-18 | 西安理工大学 | 一种光伏焊带用锡铅铟基钎料合金及其制备方法 |
CN108941818A (zh) * | 2018-09-25 | 2018-12-07 | 北京工业大学 | 低温快速制备Cu6Sn5金属间化合物一维线性焊点的方法 |
CN109175572A (zh) * | 2018-09-12 | 2019-01-11 | 南昌大学 | 一种双相基板与无铅钎料的焊点及其制备工艺 |
-
2019
- 2019-06-17 CN CN201910519447.2A patent/CN110153589B/zh active Active
Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2763822A (en) * | 1955-05-10 | 1956-09-18 | Westinghouse Electric Corp | Silicon semiconductor devices |
CN1925946A (zh) * | 2004-03-09 | 2007-03-07 | 千住金属工业株式会社 | 焊膏 |
CN101138812A (zh) * | 2006-09-08 | 2008-03-12 | 北京有色金属研究总院 | 一种原位合金化型无铅焊料及其制备方法 |
CN101579790A (zh) * | 2009-06-03 | 2009-11-18 | 南京航空航天大学 | 含Nd、Li、As、In的Sn-Ag-Cu无铅钎料 |
CN102306631A (zh) * | 2011-07-20 | 2012-01-04 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种基于电镀工艺改善Sn-Ag焊料性能的方法 |
CN102357747A (zh) * | 2011-09-06 | 2012-02-22 | 云南锡业锡材有限公司 | 超细焊锡粉的无铅焊锡膏及其制备方法 |
CN102922071A (zh) * | 2012-10-25 | 2013-02-13 | 哈尔滨工业大学 | 一种采用纳米金属间化合物颗粒制备低温互连高温服役接头的方法 |
CN105592636A (zh) * | 2014-11-12 | 2016-05-18 | 富士通株式会社 | 电装置及其制造方法 |
CN104625466A (zh) * | 2015-01-21 | 2015-05-20 | 哈尔滨工业大学深圳研究生院 | 一种可以在低温下快速形成高温焊点的锡基焊料/铜颗粒复合焊料 |
CN104668807A (zh) * | 2015-01-21 | 2015-06-03 | 南京大学 | 一种低熔点钎料球形粉末的制造方法 |
CN108290250A (zh) * | 2016-06-16 | 2018-07-17 | 富士电机株式会社 | 软钎焊接合部 |
CN107433400A (zh) * | 2017-07-28 | 2017-12-05 | 广州汉源新材料股份有限公司 | 一种内含助焊剂的预成型焊料及其制备方法 |
CN108544123A (zh) * | 2018-03-05 | 2018-09-18 | 西安理工大学 | 一种光伏焊带用锡铅铟基钎料合金及其制备方法 |
CN109175572A (zh) * | 2018-09-12 | 2019-01-11 | 南昌大学 | 一种双相基板与无铅钎料的焊点及其制备工艺 |
CN108941818A (zh) * | 2018-09-25 | 2018-12-07 | 北京工业大学 | 低温快速制备Cu6Sn5金属间化合物一维线性焊点的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110153589A (zh) | 2019-08-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110153589B (zh) | 一种铟基钎料及其制备方法 | |
Lee et al. | Cu–Sn and Ni–Sn transient liquid phase bonding for die-attach technology applications in high-temperature power electronics packaging | |
Menon et al. | High lead solder (over 85%) solder in the electronics industry: RoHS exemptions and alternatives | |
US10232472B2 (en) | Transient liquid phase sinter pastes and application and processing methods relating thereto | |
CN106271177B (zh) | 一种互连钎料及其互连成形方法 | |
Ehrhardt et al. | A lead free joining technology for high temperature interconnects using Transient Liquid Phase Soldering (TLPS) | |
CN106825998A (zh) | 一种用作大功率芯片封装的无氧化纳米铜焊膏及其制备方法 | |
Liu et al. | Microstructure and mechanical properties of porous Si3N4/Invar joints brazed with Ag-Cu-Ti+ Mo/Cu/Ag-Cu multi-layered composite filler | |
Calata et al. | Sintered nanosilver paste for high-temperature power semiconductor device attachment | |
Zheng et al. | Low-pressure (< 5 MPa) low-temperature joining of large-area chips on copper using nanosilver paste | |
Jung et al. | Pressureless die attach by transient liquid phase sintering of Cu nanoparticles and Sn-58Bi particles assisted by polyvinylpyrrolidone dispersant | |
Yang et al. | Diffusion soldering of Pb-doped GeTe thermoelectric modules with Cu electrodes using a thin-film Sn interlayer | |
Shen et al. | SiC power device die attach for extreme environments | |
Bai et al. | Characterization of low-temperature sintered nanoscale silver paste for attaching semiconductor devices | |
CN108588456B (zh) | 一种Cu-Sn金属间化合物骨架相变材料及其制备方法 | |
CN113284645B (zh) | 一种纳米银膏及其制备方法 | |
나연이 et al. | Chip sinter-bonding using Ag-based paste for power semiconductor devices | |
Liu et al. | Mechanical properties of transient liquid phase bonded joints by using Ag-In sandwich structure | |
Greve et al. | High Temperature Shear Strength of Cu-Sn Transient Liquid Phase Sintered Interconnects | |
Syed-Khaja et al. | Characterization and reliability of paste based thin-film Sn-Cu TLPS joints for high temperature power electronics | |
CN108615689A (zh) | 一种用于功率器件封装的全Cu3Sn化合物接头的制备方法 | |
Ji et al. | Ultrasonic-accelerated intermetallic joint formation with composite solder for high-temperature power device packaging | |
CN115945825B (zh) | 浆料及其制备方法和芯片散热结构的封装方法 | |
Myśliwiec et al. | Development of slid bonding technology for gan assembly based on ag microflakes | |
CN114473110B (zh) | 一种抗电迁移抗氧化的焊膏及其应用 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |